G01J — Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
Измеритель солнечной радиации
Номер патента: 1244504
Опубликовано: 15.07.1986
Авторы: Грунин, Котов, Нахимович
МПК: G01J 1/44
Метки: измеритель, радиации, солнечной
...радиация прц использовании сферического обтюратора модулцруется последовательностью импульсов, которые имеют Форму, близкую к трапецецдальной; переход от света к тени и обратно происходит в соответствии с выражением (1) и является нелинейным (Фиг. 4). Рассеянная радиация поступает к приемнику цэ телесного угла 2 7 г в 35о виде концентрически сходящихся. лучей(фиг, 5), которые при равномерной светимостц небосвода создают на полусФерической поверхности обтюратора , постоянную облученность.При вращении 40 обтюратора ца приемник падает поток злученя, исходящий из части небосвода, которая видна из центра приемной ,площадки в пределах сферического двуугольцика, образованного плоскостью 45горизонта и плоскостью соедненя полусфер. К моменту...
Способ измерения светового потока лавинным фотодиодом и устройство для его осуществления
Номер патента: 1244505
Опубликовано: 15.07.1986
Автор: Чернов
МПК: G01J 1/44
Метки: лавинным, потока, светового, фотодиодом
...амплитуду переменаго и величину постоянного ндпряжеий смещения до момента равенства отношения токов и эталонного зндчепи, Как видно из соотношения (2), коэффициент лавинного умножения 11 при этом не зависит от изменения напряжения пробоя, В результате этого существенна псзышается точность измерения световых потоков ЛФД.15Устройство, реализующее способ работает сзедующлобразом.На входы первого сумматора 6 поступает сшусоиддльный сигнал с Выхода генератора 5 и постоянное напряжение20 Е источнкд 2. Суммарное напряжене с;ещенпя П с выхода схемы 13 умно- кеши поступает нд ЛФД 1. Емкость .капдепсатора 15 выбирается достаточно малой пс срдвнеиво с собстзеннай емкостьо ЛФД, чтобы пе увелчить у 1101 зень 11 умов нд Выходе усил 1 тсля 3, Коэффц...
Устройство для преобразования направленного излучения в рассеяное
Номер патента: 1245893
Опубликовано: 23.07.1986
МПК: G01J 1/04
Метки: излучения, направленного, преобразования, рассеяное
...на фотоприемники.Прошедшее через колпак .6 излучениеотражается от стенок полостии также попадает на фотоприемники.Пропускание направленного излуче -ния через корректирующий элемент 9обеспечивает равномерность яркостиколпака 6, Площади отверстий Б., расположенных на расстоянии г от оси корректирующего элемента 9, выполненытак, что выполняется соотношение условия Бр = Б асов/Т, где Бк - площадь непрозрачного колпака; . - коэфФициент пропускания корректирующего элемента; Ю - угол падения пучка направленногоизлучения.1 з.п, Ф-лы, 1 ил. где Б - площадь пепрозрачного колпакка корректирующего элемента9;л- коэффициент пропускания корректирующего элемента,"- угол падения пучка направленного излучения.При этом достигается соблюдение...
Фотометр
Номер патента: 1245894
Опубликовано: 23.07.1986
Авторы: Алексеева, Пахомов, Шипунов
МПК: G01J 1/04
Метки: фотометр
...ветвей относительно поверхности пробы. В ход лучей приемной ветви вводят зеркало-шторку. В плоскости установки измеряемых проб на предметный столик 7 помещают измерительную пробу, Подключают к электропитанию источник 1 света, На измерительном приборе снимают отсчет и ". К электропитанию подключают вспомогательный источник 15 света. Наблюдают в плоскости установки проб в свете, отраженном от пробы, световое пятно, размер которого определяется изобра 94 2жением (в обратном ходе лучей) из приемной ветви выходной диафрагмы.Устанавливают пробу, контролируя, чтобы размер этого светового пятна вписывался в размеры участка пробы, подлежащего измерению, Одновременно наблюдают в плоскости установки проб световое пятно, размер которого...
Способ калибровки измерений напряженности магнитного поля и дифференциальной лучевой скорости
Номер патента: 1245895
Опубликовано: 23.07.1986
Авторы: Григорьев, Демидов, Кобанов
МПК: G01J 3/04
Метки: дифференциальной, измерений, калибровки, лучевой, магнитного, напряженности, поля, скорости
...т. е. возникает ситуация, весьма бпизкая к той, которая имеет место при измерении продольного магнитного поля (продольный эффект Зеемана) и при измерении дифференцильной лучевой скорости с тем отличием, что расщепление спектральной линии происходит не в результате действия магнитного поля или дифференциальной лучевой скорости, а является следствием искус ственного расщепления лучей за входной щелью спектрографа.При подаче на электрооптический кристалл 4 знакопеременного четверть- волнового напряжения в один такт работы через поляроид 5 проходит один луч, а в следующий такт - другой. Т. е, в фокальной плоскости спектрографа происходит попеременное гашение компонент расщепления, что регистрируется установленными в крыльях линии...
Спектральный прибор для скоростного сканирования спектра
Номер патента: 1245896
Опубликовано: 23.07.1986
МПК: G01J 3/12
Метки: прибор, сканирования, скоростного, спектра, спектральный
...спект рального прибора для скоростного сканирования спектра.Прибор состоит из входной щели 1, коллиматорного объектива 2, диспергирующего элемента 3, камерного объектива 4, плоского сканирующего зеркала 5, двух выходных щелей 6, двух фотоприемников 7 и системы 8 регистрации.Прибор работает следующим образом,Анализируемый световой поток поступает через входную щель 1 на коллиматорный объектив 2 и затем на диспергирующий элемент 3. Диспергированный световой пучок фокусируется объективом 4, и, отразившись от плос кого сканирующего зеркала 5, .совершающего колебательные перемещения относительно оси, проходящей через его центр и перпендикулярной плоскости, в которой лежит оптическая ось спек трального прибора, засвечивает фотоприемники 7,...
Монохроматор
Номер патента: 1245897
Опубликовано: 23.07.1986
Авторы: Минина, Михайловский, Нагибина, Рачков
МПК: G01J 3/12
Метки: монохроматор
...последних без изменения расстояния междуними. Оправа объектива 2 крепитсяс помощью пружинного подвеса к кронштейну, на котором установлена микрометрическая подвижка для осуществления разворота коллиматорного объектива вокруг оси, нормальной меридиональной плоскости и проходящий черезего вершину, Последовательное выставление спектральных линий на выходнующель монохроматора осуществляетсяпутем разворота дифракционной решетки с помощью рычага 6, который разворачивается вокруг оси дифракционной решетки совместно с последней засчет перемещения полэуна 7 в направляюших типа ласточкина хвоста. Перемещение ползуна осуществляется автоматически от электродвигателя черезвинтовую пару (не показана). Привод 6,обеспечивает необходимую...
Спектрофотометр для регистрации спектров дисперсных твердых веществ
Номер патента: 1245898
Опубликовано: 23.07.1986
МПК: G01J 3/42
Метки: веществ, дисперсных, регистрации, спектров, спектрофотометр, твердых
...4 1 1Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроениюи может быть применено при регистрации спектров пропускания и отражениядисперсных твердых веществ.Цель изобретения - увелич ниепроизводительности измерений спектров, рассеивающих излучение твердых веществ,На чертеже показана схема конструкции спектрофотометраСпектрофотометр содержит осветитель 1, кюветное отделение 2, монохроматор 3 приемник 4 излучения,светоделитель 5, вогнутое сферическое зеркало 6, кювету 7 для образца,объектив 8. Осветитель 1 создаетдва равноценных пучка излучения, образующих канал сравнения и каналобразца, Объектив 8 для ИК-областиспектра может быть выполнен, в виде линзы из КВЧ. Образец, помещенныйв кювету для образца 7, находитсяв фокусе...
Фотоэлектрическое приемное устройство
Номер патента: 1246042
Опубликовано: 23.07.1986
Авторы: Ермилов, Есьман, Кулешов, Пилипович
МПК: G01J 1/42, G02B 27/46
Метки: приемное, фотоэлектрическое
...способом оптическая страница информации.В указанном состоянии поляризации света нулевой порядок дифракции после носителя 3 информации поступает через зеркала 6 и 5 на телескопическую систему 8 и далее, после отражения оптическиуправляемым транспарантом 10 и зеркалом 7, проходит второй поляризационный светоделитель без изменения направления и покидает оптическую схему устройства, т.е, не влияет на работу устройства, В этот же момент времени блок 4 сканирования выдает сигнал на управляющий вход вращателя 2 поляризации, по которому он поворачивает плоскость поляризацииолуча света на 90 т.е. устанавливает ее перпендикулярно плоскости чертежа),В этом случае восстановленная опти% ческая информация с носителя 3, пройдя объектив 9,...
Способ измерения коэффициента пропускания
Номер патента: 1247672
Опубликовано: 30.07.1986
МПК: G01J 1/44
Метки: коэффициента, пропускания
...вэлектрический сигнал, Затем, пройдяусилитель 11, электрический сигналпоступает на вход аналого-цифровогопреобразователя 12 и направляется .через блок 13 сопряжения, канал ЭВМ14 в память ЭВМ 5, Таким образом,производится первое контрольноеизмерение,аУправляющая команда от ЭВМ, дешифрированная блоком 13 сопряжения пере. водит оптический коммутатор 10 вположение, при котором контрольныйсветовой луч 3 перекрыт, а измерительный 2 открыт. При этом измери -тельный световой луч 2,проходит через измеряемый объект 5 и преобразованный элементами 9,11 и 12 поступает в блок 13 сопряжения. В этом по 5 ложении происходит измерение оптического параметра измеряемого объекта этой информации и запись впамять ЭВМ 15. После измерения определенного...
Полевой калориметр
Номер патента: 1247673
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Горбенко, Тищенко, Чарыкова
МПК: G01J 3/46
Метки: калориметр, полевой
...18 с защитным стеклом и изображение поля цветовых, эталонов 11, Формируемое поворотными призмами 13 при освещении цветовых,эталонов 11 стандартным источником 4 света, работающим при включении тумб лера 17. Цветовые эталоны 11 выполнены в виде цветовых накрасок различного цветового тона, которые расположены по окружности и изменяются по насыщенности в направлении образующих барабана 8 цветовых эталонов, Перемещение барабана 8 цветовых эталонов выбирается оператором исходя из цвета наблюдаемого объекта, Этот выбор осуществляется путем вращения рукояток 6 цветовой настройки, а также работой системы 3 регулировки уровня освещения цветовых эталонов. Изображение поля цветовых эталонов 11 в окуляре 1 визира представляет набор цветовых...
Измеритель длин волн
Номер патента: 1247674
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Абрамов, Бобрик, Буковский, Райхерт, Томашевский, Торопов
МПК: G01J 9/02
Метки: волн, длин, измеритель
...11 х длин .волн зеркалами 3 и 4 и светоделителем 5 совмещается по направлениюи разделяется на два параллельных .пучка, которыми освещается интерферометр. Интерферометр представляетсобой схему интерферометра Кестерсаи имеет два поля интерференции, разность хода в которых отличается навеличину ступеньки К на зеркале 8 ине зависит от положения подвижногозеркала 7., Поэтому для исключениявлияния дисперсии показателя преломления атмосферы достаточно вакуумировать плечо интерферометра с помощью камеры 9.Селективные зеркала 10 и 11 установленные в каждом поле интерференции, разделяют излучения измеряемойи опорной длин волн и направляютизлучение на Фотоприемники 12 и 13опорной длины волны и Фотоприемники14 и 15 измеряемой длины волны,"Блоки...
Способ определения дефектов поверхностей заготовок
Номер патента: 1248536
Опубликовано: 30.07.1986
МПК: G01J 5/50
Метки: дефектов, заготовок, поверхностей
...таблице,Проба А относится к заготовке спрокатной окалиной, Проба В относит.рС ся к заготовке с корродированной(ржавой) поверхностью, а пробыС 5 а 1-2, СБа 2 и СБа 2 1/2 очищеныдробеструйным способом,. причем поверхности были определены в соответ- ствии со стандартом 111 веции Б/Б055900-1967 (АА 7, В, 102 В, 66 А,27 В, 60 П) .В таблице Т означает температуруизмеренную контактным пирометром,а 1 Е температуру измеренную пирометроминфракрасногоизлучения, Показания были получены на сухой (сух,),так и на смоченной (смоч,) поверхностяхКак видно из таблицы, при измере 40ниях на сухой поверхности имеет место большой разброс температур, причемразличия возрастают с увеличениемстепени очистки поверхности дробеструйным методом (см. колонки, обоэна...
Пироэлектрический приемник излучения поперечного типа
Номер патента: 1185960
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Косоротов, Кременчугский, Леваш, Щедрина
МПК: G01J 5/58
Метки: излучения, пироэлектрический, поперечного, приемник, типа
...элемент с поверхностнымпоглощением измеряемого излучения,создает в нем сильный температурныйградиент и связанные с ним неоднород ные в объеме пироэлемента механические напряжения и деформации. Пьезо":эффект, вызванный этими деформациями,и напряжениями, представляет собой вторичное и третичное пироэлек тричество. Теоретический анализ механического состояния свободно подвешенной сегнетоэлектрической пластинки из Ь 1 й 10 с кристаллографическими осями, ориентированными так, 30 как показано на фиг. 1, дает для поляризации Р;. , обусловленной третичным пироэффектом, выражения=О Р -оЮ(к 1) , = с"Ч(кр т), С)35где ,( х 9 ( к,) ) + ( Э (к , 1 ) ) 8 ( ,) 45 )Ъ6 - коэффициенты упругой податливости; А 1 - коэффициенты тензоратеплового...
Сканирующий интерферометр фабри-перо
Номер патента: 1249344
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Елисеев, Загидуллин, Коростелев, Кривов
МПК: G01J 3/26
Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо
...- упрощение юстировки и повышение надежности.На чертеже приведена конструкция 1 Оинтерферометра,Интерферометр выполнен в видедвух модулей идентичной конструкции,Каждый модуль содержит цилиндрическуюступенчатую втулку 1, в которую 15вставлено зеркало интерферометра,выполненное в виде цилиндрическогопоршня 2 со штоком. В качестве конструкционного материала втулки 1 используется тот же материал, из которого изготовлен поршень со штокомнапример,кварцевое стекло), На штокпоршня 2 одет пьезокерамический преобразователь 3, представляющий собойпьезокерамический пакет, состоящий 25из нескольких пьезокерамических колец с нанесенными на них токопроводящими прокладками, которые соединеныпараллельно. Пьеэокерамический преобразователь 3 первого...
Устройство для определения цветовой насыщенности
Номер патента: 1249345
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Кузнецова, Мелентьев, Нухман, Петрова
МПК: G01J 3/46
Метки: насыщенности, цветовой
...г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к цветовымизмерениям и может быть использованов легкой промышленности для оценкистойкости красителей к инсоляции,воздействию влаги, а также в другихобластях техники, где требуется оценка насыщенности цвета.Целью изобретения является болеедостоверная оценка качества окраскиза счет повьппения точности определения насьпценности цвета текстильныхматериалов как свежевыкрашенных, таки после выцветания, с одновременнымупрощением и ускорением процесса егоопределения,На чертеже показана схема устройства.Устройство содержит валик 1., насаженный на ось 2, соединенную сэлектродвигателем 3. На валик надевается образец, состоящий из белой 4и свежеокрашенной 5 тканей. Сравниваемый образец...
Устройство контроля температуры поверхности заготовок в нагревательной печи
Номер патента: 1249346
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Белянский, Буглак, Каган, Климовицкий, Резников
МПК: G01J 5/22
Метки: заготовок, нагревательной, печи, поверхности, температуры
...являются величины Б 1 зависящие от Т,и , также зависящие от Т.Функциональные зависимостиГ(Т ) и Е,(т ) определены заранееэкспериментально и заложены в памятьЭВИ. Зависимость выходного сигналадатчика от температуры Б(Т) представляет собой градуировочную характеристику пирометра. Она также хранитсяв памяти ЭВИ вместе с функциональными зависимостями Ч(Ч ), Ч(Б ),описывающими соответствие величиннормализованного напряжения на входевычислительного устройства и сигналадатчиков 2 Ч, и датчика 1 Ч, соответственно. Эти функции представляют собой рабочие характеристики нормализаторов 6 и 7.Уравнение (1) решается численнымметодом, причем на каждом шаге итерации по определенному значению Б,рассчитывают Е (Т ) и проверяют, 45и мудовлетворяется ли...
Устройство для аттестации фазовых пластин
Номер патента: 1249347
Опубликовано: 07.08.1986
Автор: Кузнецов
МПК: G01J 9/02
Метки: аттестации, пластин, фазовых
...Ь =(21+ а(Й - толщина пластины 6, / - показатель двупреломле ния, 3 - длина волны). После анализатора 7 амплитуды этих лучей становятся равными Е /2. Оба рассматриваемых луча возникают из одного линейно поляризованного луча, поэтому они коге О рентны и могут интерферировать. Еслиполуцелое число, оба луча максимально усилят друг друга и поле при рассмотрении через анализатор окажется просветленным, Если К - целое 55 число, лучи полностью погасят друг друга, и поле останется. темным, При освещении системы белым светом усло 47 2вия максимального усиления или ослабления осуществятся не одновременнодля лучей разных длин волн. Развертка по спектру осуществляется с помощью монохроматора 9 в виде чередуюшихся светлых и темных полос, Ввведение...
Буферная смесь для спектрального определения платины и палладия
Номер патента: 1249383
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Воробьева, Дегтев, Кожевникова, Махнев
МПК: G01J 3/30, G01N 33/20
Метки: буферная, палладия, платины, смесь, спектрального
...цинка 40 - 80.(осгавитсль Т. Жу ковд Тскред И, Всрсс Корректор В. Ьутяга Тираж 778 Полписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Релактор Н. БобковаЗаказ 4227/43 Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам определения микроколичеств платины и палладия, и может быть использовано при анализе природ. ного сырья, на содержание данных элементов химико-спектральным методом.Цель изобретения повышение чувствительности определения.Пример 1. Аналитическую пробу на платину и палладий переносят в тигель, вводят 0,1 г буферной смеси, содержащей 0,06 г угольного порошка и 0,04 г оксида цинка. Содержимое...
Устройство для сканирования спектра
Номер патента: 1132655
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Ишунина, Невдах, Орлов, Пасюкевич, Шумилин
МПК: G01J 3/06
Метки: сканирования, спектра
...ступенек равно числу линийв спектре, а высота каждой ступень.ки Ь; выбрана из соотношениярК ;Ь2 Ьгде т - пле чо рычаг а;- порядок спектра;1- длина волны х-й линии спектра;Ь - постоянная решетки,На чертеже показано устройствосканирования спектра.Поворотный столик 1 с установленной на нем дифракционной решеткой 2кинематически связан с синусным механизмом 3, рычаг 4 которого контактирует с толкателем 5, закрепленнымна оси 6, Поверхность 7 толкателя 5,32655 3обращенная к рычагу 4 и. соприкасающаяся с роликом 8 рычага 4 выполненаступенчатой, Ось вращения 9 ролика8 параллельна оси 1 О вращения рычага5 4 и каждой ступеньке поверхности 7,а ось 6 перпендикулярна ступенькамповерхности 7.Для выхода на определенную длинуволны,; спектра...
Устройство для измерения амплитудной и фазовой анизотропии отражателей
Номер патента: 1252677
Опубликовано: 23.08.1986
Авторы: Антонюк, Волков, Горбань, Паско, Скирда, Суббота-Мельник, Храпко
МПК: G01J 4/00
Метки: амплитудной, анизотропии, отражателей, фазовой
...с лучом, отраженным от задней грани плоскопараллель"ной пластины 9, проходит анализатор22 и поступает на фотопреобраэователь 23. Коммутатор 11 оптического 40излучения осуществляет поочереднуюподачу на фотопреобразователь 23лучей, взаимодействующих с исследуемым объектом 19 и эталоном 10, спомощью поочередно замыкающихся элек тронных ключей 24 и 25,Управление электронными ключами24 и 25 обеспечивается опорными напряжениями формирователей 16 и 17,которые снимаются с дополнительных 50фотоприемников 12 и 13, облучаемыхдоподнительными источниками 14 и 15света. В течение времени, когда нафотопреобраэователь 23 поступает излучение, взаимодействующее с исследуемым объектом 19, напряжение, снимаемое с фотопреобразователя 23,через...
Способ измерения коэффициентов рассеяния лазерного излучения подвижным рассеивающим объектом в заданном телесном угле
Номер патента: 1124686
Опубликовано: 07.09.1986
Автор: Хайкин
МПК: G01J 5/50
Метки: заданном, излучения, коэффициентов, лазерного, объектом, подвижным, рассеивающим, рассеяния, телесном, угле
...в заданном телесном угле с гетеродинным и измеряют амплитуду биений смешанного излуче-, ния Чщ, смешивают эталонное излуЧение с гетеродинным и измеряют амплитуду биений смешанного излучения 7 и определяют значение коэффициента рассеяния К в заданном телес 2Рэт оь ном угле по Формуле К =Рп 1 эт а значение размерного коэффициента рассеяния по максимуму спектральной плотности М определеяют по формуле На чертеже изображена функциональная схема устройства для осуществления способа.Устройство содержит лазерное излучение 1, формирователь 2 опорного излучения 3 и эталонного излучения 4, подвижный рассеивающий объект 5, калориметрический измеритель 6 мощности опорного излучения, гетеродинное излучение 7, сформированное из опорного...
Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности
Номер патента: 1257412
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Ивановский, Квочка, Кудрявцев, Локк, Минаева
МПК: G01J 1/16
Метки: абсолютной, градуировки, измерителя, освещенности, спектральной, чувствительности
...на диафрагму 9. Участок эталонной ламгые излучение с которого попадает в спектральный компаратор, проградуирован по Государственному специальному эталону спектральной плотности энергетической яркости 1 СПЭЯ 7 в единицах СПЭЯ.Способ осуществляется следующим образом,Устанавливают приемную площадку измерителя 7 в плоскости выходного отверстия б осветителя, сферическое зеркало 4 - в первое фиксированное положение, механизмы сканирования спектра - на длину волны 3 как в монохроматоре 10, так и в монохрома- торе измерителяОдновременно измеряют сигналы 1 и 1 приемника компаратора 11 от отверстия 8 осветителя и измерителя соответственно, а затем устанавливают зеркало 4 во второе положе-. ние и измеряют сигнал 1 компаратора от эталонной...
Способ контроля качества изображения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1257413
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Васин, Колючкин, Метелкин, Моргенштерн, Мосягин, Сергеев, Янковский
МПК: G01J 1/42
Метки: изображения, качества
...вэлектрический сигнал.Отношение сигнал/шум определяется при наилучшем совмещении объекта наблюдения и согласованного фильтра, чему соответствует значение корреляционного интеграла (2) при нулевых аргументах, Пользуясь свойством корреляционной Функции а также учитывая временные интегрирующие свойства зрительного анализатора с постоянной времении связь распределения яркости в незашумленном изображении с распределением яркости в объектеТ (х,у):1,(х,у) =Г 1 ( 1,)Н(1,1),14) где Н(, ) - передаточная функцияизображающей системы, из (3) при наилучшем совмещении объекта и согласованного фильтра получаем максимальное значение выходного сигнала Ь 1 при наличии тест-объ 3 1257413 Ьлена их адекватностью в смысле обнаружения и опознавания в...
Способ фотометрирования звездного поля и мультиплексирующий сканирующий фотометр для его осуществления
Номер патента: 1257414
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Дадуркявичюс, Ралис
МПК: G01J 1/44
Метки: звездного, мультиплексирующий, поля, сканирующий, фотометр, фотометрирования
...и положение в измеряемом поле. Несущая функция представляет собой зависимость интенсивности пропущенного решеткой Ронки 2 света измеряемой звезды от углового положения решетки (фиг.2). Отсчеты,зафиксированные в памяти микроЭВМ 14 5 О в течение одного оборота решетки Ронки 2, разделяются на группы, в каждой из которых все отчеты получены при одинаковом фильтре. В случае измерения одной звезды упорядоченная по угловым положениям решетки каждая такая группа представляет собой дискретизированную несущую функцию, измеренную с помощью какого-то фильтра. При измерении нескольких звезд, аналогично разделяя по фильтрам отсчеты, зафиксированные в течение одного оборота решетки, получают группы, каждая из которых представляет собой наложение...
Атомизирующее устройство
Номер патента: 1257415
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Зоров, Кузяков, Матвеев, Новодворский
МПК: G01J 3/42, G01N 21/72
Метки: атомизирующее
...пробы и подача ее в пламя.Зацавая определенный временньй рехжм нагреьа стержня, осуществляетсяраздельное испарение определяемого имешающих анализу веществ. Для тогочтобы осуществить подачу паров пробы не только в узкую центральную,но и периферийную часть пламени,инертный газ, выходящий иэ цилиндрической трубки 4, с помощью винтовойнарезки на стержне (фиг,1) или навнутренней поверхности диэлектрической трубки (фиг,2) завихряется и засчет этого пары пробы распространяются по всей зоне горения. Зто приводит к тому, что более холодный,чем газы пламени, инертный газ перемешивается с большим объемом газовпламени, повышая таким образом темпе"ратуру аналитической зоны, а значитразличия в температурах испарениясоединений этих...
Устройство для подготовки жидкостей к спектральному анализу
Номер патента: 1257445
Опубликовано: 15.09.1986
Автор: Карих
Метки: анализу, жидкостей, подготовки, спектральному
...камеру 3, нагреватель 4, двигатель 5, подшипники б вращения, сальники 7, соединительный канал 8, холодильную камеру 9, подводящий канал 10для несущего газа, подсоединенныйк холодильной камере 9, сифон 11 канал 12 для слива конденсированнойжидкости и канал 13 для выхода аэрозоля подготовленного образца.Струи Формируются капиллярнымиотверстиями диаметром не более 0,3 мм,расположенными на равном расстояниидруг от друга на конической поверхности Формирователя струй 2 с угломпри вершине 30Устройство работает следующим образом,Исследуемую жидкость подают по каналу 1 в Формирователь 2 струй годизбыточным давлением 1-3 атм (воднокислотные растворы подают поддавлением 1 атм, масла - под давлением 23 атм), В результате...
Фотоэлектронное устройство
Номер патента: 1259114
Опубликовано: 23.09.1986
Авторы: Никонов, Победоносцев
МПК: G01J 1/44
Метки: фотоэлектронное
...сигналов.На чертеже показана принципиальная схема устройства.Устройство содержит транзистор 1, 15 включенный по схеме эмиттером, в коллекторную цепь которого включен фотоприемник 2, Конденсатор 3 шунтирует эмиттерный переход транзистора. К точке соединения фотоприемника 2 20 с коллектором транзистора 1 подключен вывод стабилитрона 4, который другим выводом подключен через резистор 5 к эмиттеру транзистора. Между точкой соединения резистора 5 со стабилитроном 4 и базой транзистора 1 включен дроссель 6.Устройство работает следующим образом.При включении питания через фото- З 0 приемник 2 начинает протекать ток, зависящий от температуры и уровня освещенности. На коллекторе закрытоготранзистора 1 появляется отрицательный потенциал....
Устройство для анализа цвета
Номер патента: 1259115
Опубликовано: 23.09.1986
Авторы: Васильев, Кальянов, Царапкин
МПК: G01J 3/51
...чертеже представлена схема устройства,Устройство для анализа.цвета содержит корпус 1 и размещенные в немисточник 2 и приемник 3 излучения.Источник 2 и приемник 3 излученияохвачены установленным с возможностьювращения вокруг своей оси полым цилиндром 4 с отверстиями 5. В отверстиях 5 цилиндра 4 попарно размещеныхроматические Фильтры 6, имеющиеразную абсорбционную способность, ирезисторы светового потока, выполненные в виде диафрагм 7.Устройство работает следующим образом.Поток излучения от источника 2через диафрагму 7 направляют на контролируемое многополостное изделие..Полости изделия заранее заполняютконтрольными жидкостями, имеющимиразличный цвет люминесценции подвоздействием излучения источника 2.Для удобства контроля на...
Устройство для измерения температуры расплава
Номер патента: 1259116
Опубликовано: 23.09.1986
Авторы: Бабков, Купин, Пономарева
МПК: G01J 5/00
Метки: расплава, температуры
...быть в пределах - - = О 7-.1 О.Ф У фВеличина отношения меньше 0,7 соот"ветствует слишком большой выпуклостиблока, что может снизить его механическую прочность при воздействиирасплава меди. Величина отношенияболее 1,0 не целесообразна, поскольку площадь сферической поверхностиприближается по своей величине кплоской поверхности и сам эффект наличия поверхности теряется.Огнеупорный блок может быть выполнен из графита, а торец огнеупорногоблока со стороны иммерсионной частисветопровода - из огнеупорной и химически стойкой графитсодержащийзамазки, охватывающей боковую поверхность иммерсионной части светопроводаи. сопрокасающейся с расплавом меди.Это предохраняет устройство от попадания расплава в зазор между светопроводом и...