Жеенбаев

Номер патента: 1744512

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Жеенбаев, Рысбеков, Токарский, Урманбетов, Чылымов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, распылитель, спектрального

...газа поверхности капилляра, что снижает надежность работы распылителя.: Цель изобретения - повышение надежности работы распылителя за счет точности центровки капилляра относительно сопла1744512 оставитель Н,Назаровехред М,Моргентал р Т,Палий дактор М.Кобылянская Тираж Подписноеарственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 аз В И Го зводственно-издательский комбинат "Патент". г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 корпуса и обеспечение тангенциальной закрутки газа,В распылителе для спектрального анализа, содержащем корпус с каналом для подачи распыляющего газа, камеру, перехо дящую в сопла и капилляр с элементом центровки в сопле, на поверхности капилляра закреплена проволочная спираль,...

Номер патента: 1706973

Опубликовано: 23.01.1992

Авторы: Жеенбаев, Журавлев, Кобцов, Левитин, Самсонов, Токарский, Черепанов

МПК: C03B 19/10

Метки: микрошариков, термопластичного

...шарика определяется точностью получения объема цилиндрической гранулы,при расплавлении которой он получен, Приэтом стабильность диаметра гранулы обеспечивается технологией изготовления стеклянной нити, заимствованной в большейчасти из технологии изготовления оптического стекловолокна, а стабильность длиныгранулы 1 определяется точностью разрезкистеклянной нити на отрезки требуемой длины,Очевидно, что при достигнутой точности разрезки нити Ь 1 точность полученияобъема гранулы увеличивается с увеличением длины гранулы 1, в этом случае уменьшается вклад от погрешности изготовления1-1 + 2 Ь 1, (2)где 1 - длина гранулы при изготовлении;1 - расчетная длина гранулы, определяется по формуле (1) при заданном О и принятом о,Ь - погрешность с...

Номер патента: 1698009

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Асаналиев, Жеенбаев, Конавко, Сабаев, Янтураев

МПК: B23K 10/00, B23K 9/08

Метки: высокотемпературной, поверхности

...на каретке 5 с возможностью перемещения по направляющей б,магнита 4 и устройства их перемещения над обрабатываемой поверхностью, Продольные оси полюсов электромагнита расположены в плоскости, перпендикулярной оси анода. Применение способа и устройства позволяет обеспечить кратковременный нагрев поверхности, снизить энергоэатраты и упростить конструкцию, 2 с.п, ф-лы, 2 ил. которая, в свою очередь, закреплена с возможностью .продольного перемещения на стойках 7, установленных неподвижно и параллельно обрабатываемой поверхности 2.Устройство работает следующим образом.При зажигании дуги между катодом 3 и анодом 1 между полюсами электромагнита 4 создается переменное магнитное поле, При изменении магнитной индукции поля прианодная часть...

Номер патента: 1631312

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Жеенбаев, Пащенко, Самсонов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, плазмотрон, спектрального, электродуговой

...держателем 15 вынимают иэ плаэмотрона и в держатель 15 устанавливают пробу 16, подвергаемую анализу. Вставку 11 устанавливают в плазмотрон, На электроды 1 и 3 подают постоянное напряжение и инициируют дугу, например, с помощью высоковольтного высокочастотного разряда. В кольцевом плазменном канале 6, образованном поверхностью держателя 15 с пробой 16 и стенками электродов и вставок 4, размещенных между анодом 3 и катодом 1, образуется электрическая дуга, которая перемещается по кольцевым поверхностям катода и анода под действием потоков газа, подаваемого по трубопроводу ",7 через спиральные каналы 14 и через штуцер 18 с тангенциальной закруткой между вставка- , и 4. При вращении дуга образует коническую полость, в верхней части которой...