Способ измерения атмосферной рефракции

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК А 1 Н ЕТЕЛЬСТВУ А ВТОРСКОМУ электрическо"ние производрез атмосфероптического фе друг от др х (1-г/Р) м 1,2, г волнового фр вьгсодной ап ственно: г ф - длина в им по той ж во СССР 1, 1986ртур е источника соответ на трассы, 1 с = 21/Я д(54) РЕФР ЕРЕНИЯ АТМОСФЕРН СПОСОБ ИКЦИИИзобретеой оптикения рефженных т ны излучения, ссе пропус омР =1, ких систем е каждого и ов на своем навстре ают тре С помощ е тр ние относится к а е и предназначено ракции в атмосфер рассах, С целью и измерения, особен еменным градиенто с па е фе длянавышеео на м диприемныхугловое пизображен птич ложе зме яют изме прот е пуч конц чности ссы и п кции, 2 удят о в -лы, 1 и н м ичине ре ф ассах с з.п. н 4 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗО 21) 4644160/31 - 10 22) 31.01.8946) 23,12.90. Бюл, У 47 71) Институт оптики атм О АН СССР72) В.А.Баках, Чен БенР.Ш.Цвык53) 535.3314(088.8), 56) Авторское свидетель 1438419, кл. С 01 И .21 Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для определения атмосферной рефракции.Целью изобретения является повышение точности измерения рефракции при неоднородном градиенте диэлектрической проницаемости вдоль трассы.На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство содержит источники 1-3 оптического излучения, формирующие пучки заданной формы и размера,.полупрозрачные пластины 4 и 5, приемные оптические системы 6 и 7 и измеители 8 и 9,Согласно способу излучения источиков 1 и 2, сформированные передаю 9) (И) О 01 Х 21/41//С 01 И 1/00 и проницаемости, измереят путем пропускания чеу двух пучков источников излучения, отличающихся а параметром Р =Г Я. х21+.д,. (1-г/Р)2 + а /ф я,1 .к 1 е 2. = 1 са;/г, а;иусы пучков, кривизны онта и когерентности на щими оптическими системами в пучки, проходят через измерительную трассу и принимаются оптической системой 6, которая строит изображение оптических источников 1 и 2. Угловое положение оптических иэображений пучков от источников 1 и 2 определяется измерите:лем 9. Оптическое излучение источника 3, сформированное передающей оптической системой в пучок, проходит черезполупрозрачную пластину 5, иэмерительую трассу, полупрозрачную пластинуи принимается оптической системой 7, которая строит оптическое изображение источника 3, Угловое положение ,изображения пучка от источника 3 определяется при помощи измерителя 8, например теодолита. Измеряя угловые положения оптического изображения источ 1615604ников 1-3 излучения соответственно 5, , 5 относительно опорного направения, например горизонта, определяетя угол рефракции р и истинное углоое положение источника, которые расчитываются по формулам,1 О 1. Способ измерения атмосферной рефракции, включающий пропускание через атмосферу вдоль трассы излучение двух оптических источников, отличаФпихся друг от .друга параметром В де Р - параметры источников иэлучения, при этом для источников 1 и 2Я; (1 - г/Р,)1 + Д(1-х/Р; )+ а; /а;де. Я, 1 са/к; а, Р акф- соотЕетственно радиусы пучка, кривизны олнового фронта и когерентности на ыходной апертуре источника,х - длина трассы;1 с = 2 и/ф;ф - длина волны,1для дополнительного источника 3 злучения Р1. Согласно способу ополнителъное излучение может представлять собой коллимированный пучок илиг расфокусированный с параметром р2, 3 ОФормула изобретения Я, (1 - г/Р,) гР1+Д(1-г/Р ) + а /а ;1=1,2где Я, = 1 са,/г; а 1, Г,", а, - соотг,11ветственно радиусы пучка, кривизныволнового фронта и когерентности навыходной апертуре источника;г - длина трассы;1 с = 2 и/;9 - длина волны излучения,причем излучения оптической системойи измерение углового положения источников, по которому судят о величинерефракции, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точностиизмерения при неоднородном градиенте диэлектрической проницаемостидоль трассы, навстречу первым двумзлучениям по той же трассе через атмосферу пропускают дополнительное излучение с параметром.Р. = 1, принима-ют его в месте расположения первыхдвух источников дополнительной оптической системой и измеряют его угловое положение, а о величине рефракциисудят по угловому положению всех трехисточников2. Способ по п. 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что дополнительноеизлучение представляет собой коллимированный пучок,3. Способ по п, 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что дополнительноеизлучение представляет собой расфокусированный пучок с параметром Д2),Ъ 2,