H01J 39/42 — H01J 39/42

Номер патента: 582709

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Алхазов, Белостоцкая

МПК: H01J 39/42

Метки: вторичных, магнитный, пучка, синхрофазотрона, спектрометр, частиц

...происходит расширение энергетического спектра вторичных частиц, что снижает энергетическую разрешающую способность спектрометра Цель иэобретения -энергетической разреш обности спектрометра.Поставленная цель достигается тем, что перед отклоняющим магнитом расположен безжелезный дипольный электромагнит, ось которого перпендикулярна медианной плоскости отклоняющего магнита, а обмотка .подключена к импульсному источнику питания, связанному с датчиком момента выво582709 Формула изобретения ЦИИИПИ Заказ 2758/б 7 Тирак 922 Подписное Филиал ППППатент , г.ужгород,ул.Проектная,4 да пучка из синхрофазотрона системой синхронизацииИа .чертеже изображена принципиаль. ная схема предлагаемого магнитного спектрометра вторичных частиц пучка...

Номер патента: 851547

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Калинин, Самсонов, Сысоев, Филатов

МПК: H01J 39/42

Метки: масс-спектрометр

...электродами необходимо для предотвращения накопления электрических зарядов на поверхности диэлектрика и чтобы избежать искажений электрического поля анализатораКроме того, изготовление электродов в виде пленок возможно производить, например, напылением требуемых материалов на пластины из диэлектрика, что существенно упрощает изготовление электродов. Использование при изготовлении электродов, например, фотолитографии значительно увеличивает точность изготовления по сравнению с прототипом.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого масс-спектрометра; на фиг,2 анализатор прибора, разрез.Масс-спектрометр состоит из источника 1 ионов, диспергирующего магнита 2, устройства 3 для формирования электрического поля, детектора 4, вакуумной камеры 5,...