Патенты с меткой «радиуса»

Номер патента: 1245968

Опубликовано: 23.07.1986

Автор: Лидер

МПК: G01N 23/20

Метки: кривизны, монокристаллических, пластин, радиуса

...края, надежно разрешались, необходимо, чтобы угловой интервал между ними был много больше полуширины кривой качания идеального образца:з 1 пФ - -э)п 2 О,ХиДля определения радиуса кривизны образца в случае дифракции на прохождение перед счетчиком устанавливаются две щели, Первая (неподвижная) пропускает дифрагированный пучок, идущий от края образца, вторая (подвижная) - от выбранной области образца, В случае дифракции на отражение на пучок, дифрагирова нный на краю образца, накладывается пучок, дифрагированный от области, прилегаюгцей к краю образца, Поэтому для экранирования этой области щель устанавливают перед образцом. Делаются две последовательные записи кривых качания образца, которыеФормула изобретения зпФ - з 1 п 20,х10 5 20 25 30...

Номер патента: 1247722

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Валиев, Усенко

МПК: G01N 15/08

Метки: капилляра, радиуса

...соответствует накоплениюв паре максимального количества нелетучих составлякпцих, т.е. процессиспарения будет пульсирук)щим.20 Для наступления пульсирующего режима истечения жидкости необходимовыполнить условие испарения жидкостив полости капилляратп(тп (3) 25 т .е, скорость испарения жидкости шэа счет испарения с поверхности должна быть больше скорости подвода жидкости в капилляр ш за счет перепададавления.Это легко обеспечить подачей жидкости в полость капилляра под заданным давлением, .которое выбирают исходя из условия (3), т.е.:тг , Р нос85 1- -(ьР+Рд) (О п г- --- . (4)8 Как следует из уравнения (2), скорость испарения жидкости зависит от площади зеркала жидкости в капилляре Я=Рг, т.е. от радиуса капилля ра, что определяет...

Номер патента: 1263748

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Довольский, Сиванбаев

МПК: E02D 3/12

Метки: вокруг, грунта, промораживания, радиуса, термоустановки

...й 5 м ц- -1)Ехго г.Г время от начала промораживания, ч;температура хладагента придавлении Р;коэффициент теплообменамежду поверхностью конденг ,сатора и воздухом, вт/м С;радиус термоустановки, м;радиус намораживаемогогрунта, м;объемный вес скелета грунта,кгс/м;суммарная влажность грунта,доли единицы;.количество незамерзшей воды, доли единицы;теплота фазового превращения дж/кг;обЪемная теплоемкость грунта в талом состоянии,Дж/ С;то же, в мерзлом состоянии, Дж/ С; где г 40 Г,5К где гн и55 Изобретние относится к строительству, а именно к возведению зданий и сооружений на основаниях, закрепленных методом замораживания или сохраняющих естественную мерзлоту.Цель изобретения - снижение трудоемкости и повышение точности определения.На чертеже...

Номер патента: 1270540

Опубликовано: 15.11.1986

Автор: Чекалов

МПК: G01B 5/22

Метки: внутренней, поверхности, радиуса, сферической

...закреплен одиниз базирующих элементов 5 На одномконце измерительного стержня 2 установлена микрометрическая головка6, микровинт 7 которой вставлен ввилку 8, Шарнир 3 также помещен ввилку 8. На другом конце измерительного стержня 2 закреплен измерительный наконечник 9, на котором с возможностью перемещения вдоль негоустановлен второй базирующий элемент10. Между измерительным стержнем 2и базирующим элементом 10 расположе- ЗОна пружина 11. По отношению к измерительному усилию микрометрическойголовки 6 усилие пружины 11 всегдаменьше.Устройство работает следующим образом,Базирующий элемент 5 устанавливают на контролируемую сферическую поверхность 12, затем вращают трещоткумикрометрической головки 6, крутящий а)момент передается микровинту...

Номер патента: 1281865

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Волов, Замятин

МПК: G01B 5/08

Метки: прибор, радиуса

...И.Попович . Корректор С. Шекмар Редактор А. Ворович Заказ 7250/34 Тираж б 77 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приборам для измерения радиуса.Целью изобретения является расширение диапазона контролируемых объек тов и повышение производительности измерения за счет того, что прибор выполнен раздвижным. На чертеже изображен прибор для 10измерения радиуса, общий вид. Прибор содержит две взаимно перпендикулярные линейки 1 и 2 с концами А,В,С, жестко закрепленные меж 15 ду собой. Линейка 1 выполнена раздвижной со...

Номер патента: 1283221

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Горбань, Друченко, Паско, Резунков, Тетера

МПК: C01B 11/24

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса

...юстировкой контролируемой детали. На чертеже представлен частный случай, когда угол между осями резонаторов равен нулю, а контролируемая поверхность составляет с осями резонаторов угол, близкий к 90.Схема работает следующим образом.Если деталь 11 непрозрачна или имеет отражающее покрытие, то резонаторы состоят из измеряемой детали 11, активных элементов 5 и 6 и отражательных элементов 2 и 4, т.е. отражательные элементы 1 и 3 в данном случае в измерении не участвуют.Если деталь прозрачная плоскосферическая, то резонаторы вместо детали 1 содержат отражательные элементы 1 и 3.Выходное излучение с частотами Ч и Ч поступает в блок 12 регистрации. Один из резонаторов (нижний) снабжен устройством управления длиной резонатора, например, в...

Номер патента: 1283518

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Горохов, Панов, Садиков, Шардаков

МПК: G01B 7/12

Метки: металлических, неферромагнитных, радиуса, тел, цилиндрических

...вход которого подключен к выходу задатчика 5,а второй вход - к выходу Фазовогодетектора 4, интегратора 7, блока8 деления, вход интегратора 7 соединен с выходом блока 6 вычитания,а выход - с входом блока 1 управляемых генераторов и одним из входовблока деления, другой вход которогосоединен с выходом усилителя 3 и 35вторым входом фазового детектора 4,индикатора 9, на вход которого поступают сигналы с выхода блока 8 деления.Устройство работает следующим об 40разом.Задатчиком 5, определяющим чувствительность устройства, задаетсязначение фазы напряжения на измерительной обмотке, при котором будетпроизводиться измерение. На первыйвход блока 6 вычитания при этом поступает напряжение, пропорциональноеэтому значению. После помещения вблок 2...

Номер патента: 1291856

Опубликовано: 23.02.1987

Авторы: Лудвиг, Ортруд

МПК: G01N 23/20

Метки: кривизны, кристаллов, радиуса

...для исследования несложного устройства, предъявляющего незначительные требования к юстировке, а также простота измерений, оценки результатов, Так как для испытания всего кристалла достаточно построение одной кривой качания, скорость измерения высока, При подборе подходящих эталонных кристаллов возможно высокопроизводительное серийное испытание. Аппаратурные требования по Сравнению с известными двухкристальными дифракционными устройствами незначительны, так как испытание осуществляется только с .точностью до угловых минут (а не угловых секунд). Кривая качания неизогнутого и немозаичного (идеального кристалла) имеет ширину10,1-0,5 . Это осуществляется за счет1291856 применения пучка, расходящегося ввертикальной плоскости, что...

Номер патента: 1293484

Опубликовано: 28.02.1987

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...методом с использованиемплоского зеркала 2. Излучение с помощью измеряемого объектива 1 фокусируют на поверхность плоского зеркала 2, Фиксируют положение А плоского зеркала, смещают.его по направлению к измеряемому объекту до положения А 9 при котором происходит фокусировка излучения в вершину поверхности объектива 1, обращенной к плоскому зеркалу 2, Величину Б объектива 1 фопределяют как: Б:. 2 А - А",/,Затем плоское зеркало 2 заменяют на деталь 3, радиус кривизны выпуклой поверхности которой требуется измеРить. С помощью объектива 1 фокусируют излучение в вершину измеряемой поверхности детали, при этом фиксируют положение А детали. Затем смещают деталь 3 по направлению к объективу 1 до положения, при котором излучение...

Номер патента: 1298510

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Дробышевский, Свиридова, Ставров

МПК: G01B 5/213, G01B 7/293

Метки: кромки, притупления, радиуса, режущей

...в виде жестко закрепленных под углом одна к другой пластины 1 и пластины 2. Одна грань внутреннего угла базовой призмы, например грань 3, предназначена для установки на ней контролируе, мого объекта 4, а на второй грани 5 размещен резистивный чувствительный элемент 6, электроизолированный от нее слоем диэлектрика. Элемент 6 может быть выполнен в виде проволоки, 45 фольги или резистивной пленки. Пластина 1 и резистивный элемент 6 подсодинены к электроизмерительному прибору 7, например омметру. Контролируемый объект 4, располагаемый на пластине 1 в процессе измерения и приводимый в электрический контакт .с элементом 6образует с ними замкнутую электрическую цепь.Величина угла между пластинами 1 и 2 базовой призмы выбирается в зависимости...

Номер патента: 1303265

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Тананин, Хватов

МПК: B23B 1/00

Метки: закругления, инструмента, кромки, оптимального, радиуса, режущей

...- гра фик зависимости радиальный износ - время практического осуществления способа.Способ осуществляют в следующей последовательности: подготавливают оборудование, инструмент, прибор для измерения радиального износа; провоДят ускоренные стойкостные испытания инструмента, строят график зависимости изнбс - время; по графику опреде 20 ляют величину радиального износа Ьг в конце периода приработки инструмента, по которой назначают величину оптимального радиуса округления режущей кромки.П р и м е р, Твердосплавный проходной резец и Т 15 К 6 с геометрическими параметрами У = 10, с = 10 9 щ 45 Я = 0 испытывают при проФЗО дольном точении образца из стали 45 на станке модели ИЖ-Т-.400 по ускорен 65 2ной методике. Скорость резания 2,2 м/с,...

Номер патента: 1322088

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Горбань, Паско, Резунков, Тетера, Ялинич

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса

...положение 16 сферы радиуса К с центром вточке 0 и положение 17 той же сферыпри смещении на расстояние х. 0центр смещенной сферы, й - расстояние между осями 8 и 10 резонаторов.При смещении сферы на расстояние хвозникает оптическая разность хода Ь(показано для случая отражения отсферы). 45Из решения треугольников АСР иАО С можно получить 2 Е - - 14 х + Ьй(1)Ь51Учитывая, что реальная величина Ь соизмерима с Л, т.е. составляет доли и единицы микрометров, а величина х - единицы миллиметров, то с погрешностью менее 0,13 Й х К Ь Измерения производят следующим об 2После установки детали 11 в оезо- наторы, ее юстировкой добиваются наличия генерации в обоих резонаторах и устройством 15, в качестве которого можно использовать, например,...

Номер патента: 1323163

Опубликовано: 15.07.1987

Авторы: Бродский, Волков, Зильберблат, Лазаренко, Репченко, Шамрай

МПК: B21D 7/12

Метки: кривизны, радиуса

...извходов селектора 3 кодов.В исхо 1 псом положении боковые валки оп гшены вниз на один горизонтальный уровень с нижним валком. В процессе гибки боковые валки перемещаются вверх, при этом радиус изгибазаготовки уменьшается,Пр"длагаемое устройство работает следуощим образом.В режиме гибки переключатель 2 режимов погсключает к селектору кодов программный залатчик 1, Сигнал задания с программного эадатчика 1 через 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 селектор 3 кодов поступает на первыйвход арифметического устройства 4,на второй вход которого подается сигнал с датчика 6 положения боковых валков.При наличии рассогласования на входеарифметического устройства 4 включается привод перемещения боковых валков и система отрабатывает...

Номер патента: 1326535

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Литвинский, Мирошниченко

МПК: B65H 77/00, G01B 7/12

Метки: измеритель, наматываемого, радиуса, рулона

...соответствующее длине ткани, намотанной в рулоне на дуге в один радиан или, что то же самое, равное радиусу намотанного рулона. Одновременно сигнал с выхода эле),20 .мента 18 памяти посредством элемента 19 задержки воздействует на общий с вход многоразрядного управляемогоключа 20 тем самым число из счетчиго ка 22 переводится в регистр 21. По25 заполнении дополнительного счетчика т 11 на импульсном его выходе 23 появн- ляется сигнал, который стирает число о- в элементе 18 памяти и содержимоесчетчиков 22 и 11. Устройство готово м 30 к новому циклу измерения. К этому же выходу 23 счетчика 11 по ключен стирающий вход элемента 18 п мяти. Регистр 21, многоразрядный ключ 20 и элемент 19 задержки соста ляют блок индикации.Для повышения...

Номер патента: 1343238

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Вахтин, Зайцев, Любченко, Мазур, Налча, Парсенюк, Шейко

МПК: G01B 7/12

Метки: длинномерного, намотки, процессе, радиуса, рулона, теоретического

...значение радиуса 40рулона определяется какКр, 1. х (2)где 1, - расстояние от оси моталки доместа установки приемникаВ случае определения радиуса холодных рулонов операции измерениятемператур с помощью пирометра 7 итермопары 8 отпадают, Информация отолщине полосы с измерителя 9 толщиныпоступает в вычислительный блок 10,где запоминается, В памяти вычислительного блока также хранится законизменения скорости прокатки при торможении и разгоне. В вычислительныйблок поступает информация с измерителя 11 линейной скорости и датчика 12числа оборотов. В устройстве имеютсяусилители 13 - 15 сигналов соответственно термопары, пирометра и акустического приемника, а также аналогоцифровые преобразователи 16 - 18.П р и м е р, Скорость прокаткистана...

Номер патента: 1346397

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Бармаш, Милукас, Рудзянскас

МПК: B24B 3/34

Метки: вершине, заточки, радиуса, резца

...стойке б, ишестерни 10, которая через вал 11,установленный в подшипниках 12, соединена с шаговым двигателем 13. Вылет црезца 14 регулируется установочнымвинтом 15 через пружину 16, а выставление направления резца 14 под. нужным углом в поворотной стойке бфиксируется прижимным винтом 17.35Устройство работает следующим образом. ла 11 и шагового двигателя 13, Резец 14 устанавливается в поворотной стойке б, которая совершает возвратно-по. ступательные перемещения поперек абразивного инструмента 3 и качательные движения вокруг оси цилиндрического кулачка 4. Сочетание указанных движений позволяет вершине резца перемещаться по сложной траектории относительно поверхности абразивного инструмента 3 и за счет равномерного износа последней получить...

Номер патента: 1349876

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Михайлов, Чижов

МПК: B23B 1/00

Метки: инструмента, кромки, округления, оптимального, радиуса, режущей

...режущей кромки. Измерение радиуса кривизны стружки, отделенной от обрабатываемой детали, мокно осуществить с помощью микрометра, штангенциркуля, линейки и т.д. в зависимости от требуемой точности. Поскольку дальнейший рост радиуса округления режущей кромки после достижения его оптимальной величины приводит к интенсивному росту радиуса завивания стружки, величину оптимального радиуса округления режущей кромки с достаточно высокой степенью точности можно определить визуально по моменту резкого увеличения радиуса завивки струики.Для практической проверки эффективности предлагаемого способа определения опти 5 10 15 20 25 30 мального радиуса округления режущей кромки инструмента проведены стойкостные испытания резцов с различной величиной...

Номер патента: 1359664

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Поздняков, Тхор

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркала, кривизны, крупногабаритного, плоского, поверхности, радиуса, среднего

...зеркала 2. Регистрируют рического зеркалаф иа фиг, 2 - схема З 0 на фотопленку интерференционную карполучения интерферограммы при паде- тину, измеряют астигматизм волнового нии по нормали к контролируемому фронта и определяют радиускривизны плоскому зеркалу параллельного пучка контролируемого плоского зеркала получей. формулергсоз 1 81 пг 1В, цсоз 1 соз 1+1з г2% дИ -ЬНг 81 пг( соя 1+сОБсОБ ( соя 1+81 п цгде К 40 50- радиус кривизны контролируемого плоского зеркала; - световой диаметр контролируемого плоского зеркала - длина волны светового излучения- размах астигматической ошибки в деформации волного фронта в схеме при наклонном падении на контролируемую поверхность расходящегося светового пучка, выходящего изцентра кривизны...

Номер патента: 1379615

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...4 и 3,где а =А-А, - разность отсчетов в положениях зеркал3 ирасстояние междуотражающими поверхностями зеркал 3и 4;расстояние от точки Р до поверхности зеркала 2,При измерении радиуса кривизны поверхности детали приемлемая точность достигается при смещении зеркал 3 и 4 на величину а, не превышающую 300-400 мм, а диапазон измерений величин К большой. формула изобретения30 Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали, содержащее автоколлимационный микроскоп, механизм перемещения и отсчетную шкалу с индекопределяют по резкому автоколлимационному изображению сетки микроскопа 36 1. Затем устанавливают зеркала 3 и 4. Зеркала смещают по направлению к автоколлимациоцному микроскопу 1 до совпадения точки Р...

Номер патента: 1407766

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Григорьев, Личманюк

МПК: B24B 11/00

Метки: измерительных, крепления, поверхностей, радиуса, шлифовании, штангенциркуля

...в продольном и поперечном направ, ениях. На шпиндель 3 поворотной голов- и 1 крепится сменная зажимная оправа 4, соответствующая номенклатуре обра. 15 атываемых инструментов например, штаненциркулей, имеющих толщину губок 4 мм).правка имеет два цилиндрических подпруиненных фиксатора 5, способных убиратья и не препятствовать смыканию губок (тангенциркуля, Образующие фиксаторов очно совпадают с осью зажимной оправки 4, ва прижима 6 служат для зажима гуок обрабатываемого штангенциркуля 7 неависимо друг от друга на установочной плоскости 8. 25 Устройство работает следующим образом.Обрабатываемый штангенциркуль 7 уста,навливается на зажимной оправке на установочной плоскости 8 так, чтобы плоскость разьема губок точно совпадала с осью...

Номер патента: 1411576

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: кривизны, объектов, поверхностей, радиуса, сферических

...равная расстоянию между плоскостямиВВи ВВ (Фиг 1),с - скорость света;И - время когерентности;Л - средняя длина волны немонохроматического излучения винтервале длин волн от Л доЛ+д Л,Немонохроматическое излучение можно представить как совокупность когерентных монохроматических компос нент, занимающих некоторый диапазон длин волн от Я до Л+ йЯ, Каждая моно- хроматическая компонента образует свою интерференционную картину. Полная интенсивность в любой точке равна сумме интенсивностей, создаваемых каждой монохроматической составляющей. При использовании немонохроматического источника белого света (диапазон длин волн 0,4 - О, 7 мкм), ш с Л /йЛ 2, интерференционная картина имеет слеетра тину с еренционную кар иус, о т л и ччто, с целью...

Номер патента: 1413403

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Ветчинов, Новиков, Поляков, Тихонов

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, отклонений, поверхности, радиуса, сферической

...с ним осевого перемещения, а продольные осинаконечников расположены под острымуглом одна к другой. Составитель Р,Жальнерович Редактор А,Маковская Техред. М.Ходанич Корректор Л.ПатайЗаказ 3765/40 Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике,Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения.На чертеже представлено устройстводля измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической,общий вид.10Устройство содержит корпус 1, накотором установлены центрирующая опора2 и державка Э. На державке 3 закреплен...

Номер патента: 1362387

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Воробьев, Мун, Пак

МПК: H05H 6/00

Метки: изгиба, монокристалла, радиуса

...зависимости БВ(Ы), соответствующий рассматриваемому случаю,приведен на фиг.3, По минимуму счетадетектора 3 определяют протяженностьДЬ области изменения радиуса изгиба.Перемещая детектор вдоль прямой ОВ,находят точку фокусировки О, в кота"рой наблюдается максимум интенсивности параметрическогачрентгеновскогоизлучения. Измерив величину перемещения ОО 1, определяют радиус изгиба 55 монокристалла К из соотношения, по"лученного согласно геометриифиг, 4)1 Ь 2 . к(к-оо+ ф .1. Способ определения радиуса нэ" гиба монокристалла, включающий облучение монокристалла пучком реляти" нистских положительно заряженных частиц под углом меньше критического уг" ла каналирования, .регистрацию частиц, захваченных в режим каналирования, и частиц,...

Номер патента: 1415044

Опубликовано: 07.08.1988

Автор: Гриев

МПК: G01B 7/13

Метки: кривизны, объектов, радиуса, электропроводных

...4-5, к 25которым подключен блок питания и индикации, включающий в себя источник6 питания и усилительный блок 7 синцикаторными лампами 8, например,различного цвета. Контакты 2-5 элек Отроизолированы от калибра 1 (возможно выполнение калибра 1 из электро -изоляционного материала) и высту -пают над его поверхностью, образуяучастки эталонной поверхности, приводимой в процессе контроля в контакт с поверхностью объекта 9 контроля. Контакты 2-3 первой пары установлены на меньшем расстоянии между собой, чем контакты 4-5 второй пары и 40размещены в промежутке между ними,Форма калибра 1 зависит от формы подлежащего контролю объекта 9, благодаря чему данное устройство может 45 быть использовано для контроля отверстий или канавок (фиг. 2) и для...

Номер патента: 1159431

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бондаренко, Еремина, Макаров

МПК: G02F 1/37

Метки: волнового, гауссовых, импульсных, кривизны, лазеров, пучков, радиуса, сферического, фронта

...РР2 Р,где Р - минимальная величина мощкрности, при которой наблюдается самофокусировка пучка, координаты точекеамофокусировкй вдоль направленияраспространения пучка составляют некоторую область. При этом дальняяграница области совпадает с центромкривизны входного лучка. Таким образом, расстояние Ь от входной плоскости среды до дальней границы области равно радиусу Кзкривизныволнового фронта пучка на входной плоскости среды (К1 /и ),Точность предлагаемого способаизмерения радиуса К кривизны волнового фронта зависит от точности аЬопределения дальней границы области,связанной с конечным продольным раз"мером нелинейного фокуса.Эксперименты по изучению продольной структуры поля в точке самофокусировки в реальной среде (стекле)показали, что...

Номер патента: 1423220

Опубликовано: 15.09.1988

Авторы: Настенко, Середа

МПК: B21D 7/14

Метки: гиба, радиуса

...соответственно к выходу датчика 12 (линейных перемещений), задатчика 15 и запоминающего блока 17.Вход управления вычислительного блока 19 подключен к выходу элемента 18задержки.Кроме того, счетчики 13 и 14 имеют цепи измерительной установки в нулевое состояние (не показаны). Изделие 6 сформировано из заготовки 20.Устройство работает следующим образом.Предварительно на задатчике 15 устанавливается величина элементарных расчетныхдлин Л. Величина Л определяется из требований частоты замеров радиуса гиба.Затем сбрасывают счетчики 13 и 14 в нулевое положение (цепи предварительногосброса на чертеже не показаны). Устройство готово к работе,При перемещении заготовки 20 в направлении гибочного устройства 5 последнее,воздействуя на...

Номер патента: 1423332

Опубликовано: 15.09.1988

Автор: Завальнюк

МПК: B23K 37/04

Метки: замкнутого, контура, малого, радиуса, сварки, скругления, участками

...колесо 7 имеет значительно больш й диаметр, чем основное зубчатое кол со 6. Основное зубчатое колесо 6 оснащ.но муфтой свободного хода (не показана). О новное зубчатое колесо 6 входит в зацепл ние с зуочатым венцом 8 копира 3, а д полнительное зубчатое колесо 7 - в зацепление с зубчатыми секторами 9, закрепленными на участках скругления копира Э, ксторый прижимается к прямолинейной наи авляющей 2 упорным роликом 1 О. Свар ваемое изделие 11 закрепляется на ложемнте 12 копира 3.Устройство работает следуюгцим образом.Свариваемое изделие1 устанавливают в ложементе 12. При сварке прямолинейи х участков основное зубчатос колесо 6 передвигает изделие 11 прямолинейно со сва рс иной скоростью, удерживаясь от поворста направляющей 2. При...

Номер патента: 1430724

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Иванникова, Морочко, Семенов

МПК: G01B 5/08

Метки: гиба, радиуса, трубы

...через штуцеры 12, а другие - через общий штуцер 13,Преобразователи 3, 7, 9 электрически соединены с соответ твующимисчетчиками 14-16 размеров имеющими выход в систему управления,45Устройство работает следующим образом,Устройство крепят на основании 1на кронштейне не показан) н подаютсжатый воздух через штуцер 13 в попости пневмоцилиндров 11. Стойки 5и вместе с ними траверса 4 перемещаются до упора траверсы 4 в основание 1. Одновременно н том же направлении движется рейка 10, вращаязубчатое колесо 8. После остановкитраверсы 4 расстояние между роликами2 н 6 становится равным нулю, и нэтом положении преобразователь 9 числа оборотов зубчатого колеса 8 устанавливается на "0", Затем сжатый воздух подается через штуцеры 12 в другую...

Номер патента: 1439377

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Вацлавик, Коларж, Кур, Радек

МПК: G01B 5/213

Метки: дорожек, качения, колец, отклонений, поперечного, поперечной, радиуса, формы, шарикоподшипников

...и 12, сигналы которыхпосле преобразования передаются вмикросчетчик 19. 1 ил.соприкосновении с измеряемой поверхностью сферический съемный наконеч. ник 27, Плоскости движения первого планшетного параллелограмма 3 и второго планшетного параллелограмма 4 ,перпендикулярны.С вторым звеном 6 соприкасается съемное острие второго индуктивного линейного датчика 12, корпус которого соединен с первым звеном 5. С последним соприкасается первый индуктивный линейный датчик 11, корпус которого соединен с основной рамой 1,К основной раме 1 прикреплена направляющая выдвижного арретирующего штифта 1 О, причем данная направляющаяпроходит в отверстие в первом звене 5 и входит в отверстие второго звена6, Арретирующий штифт 10 служит дляфиксации положения...

Номер патента: 1439378

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Беляев, Богомолов, Данилевич, Дич, Песляк, Понкратов, Рукавицын, Скворцов

МПК: G01B 5/22

Метки: поверхностей, радиуса, сегмента, стрелке, сферических, шарового

...измерительные усилия Я по математической зави- симости(К,т К,) 1 Рл Кв) К нгде Ц - нормированное измерительное усилие, прикладываемому к измерительному наконечнику пиноли Р - вес детали, расположеннойна шариках опорного кольца; К - номинальный радиус измеряемой сферы;Рк - опорный радиус; К - радиус. шарика опорногокольца; К - радиус шарика измерительного Ннаконечника,Величина задаваемого нормированного измерительного усилия запоминается блоком 31 после ввода через блок 25 управления значений К, К я н К 1, а значение Кзапоминается блоком 32Процессор 27 расчетное нормированное усилие Я задает на датчик 23 углового перемещения.Затем устанавливают на шарики 3 опорного кольца 2 плоскую пластину 4. Включают блок 25 управления перемещения...