Патенты с меткой «рефракции»

Номер патента: 1267230

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Виноградов, Медовиков

МПК: G01N 21/41

Метки: вертикальных, рефракции, углов

...что в свою очередь обусловливает высокую точность способа.и одновременно, что следует из(фиг.), как сумму углов рефракции,а также учитывая коэффициент связи 1К между углами рефракции г и гизмеренный предлагаемым способом,получаем выражения для определенияискомых углов рефракции 8.г,1+К Ш 2 +а,где К = в ;- в ,коэффициент связи.ШСпособ может быть реализован с помощью устройства, представленного на фиг.2.Установленными на концах трассы в пунктахи 2 высокоточными теодолитами 3 и 4 одновременно измеряют взаимообратные зенитные расстояния, значения которых через преобразователи 5 и б вхоцной информации передают на устройство 7 для измерения средних значений зенитных расстояний, измеренных в пункте 1 трассы, и через радиопередатчик 8,...

Номер патента: 1295229

Опубликовано: 07.03.1987

Автор: Перуанский

МПК: G01C 1/02

Метки: зенитных, расстояний, рефракции

...работает следующим образом.Устанавливают визирную линию угломерного инструмента на эфемеридноезенитное расстояние Е ., открепляют1295229 эакрепительньп винт 5 и поворачивают ось 3 таким образом, чтобы один из штрихов, нанесенных на основании призмы, расположился напротив индекса 23, а именно тот штрих, который соот ветствует вертикальному положению биссектрисы углакогда пузырек уровня 6 выведен в нуль-пункт (на фиг.1 этот штрих подписан цефрой О). Соответству. ющее расположение уровня и индекса 0 23 всегда можно добиться юстировочным винтом 7 уровня 6, тем более, что точность установки биссектрисы в отвес 1. ное положение невысока - порядка 1 После требуемой установки призмы по 5 отношению к уровню закрепляют винт 5 и устанавливают...

Номер патента: 1303823

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Жилинский, Соколов

МПК: G01C 1/00

Метки: приращений, рефракции, угла

...в плоскости датчика углового положения светового пучка, После преобразования светового пучка в дагчике 6 угловых перемещений электрический сигнал на его выходе, пропорциональный угло ному положению пришедшего светового пучка, подается на блок 5 обработки, в котором усредняются по времени высокочастотные колебания вь ходного сигнанГ 3 ыхое о. уч .1 гя гн-налпропорионльный среем, 13 о.О - жению светового пучка на входе датчика 6 угловых перемещений.При дефорлиии основания 11, т,е. при изменении положения отражателя 7 относительно излучателя 1, луч, приходящий на отражатель 7, отклонится да угол, равный удвоенному значению угла поворота отражателя 7, т.е. на выходе датчика 6 углового положения светового пучка появится сигнал,...

Номер патента: 1317334

Опубликовано: 15.06.1987

Автор: Медовиков

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферы, рефракции, угловой

...ц = соя (2 - Е) (3)При распространении в плоскослоистой среде, каковой является атмос 20Фера, т,е. испытав преломление на1-границах раздела слоев воздуха(фиг.1), имеем:А Е /Е= Г 1 соя (Е; - 2;)М:юУчитывая, что углы Е; близки между собой (4) можно разложить в ряд,ограничиваясь первым членом разложе.ния:30(5) получим:г= --1 п (е /е )11 Г 21 (Е Ею)2Е Е45ю иЭнергия электромагнитных волн приобработке сигналов преобразуется вэлектрические сигналы, поэтомуи - АВ) (7) 50 " 22 огде х, и- амплитуды электрических токов при вертикальной и горизонтальной поляризациях электромагнитной волны;Ею - зенитное расстояниеисточника излучения.Полученная Формула свидетельствует, что угол рефракции можно най 1317ти путем измерения и последующего сравнения...

Номер патента: 1341553

Опубликовано: 30.09.1987

Автор: Бродский

МПК: G01N 21/41

Метки: газов, рефракции

...потоков2(в+1где ш - количество секций кюветы;и - показатель преломления оконкюветы;коэффициент пропускания материала окон при толщине, рав-ной суммарной толщине этихокон;Г - падающий на кювету лучистыйопоток.351Корнем уравнения 69 = О, которому соответствует максимальное значение ьУ, является оптимальное количество секций кюветы ш= 2 п/(и) или количество р внутренних окон, определя емое по формуле2 пГ 1(2)Например, при выполнении окон из Фтористого натрия, для которого и "- =1,325 на длине волны 0,6 мкм, р- 24, т.е. при миллиметровых толщине окон и расстоянии между ними, длина кюветы составляет 5 мм, что примерно в 20 раз меньше длины кюветы интерферометра ИТР, предназначенной для измерения малых значений 8 . Соответственно и...

Номер патента: 1352209

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Виноградов, Медовиков, Никольский

МПК: G01C 5/00

Метки: нивелирной, рефракции

...ул.Проектная, 4 Изобретение относится к определению атмосферной рефракции, а именнок способам определения вертикальнойсоставляющей земной рефракции, и может быть использовано в геометрическом нивелировании для повышения точности определения превышений за счетисключения влияния на них вертикальной составляющей рефракции,Целью изобретения является повышение производительности труда и точности в процессе определения нивелирной рефракции за счет упрощения способа и увеличения репрезентативностирезультатов определения.Способ заключается во взаимосвязитурбулентности, вертикального темпеРатурного градиента и рефракции вприземном слое атмосферы. Величинуже турбулентности определяют с помощью визирной цели в виде регулярнойструктуры типа...

Номер патента: 1362927

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Островский, Перий

МПК: G01C 5/00

Метки: вертикальной, рефракции, угла, частного

...температур на трассе. В благоприятных. условиях, т,е. в периодыспокойных изображений и увеличив 55 точность измерения разности рефракцийНдо 1 , точность способа составляет 3-5Измерения могут производиться сгеодезического сигнала и со штатива,Ь Разность определяется- измеренные расстояния кцели, соответственно сверхнего и нижнегопунктов наблюдения; - измеренные зенитныерасстояния на соответствующих высотах; - теоретические значениязенитных расстояний длясоответстввенных высот; - вертикальный базис. вертикальных рефракций по следующей формуле; д 8 = В Е,-ЯЕ,= р -(Е,-Е,). (2) При наблюдениях на одинаковый вертикальный базис на другом пункте тео 27 2 ретические зенитные расстояния будут равны, а уголравен нулю. При использовании...

Номер патента: 1425120

Опубликовано: 23.09.1988

Авторы: Евсеев, Милявская, Шаповалов

МПК: B61F 9/00

Метки: видения, глаза, дальнего, динамической, зоне, ослабления, рефракции

...образом систему линз с плавно изменяющейся рефракцией. Рукоятки соединяются ленточным55 ограничителем движения, препятствующим выпадению внутренней трубки из внешней. Телескопические трубки сдвигаются до того положения, когда диафрагма, плюсовая и минусовая линзы находятся вплотную друг к другу.Пациент берет подготовленное к работе устройство за рукоятки и подносит окуляр к глазу. Второй глаз закрыт заслонкой, При этом пациент наблюдает одиночное изображение тестобъ кта в виде точечного лазерного спекла. Затем, удерживая рукоятку цеподвижно, пациент начинает медленно отодвигать от себя рукоятку и вследствие этого перемещать минусовую линзу от глаза ослабляя тем самым оптическую систему. Перед ним стоит задача сохранить одиночное...

Номер патента: 1476343

Опубликовано: 30.04.1989

Авторы: Жилинский, Соколов

МПК: G01J 1/44, G01W 1/00

Метки: прихода, пучка, рефракции, светового, угла, флуктуациям

...6 задания исходных данных, блок 7 50вдпЛ, вычислитель 8, индикатор 9. В качестве датчика 4 флуктуаций углового положения светового пучка может быть использован)например, фотоэлектрический позиционночувствительный датчик или на основе матричных элементов. Блок 5 перестраиваемыхфильтров состоит из перестраиваемых фильтров, настраиваемых на частоты, соответствующие интервалу инерционного диапазона измерения, а также учесть изменение частотного спектра, которое зависит от времени.После фильтрации на двух частотах со и со измеряют амплитудные значения флуктуаций Ф(со) и Ф(сог) (фиг. 2) в полосе частот Лсо. Такая операция позволяет по известному закону У, (со) распределения флуктуаций угла прихода светового пучка и по измеренным...

Номер патента: 1479072

Опубликовано: 15.05.1989

Авторы: Егоров, Утехин, Фролов

МПК: A61B 3/028

Метки: глаза, регулировки, рефракции

...время работы, а элементом 14 управления регулировки длительности импульса устанавливают время работы в дальнейшей Сближайшей) зоне видимости.По команде "11 уск" элемента управления 11 срабатывает К-Б-триггер 18 блока синхронизации 10 и включает таймер 17, на выходе которого формируются секундные и минутные импульсы синхронизации и К-Б-триггер 29 управляемого генератора 12 сигнала раз - решает прохождение секундных импуль 1479072сов от таймера 17 через элемецт И 19 на вход счетчика с дешифратором 20, первый, пятый и девятый импульсы которогочерез элемент ИЛИ 21 разряжают конденсатор в ключевом устройстве 22, а десятый импульс сбрасывает К-Б-триггер 29 и запрещает прохождение секундных импульсов через элемент И 19, А конденсатор в...

Номер патента: 1502003

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Ананьин, Вельховер, Ромашов

МПК: A61B 3/00

Метки: глаза, оценки, рефракции

...Затем изображение пятна проецируется на фотон рием ни к 36. Перемещение объектива 7 позволяет передавать изображение светового пятна, отраженного от глазного дна, при разных величинах рефракции. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.(и 2)4 и рсгис гр;3 Ором )70 ОВ 1 1 33 НЕ 3 Т 3 В сС ГРО0010.ИО,борО,13 с 1 Я 011013 ( Н 1(н) 1 а(1 д) 101 и 1 061);1 11 чч)рсс нис Гнс ся к медицинскоиХ 3333 Ч Ч:.3( НосИ К Офт;3,ЬМОЛОГИЧЕСКИЛ 3 ри)0 р 13,.я исс,е,ОБ,ния рефракии 3, 3,1 .115 3 И НорСН 1 я раСИИрЕН 3 Е (1 НКС н 3 3 13 БО (10 ж НОГ Г(Й ) сче 01(.и ки р11 ски11;3 че Г(,+1(.,н"с 18,сна 11 ринснис 151 ьИ и СХЕМ 3С Г 1 Н)ЙС Гнс 1., .( ", . 3;Н()) 1 А К 3 1 иГ (, 3 ) 3 Р 0 с 31.3ко и (11 л. с и 3 и и , 1, 1 Я , 1( . 3 и 3, 3 1 а И( В , с МО 0 Б Н( ЖНОМ 3...

Номер патента: 1545181

Опубликовано: 23.02.1990

Авторы: Жилинский, Соколов

МПК: G01W 1/00

Метки: рефракции, угла

...среду излучение расщепляют на М пучков,выделяют с помощью фильтров излучения.с длинами волн Л, Л,определяют на каждой длине волны вариации угла рефракции Дс ,При этом1стабильная составляющая угла рефракции Ы может быть определена по дисоперсионной разности углов рефракциина выбранных длинах волн Л, ио о113 е Устройство для реализации способа содержит излучатель 1, приемнь объектив 2, компенсатор 3, фазовый модулятор 4, блок 5 пространственно-частотных фильтров, приемный блок б,блокперестройки излучателя по длинам волн, блок 8 модуляции излучателя, блок 9 исполнительных элементов, блок 10 управления компенсатором.Устройство работает следующим образом.51545Световой пучок из излучателя 1 навыбранных и длинах волн проходит через среду,...

Номер патента: 1553828

Опубликовано: 30.03.1990

Авторы: Зиганшин, Лукин, Меламуд

МПК: G01C 15/00

Метки: приращения, рефракции, угла

...расположенный над плоскостью сектора, 11 - фотоприемник, служащий для вы работки импульса в момент прохождения оси отраженного сигнала по следу зондирующего с направлением й , 12- плоский отражатель, нормальный к поверхности рисунка с нормалью й , слуожащии для отражения зондирующего излучения, прошедшего через исследуемую среду, 13 - опора, с которой связан отражатель с возможностью юстировки, 00 - угол в плоскости рисунка 55между осью излучения и и направлением нормали отражателя й Ь Ьо Чвертикальная и горизонтаЛьная рефракция в линейном выражении. Позиции соч12 с 2 2(Яс - ы) - М, - (а с г о)2 ( я + св )1 где ч - скорость распространенияизлучения;время хода излучения доотражателя и обратно;- угловая скорость движениязеркала...

Номер патента: 1606916

Опубликовано: 15.11.1990

Авторы: Кондратьева, Лакотко, Медовиков, Овечкин

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...оси красными щелей -вокруг горизонтальнои оси, а щелперекрыты неподвижной стекляннойпараллельной пластиной 9, устаноперпендикулярно оптической оси,Устройство работает следующим оЕсли пластина 8 развернута относплоскости пластины 9 на угол 1, то (кно из фиг. 2) между лучамищими через пластины, возникает рхода, равная6(- а) п=а/и,смсгде а - толщина пластины;п - показатель преломления.Эта разность хода приводит к пфазового фронта на угол р=о/б, втате чего действие пластин 8 и 9лентно действию тонкой призмыменным углом.Измерительный инструмент уставают в рабочее положение. Пласориентируют параллельно пластине 9кусной плоскости объектива 3 наблизображение источника 1 света в1606916 формула изобретения Рог Порядпкюлераере Красные...

Номер патента: 1615604

Опубликовано: 23.12.1990

Авторы: Банах, Цвык, Чен

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...в пучки, проходят через измерительную трассу и принимаются оптической системой 6, которая строит изображение оптических источников 1 и 2. Угловое положение оптических иэображений пучков от источников 1 и 2 определяется измерите:лем 9. Оптическое излучение источника 3, сформированное передающей оптической системой в пучок, проходит черезполупрозрачную пластину 5, иэмерительую трассу, полупрозрачную пластинуи принимается оптической системой 7, которая строит оптическое изображение источника 3, Угловое положение ,изображения пучка от источника 3 определяется при помощи измерителя 8, например теодолита. Измеряя угловые положения оптического изображения источ 1615604ников 1-3 излучения соответственно 5, , 5 относительно опорного направения,...

Номер патента: 1664278

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Ермилова, Ивашина, Куман

МПК: A61B 3/00, A61B 3/028, A61F 9/013 ...

Метки: аномалий, детей, операции, поводу, проведению, противопоказаний, рефракции

...роговицы в центре 510 мк, ПЭК=2900, ЭРГ - норма. При офтальмоскопии глазного дна обоих глаз: диск зрительного нерва бледно-розовый с четкими границами, макулярная область и сосуды беэ изменений, на периферии умеренное перераспределение пигмента.При исследовании ЗВП на обоих глазах зарегистрирован взрослый тип ЗВП, в комплексе которого были определены 3 пика, причем отсутствовал второй пик(2), который в норме должен был бы быть позитивным. Остальные - первый пик (1 негативный с латентностью (О) 50 мс и амплитудой 5 мкВ, третий пик (3) - негативный с латентностью (сэ) 140 мс и амплитудой 4 мкВ и четвертый пик (4) - позитивный с латентностью (И) 175 мс и амплитудой 9 мкВ (фиг. 5),Заключение; на обоих глазах взрослый тип ЗВП с...

Номер патента: 1670542

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Стринадко, Ушенко

МПК: G01N 21/41

Метки: рефракции, углов

...фаэовохаотического экрана,50 В ситуации, когда оси поляризатора и анализатора составляют угол 90, сквозь транспарант проходит излучение только от тех эон корреляции, которые образованы в результате взаимодействия оптического излучения с анизотропными участками экрана, которые и обусловливают рефракцию световых лучей,55 реляции, которые соответствуют оптическинапряженным аниэотропным участкам экрана. Проецируют иэображение поверхно 5 сти ,экрана в плоскостьсветочувСтвительного слоя. Осуществляютнеобходимую фотохимическую обработку. фотослоя, получая транспарант, представляющий собой изображение поверхности10 экрана, образованное совокупностью эонкорреляции, характеристики которых однозначно связаны с параметрами анизотропии...

Номер патента: 1672319

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Бекетов, Левин

МПК: G01N 22/00

Метки: атмосферы, индекса, рефракции

...нафиг. 2 (Оизм, Оэ )После того, как нарастающее напряжение вольтчастотной характеристики измерительного объемного резонатора 4, превысит величину Ооти, на выходе компа 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 ратора 9 напряжений, включенного в канал измерительного объемного резонатора 4, сформируется сигнал обнаружения, который поступает в устройство 12 управления. Устройство 12 управления, получив указанный сигнал, формирует на шине управления команды на измерение чисел аизм, а в цифровом счетчике 5 и на измерение значений напряжений Отэ 02 изм Озизм в цифровом вольтметре 11 включенном в канал измерительного резонатора. В дальнейшем измеренные значения напряжеий 01 изм 02 измОзизмвход микропроцессорного вычислителя 13.Аналогичным образом...

Номер патента: 1681205

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Вшивкова, Калугин

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...устройство визируется на отражатель б. Фотокатод приемника 16 в канале адаптации облучается поочередно полными размерами изображений коротковолнового и длинноволнового источников излучения, При энергетическом неравенстве интенсивностей коротковолнового и длинноволнового излучений на выходе приемника 16 появляется пульсирующий сигнал с частотой, равной частоте модуляции. Измерительная электрическая схема 17 этот сигнал обрабатывает и формирует сигнал рассогласования, который через исполнительную электрическую схему 18 отрицательной обратной связи воздействует на элемент интенсивности излучения одного из источников, Сигнал рассогласования выравнивает энергетические интенсивности облучающих фотокатод световых потоков и пульсирующее...

Номер патента: 1697719

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Елхов, Семочкин

МПК: A61B 3/09

Метки: глаза, динамической, рефракции

...=. АЯКСА+ Я), (1),где Я - расстояние от хрусталика до сетчатки.Параллельный пучок лазерного излучения, прошедший зрачек глаза диаметра Одаст на сетчатке пятно диаметром ФФ =- 07., (2) 30где Е =(Я - т)КРазмео спекла в плоскостл зрачка определится простым соотношением (2):б =л. Я/пФ= л,Я/пО(Я - 1), (3),где и - показатель г реломления внут ренней 35среды глаза.Из (3) легко получается значение фокусного расстояния глазат = бОЯ/(бО+ г 1 ЛЯ) (4).Для случая точечного источника, находящегося на расстоянии Н от зрачка выражение приобретает видт=бОЯН 1(бОН+ бОЯ пл,ЯН), при Н А, (4 а),т,е. когда источник расположен дальше пло скости., на которую аккомодирован глаз, В противном случае имеем1= бОЯН/(бОН+ бЭЯ- п,1 ЯН), при НА,(4 Ь),В общем случае...

Номер патента: 1719886

Опубликовано: 15.03.1992

Авторы: Заблоцкий, Савчук

МПК: G01C 5/00

Метки: коэффициента, нивелирования, рефракции, тригонометрического

...вводить поправки на рефракцию в дневные часы, когда отсутствует условие изотермичности атмосферы. Коэффициент рефракции определяется по формуле;. К=2,855 10 Р(0,45-0,06 УГЕ) /0(1 -А О - коротковолновая составляющая солнечного падающего излучения; А- альбедо земной поверхности; Р - давление в приземном слое воздуха; е - величина относительной влажности воздуха. радиации С(1-А), где 0 - коротковолновая составляющая солнечного падающего излучения; А - альбедо земной поверхности, 00 приравнивается к величине эффективного СО излучения Еэф приземного слоя: ос,Е,ф = до . Т,ф 4(0,45-0,06 /Е), где д- поглощательная способность земной поверхности; и- постоянная Стефана-Больцмана; е - величина относительной влажности; Тэф - некоторая...

Номер патента: 1603985

Опубликовано: 30.07.1992

Авторы: Аксенов, Банах, Цвык, Чен-Бен

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...рефракции. Н качестве отражателей используются зеркальные илн уголковые отражатели.При этом на отражатели могут посылать пучок когерентного нлн частично когерентного оптического излучения радиусом больше первой зоны Френеля. При использовании зеркальных отражателей пучок может фокусироваться на обратной трассе между отражателями и приемной оптической системой, при этом размеры зеркальных отражателей и радиус пучка оптического излучения определяются условием Р=-Р .При использовании уголковых отражателей пучок может фдкусироваться на обратной трассе эа приемной оптической системой, а размеры уголковых отражателей и пучка оптического излучения определяются условием Р =-Р,Использование нйтиффузных отражателей (эеркальных и...

Номер патента: 1755124

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Виноградов, Лебедев

МПК: G01N 21/45

Метки: атмосферной, рефракции, угловой

...согласно заявляемому изобретению, разность хода 40 пучков модулируют по гармоническому закону в одном из приемных каналов, разлагают сигнал в частотный спектр и измеряют амплитуды гармоник, по которым определяют амплитуду модуляции, выделяют первую 45 и вторую гармоники сигнала для двух длинволн Л 1 иЛг, а угол реФракции г находятпо соотношениюг = кЛ В ( агс 1 ц а - агстц.Ь 3 (1)- 1 Л 1 Лг2 л 2 л50где(,О 1) г(Л)а О, (2)А (2 Лд- ) 11(Л 1)л 1 ( 2 тг Л - ) 1 г (Лг )ООповорачиваться вокруг оси, перпендикулярной плоскости чертежа в пределах 40 - 48 О.Покрытие зеркал М 2 МЗМ 11 - внешнее, М 4 -внутреннее. Толщина М 4 равна толщинекомпенсатора К. Фильтр Г (спектроделитель) - интерференционный; отраженный отнего свет по спектральному...

Номер патента: 1763953

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Вшивкова, Калугин

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...разность Ь 3, то разность фото- токов не искажается флуктуациями угла прихода лучей в моменты ограничения изображения выступами диска 5. В блоке 9 фототоки усиливаются и сравниваются. На выходе этого блока чередуются разностные сигналы от облучения фотокатодов полным изображением и частью, близкой кполовине изображения, Вторая разность несет информацию.После устройства 10 коммутации разностные сигналы идут по двум каналам, Разностный сигнал, полученный облучением фотокатодов полными изображениями по каналу отрицательной обратной связи воздействует на электропитание одного из фотоприемников и адаптирует приемную систему, т,е. фототоки приемников в коротковолновой и длинноволновой частях излучения сохраняются равными в условиях...

Номер патента: 1766404

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Горбань, Никулин

МПК: A61F 9/00

Метки: аномалий, коррекции, рефракции

...точках -в нижне носовых и нижне височных меридианах от центра роговицы до периферии и,кроме того, - в парэлимбальной зоне наглавных меридианах 3, 6, 9 и 12 ч ( с помощью кератопахометра), После этого определяют клиническую рефракцию (наавторефрактометре), исследуют остротузрения без коррекции и с коррекцией, регистрируют возраст больного. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 Результаты иСследований вводятся в ЭВМ и подвергаются обработке по программе, разработанной в головной организации МНТК "Микрохирургия глаза". По результатам обработанных данных расчитывается индивидуальный вариант последующей операции кератомии.Непосредственно перед операцией глаз анестезируется 1% раствором дикаина, больного укладывают на операционный стол под...

Номер патента: 1779933

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Гурвич, Соколовский

МПК: G01C 21/24

Метки: волн, двух, длинах, планетной, разности, рефракции, углов

...ахроматические оптические системы высокого разрешения.Известен способ автономной космической навигации путем измерений разности углов планетной рефракции на двух длинах волн,Однако недостатком существующего способа измерения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн является тот факт, что для его реализации требуется ахроматическая оптическая система высокого разрешения, Например, при высоте перигея луча визирования источника 30 км разность углов рефракции для длин волн 0,4 и 0,8 мкм составляет 2" и, следова1179933 Составитель С.СокольскийРедактор И,Савина Техред М.Моргентал Корректор Н.Слободян Заказ 4429 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж,...

Номер патента: 1793220

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Беспалов, Голованов, Зайков, Терещенко

МПК: G01C 5/00

Метки: изменений, рефракции

...реустройством на осо выражения (9)к видуа 10 (10) 5 Предвари в момент изо д по барабан щий т= О, пр рейи 5. Уст расстоянии О ют изображен бы нивелира микрометра,лихати 5 64, Ог ность о погр ет Б.Д.Джуман,ф,Д.Заблоцкий, Н,И.Кравцов,М.: Недра, 1990, с.45)Я = (оп/с 1 г) (5)где г- вертикальная координата,Или, заменяя в выражении (5) бп/4 г чебпез -- т, получимд 1Б =.( - т)Из геометрических соотношений нафиг.5 получимД =Д соза; Вй= СМ= О/соза,Тогда)гД = -, (7)2 Я соз аПодставляя в выражение (7) формулу (6),получимб 1д=Ог г 1 " т(2 созг а),Заменив в этом выражении производнуюбп- ее значением, найденным дифференциЙрованием выражения (4), находим Д= - г т .0 з аг, 3Принимая для визуальных приб = 0,589 мкм, выражение (8) прео...

Номер патента: 1464676

Опубликовано: 23.07.1993

Авторы: Банах, Бен-Нам, Цвык

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...19 етельство СССР О В 21/41, 19 Авторское 56006, кл. вторское г 13714, кл,исс и и н ИЕ РЕП ИЯ СФЕРНО ую с носится к об Фр о тики и используетс тецие относится к области ой оптики и может быть исопределения атмосфере является повышеви сти излцостью иния.ти резког истема 3 х ывае мос е ска ж с помощью гловое по того изоб сэме е тенцячувстрцойэобра я жен жен лов тельно фракци ца схе ти мощью ние б пучка ере 1 иерителя 7ецтра тяжеучения цаПриемная о длясоба е изо оде в е емого сп йцей ме лучения тической рый прох атмосфер ической ю линзы чникавлепю чцик писыв систему 3 может 4, 5, п отражаю е состоя герецт ощьв с о иэ й ол т истемыит ло 1 ро ного ла 9аэ еркал кала его эервлецы дллучецных лучеция, котомой трассе 2 учок ст ю р дельного н...

Номер патента: 1438419

Опубликовано: 28.02.1994

Авторы: Банах, Меламуд, Миронов, Носов, Цвык, Чен

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АТМОСФЕРНОЙ РЕФРАКЦИИ, заключающийся в том, что пропускают через атмосферу излучение двух оптических источников, принимают это излучение приемной оптической системой, с помощью которой получают резкое изображение источников, и по угловому положению изображений этих источников судят об угле рефракции, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности и чувствительности измерения, пропускают через атмосферу пучки излучения, отличающиеся друг от друга значением параметраPi= i = 1, 2,где i= KQi2 / Lai ,...