Патенты с меткой «планетной»

Способ определения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн

Загрузка...

Номер патента: 1779933

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Гурвич, Соколовский

МПК: G01C 21/24

Метки: волн, двух, длинах, планетной, разности, рефракции, углов

...ахроматические оптические системы высокого разрешения.Известен способ автономной космической навигации путем измерений разности углов планетной рефракции на двух длинах волн,Однако недостатком существующего способа измерения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн является тот факт, что для его реализации требуется ахроматическая оптическая система высокого разрешения, Например, при высоте перигея луча визирования источника 30 км разность углов рефракции для длин волн 0,4 и 0,8 мкм составляет 2" и, следова1179933 Составитель С.СокольскийРедактор И,Савина Техред М.Моргентал Корректор Н.Слободян Заказ 4429 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж,...