G01J — Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия

Номер патента: 552518

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Гаранин, Коробов

МПК: G01J 1/04

Метки: горелка, пламенного, фотометра

...пламя. Формула изобретен Горелкщая коз 1да газа иконечникЛЬЮ ПОВ 1ВЕЛИЧЕН 1она снабмер, пзной в сме РИ;11 - двоП 11- цссчет СП 11,1 РП- щсни, что горе на мелкояч Изобретение относится к химическому анализу п может быть использовано в пламенной фотометрии.Известны горелки пламенного фотометра, содержащие корпус, систему магистралей, подводя 1 цих газы и анализируемую жидкость, смесительную камеру.Недостатком известных устройств является то, что турбулентность потока газа, необходимая для равномерного смешивания с аэрозолем, приводит к нестабильности пламени, что вызывает снижение точности измерения.Наиболее близким по техп 11 ческой сущности к предлагаемому усзройству является горелка пламенного фотометра, содержащая корпус, систему...

Номер патента: 552519

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Городинский, Луковский, Шестов

МПК: G01J 1/04

Метки: металлической, поверхности, прибор, степани

...отраженный собирается эллиптическим отражателем на приемную площадку фотоприемника, расположенного во втором фокусе отражателя.Электрическийступает на микроный по тарирован Наиболк предла для опре ской по блок пит блок,ее близким по техническоаемому устройству являделения степени очисткиерхности, содержащийния, фотоприемник, реги и сущности тся прибор металличеосветитель, трирующий 15 ф о р мул а изобретения Прибор для определения степени очистиметаллической поверхности, содержащий ос ретение относится к контрольно-измеой технике и может быть использовано ределения степени очистки металличеверхности перед окраской.тны устройства для контроля, содер осветитель, оптическую систему фория излучения, регистрирующий блок. статком такого типа...

Номер патента: 552520

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Листратенко, Солдатов, Солдатова

МПК: G01J 1/44

Метки: границе, контраста, печатных, тестобъектов, штриховых

...8, на выходе которого формируется постоянное напряжение, равное амплитуде импульсов с выхода усилителя фототока. Сигнал с выхода детектора 8 проходит на регулируемый делитель 10, на выходе которого формируются два опорных сигнала для компараторов, причем меньший по величине сигнал подается на второй вход компаратора 6, а больший сигнал на второй вход компаратора 7,Сигнал с выхода компаратора 6 непосредственно проходит на выход схемы совпадения 11, а сигнал с выхода компаратора 7 поступает на второй вход схемы сравнения 11 через инвертор 9.Сигнал с выхода схемы совпадения 11 подается на измеритель среднего значения напряжения 12.Зпюры напряжения в различных точках блок-схемы показывают изменение напряжения Уо,ф на выходе усилителя...

Номер патента: 552521

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Кислов, Корнилов, Кувалдин

МПК: G01J 1/44

Метки: излучения, импульсным, источником, фотометр

...не показаны) соедипсны через устройство установки коэффициента деления 7.Фотометр работает по принципу прямого отсчета с цифровой индикацией результатов измерений, Поток излучения импульсного ис точника 1 разделяется в оптической системе 2 на две части, причем большая часть через камеру 3 попадает в фотоприемное устройство 4 (измерительный канал), а остальной поток направляется в канал сравнения на фотоприем ное устройство 5. С выходов фотоприемных устройств напряжения, пропорциональные энергии излучения, поступают в дискретный автокомпенсатор (аналого-цифровой преобразователь) с цифровым отсчетным устройством 15 (на чертеже не показано) преобразователь определяет отношение этих напряжений.Показание отсчетного устройства будет...

Номер патента: 552522

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Горбунова, Иванова

МПК: G01J 3/02

Метки: масел, металлов, образцов, приготовления, примесями, смазочных, стандартных

...возможность определения абсолютного весового износа трущихся деталей,Целью изобретения является улучшение метрологических характеристик стандартных образцов за счет обеспечения их идентичности отработанным маслам.Цель достигается тем, что в известном способе приготовления эталонов в качестве веществ, содержащих определяемые металлы, которые вводятся в чистое масло, используют чистые металлы или их сплавы, которые вводят в виде продуктов износа образцов этих металлов, изнашиваемых непосредственно в этом же масле. Массу введенных веществ определяют путем взвешивания образцов до и после изнашивания.На чертеже изображено устройство для реализации предлагаемого способа.Конструкция устройства предполагает получение продуктов износа путем...

Номер патента: 552523

Опубликовано: 30.03.1977

Автор: Двас

МПК: G01J 5/00

Метки: степани, черноты

...формы - экран 3, степень черноты материала которого Еь, и зажимают между центрирующцми втулками 4. Затем с помощью подогревной обмотки подводят к образцу мощность и, регулируя последнюю, повышают температуру поверхности образца до значения Ть при котором хотят измерять искомую степень черноты, По наступлении стационарного режима измеряют подводцмую к образцу мощность Я, обеспечивающую поддержание его стационарной температуры, равной ТьПосле этого образец извлекают цз камеры- экрана 3 и также соосцо помещают его в другую съемную камеру-экран 5, материал которого имеет степень черноты Е., отличную от Еи Еь Оба сменных экрана прц этом выполнены с равными внутренними диаметрами сь = 4 п равными длинами 1 ь = 1,. Затем регулируют...

Номер патента: 553476

Опубликовано: 05.04.1977

Авторы: Касьян, Мартиросян, Туманьян

МПК: G01J 5/22

Метки: изделия, поверхности, температуры, шлифуемого

...ия. Известны устройства для измере ратуры поверхности изделия с помо ческой системы и фотосопротивления Известно также устройство для температуры на поверхности шлиф делия, содержащее оптическую сис положенное в ее фокальной плоскос противление, включенное в измерите му. Однако это устройство не об точность измерения при разных шлифовки. Для повышения точности измерен лагаемом устройстве измерительная выходе снабжена усилителем мощно На чертеже показано предложенн ство. р мключены к выходу усилителя 4, связанному сшл ейфовы м осциллогр афом 5.Головка 1 смонтирована на кронштейне 6 изакреплена позади чашечного шлифовального5 круга 7, в котором просверлено сквозное отверстие 8. Ось оптической системы 2 и осьпросверленного отверстия 8...

Номер патента: 553477

Опубликовано: 05.04.1977

Авторы: Блажкевич, Зубов, Семенистый

МПК: G01J 5/60

Метки: температуры, цветовой

...и затухающего сигнала, соответствующего первому импульсу, а об измеряемой температуре судят по определенному интервалу времени.Данный способ измерения цветовой температуры иллюстрирует чертеж на котором изображены временные зависимости сигналов.На преобразователь постоянного сигнала в экспонекциальное напряжение, например ВС-це с постоянной времени т; поступает напря пропорциональное энергии монохроматическ лучения объекта Е,. Одювременно на а ный преобразователь подается напряжение, пропор. циональное энергии монохроматического излучения о показать, что момент ения равенства между двумя меняющимися в разных напрев нарастающего с конечным знач щего с начальным значением Е 1,,:-генЕ +Е1Момент 12 (точка Ов) установления равенства...

Номер патента: 554470

Опубликовано: 15.04.1977

Автор: Коммисаров

МПК: G01J 3/04

Метки: интерферометр, исследования, поля, прозрачных, средах

...так, что одно покрытие пластины делит луч сравнения на два луча, а другое покрытие после отражения от зеркал пространственно их соединяет, а в рабочей ветви размещена компенсационная плоскопараллельная пластина.На чертеже изображена оптическая схема интерферометра для исследования поля в прозрачных средах.Луч света из осветителя 1 падает на разделительную пластину 2, на которой он рас щепляется на два когерентных и пространственно разделенных луча. Луч, отраженный от пластины 2 проходит в измерительной ветви554470 3 Формула изобретения Составитель В. ЗверевТехред М, Семенов Коррректор В, Петрова Редактор И, Шубина Заказ 924/17 Изд, М 380 Тираж 878 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений...

Номер патента: 554471

Опубликовано: 15.04.1977

Автор: Воронов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, металлических, проба, спектрального, сплавов

...ектрального а на вакуу тливок проб, н ского кольца ил также в виде ус пробы для ских сплающая в ратливкиталличов, имащения 3. Общим недостатком известных проб яв ются низкие технологические качества при ливке, механической обработке и анал что препятствует многократному использ нию пробы и ухудшает точность спектраль го анализа. Целью настоящего изобретения являе повышение технологических качеств при ливке, механической обработке и анали Это достигается тем, что проба, имею рабочей части форму плоского диска, в иена в виде тела вращения плоскодонн р ельч атой формы, снабженного вне кольцевым выступом по краю тарелки,На фиг. 1 показана предлагаемая про разрез; на фиг. 2 - то же, вид сверху со роны наружной рабочей донной части...

Номер патента: 554472

Опубликовано: 15.04.1977

Автор: Матвеев

МПК: G01J 3/26

Метки: зеркал, интерферометра, механизм, перемещения

...через центры плоских пружин, причем стержень снабжен устройством магнитострикционной и обратной пьезоэлектрическойдеформации, а для получения сложных закоЕР АЛ ИНТЕРфЕРОМЕТРА нов сканирования между консолями установлена прецизионная винтовая пара, соединенная с жестким стержнем,На чертеже показан предлагаемый меха низм перемещения зеркал, имеющий основание 1 и подвижную плиту 2, соединенныепружинами 3. Средняя часть пружин усилена накладками 4. Неподвижное зеркало 5 интерферометра закреплено на основании 1, а подвижное зеркало 6 - в юстируемой оправе 7 на подвижной плите 2.На основании 1 и плите 2 устаиовлсны соедииснцыс стеркием 8 консоли 9. 15 Механизм работает следующим образом,Вследствие магнитострикционных и обратных...

Номер патента: 554473

Опубликовано: 15.04.1977

Авторы: Егоров, Негруцак, Сырцов

МПК: G01J 5/22

Метки: пирометр

...и 18 с опорным источником,устройство 19 и систему задержки554473 Формула изобретения Составитель А. Шеломова едактор И. Шубина Техред М. Семенов Корректор Й. Петрдвй878Ми пистнйд. 4/5 Заказ 924/20 Изд.,4 380 ЦНИИПИ Государственного комитет по делам изобретений 113035, Москва, )К, РаунТиражСовета открытская нао ПодписноеСССР ипография, пр. Сапунова ния 4, 5. После согласующих устройств 6, 7 сигналы переменного тока поступают на входы переменных делителей, образованных активными резисторами 9 и 10 и управляемыми резисторами 11 и 12. Сигнал приемника 5, пройдя переменный делитель, преобразуется на выходе усилителя-демодулятора 16 в сигнал постоянного тока и, поступая на вход интегрирующего усилителя 18, сравнивается здесь с опорным...

Номер патента: 555290

Опубликовано: 25.04.1977

Авторы: Бондарев, Жигалина, Смирнов, Трошин, Черний

МПК: G01J 1/04

Метки: фотометрическое

...121 . Недостатком этих устройств также является недостаточная точность измерений.Целью изобретения является повышение точ. ности измерений,Это достигается тем, что входная поверхность оптического преобразователя выполнена в виде вогнутой сферической поверхности с радиусом постоянной кривизны, а выходная поверхность выполнена в виде вогнуто-выпуклой поверхности, характеризуемой дифференциальным уравнением. Н - кратчайшее расстояние от зеркала гальванометра до фотоматериала;- ширина записи;и - коэффициент преломления материала, из которого изготовлен оптический преобразователь;р - угол отклонения светового луча;р - радиус кривизны входной поверхности оптического преобразователя.В качестве рабочей поверхности оптического...

Номер патента: 555291

Опубликовано: 25.04.1977

Авторы: Горбунов, Орлов, Прохоров

МПК: G01J 3/42

Метки: спектроанализатор

...содержащий осветитель, фотоприемник, измерительную схему, двухлинзовый фокальнохроматор, сравнительную и аналитическую кюветы 1 2 1.Г 1 рпнцип работы спектроанализатора оонован на том, что кювета используется вкачестве аналитической при выделении шаровым обтюратором длины волны, соответствующей максимуму поглощения продукта,сили в качестве сравнительной при прохожденни через фокальнохроматор иеразложенногоизлучения при соответствующем положениишарового обтюратора,Однако этот спектроанализатор сложен 1ей 1 фн 1 но-т ;н:,неси. айя555291 10 15 Составитель А. ОболенскийРедактор Т. Иванова Техред А. Богдан Корректор А. Гриценко Заказ 1703/19 Тираж 865 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений...

Номер патента: 556347

Опубликовано: 30.04.1977

Авторы: Афанасьев, Старцев

МПК: G01J 3/18

Метки: дифракционный, монохроматор

...комитетаССРоткрытийкая наб., д. 4/5 аказ 995/15ир аж 878ЦНИИПИ ГосударственноСовета Министров Спо делам изобретений и13035, Москва, Ж, Рауш ография, пр, Сапунова, 2 3Гогда условие фокусировки изображения для такой решетки запишется следующим образом: соз 2 а сов соз а+ соз 8 г г Я + р (81 п а + з 1 и Р) = О,где а и р - соответственно, углы падения и дифракции;гиг - расстояния от центра решетки, соответственно до входной и выходной щелей;Л - радиус кривизны решетки.Это условие фокусировки наиболее точно выполняется во всем диапазоне сканирования 15 при заданных значениях угла отклонения и расстояний от центра решетки до входной и выходной щелей выбором такого значения коэффициента неравномерности шага нарезки решетки, которое...

Номер патента: 556348

Опубликовано: 30.04.1977

Авторы: Афанасьев, Савушкин, Старцев

МПК: G01J 3/18

Метки: дифракционный, монохроматор

...ре-.шетки при бесконечно удаленном источникйсвета имеет вид;р соотг сОво+ СОЕ + (, + )г - расстояние от центра решетки довыходной щели;)с - радиус кривизны решетки.Это условие фокусировки наиболее точновыполняется во всем диапазоне сканированиявыбором такого значения коэффициента неравномерности шага решетки, которое удовлетворяет следующему уравнению:Ьдг" Ы =-О,д,з.,где ф - угол поворота дифракционной решетки от положения, соответствующегонулевому порядку спектра;ф и ф, - значения угла ф соответственно, вначале и в конце диапазона сканирования.Решение этого уравнения даетгдеА (,) 1 1 соз-; -- соз(3 - 20) -- соз( - 20) - соз соз 2 1 6 2 г соз д (2 Ь - з(п 2)где 2 д - угол отклонения.Остаточная расфокусировка имеет минимальное значение...

Номер патента: 556349

Опубликовано: 30.04.1977

Авторы: Непомнящий, Павлухин

МПК: G01J 5/58

Метки: оптический, пирометр

...эталонного излучения. Уравнивание потоков осуществляется путем редуцирования одного из них усиленным и преобразованным сигналом разбаланса, снимаемым с приемника излучения. Сигнал раз 5 10 15 20 25 30 р 1556349856349 Составители А. КружнлннаРедактор Н, Коляда Техред О. Тюрина Корректор Н. А аказ 995/17ЦИИИП 1 Изд.400Государственного ком по делам изобрет13035, Москва, Ж,Тираж 878тета Совета Министиий и открытийаушская наб., д. 4,5 ПодписноеСССР Типографи апунова, 2 Такое расположение элементов пирометра позволяет выполнить его по одноканальной схеме с использованием одного модулятора.Схема устройства представлена на чертеже, где фокусирующая система - 1, источник эталонного излучения - 2, поляризационная призма - 3,...

Номер патента: 557272

Опубликовано: 05.05.1977

Авторы: Леонтьев, Макух, Цветков, Цинский

МПК: G01J 5/14

Метки: газотурбинного, двигателя, лопаток, пирометр, температуры

...излучения 6. Напрякение, пропорциональное температуре поверхности турбинной лопатки, с выхода датчика температуры 3 поступает на вход временного селектора 4, Световой поток Р поступающий на датчик перепада теплового излучения б; содержит в себе излучение передних кромок и поверхностей лопаток и излучение помех от пролетающих раскаленных частиц углерода. На выходе датчика перепада теплового излучения б возникают импульсы напряжения У, в моменты появления в поле зрения пирометра как передней кромки очередной лопатки, так и помехи - твердой раскаленной частицы. Временные интервалы между импульсами У, достигают максимальной величины при отсутствии в поле зрения пирометра раскаленных твердых частиц в течение времени полного прохождения в поле...

Номер патента: 559126

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Гикало, Микулин, Писной, Федоренко

МПК: G01J 1/04

Метки: излучения, приемник

...фотополимера со стороны стекла, происходит изменение его я - повышение точности а предлат,аИзобретение относится к измерительным устройствам, применяемым в технологии изготовления печатных форм и полиграфии и различных изделий в радиоэлектронике и приборостроении с применением фотополимериэующихся (негативных) слоев, напри. мер копировальных пленочных фотополимеров и фоторезистрв на стадии экспо-.Чпирования,Известны приемники излучения с приме О нением фотоэлектрических приборов (фотоэлементов, фотоумножителей, фотореэисторов) применяемые, например, в схемах, автоматических экспозиметров. При действии излучения приемники этих устройств выраба тывают промежуточный электрический сигнал, пропорциональный мощности или интенсивности...

Номер патента: 559127

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Назаренко, Попов

МПК: G01J 1/20

Метки: двухлучевой, фотометр

...на измерительное устройство 7. 20Измеряемый образец помещается на пути измерительного луча. Основание 5 выполнено с возмвеиостью доворота в плоскости падения эталонного и измерительного лучей. При повороте основания 5 меняется Ы угол падения лучей на плоскопараллельную пластину и отражатель, что в соответствии с формулами френкеля изменяет интенсивности прошедшего и отраженного лучей.Измерение пропускания на фотометре производится следующим образом. В измерительном луче устанавливается измеряемый образец 12 и, вращая основание 5, которое снабжено механизмом отсчета угла, добиваются равенства интенсивностей обоих лучей, При этом выполняется следующее где Э -интенсивность падающего света, КщиЯ - коэФфициенты отражения по ин 40...

Номер патента: 559128

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Анисимов, Осташевский

МПК: G01J 5/00

Метки: газового, потока, температуры

...(слой Г ) является селективно-черным излучателем в длиноволновой области спектра, например в инфракрасной. По селективно-черному излу чению промежуточной среды легко переходят к определению ее температуры Т Использование длинноволновой области спектра обеспечивает определение средней температуры слоя 1На другом спектральном участке ( А , рЬ А ) выделяют яркость 3 х иди энергию излучения Б Ьслоя 1. + Г,хсостоящего из газового потока ( Ь ) и промежуточной среды,( Р ), и по Ва или Е д измеряют среднюю температуру р Тслоя Ь ф. Причем выбирают такой спектральный участок () на котором слойфявляется селективно-серым или селективно-черным излучателем в длинноводновой области спектра. 60 4К определению Т г,переходят так же, как и в случае...

Номер патента: 559134

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Кононенко, Коралова, Орманджиев, Потемпа, Ревенко, Цупко-Ситников

МПК: G01J 1/04

Метки: коэффициента, объекта, оптического, пропускания

...через ъект н ослабитель, третий поток - лаби тель. Для реализации способа измерения в устройстве дисковый модулятор выполнен с четырьмя измеря. тельными отверсгиями, трн нз которых раслоложе. ны на одинаковом расстоянии от центра, а четвертое расположено между одним нэ крайних отверстий н центром, .причем на четвертом отверстии и срегвгем из трех установлены ослабнтели.Обозначим интенсивность потока излучения Э, а коэффициенты пРопУсканиЯ длЯ объекта тоб, первого ослабнтеля твторого ослабителя т,. Начальное смешение характеристики приемника нз. лучения выразим через эквивалентную интенснв59134 ЦНИИПИ Закаэ 1438/116Тираж 1101 Подписное филиал ППП ффПатент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3ность Зн, Тогда н выходе приемника...

Номер патента: 561875

Опубликовано: 15.06.1977

Авторы: Багровский, Брагин, Соловьев

МПК: G01J 3/50

Метки: координат, цвета

...резонансными фильтрами,рактерцстики которых располонстц частот, модуляции ц соотведартным кривым сложения Хлпричем выход фотоэлектрцческователя соединен со входамифильтров. о Блок-схема устройства изображена на чертеже. Устройство состоит цз дисперсионной системы 1, сканирующей системы 2, частотного модулятора 3, фотоэлектрического преобразователя 4, резонансных фильтров 5, 6, 7, 5 измерительного преобразователя 8, детекторов 9, интегрирующих усилителей 10, индикаторов 11.Световой поток от образца разлагается вспектр дисперсцонной системой, например 20 призмой, ц сканируется сканирующей системой 2. Далее световой поток проходит через модулятор 3, например электрооптический, связанный со сканирующей системой, таким образом, что...

Номер патента: 561876

Опубликовано: 15.06.1977

Автор: Свет

МПК: G01J 5/00

Метки: истинной, нечерных, тел, температуры

...ппрометр отношения.Одновременно излучение с приемника 1 подается на усилительно-преобразовательное устройство 4, вырабатывающее некоторую величину, например напряжение тока (или механическую величину, например перемещение), пропорциональную интенсивности одного пз лучистых потоков, воспринимаемых приемником 1. Далее этот сигнал попадает на устройство 5, преобразующее его в значения температуры Тр частичной или полной радиации, Таким образом, канал 1 4 5 есть обычный пирометр суммарной пли частичной радиации. Логическое устройство 6 сравнивает температуры Тотп Тр и В зависимости от пх разности ХТ= Т - Тр вводит заранее вычисленные поправки ХТ к показаниям регистрврую 1 цего устройства 3.Если поправка на неполноту излучения вводится по...

Номер патента: 562730

Опубликовано: 25.06.1977

Автор: Клочек

МПК: G01J 1/04

Метки: зеемана, эффекта

...образом. Свет от исследуемо ма нигочувстви"тельной спектральной лин:.и цоэхэдиг чере,;Калекгроопгический кристалл , Пэд дейст"вием модулирующего, апряже,.ня, поступ:.щего на эгог кристалл с блока 17 выс-кого напряжения, он последовагельно приобретает свойства + л /4- пластинки. Приатом циркулярно поляризованная часть света превращается в линейную со взаимно ортогональными плоскостями .поляризации,причем поляризационная призма 2 при одной полярности модулирующего напряженияпропускает Д - компоненту влев о, а 6+в55компоненту вправо относительно исходногоположения разнесенных компонент (в отсутствие зеемановского расщепления), какато показано на чертеже длинными штриховыми линиями, Исходное положение компоценг на чергеже показано сплошными...

Номер патента: 562731

Опубликовано: 25.06.1977

Авторы: Жиглинский, Калмаков, Царев

МПК: G01J 3/40

Метки: анализа, спектрального

...лцни с олцзкцмц потенцалаъ 1 ц Возбуждегця слабо следит за температурой разряда. Таки. образом, еслц выбрать пару 5 элементов с разлцчцымц упругостями паров,то оттос цельная яркость линий этих элемецтсз может хорошо следить за условцяхи испа.рен:я. Линии следует выбирать так, чтобы коэтр".;:ц:тетт корреляццй 1 относительно ярко- О стц этих линий ц аналитического сигнала былна.большим. В этсм случае корреляция результатов измерений методом множестветгной ксрреляц:и новьшает точность результатов.Прои спектральном анализе продукции заводов отнесение продукции к той и.тп иной марке:ьц сорту, а также отбраковка негодной продукции зав:сцт от точности спектральных определений. Прц недостаточчой точности аетализа негодная продукция может...

Номер патента: 562732

Опубликовано: 25.06.1977

Автор: Миодушевский

МПК: G01J 5/02

Метки: датчик, лучистого, потока, теплового

...ПОЭТОЮ т неги;СППС ЕГО габаритов является сепьсзпым недо,татком.20 Цель 0 устройства является повышениетоности пзмезсп 11 я. Это достнга;тся тем. 1 то тсплоэлектроизотяцИО гт 1 ая О -,С,(т(2 тПОЛ 1 тс 1 та Перс,Сттиой 25 толщ: ны по периметр трубки, а экран на 11 СССН 1 СПО РСДСТВС,НО НЯ ;ОЛОЛГЫтс СПЯ термопар и выпол. Си из -,лсктроизоляцпоп- НОГО материала с пок 1 Эытием, имс 10 щим Вь- сскую отражательну 1 о способность, 1 апример. ЗО из сстэебра1)3 ст)зцтсльный элс.,си лдт:нкд со.то 1, н 3 р с 1 с н Г 1 ю не н н 0 Й .,1 с л н 0 Й т рб к н ) ) н 2 е О 1 О Р)Ю ПаЦСССНЯ ТСПГ 10 ЭЛСКТ;ОНЗОГ 1 ЯЦЦОнпс 15 ПОЛ- ложка 2; иа трубку с полложкоц аита сп )Я;Ь Цз КОНСТ 1 НТ 2 НО 300 НРОБОЛЯ , Нс ПОГО- вину кажлого в )ткя сс нанесено мслнос по-...

Номер патента: 562733

Опубликовано: 25.06.1977

Авторы: Зубов, Крышев, Семенистый, Юрковский

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометр, спектрального

...:.а фотодцоды 2 и 3, включежные по схеме фотодиодного режима с раздельными сопротивлениями нагрузки 4 и 5 и общим источ.нпком Напряжения смсцеция, которым сгужит генератор 9 экспоцецциальцого напр- жсцця. Одна шина генератора 9, 1 апрцмср мцнусовая, подключеца к общей точке фотолиодов, а вторая шина сослппсца через цагрузочцые сопротцвлсция с цх катодам;. С;иг:Галы теплового излучения участков спектра ызыВяют п 1 опориопяльцыс цсмоГмлцрованные фототоки фотолцолов Уи 1:,От генератора 9, запуском которого управляет сицхроцизатор 11, к фото:Полам 2 и д псрцолически прк;ялывястся Напрже ние смещения, цзмсцяющееся по экспоцсц- цияльнО.,у закону. Если, цяпримср, эксюс 1- циальное напряжение изменяется по уоываюцему зякопу, то В Г 1 ячяле кяж...

Номер патента: 393961

Опубликовано: 25.06.1977

Авторы: Вельский, Гаргер, Гришин, Китаев, Нейфельд, Остапенко, Пабат, Свет

МПК: G01J 5/02

Метки: жидкого, металла, температуры

...контактирует с жидким металлом, а со стороны второго торца установлен цветовой пирометр.Однако в известных устройствах цельный кварцевый стержень меняет свои оптические свойства в зоне высоких температур, а при жестком монтаже светопровода в футеровке может произойти скалывание светопроводящего стержня.В предлагаемом устройстве с целью повышения надежности и точности измерения светопровод состоит из иммерсионной части, выполненной в виде огнеупорного блока с встроенным по его оси цилиндрическочконическим стержнем из оптически прозрачного огнеупорного и химически стойкого материала, например сапфира, и из светопроводящей части, выполненной в виде стержня из оптически прозрачного материала, например кварца,На чертежике приведена...

Номер патента: 533268

Опубликовано: 25.06.1977

Автор: Демин

МПК: G01J 3/22

Метки: анализатор, многоканальный, плазмой, рассеянного, света, спектра

...в наклонные, сходящиеся на поеерхности узкополоного ингерференционного светофильтра (УПИСФ) 7. УПИСФ, имеющий центральную длину волны пропускания Хо, соответствующую длине волны лазерного излучения, располагается в фокальной плоскости линзы 6. Для того, чтобы основные параметры светофильтра такие, как коэффициент пропускания в полосе пропускания заметно не отличались лля каждого из наклонных лучей, радиус Я и фокусное расстояние линзы 6 Р избираются такими, чтобы что соответствует отклонению центральной длины волны пропускания лля крайнего из наклонных лучей от Х на величинуЬ= 001 1 о,20 25 30 35 40 45 50 С другой стороны, угол схолимости каждого из лучей на поверхности светофильтра не должен превышать 3, при этом осповпы параметры...