Способ определения нивелирной рефракции
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1352209
Авторы: Виноградов, Медовиков, Никольский
Текст
(71 ный (72 и Е (53 (56 Чер оител иков А деленияазателябражеСССР,точног ЕЛИР -определяютения визирпределяее в угло -велира. СУДАРСТВЕКНЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ) Гурвич А.С., Старобинецемухин А,М, К методике опструктурной характеристики ипреломления в атмосфере по иниям радиальной миры, Изв. АФизика атмосферы и океана, 1т. 10,4, 413-416.Павлив В.П, Проблемы высонивелирования. Львов.: Высша1980, с, 63-65.(54)(57) 1.СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯНОЙ РЕФРАКЦИИ, при которомвеличину флуктуаций изображной цели, установленной в омой точке, путем введения евой биссектор сетки нитей ни о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, сцелью повышения точности определенияи производительности труда за счетупрощения способа, используют визирную цель в вице радиальной миры,центр которой совмещен с началом линейной горизонтальной шкалы, областьразмытия контраста изображения мирывводят в угловой биссектор сетки нитей нивелира до касания образующимибессектора границ области размытияи производят отсчет по линейной горизонтальной шкале в месте попаданияна нее вершины угла биссектора, после чего вычисляют значение рефракции2, Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения надежности способа за счет работы при различных угловых периодахрадиальной миры, в процессе определения изменяют угловой период радиальной миры, после чего вновь берутотсчет по линейной горизонтальнойшкале,1352209 10 25где отсчет по линейной горизонтальной шкале;средняя высота визирноголуча над подстилающейповерхностью; 30 расстояние от нивелира до нивелируемой точки; 2 135 Техред А,Кравчук Корректор О.Кравцова Редактор Л.Повхан Заказ 5550/35 Тираж 677 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва Ж, Раушская наб., д,4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к определению атмосферной рефракции, а именнок способам определения вертикальнойсоставляющей земной рефракции, и может быть использовано в геометрическом нивелировании для повышения точности определения превышений за счетисключения влияния на них вертикальной составляющей рефракции,Целью изобретения является повышение производительности труда и точности в процессе определения нивелирной рефракции за счет упрощения способа и увеличения репрезентативностирезультатов определения.Способ заключается во взаимосвязитурбулентности, вертикального темпеРатурного градиента и рефракции вприземном слое атмосферы. Величинуже турбулентности определяют с помощью визирной цели в виде регулярнойструктуры типа радиальной миры. Изображение миры, рассматриваемое в зрительную трубу нивелира, из-за турбулентности воздуха имеет в центре размытие контраста изображения в видесерого пятна, диаметр которого измеряют с помощью углового биссекторасетки нитей и линейной горизонтальной шкалы, начало которой совмещенос центром миры,На чертеже изображено поле зрениязрительной трубы нивелира,где 1линейная горизонтальная шкала, 2радиальная мира, 3 - угловой биссектор сетки нитей нивелира.Для определения нивелирной рефракции в нивелируемой точке на горизонтенивелира устанавливают радиальную миру, центр которой совмещен с началомлинейной горизонтальной шкалы, В центре миры наблюдается область размытия контраста изображения в виде серого пятна. Эту область вводят в угловой биссектор сетки нитей нивелираи производят отсчет по линейной горизонтальной шкале в месте попаданияна нее вершины угла биссектора. Линейная горизонтальная шкала должна быть оцифрована согласно выра- жению где м- цена наименьшего деленияшкалы;А - коэффициент, зависящий отпараметров оптическогоустройства, для высокоточных нивелиров может бытьпринято А = 1,2 10В - угловой период радиальной 15 миры;- минимальный угловой диамиНметр области размытия контраста изображения миры,Для /,н следует принять значение,соответствующее допустимои погрешности определения нивелирной рефракции.Величину нивелирной рефракции находят по формулел 2/3 1 //2(Н Ц- число Ричардсона;- известная функция отчисла Ричардсона, учитывающая стратификациюатмосферы,Для независимого определения ни 40 велирной рефракции беРУт миРУ с другим угловым периодом и вновь повторяют описанные действия.Реализация способа определениянивелирной рефракции возможна с по 45 мощью известных измерительных средств.По сравнению с известным предлагаемыйспособ обладает более высокой производительностью труда и в 2-3 разаточнее,
СмотретьЗаявка
3756474, 21.06.1984
ГОРЬКОВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-СТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. В. П. ЧКАЛОВА
ВИНОГРАДОВ ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ, МЕДОВИКОВ АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ, НИКОЛЬСКИЙ ЕВГЕНИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01C 5/00
Метки: нивелирной, рефракции
Опубликовано: 15.11.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1352209-sposob-opredeleniya-nivelirnojj-refrakcii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения нивелирной рефракции</a>
Предыдущий патент: Устройство для обмера криволинейных поверхностей
Следующий патент: Способ трансформирования снимков
Случайный патент: Гидротехнический затвор-автомат