G01J — Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия

Страница 117

Разрядник для спектрального анализа в вакууме

Загрузка...

Номер патента: 1755067

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Садыков, Хамзин

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, вакууме, разрядник, спектрального

...используя при этом: излучение, направляемое на входную щель спектрального прибора по аси симметрии разрядника; излучение, идущее на входную щель приба5 10 20 25 30 35 50 ра от разных областей плазменного факела перпендйкулярно оси симметрии разрядника,Разрядник позволяет получать хороший эмиссионный спектр элементов и пригоден для высокочувствительных количественных определений, в том числе трудновозбудимых. Его можно использовать и для реализации атомно-абсорбционного анализа, расположив разрядник вдоль главной оптической оси спектрального прибора, когда протяженный факел, истекающий из осевого отверстия электрода 4, просвечивается излучением плазмы, возникающей внутри трубки 3 при разряде между электродом 4 и бр икети рован...

Способ определения согласованного положения двух линейных поляризаторов

Загрузка...

Номер патента: 1755068

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Гарасевич, Мягченко, Осипов, Слободянюк

МПК: G01J 4/00

Метки: двух, линейных, положения, поляризаторов, согласованного

...согласованное положение поляризатора в первом приближении. На чертеже (б) этоположение соответствует точке у 4 на оси углов Р, Относительно этого положения поворачивают поляризатор 3 на некоторый угол ук 5 и измеряют сигнал приемника излучения. Далее поворачивают поляриэатоо 3 на некоторый известный угол в сторону 4 и снова измеряют сигнал приемника излучения. Эту операцию повторяют к раз, пока общий поворот поляризатора не станет примерно равным 2 о, причем количество точек К должно быть не менее 3. По полученным парам значений интенсивности к и соответствующим им угловым положениям р вычислительно-управляющее устройство восстанавливает зависимость 3(р) в области малых углов, например, методом наименьших квадратов, определяя...

Устройство для гильберт преобразования пучка излучения

Загрузка...

Номер патента: 1755249

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Балашова, Дыл, Лукашевич, Неофитный, Свич

МПК: G01J 5/50, G03H 1/02

Метки: гильберт, излучения, преобразования, пучка

...периода, такой, что расстояние ЬТ между двумя центральными штрихами выбрано из следующего соотношенияд, Х 2 п-.1,.2где Т - период расположения штрихов структуры, и = 1, 2. 3,При этом поля, рассеянные двумя разделенными местом сбоя властями дифракционной структуры, отличаются на 180, При освещении структуры когерентным пучком света в дифракционных порядках формируется Гильберт-образ излучения.Недостатком устройства является невозможность получения Гильберт-образа с максимальным значением интенсивности поля в третьем дифракционном порядке. В данной структуре интенсивнрсть формируемого Гильберт-образа падает с увеличением номера дифракционного порядка, Зависимость относительного значения интенсивности Гильберт-образа от номера и...

Фотометр

Загрузка...

Номер патента: 1758445

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Глебов

МПК: G01J 1/02

Метки: фотометр

...на расстоянии Р от вершины от ражателя 1 фотоприемник 2 излучения и источник 3 излучения, а также регистрирующее устройство 4, поворотный механизм 5 и растр б, Растр б может быть выполнен, например, в виде ряда параллельных одна 4 другой плоских пластин с соосными отверстиями. Вывод уравнения для определения расстояния Р приведен ниДля упрощения в далР =2 А и б =2 а.Если а= 1, то, как будет показано ниже, А2 а, где 2 А - диаметр зеркального отражателя. 2 а - диаметр приемника 2 излучения, Имея в виду, что реальные значения 2 а не превышают 100 - 150 мм, диаметр зер кального отражателя 1 и, соответственно, наибольший габаритный размер источника 3 излучения также не должны превышать 200-300 мм, На практике же их размеры значительно...

Устройство для измерения спектральной чувствительности фотоприемников

Загрузка...

Номер патента: 1758446

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Тулубенский

МПК: G01J 1/04

Метки: спектральной, фотоприемников, чувствительности

...3 при50 помощи второй фокусирующей системы 4излучение проходит через прозрачнуючасть модулятора 5 и фокусируется в плоскости выходной щели монохроматора 3.Монохроматор 3 в этом случае работает55 в обратном ходе лучей,Излучение, исходящее из входной щелимонохроматора 3, после фокусировки первой фокусирующей системой 2 отражаетсяот первого 7 и второго 8 светоделителей,проходит через третий светоделитель 9 и1758446 Яфп Я) но Использзаписать собирается на чувствительной площадке ФП 6.Монохромэтор 3 имеет в прямом и обратном ходе лучей одинаковый спектральный коэффициент пропускания. При условии, что все светоделители выполнены от одного материала и имеют одинаковые спектральные коэффициенты пропускания т,ц Л, и отражения р, Л, можно...

Способ измерения яркости искусственных протяженных светящихся образований в ионосфере

Загрузка...

Номер патента: 1758447

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Евтушевский, Милиневский

МПК: G01J 1/10

Метки: ионосфере, искусственных, образований, протяженных, светящихся, яркости

...только один участок10 поля.Ступенчатое изменение яркости внефокальных изображений звезды дает возможность соединить построение характеристической кривой по принципу ступенчато 15 го ослабителя с калибровкой по звезднымстандартам яркости и благодаря этому производить калибровку яркости протяженногообъекта в энергетических единицах, исключив различные искажающие факторы, при 20 сущие известным методикам калибровки.Предлагаемый способ реализован прирегистрации искусственных ионосферныхоблаков с помощью телевизонной системына передающей трубке суперизокон ЛИ 80425 с чувствительностью 510 лк (разрешение300 телевизионных линий), В рассматриваемых примерах входной объектив телевизионной камеры Телиос" (Г = 85 мм, 1;1,5)обеспечивал поле...

Способ юстировки фотометра

Загрузка...

Номер патента: 1762132

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Недашковский

МПК: G01J 1/10

Метки: фотометра, юстировки

...г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 мических наблюдений в инфракрасной области. заключающемся в смещении фотоприемного блока до получения нафотоприемнике иэображения входногозрачка фотометра, в плоскости входногозрачка перемещают искусственный точечный источник света. определяют зону. гдеотсутствует сигнал фотоприемника, и смещают фотоприемный блок перпендикулярно оптической оси в направлении,параллельном прямой, соединяющей центрзоны с центром входного зрачка фотометрадо появления сигнала фотоприемника прилюбом положении точечного источника вплоскости входного зрачка.Процесс юстировки фотометра происходит следующим образом,Для юстиравки необходим малый источник излучения (зонд), В простейшем случаев качестве зонда можно использовать...

Способ определения степени кристалличности цеолитов

Загрузка...

Номер патента: 1762157

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Дмитриева, Корнилова, Латышева, Ратовский, Ченец

МПК: G01J 3/30, G01N 1/10

Метки: кристалличности, степени, цеолитов

...31 г(ТЕЛЫ(ай Г 10/1 ОСЫ Р 1545 СМ(гя;,г(г( Р( - ИЦТЕЦСИНОСТЬ МДКСИМДЛЫ(0- 30 3 а ЦРОП",С 1,ганИ)1 с)(ЭЛИТИ(ГЗСКОЙ 1 ПОЛОСЫ11(45 с;,.(Б 0лдст(1 800 - 700 см1)г:с Р( И(ТЕЦСИНОС;ТЕ РгЛЛ( И(г 1 ЭЛЫ(ОГОПРО(1 УСКс) НИЯ ЭДЛИТИЧЕСКОЙ ПОЛОСЫ Р 1 ПРИ 545 гм 1 г гог"Акс (СТ(,(-гК с. 2 г). ГДС; /г 2 " ЗЦЭ(ЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ Г 1 ЛОТНОСТИ Г 10ласы 3 Нутццего с) дндарта (с(руктурцо неу/)ствитсльцОЙ) 3 (, -"(" -350 480 смг ггг( Р/ - , ИНТЕ)г 1 СИГ 3 гОСТЬ РЛДКС4 Д/(ЬНОгс 1(роускдия полосы внугрене(0 стан.пдртд 32 в области 230-250 см г )(гс 1"," - 1(НТЕЦСИБНОСТЬ МИЦ(г(РЛЭ/(ЬНОГО113)опускания полосы внутреннего стандартав Облсзсти 4 Ь 0"480 с(4А(торам ца известны технические решения, и/4 е(а(цие признаки сходные с отме(с)ц ными признаками и...

Электротермический атомизатор

Загрузка...

Номер патента: 1347668

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Атнашев, Баталов, Крылов

МПК: G01J 3/42, G01N 21/71

Метки: атомизатор, электротермический

...геологии, медицине, в области охраны окружающей среды.Цель изобретения повышение чувствительности анализа и стабильности аналитических характеристик дтомизатордНа чертеже изобра,лена конструкция атомизаторд.Атомиздтор сосиит из цилиндрической ВОлл раМОВОй СПИраЛИИ СОПЛа, ВЫПОЛНЕН- посо из двух трубок 2 с фильтрагли на концах 3, через которые подается защитный газ 4,Мини д 1 ьно г расстояние между концами трубок мм выбрано с тегл чтобы трубки не затеняли луч излучения От источника света, просвечивд ощего зону дтоглизации, диаме р которого состдвляе 1 5 2 мм аппаратуре озволяет опэлементов вповышение тдбильности атомизатора ндрическук О, ВЫПОЛНЕН- и на концах, ный гдз. Ось трубок Расвыбрано таь окисления трубок больил.1347668 Состэвитель...

Блок хранения стандартных образцов для градуировки ик влагомеров

Загрузка...

Номер патента: 1763901

Опубликовано: 23.09.1992

Автор: Заверюха

МПК: G01J 1/04

Метки: блок, влагомеров, градуировки, образцов, стандартных, хранения

...аналитической и 1,75 мкм в качестве опорной линии), Изготовить спектральный эквивалент с разным коэффициентом поглощения на этих длинах волн невозможно,Известно также устройство градуировки ИК-влагомеров в ближней ИК-области в виде бюксы с крышкой с образцом влажности. Недостатком устройства градуировки в виде бюксы с образцом влажности является длительность подготовки образцов и градуировки ИК-влагомеров в условиях изготов1763901 Составитель С.ЗаверюхаТ,Шагова Техред Ч.Уоргентал Корректор З.Салка Ре Заказ 3450 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 415 ственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 ои На чертеже изображен блок...

Низкотемпературный сублиллиметровый спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1763902

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Мельничук, Митягин, Мурзин, Степанов, Стоклицкий

МПК: G01J 3/00

Метки: низкотемпературный, спектрометр, сублиллиметровый

...накачки лазера;Тпред - предельная температура активного элемента, выше которой происходит5 срыв генерации лазера на горячих носителях,Кроме того, для защиты измерительнойкамеры от магнитного поля лазера междукамерой и активным элементом может быть10 помещен сверхпроводящий магнитный экран,На чертеже показана конструкция спектрометра,Спектрометр содержит полупроводни 15 ковый субмиллиметровый лазер, состоящийиз активного элемента 1 и сверхпроводящего соленоида 2, которые погружены в криостат 3 с жидким гелием, измерительнуюкамеру 4, входным окном которой служит20 торец 5 активного элемента 1 и в которойразмещены исследуемый образец 6 с диафрагмами 7 и приемник излучения 8, магнитный экран 9,Спектрометр работает. следующим об 25...

Скоростной спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1763903

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Веклич, Жовтянский, Новик

МПК: G01J 3/12

Метки: скоростной, спектрометр

...прибора не меньше расстоячия между фотокатодом и передней плоскостью входного окна фотоэлектрическогоприбора.На фиг. 1 схематично представлен ходлучей в известном 1) устройстве, а на фиг.2 - ход лучей в предложенном устройстве.Скоростной спектрометр (фиг, 2) содержит входную щель 1, выходную щель 2 спектрального прибора 3 предварительноймонохроматизации, фотокатод 4 диссектора, объектив 5 с различными фокуснымирасстояниями во взаимно перпендикулярных сечениях размещен на выходе интерферометра 6 Фабри-Перо так, что его перваяфокальная плоскость совпадает с плоскостью входной щели 1,Скоростной спектрометр работает следующим образомПараллельный пучок света с выхода интерфеоометра 6 Фабри-Перо образует после прохождения через объектив...

Устройство определения направления на источник излучения

Загрузка...

Номер патента: 1764007

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Гуд, Лачехин

МПК: G01J 1/04, G01S 3/00

Метки: излучения, источник, направления

...источник), содержащее 6 каналов, каждый из которых содержит связанные друг с другом фотоприемник, предусилитель, формирователь, Взаимным расположением фотопрлемников сформировано сферическое поле зрения. При этом сфера трансформирована на плоскость, поверхность которой равна погранью куба, имеет величину 90 х 90 О, Во избежание мертвых зон поля зрения фотоприемников незначительно перекрываются. Недостатком известного устройства является недостаточная точность определения направления на излучатель, так как с помощью него можно определить расположение источника лишь в одном из 6 участков сферического пространства, что соответствует точности +45 О,Цель изобретения - повышение точности при одновременном упрощений устройства за счет...

Способ определения направленной излучательной способности покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1334896

Опубликовано: 23.09.1992

Автор: Падерин

МПК: G01J 5/06

Метки: излучательной, направленной, покрытий, способности

...3 иццлицдг)о)1 1 ид расстоянии не более0)1 цд)ужцого радиуса цилиндряинагревают образец 4 до задайцой температуры,Далее для определения излучдтельцой способности в направленииотц )сительно перпецдикупяра кповерхности цследуемого образцаизмеряют температуру исследуемогообразгга сг иотоки излучеция приемником излучения 2, рдсположеццымд 1)дсстояеи)х О 1 Обрдзце 1 Р( - ф ), (Э 2 Э направленная излучательная способеОстеьисследуемого образца в направлении(Р ф2Эс й) ЦЬ = 3 + Г,СЕ;Р (- ,-),потоки излучения отисследуемого и эталонного образцов,измереннье приемником излучения прирасстояниях Ь Ьот образца;излучательная способность эталонного образца.Способ позволяет определять излучдтельцую способность в любом направлении и, следовательно,...

Устройство для определения индикатрисы излучения материалов

Загрузка...

Номер патента: 1347669

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Баскин, Жигарева, Казаков, Падерин

МПК: G01J 5/00

Метки: излучения, индикатрисы

...закону Ламберта, .например полостной сферической модели абсолютно черного тела при одинаковых с исследуемым образцом температурах, то иэлучательная способность иссле 69 2режиме регистрируют показания приемников 8 лучистых потоков и датчика температуры 5. Излучательную способность образца в различных направлениях901 с( в ) определяют иэ соотношенияпгде Е(1 ) - направленная излучательуВная способность исследуемого образца в направленк 1(2) 3 134дуемого Обр)зца а на 1 авгенин) о)ределяетгя по более простой формуле где с, в .иэлуь)ательц.п способцость эталонс.го образца,Яд,- лучисть)е по;оки от эталс.нного образца иэмере)ь)ьье 1 см и (1 с):.м приемниками излучения.В тех случаях, когда сигналы приемников излучения 13...

Атомно-абсорбционный спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1482378

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Атнашев, Валеев, Корепанов, Мурзиева, Трубин

МПК: G01J 3/42

Метки: атомно-абсорбционный, спектрометр

...1 света по"дается через осветительную систему 2в зону атомизации над горелкой 8. Го"релка 8 служит дляатомизации элементов, содержащихся в растворе и подаю 1щихся в распылительную камеру 3 изпневматического распылителя 7, Перво-,начально исследуемый раствор не подается из пневматического распылителя .7 в распылительную камеру 3. Оптический сигнал через монохроматор4 и фотоэлектрический приемник 5подается на измерительное устройствоб. Преобразователь 9 звуковых колебаний в,электрические, вмонтированныйи корпусе распылительной камеры 3,подает сигнал Фона ма селективныйусилитель 10. Устройство 12 выборкии хранения переводится из режима выборки в режим хранения сигнала Фона,который подается с выхода селективного усилителя 10, на второй...

Способ измерения радиуса пространственной когерентности

Загрузка...

Номер патента: 1429705

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Беленький, Глушков, Нетреба, Покасов

МПК: G01J 3/00

Метки: когерентности, пространственной, радиуса

...радиус излучающей апертуры оптической системы 2; Г - радиус кривизны волнового Фронта в центре2 1излучающей апертуры;7 - длина волны; р,(1,45 с С 1.)радиус когерентности плоской волныгФСи - структурная характеристикафлуктуаций показателя преломления.Если частично когерентное излучЕние Фокусируется ( в1) большойГапертурой 1 оптической системы 2а= в -е ) .1 на заданной дальности11 то первое слагаемое (геометрический размер) обращается в ноль, а нторое оказывается пренебрежимо мало посравнению с третьим.4В многомодовых лазерных пучках,возбуждаемых н сферическом резонаторе лазера,43 а Мгде 1, - число поперечных мод, а отношение третьего слагаемого ко второму равно а /рк - И следовательгно, вторым слагаемым можно пренебречь,Последнее...

Многоспектральный сканирующий радиометр

Загрузка...

Номер патента: 1768040

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Глушков, Максимов, Мухамедьяров, Хисамов

МПК: G01J 5/56

Метки: многоспектральный, радиометр, сканирующий

...14 включен между выходом управляемого фиксатора нуля 11 и общей шиной, а управляющий вход ключа 14 является управляющим входом управляемого фиксатора нуля 11, электронный ключ 17 соединен одним выводом с общей шиной, а другим, через управляемый резистивный делитель 15, 16, с входом регулируемого импульсного корректора 12, средний вывод управляемого резистивного делителя 15, 16 является выходом, а управляющий вход электронного ключа 17 является управляющим входом регулируемого импульсного корректора 12.Многоспектральный сканирующий радиометр работает следующим образом. Привод сканирующего устройства 1 изменяет положение зеркала сканирования таким образом, что мгновенное поле зрения радиометра перемещается перпендикулярно направлению...

Способ дистанционного измерения диаметра лазерного пучка

Загрузка...

Номер патента: 1455842

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Колосов, Кузиковский

МПК: G01J 5/58

Метки: диаметра, дистанционного, лазерного, пучка

...частотаождении иэлученреду излучение. СО АН СССР(54) СПОСОБ ДИСНИЯ ДИАМЕТРА ЛА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения радиуса пучка лазерного излучения, Цель изобретения - упрощение измерений и по".вышение их точности. Лазерный квази"параллельный пучок модулируют по интенсивности и посылают в поглощающуюсреду., Регистрйруют возникающий припоглощении излучения звук. Изменяячастоту модуляции, находят ее значение, при котором интенсивность звукамаксимальна. По найденному значениючастоты модуляции судят о радиусепучка излучения, 1 ил.Заказ 45 бб ТиражВНКПИ Государственного комите113035, Москва Подписноеениям и открытиям при ГКИТ СССР кая наб., д. 4/5 о изо 35 Р нэводстнеино-издательский...

Внутрирезонаторный лазерный спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1480520

Опубликовано: 07.10.1992

Автор: Солодов

МПК: G01J 3/42

Метки: внутрирезонаторный, лазерный, спектрометр

...- ца блоки 19, 20 поджига, откоторых происходит запуск лазеров1, 2. При многократном проходе излучения через кювету 8 для исследуемо"го вещества в спектре излучения лазераобразуются провалы,центры которых совпадаот с центрами линий поглощения . Через время, равное 0,5 мсот блока 20 поджига запускаетсякольцевой лазер 2 ц с этого момента50оба лазера гецерйруют вместе,Кольцевой лазер 2 с возвратнымзеркалом, в качестве которого н данном случае используетсл в целом широ.кополосный ВРЛС, генерирует в режименепрерывной перестройки частоты одЦОЙ ПРОДОЛЬЕ 01 МОДЫ С МГНОВЕЕОЙ ШИриной спектра, раяцсй "2 ИГц, Прццнжекцци цэ:уся лазерав реэоцатор кольцевого лазера 2 ц его временной развертке интенсивности иэлучецил с помощью фотогрцемцика 5...

Устройство для измерения индикатрисы источника излучения и рассеяния образцов при воздействии на них пучков излучения

Загрузка...

Номер патента: 1770771

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Калантарян, Кононенко, Муратов, Сторижко

МПК: G01J 1/04, G01J 3/12

Метки: воздействии, излучения, индикатрисы, источника, них, образцов, пучков, рассеяния

...для измерения излучения на определенной длине волны 4 и с заданной поляризацией Ро (см. фиг.1), Угол, под которым пучок излучения 2 падает на исследуемую поверхность образца, определяется как угол между нормалью 30 к этой1770771 40 поверхности в точке пересечения осей 2 (14), 11,16 и 17 и осью пучка 2, и обозначается , Направление, по которому световод принимает излучение от образца, характеризуется двумя углами аиф. Угол а - угол 5 между проекцией 31 нормали 30 в плоскости, проходящей через оси 17 и 2, и осью 17. Угол ф - угол между осями 1 б и 11. Пучок 2 направляется под углом у на исследуемую поверхность образца. Полученное в резуль тате этого электромагнитное излучение в направлении, характеризуемом углами а и 3, проходит...

Приемное устройство фотометра

Загрузка...

Номер патента: 1770772

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Дорофеев, Тимофеев

МПК: G01J 1/44

Метки: приемное, фотометра

...выходом 8 приемного устройства фотометра.Устройство работает следующим образом.Затвору транзистора 4 сообщается определенный потенциал, например, потенциал общей шины источника питания. В начале периода интегрирования емкость 2 заряжается посредством ключа 6 до относительно высокого напряжения источника питания, после чего ключ б закрывается и происходит разряд емкости 2 фототоком фотодиода 1 через канал первого полевого транзистора 4 на его исток, При постоянной во времени измеряемой освещенности фототок также постоянен и. следовательно. напряжение на интегрирующей емкости 2 изменяется во времени линейно. Поддействием фототока емкость стока может разряжаться линейно почти полностью, а потенциал емкости истока остается на уровне,...

Фоторегистратор для счета фотонов

Загрузка...

Номер патента: 1770773

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Гулаков, Холондырев, Шаблинский

МПК: G01J 1/44

Метки: счета, фотонов, фоторегистратор

...представлена блок-схема устройства,Устройство содержит ЛФД 1 с гасящимрезистором, усилитель 2 тока микроплазменных импульсов, управляемый источник 3 питания, интенсиметр 4, усилитель 5 сигнала рассогласования, устройство 6 фиксации напряжения, схему 7 суммирования напряжения, управляемый генератор 8 приращения напряжения, генератор 9 калибровочных интервалов.Выход усилителя 2 тока микроплазменных импульсов подключен через интенсиметр 4 к инвертирующему входу усилителя 5 сигнала рассогласования, к неинвертирующему входу которого подключен источникопорного напряжения. выход усилителя 5через устройство 6 фиксации напряженияподключен к первому входу схемы 7 сумми 5 рования напряжения, второй вход которойсоединен с выходом управляемого...

Способ геоэлектроразведки и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1770774

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Алаев, Давыдычева, Кашик, Рыхлинский, Хузин

МПК: G01J 3/06

Метки: геоэлектроразведки

...первому сопротивлению 15 второе сопротивление, соединяющее выход повторителя 12 с неинвертирующим входом дифференциального усилителя 13; 17 - сопротивление обратной связи дифференциального усилителя 13, равное по величине первому сопротивлению 15; 18 - равное по величине второму сопротивлению 16 делительное сопротивление, соединяющее неинвертирующий вход дифференциального усилителя 13 с шиной-корпусом 14 приемника; 19 - выход дифференциального усилителя 13, являющийся выходом сигнала первой разности потенциалов Ь Ою 1 м между заземлениями М 1 и М 2 (элементы 7,9,10,12,13,16,17 и 18 составляют датчик первой разности потенциалов); 20 - повторитель, выполненный на охваченном 100 ообратной связью операционном усилителе,...

Устройство для геофизической электроразведки

Загрузка...

Номер патента: 1770775

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Гапонов, Садчиков, Сиянов

МПК: G01J 3/08

Метки: геофизической, электроразведки

...высокочастотный фаэовращатель 8, фазовый детектор 9, устройство 10 фаэовой автоматической подстройки частоты (ФАПЧ), при этом в состав фазовращателя входят колебательный контур 11, умножитель 12 до бротности, содержащий резонансный усилитель 13, опорный колебательный контур 14, соединительные емкости 15, 16 и 17 и диодную цепочку из встречно-параллельно включенных диодов 18 и 19..Приемный электрод 1 соединен с общей точкой последовательно-встречно включенных варикапов 2 и 3, выходы первого 4 и второго 5 генераторов соединены со входами смесителя 6, выход которого подключен ко входу преобразователя 7 частоты в напряжение, при этом выход генератора 4 соединен также с первыми входами фазовращателя 8 и фазового детектора 9, выход...

Способ геоэлектроразведки

Загрузка...

Номер патента: 1770776

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Исаев

МПК: G01J 3/10

Метки: геоэлектроразведки

...этом сигнал на входе фильтра х (т) и на выходе е 8 ых (с) связаны следующим соотношением: где и - граничная частота фильтра.Из формулы (1) следует, что при равенстве нулю производной выходного сигналаимеет место неискаженная передача сигнала переходного процесса, т,е, е(т)- - живых (т), а производная равна нулю при максимальном значении переходного сигнала Ееых (1)На фиг, 1 приведена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 - временные диаграммы, поясняющие работу способа,Устройство для реализации способа может, например, содержать датчик 1 электромагнитного поля, выход которого соединен со входами параллельно включенныхфильтров 2, каждый иэ которых соединен с соответствующим информационным входом коммутатора...

Способ определения цветкового контраста

Загрузка...

Номер патента: 1770777

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Колесникова, Севостьянов, Татаринов

МПК: G01J 3/46

Метки: контраста, цветкового

...сущности и достигаемому результату к изобретению является способ определения цветового контраста по цветовой разности изображения индекса в состояниях "включено" и выключено" в зрительно однородном цветовом пространстве, Способ применяется для вббого числа устройств. Способ заключается в измерении пропускания изображения индекса в состояниях ВКЛЮЧЕНО И ВЫКЛЮЧЕНО В бОЛЬШОМ ЧИСЛЕ точек длин волн в диапазоне от 400 до 700 нм и дальнейшем расчете цветовой разности по формулед)2 + р )2 р цв)21/2(1)где Ь, Ьа, ЬЬ - разности цветовыхв фкоординат изображения в состояниях"включено" и "выключено":Л=вл - .вык, Ь а = авив - авьисл,ЛЬ = Ьвкл - ЬвцквЦветовые координаты .", а", О Определяются из уравнений:в (, У )1/э 1 б, р) а = 50 щХ/Хо)э - (У Ъо)...

Способ определения неоднородности пространственного распределения оптического поглощения

Загрузка...

Номер патента: 1770778

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Сидорюк, Скворцов, Шестаков

МПК: G01J 5/00

Метки: неоднородности, оптического, поглощения, пространственного, распределения

...типные лазеры, объективы, приемники теплового излучения и системы обработки электрических сигналов, то можно. исходить из равенства минимальных значений Опв и Опв регистрируемых переменных состав ляющих теплового излучения в обоих рассматриваемых случаях, т.е,Ови = Огпп30 В прототипеОаи = К Рйви (2)где К - коэффициент, определяемый тепло 35 физическими характеристиками образца,его начальной температурой и регистрирующей аппаратурой;Р - плотность мощности лазерного излучения;40 аь - минимальный измеряемый коэффициент локального поглощения,В заявляемом способеО,= К Р (и - а) вь, (3)45где а 1 и а 2 - предельные значения коэффициентов локального поглощения на участке сканирования;(а) - а 2)аь - минимальное регистрируемое значение...

Способ бесконтактного определения температуры

Загрузка...

Номер патента: 1770779

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Белов, Засименко, Марусенков, Сенив, Шилин

МПК: G01J 5/50

Метки: бесконтактного, температуры

...соответствующие нижнему и верхнему пределам изменения температуры обьекта измерения определяются, например, по показаниям контактного термометра.Коэффициент изменения излучательной способности А определяет крутизну нарастания е в заданном диапазоне температур и спектральном диапазоне использу емого пирометра, Таким образом, в характеристике А учтена зависимость излучательной способности от температуры и длины волны излучения, т,е, я(А, Т).Чем выше значение Ае, тем больше 45 может быть погрешность измерения при введении коррекции в одной точке шкалы (прототип),Если диапазон измерения температуры таков, что ев = ен , т.е, излучательная спо собность объекта не зависит от температуры в заданном диапазоне ее измерения и спектральном...

Способ полихроматического определения истинной температуры

Загрузка...

Номер патента: 1770780

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Свет

МПК: G01J 5/50

Метки: истинной, полихроматического, температуры

...Ю =0,25,15 20 ЬТ =73 К ЬТ 100 - 73 34 О 25 Т 800. пЕ п 0,098 ФЕ ЕЬ О,г При гладкой поверхности 306 и ю,офДТ: Йп=3,770 п- 50 реципрон35 0,35- Л 106Сг ЬТ 42 - 3 Т 800 351.О 9- 13 рец ихроматио отношеньшает за методиче=91: - = =06 ЬТ 9 - 4 Т 800ом методе с проррекцией, пред- ения позволяет погрешность от способности на 50 Итак, в стейшей ав лагаемый уменьшить вариации 55 250 в 300, ерь приме- хроматичеатической и применя- пропорциояркости в е 7 7 ии, т,о.,фо ения Спосо ния истиннл Е,дТ = - Ец, 1 О 0124 ФЭВВ " ООРОО 8 0,259 о,ов)ю 1юег еЬТ: б 1 рем,опрон;дт:,сгКТеперь положим, что эа счет появленияшероховатости иэлучательная способностьалюминиевой поверхности увеличилась истала: Тогда погрешность в обычном методе спектрального...