Способ определения коэффициента рефракции для тригонометрического нивелирования
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)5 ИСАНИЕ И ЕНИ К ся кгео еления ферной ри три дезии,вча- вертикальрефракции гонометриение точноциента ре- рического повыш коэффи намет ледующим об новая составляя, альбедо земие приземного относительной рной солнечной тковол лучени авлен ичина сумма Измеряются корющая солнечного изной поверхности,слоя воздуха и велвлажности, Величин ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР РСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Островский А.Л. и Власенко С.Г. Методыучета вертикальной рефракции. В кн, Рефракция оптических волн в атмосфере.Томск, 1982, с. 127 - 142,Медовиков Л,Т, и Медовикова Н,И, Использование явления изотермии атмосферыдля высокоточных измерений. Рук, деп, вЦНИИГАиК, М 190 ГД, 1985, с, 2,е Изобретение относитстности к споСобам опредной составляющей атмосдля введения поправок ическом нивелировании.Цель изобретения -сти при определениифракции для тригонивелирования,Способ осуществляю(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА РЕФРАКЦИИ ДЛЯ ТРИГОНОМЕТРИЧЕСКОГО НИВЕЛИРОВАНИЯ(57). Способ относится к геодезии, в частности для введения поправок на значение атмосферной рефракции при тригонометрическом нивелировании. Цель изобретения - повышение точности определения коэффициента вертикальной рефракции, что позволяет вводить поправки на рефракцию в дневные часы, когда отсутствует условие изотермичности атмосферы. Коэффициент рефракции определяется по формуле;. К=2,855 10 Р(0,45-0,06 УГЕ) /0(1 -А О - коротковолновая составляющая солнечного падающего излучения; А- альбедо земной поверхности; Р - давление в приземном слое воздуха; е - величина относительной влажности воздуха. радиации С(1-А), где 0 - коротковолновая составляющая солнечного падающего излучения; А - альбедо земной поверхности, 00 приравнивается к величине эффективного СО излучения Еэф приземного слоя: ос,Е,ф = до . Т,ф 4(0,45-0,06 /Е), где д- поглощательная способность земной поверхности; и- постоянная Стефана-Больцмана; е - величина относительной влажности; Тэф - некоторая эффективная температура, величина которой удотвлетворяет наличию условного радиационного баланса и изотермической атмосферы.Используя формулу для коэффициента ре фракции К при условии изотермической вт- мосферы= 2,855 10 Составитель Е.ТрофимовРедактор И,Сегляник Техред М.Моргентал Корректор Э.Лончак аз 763 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 роизвадсгвенно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород агарина, 10 Л 2Тполучают коэффициент рефракции при наличии условного радиационного балансаС 1 (1 )Способ позволяет обеспечить проведение работ по трригонометрическому нивелированию с введением поправок на рефракцию на протяжении всего светового дня. Формула изобретения Способ определения коэффициента рефракции для тригонометрического нивелирования, заключающийся в измерении коротковолнового солнечного излучения О, альбедо земной поверхности А, давления воздуха в приземном слое Р и обработке 5 результатов измерений, отл ич а ю щи йсятем, что, с целью повышения точности при выполнении определения в произвольный момент времени, дополнительно измеряют величину удельной влажности е, а коэффи циент рефракции К рассчитывают по формуле:
СмотретьЗаявка
4648697, 12.12.1988
ЛЬВОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. ЛЕНИНСКОГО КОМСОМОЛА
ЗАБЛОЦКИЙ ФЕДОР ДМИТРИЕВИЧ, САВЧУК СТЕПАН ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01C 5/00
Метки: коэффициента, нивелирования, рефракции, тригонометрического
Опубликовано: 15.03.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1719886-sposob-opredeleniya-koehfficienta-refrakcii-dlya-trigonometricheskogo-nivelirovaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения коэффициента рефракции для тригонометрического нивелирования</a>
Предыдущий патент: Фотоэлектрический импульсный датчик
Следующий патент: Способ гидростатического нивелирования
Случайный патент: Копровое устройство