Способ определения индекса рефракции атмосферы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
55 Еоп10 генератора 2 тактовых импульсов на управляющий вход синтезатора,Цифровой вольтметр 10, включенный в канал эталонного объемного резонатора 3, предназначен для измерения значений напряжЕний 01 эт, 02, Оээт. Цифровой вольтметр 11, включенный в канал измерительного объемного резонатора 4, предназначен для измерения значений напряженийизм О изм О измЦифровые вольтметры являются стандартными приборами и выполнены в основном на микросхемах серий 530 и 533, Специальных требований по точности измерения не предъявляется, Допустимая погрешность измерений(3-5) 10 В,Цифровой счетчик 5 предназначен для подсчета числа шагов аизм, числа шагов аэт и числа шага а. Фактически в цифровом счетчике 5 выполняется подсчет количества тактовых импульсов, соответствующих числам аизм, аэт, и а, Цифровой счетчик 5 выполнен на микросхемах серий 533,Микропроцессорный вычислитель 13 производит вычисление индекса рефракции й на базе поступающих нз его входы значений наряже йгО эт О эт Озэт О 1 О 2 изм Озизм) и количества шагов аизм, аэт и а, по формуле"=(а Г -)1 О ят От Оузм Оцзм( ОГ мм 1 мтзм ям )ЕУстройство для измерения индекса рефракции работает следующим образом.Синтезатор дискретной последовател ьности высокостабильных частот с шагом Еоп 1 ПОд ВОЗдвйетВИЕМ таКтОВЫХ ИМПУЛЬСОВ от генератора 2 тактовых импульсов формируют в точке Ь дискретную последовательность высокостабильных частот, Укаэанная последовательность дискретных частот поочередно возбуждает сначала измерительный объемный резонатор 4, затем в процессе дальнейшего увеличения частоты - эталонный объемный резонатор 3, При этом сначала формируется вол ьтчастотная характеристика измерительного объемного резонатора 4 в точке С, а затем вольтчастотная характеристика эталонного объемного резонатора 3 в точке б (см. фиг. 1), Форма вольтчастотных характеристик показана нафиг. 2 (Оизм, Оэ )После того, как нарастающее напряжение вольтчастотной характеристики измерительного объемного резонатора 4, превысит величину Ооти, на выходе компа 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 ратора 9 напряжений, включенного в канал измерительного объемного резонатора 4, сформируется сигнал обнаружения, который поступает в устройство 12 управления. Устройство 12 управления, получив указанный сигнал, формирует на шине управления команды на измерение чисел аизм, а в цифровом счетчике 5 и на измерение значений напряжений Отэ 02 изм Озизм в цифровом вольтметре 11 включенном в канал измерительного резонатора. В дальнейшем измеренные значения напряжеий 01 изм 02 измОзизмвход микропроцессорного вычислителя 13.Аналогичным образом производится измерение числа аэт и значений напряжеНИй 01 т, 02 эт, ОЗэт, КатсрЫЕ таКжЕ ПОСту- дают на соответствующие входы микропроцессорного вычислителя 13,Формула изобретения Способ определения индекса рефракции атмосферы, включающий возбуждение эталонного и измерительного объемных резонаторов электронными колебаниями в форме дискретной последовательности высокостабильных частот, и измерение значений напряжений на выходах эталонного и измерительного резонаторов, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности и сокращения времени измерений, величину шага дискретной последовательности высокостабильных частот возбуждения эталонного резонатора повышают до величины 0,15 Ь Еэт, где Еэт - полоса пропускания эталонного резонатора. измеряют значения напряжений на выходах измери- ТЕЛЬНОГО 01 изм, 02 изм, Оэизм И ЭтаЛОННОГО резонаторов, 01", 02", Оз", соответствующих двум частотам возрастающего участка и одной частоте убывающего участка частотной характеристики измерительного и эталонного резонаторов соответственно. измеряют число шагов аизм, аэт дискретной последовательности высокостабильных частот, укладывающихся между частотами, соответствующими измеренным значениям напряжений 02 изм и 03 , и 02 и 03 соответственно, а также число шагов а дискретной последовательности высокостабильных частот, укладывающихся между частотами, соответствующими измеренным ЗНаЧЕНИяМ 02 им И ОЗ, а ИНДЕКС рЕфраКцИИ атмосферы определяют по формуле аизм аэт , Е 10 - 4огОут Оэзт 02 изм Озм2 ( уГ ф Оу деизм )1672319Л(рр" У Фигйг.гСоставитель Р.Кузнецова Редактор С.Патрушева Техред М,Моргентал Корректор О.Ципл аказ 2834 Тираж 363 Подписное 8 НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 10
СмотретьЗаявка
4617357, 06.12.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4421
БЕКЕТОВ ПАВЕЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЛЕВИН БОРИС АБРАМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 22/00
Метки: атмосферы, индекса, рефракции
Опубликовано: 23.08.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1672319-sposob-opredeleniya-indeksa-refrakcii-atmosfery.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения индекса рефракции атмосферы</a>
Предыдущий патент: Устройство фотометрического контроля движущихся материалов
Следующий патент: Способ измерения сплошности потока жидкости
Случайный патент: Приспособление к соломкорубильному станку для отсортировки излишков (крупки) шпона