Патенты с меткой «излучения»
Способ измерения длины волны излучения и измеритель для его осуществления
Номер патента: 1531690
Опубликовано: 15.01.1991
Авторы: Кравченко, Левченко, Теренецкая, Ткаченко
МПК: G02F 1/33
Метки: волны, длины, излучения, измеритель
...с операционнымусилителем 5 и регистрирующим прибором 6, расптиритель пучка излучения 7,за которым последовательно расположены акустооптический дефлектор 8,дифракционная рещетка 9 и фотоэлектрический регистратор, помещенный эа фокусирующим объективом 1 О в его фокальной плоскости 1. Регистраторсостоит из позиционно-чувствительного приемника 12, электрически соединенного с операционным усилителем13 и регистрирующим прибором 14. Устройство дополнительно содержит синтезатор радиочастот 15 с блоком 16плавной регулировки частоты и блоком17 контроля длины волны излучения .Синтезатор 15 электрически соединенс акустооптическим дефлектором 8, аблок 16 плавной регулировки частотысоединен с операционным усилителем13. В качестве приемника 12...
Устройство проходного типа для измерения энергетических и временных характеристик лазерного излучения
Номер патента: 1540447
Опубликовано: 15.01.1991
Автор: Темирбулатов
МПК: G01J 5/08
Метки: временных, излучения, лазерного, проходного, типа, характеристик, энергетических
...сеток расположены на равном угловом расстоянии друг от друга в плоскости жесткой рамк 1. 2, все слои нитей обеспечивают одинаковый вклад в количество ответвленяой мощности (энергии) излучения, Такое расположение нитей является оптимальным, так как оно обеспе .ивает наилучшую прас гранствеяную равномерность ответвленяого и рассея.1 ного излучения и повышает точность измерений.Введение блока защиты ответвляющего эле:ента 1 инертным газом позволяет эффективно предохранить нити от Окислеичяу а также От Осаждения пыли, минеральных и масляных пленок и позволяет интенсифицировать обдув нитей, что снижает их среднюю температуру. Благодаря этому ответвляющий элемент 1 сохраняет свои оптическиеметрологические аах 1 ори"тищ в течение...
Устройство для отклонения оптического излучения
Номер патента: 1622867
Опубликовано: 23.01.1991
Авторы: Бецько, Воронов, Ким, Недужий, Соловьев, Чадюк
МПК: G02B 6/12
Метки: излучения, оптического, отклонения
...оси вращения, и параллельно друг другу на цилиндрическойповерхности планарного волновада 4.Дифракционные решетки 6 вывода излучения оптически связаны через линзус регистрирующей средой 8 В качестве материала планарного волновода 4использован цилиндр из оптического 5стекла К. Плаарый волновод 4 изготове 1 методом ионного обмена набоковой поверхности цилиндра, Дфракцоье решетки э и 6 из.отовлены голографическим методом. Б качестве источника 1 лазерного излученияиспользуется полупроводниковый илигазовый лазер,25Устройство для отклонения оптического излучения работает следующим образом,Оптическое излучение источника30 через формирующий излучение объектив 2 и дифракционную решетку 3 вводят в планарный волновод 4 параллельно оси...
Устройство точечной фокусировки рентгеновского излучения
Номер патента: 1622908
Опубликовано: 23.01.1991
Авторы: Габриелян, Демирчян, Пискунов, Чуховский
МПК: G21K 1/06
Метки: излучения, рентгеновского, точечной, фокусировки
...кристалла.В соответствии с известными методами 10 анализа дифракционных интегралов, фокусные расстояния определяются из условий Когда радиусы изгиба кристалла Я и Ву 30связаны условием условия (2) и (3) выполняются на одинаковом расстоянии Ь от кристалла - происходит фокусировка точка в точку.Из (4) и (5) следует, что поскольку выражения для координат фокусной точки не зависят от длины волны падающего излучения, двухосноизогнутый кристалл с радиусами изгиба Ях и йу, связанными условием (б), ахроматически фокусирует вседлины волн в одну точку, определяемую условиями (2) - (5)Из общей формулы (1) можно определить распределение интенсивности отраженного излучения в окрестости фокусной точки и дифракционные размеры фокусного пятна...
Способ управления параметрами электромагнитного излучения
Номер патента: 1622955
Опубликовано: 23.01.1991
Авторы: Кабыченков, Шавров, Шевченко
МПК: H04R 15/00
Метки: излучения, параметрами, электромагнитного
...получать ДС различного профиля. Например рля малых амплитуд изменение намагиичеыыости будет близким к синусоидальному. Дифракция ЭМИ на такой.ДС дает только два боковых максимума н подавляет нулевой максимум,Ф что увеличивает эффективность управления параметрами ЭМИ, При возбуждениив магнетике поперечной волны такжеобразуется ДС Намагниченность в данном случае будет отклоняться от направления распространения волны впротивоположные стороны на соседнихполовинах длины упругой волны, С ростом амплитуды волны угол отклонениябудет увеличиваться, стремясь к предельному значению Т/4,Возбуждение в магнетике поверхностной волны приводит к образованию поверхностной ДС, Дифракция ЭМИ на поверхностной ДС происходит так же, каки на объемной,....
Система фокусировки акустического излучения в твердотельных объектах
Номер патента: 1623791
Опубликовано: 30.01.1991
Авторы: Валиев, Жаров, Репин, Сухов
МПК: B06B 3/04
Метки: акустического, излучения, объектах, твердотельных, фокусировки
...и параллельна поверхности исследуемого твердотельного объекта. На сферической поверхности акустической линзы 1 расположен пьезоэлектрический преобразователь 2. Ко 0 второй поверхности линзы 1 примыкает иммерсионный слой 3, находящийся между линзой и исследуемым твердотельным объектом 4. В качестве иммерсионного слоя может использоваться вода, а также жидкий гелий и ртуть.Для снижения величины лучевых аберраций толщина иммерсионного слоя д должна задаваться соответствующей условию 2 и( Лс ) залпа-- радиус кривизны сферическойповерхности пьезопреобразовател я;твысота шарового сегмента;и, и) относительные показатели преломления акустической линзыи твердотельного объекта соответственно, равные отношениюскоростей звука в материале и...
Устройство для фокусировки лазерного излучения
Номер патента: 1624391
Опубликовано: 30.01.1991
Авторы: Герасименко, Костромин, Нечаев, Сагаков, Царьков, Щеглов
МПК: G02B 27/16, G02B 27/48
Метки: излучения, лазерного, фокусировки
...комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к лазерной технике, а более конкретно к системам фокусировки и формирования лазерного пучка, и может быть использовано в металлообрабатывающей, электротехнической, машиностроительной и других отраслях народного хозяйства.Цель изобретения - увеличение срока службы устройства и повышение эффективности фокусировки,На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Устройство содержит конусный отражатель 1 с элементами 2 крепления и сферическое зеркало 3, установленные последовательно по ходу пучка и соосно, а также плоское поворотное зеркало 4 с входным отверстием, установленное под углсм к оси сферического зеркала 3 после него по ходу пучка. При этом вершина...
Эмиссионный детектор для измерения нейтронов и гамма излучения и способ его изготовления
Номер патента: 871646
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Егоров, Постников, Рыбаков
Метки: гамма, детектор, излучения, нейтронов, эмиссионный
...свойствами и необходимой радиационной стойкостью, К . 25таким элементам относятся. гадолиний,эрбий, самарий, европий, диспрозий,тербий, иттербий, уран, торий, иридий, бор, литий, кобальт, кадмий, .гафний и др. Из них группа так казы- ЗОваемых редкоземельных элементов, атакже делящиеся элементы обладают высочайшей химической активностью,Если оценить их химическую активность, например, по изобарному потен. циалу реакции окисления, то они имеютсамый высокий отрицательный потенциализ всех известных в природе элемсн+.тов. Такие элементы активно взаимодействуют не только с газами кисло Ородом, азотом, водородом и др.,), но.и с любыми элементами и их еоедине. ииями, а также с конструкционнымиматериалами, Промышленное производство этих элементов...
Устройство для исследования излучения биологического объекта
Номер патента: 1627128
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Искандаров, Щаюсупов
МПК: A61B 5/05
Метки: биологического, излучения, исследования, объекта
...узла 5, состоящего из двух полевых транзисторов.Устройство работает следующим обраНа гговерхность датчика 1 прикладываладонь обследуемого, при этом на выхорамки 4 возникает индукционноеЯ 2., 1627128 А 1(57) Изобретение относится к медицинской технике и может быть использовано при изучении стрессовых ситуаций у человека. Цель изобретения - упрощение устройства и повышение достоверности результатов исследования, Цель достигается тем, что блок согласования выполнен в виде дифференциального узла на силовых транзисторах. 2 ил. напряжение, которое согласуется дифференциальным узлом 5 и измеряется блоком 3 регистрации, на котором высвечивается цифровое значение пропорционально энергии, излучаемой биологическим объектом,Формула изобретения...
Устройство для стабилизации параметров импульсов излучения полупроводникового лазера
Номер патента: 1628116
Опубликовано: 15.02.1991
МПК: H01S 3/133
Метки: излучения, импульсов, лазера, параметров, полупроводникового, стабилизации
...корректировка усиления в уси)п 1(5 тте 1 импульсов тока, т.е, осуществляетсь стабилизация амплитудных световыхП 1 У)1.СОВ.Стабилизация времеиОго положенияимпульса происходит следующим образом.11 чтч 152 ь 21 код на )зыходе ЦАП задат величну тока постоянного смещения Т . Если времена прихода импуль 2сов цл первьт и второй входы приоритт0 дискриЛГцлтсра 7 (после приход;2;миульса ца вход "Сброс" прио. ри Г, тцс)1 о 2 тск 1.тйлторл) разлтчаютс я то тр 021(,"лоит ( 1);1 б;1 тывацие при 5и Г т) гс) 2 искртт 22 лторл и изменя.тг я ц(1 дицпу код ца входе 11 Л 11 9, т . Гзмсцяся постоянное смещение 1 .;, Лра цл ветичпу Ь 1 . результ,(т 121,ржка генерации в лазере измляется сог)лспо формуле (1) и рл )и)стт времц прихода импульсоверыи и...
Устройство для измерения расходимости пучков лазерного излучения
Номер патента: 1186049
Опубликовано: 23.02.1991
Авторы: Казак, Лугина, Миклавская, Надененко, Павленко, Санников
МПК: H01S 3/00
Метки: излучения, лазерного, пучков, расходимости
...и нсследуемого лазера образуют уголс диагональной гранью анализатора, %, ( К(%, где 3 и К - углы ПВО соответственно для обыкновенного и необыкновенного лучей на длине волны лазера-гетеродина. Такой выбор диапазона угловобусловлен тем, что на диагональной грани поляризационной призмынеобходимо удовлетворить условию: необыкновенная волна должна проходить через диагональную грань с минимальными потерями на отражение,обыкновенная волна - испытывать полное внутреннее отражениеЕслисСф , то излучение лазера-гереродннане полностью отражается от диагональной грани поляризационной призмы,в результате чего увеличиваются по-тери на отражение. При ф,( Т излученне исследуемого лазера испытывают на указанной грани полное Внутреннее отражение и не...
Модулятор интенсивности лазерного излучения
Номер патента: 1500142
Опубликовано: 23.02.1991
Авторы: Виневич, Ипполитова, Печенин
МПК: G02F 1/21
Метки: излучения, интенсивности, лазерного, модулятор
...которая для мощного лазера обычно меньше "1". Будеи считать эту величину известной. Тогда 25 А= К 6)где к = 21-г,)г е2 Г-ге)гееНазовем 8 эффективностью сложения пучков,Значение 8 максимально при г =0,5.Тогдал = 2 1(-,)г,ЗО 35 Последнее равенство показывает, что, модулируя фазу пучка с малой интенсивностью, вследствие эффекта интерференции можно получить глубокую иодуляцию интенсивности выходного 40 пучка, Если, например мощность входного пучка 250 Вт, максимально допустимая для элемента мощность 25 Вт, можно, выбирая для модулятора решеткусиеситель с коэффициентом отражения 4 0,5, а решетку-делитель с коэффици 25ентом = 0,1, получить модуляцию мощности выходного пучка с амплитудой 150 Вт, хотя модулируется при этом фаза пучка...
Устройство проходного типа для измерения энергетических характеристик оптического излучения
Номер патента: 1558151
Опубликовано: 23.02.1991
Автор: Темирбулатов
МПК: G01J 5/02
Метки: излучения, оптического, проходного, типа, характеристик, энергетических
...возможны различные варианты выполнения решетки и дисков,На фиг.3 приведен отнетвитель излучения, выполненный в соответствии с п,2 Формулы изобретения в виде стержней с зеркальной цилиндрической отражающей поверхностью, расположенных под углом Ы к осн вращения ответвителя. Площадки приемников нзученияимеют прямоугольную форму длиныих равны и параллельны осям стержнейпри расположении цоследцих на оптической оси устройства со стороны выходного окна, при этом выполняютсясоотношения 0 с р с:. 20 1, =11-1314 где 1 - размер входного окна устройства,Возможен вариант выполнения устройства (фиг,4), в котором в соответствии с п,З формулы изобретенияэлементы решетки и диски расположены в два слоя между дисками 2, 3,причем элементы одного...
Электрооптический модулятор сдвига частоты излучения лазера
Номер патента: 1529963
Опубликовано: 23.02.1991
Автор: Гисин
МПК: G02F 1/03
Метки: излучения, лазера, модулятор, сдвига, частоты, электрооптический
...соединенными через фазовращатели с генератором, причем в качестне электрооптической среды использованы кри таллы классов 3, Зш,Г/и 6/пппт 432, п 3 п) или иэотропнаят реда, обладающая эффектом Керра,Оптическая индикатриса в таком модуляторе вращаетгя в два раза быстрее,чем при использовании цецецтросимметричных кристаллов с лицеиным электроОптич ег к им эффск томилчерез блгрк 3 фазовои эадерцены с гецератором 2.йство работает следующим о тическом кристалле создает1529963 2 Кз (Кт.+К 2)-(К -К, )сов 2+2 К в 1 п 2 тр Ке +Ктт -Кт -(К-К -К +Ктт (сов 2 Ч) 2+(К, -К) в п 2 кубических кристаллов класса 432,птЗш и изотропной среды, обладающейэффектом КЕРРА,Составитель Л. Архонтожечкова Техред М,Ходвнич Корректор ТМалец актор Г,Тираж...
Способ измерения энергетических характеристик лазерного излучения
Номер патента: 1533466
Опубликовано: 23.02.1991
МПК: G01J 5/58
Метки: излучения, лазерного, характеристик, энергетических
Способ регистрации излучения фотодиодом
Номер патента: 1454178
Опубликовано: 28.02.1991
Автор: Чернов
МПК: H01L 31/06
Метки: излучения, регистрации, фотодиодом
...в способе - прототипе с длительность максимальна, и потоком излучения фм, равны. Применение способа повышает быстродействие более чем на 307 2 ил. С: чскс д ф мн (фиг. 1)Из фиг. 2 видно, что имеется значение ф при котором длительность переходного процесса максимальна (, ). Можно определить такое значение фнпри котором длительности переходных процессов при изменении от ф до Фи от фн до Фбудут равны. Тогда заряд емкости ФД перед измерением напряжения на нем до начального напряжения 0 , соответствующего Фн, дает дополнительный выигрыш в быстродействии.Переходной процесс на ФД после заряда его емкости и освещения описывается дифференциальным уравнениемС(0 Ц/дТ) + 1 ехр(Ч 11/1 Т) - 1 3= я Ф, где С - емкость ФД;14541 ц= (1 сТ/с 1)1 п 1 ю...
Устройство для оценки эффективного поля зрения приемников оптического излучения
Номер патента: 1636693
Опубликовано: 23.03.1991
Авторы: Борисов, Громыко, Коровин
МПК: G01J 1/04
Метки: зрения, излучения, оптического, оценки, поля, приемников, эффективного
...спектра, При этом оптическая система 3 выполнена в виде призмы, установленной с возможностью вращения вокруг оптической оси.Устройство работает следующим образом.Параллельный пучок монохроматического излучения, генерируемый источником 1 излучения, попадает на оптическую систему 3, выполненну 1 о в виде призмы, вращающейся с круговой частотой э вокруг оптической оси, Вращение призмы приводит к сканированию луча по окружности на диффузном рассеивателе 4, в качестве которого можут быть использован, например. плоский экран из стекла марки МС, рассеивающего световой поток как ламбертовский излучатель,Центр окружности, описываемой движущимся ламбертовским излучателем, яв 5 10 15 20 25 30 35 ляется точкой пересечения оси вращения...
Приемник теплового излучения
Номер патента: 1636697
Опубликовано: 23.03.1991
МПК: G01J 5/12
Метки: излучения, приемник, теплового
...001) монокристалла антимонидакадмия, двух медных выводов 2, расположенных на стыкебоковой грани термоэлемента с его торцами, медного топлоотвода ловых режимов технологических процессов, в пирометрии и пиргелиометрии, медицине для измерения тепловых потоков, излучаемых биологическими объектами, Цель изобретения - повышение чувствительности в широком диапазоне температуры. В качестве чувствительного элемента приемника излучения используется термоэлемент в виде стержня из антимонида кадмия, вырезанного вдоль кристаллографической оси (001), с двумя медными, образующими с антимонидом кадмия термоэлектрическую пару выводами, Термоэлемент установлен одним торцом на теплоотводе, на другом торце которого находится приемная площадка из медной...
Установка для измерения энергии оптических импульсов излучения
Номер патента: 1636698
Опубликовано: 23.03.1991
Авторы: Жнальке, Зейферт, Томас, Шнейдер
МПК: G01J 5/12
Метки: излучения, импульсов, оптических, энергии
...материала, его теплоемкость во много раз больше теплоемкости термобатарей 7 Электронный блок 17 обработки информации содержит установленный на его входе предварительный усилитель 8. К его выходу подключен ряд каналов обработки информации, каждый из которых содержит последовательно подключенные масштабный усилитель 10, устройство 11 компенсации дрейфа нуля и аналоговый ключ 12. Выходы ключей 12 подключены к входу устройства 15 вывода измеряемой величины,Блок 17 содержит устройство 14 управления, к входам которого подключены выходы фотоприемника 3 и устройств 11 компенсации дрейфа нуля, а выход подключен к управляющим входам устройств 11 и 15, ключей 12 и входящего в состав блока 17 устройства 13 управляемого нагрева. Выход....
Детектор ионизирующего излучения
Номер патента: 1512340
Опубликовано: 30.03.1991
Авторы: Грудский, Малышев, Ролдугин, Смирнов, Чукляев
МПК: G01T 1/28
Метки: детектор, излучения, ионизирующего
...наодин гамма-квант,8 - площадь сплошного элементаэлектрода (элемента безотверстий)35в - суммарная площадь отверстийв элементе электрода 3.В предположении, что токи быстрых ВЭ компенсируются в цепи сигнального электрода 2, запишем равенство 1,403 з которое, следуя выражениям для 1 и 3 , справедливо при условии выполнения соотношения где а - коэффициент поглощения излучения элементом сплошного электрода- плотность потока гамма-кван 50тон, падающих на элемент электрода 2 после прохождениясплошных участков элементовэлектрода 3,В иэотропном поле излучения длятонких элементов электродов по сравнейию с длиной пробега гамма-квантов в веществе электрода р 42 рй,где р,й" линейный коэффициент ос" 0 4лабления излучения и толш 1 .1 е тов электродов...
Устройство о. и. щетинина для определения направления на источник ионизирующего излучения
Номер патента: 1276099
Опубликовано: 30.03.1991
Авторы: Бакулин, Коротовских, Малышев, Чукляев, Щетинин
МПК: G01T 1/28
Метки: излучения, ионизирующего, источник, направления, щетинина
...существенно зависит от угла падения гамма-излучения на каждый из электродов при направлениях распространения близких к направлению максимальной длины, Эффективность ослабления определяется отношением толщины к длине. Если излучение падает под углом ОС к оси ОУ таким, что з 1 по д/1эффективность ослабления резко падает вследствие резкого уменьшения эффективной длины коллектора (электрода) в направлении распространения излучения. Таким образом, устанавливая электрод 3 под углом м к поверхности коллектора таким, что зиЫд /У , можно контролировать наличие направленного потока первичного излучения в пределах углапо отношению показаний коллектора 2 и электрода 3, Угол сс в этом случае определяет угловое разрешение устройства. В...
Устройство для измерения размеров чувствительных площадок приемников излучения
Номер патента: 1640540
Опубликовано: 07.04.1991
Авторы: Андреев, Михайлов, Морозов
МПК: G01B 11/24
Метки: излучения, площадок, приемников, размеров, чувствительных
...модулятора изображение чувствительной площадки попадает на зеркальный сектор 5 модулятора, дополнительно на чувствительную площадку направляется излучение самой чувствительной площадки, автоколлимированное с помощью зеркального модулятора.В связи с тем, что температура стекла модулятора определяется температурой окружающей среды, а температура чувствительной площадки приемника температурой хладагента, на чувствительную площадку приемника от зеркального сектора 5 модулятора падает поток, во много разменьше, чем от сектора 6 беэ зеркального покрытия, 8 результате этого на выходе приемника 3 создается переменный сигнал с частотой, пропорциональной скорости вращения диска модулятора и количеству секторов. 8 том случае, когда угловой...
Система коррекции и коллимации пучка излучения полупроводникового лазера
Номер патента: 1640663
Опубликовано: 07.04.1991
Авторы: Гнатовский, Логинов, Медведь, Плевако
МПК: G02B 27/30, G02B 27/42
Метки: излучения, коллимации, коррекции, лазера, полупроводникового, пучка
...равную диаметру спекл-неоднородностей, при этом, если50 55 5 10 20 25 30 35 40 45 спекл-неоднородности круглые, то форма дифракционной картины не искажается,При дифракции светового пучка с несимметричным сечением, каким обладает . полупроводниковый лазер, дифракционная картина искажается, Это искажение вызва. но изменением формы спекл-неоднородностей, которая соответствует форме тела свечения полупроводникового лазера 1; размеры спекл-неоднородностей ай и а в плоскости р - и-перехода и ортогональной ей плоскости, соответственно, связаны с размерами тела свечения аи и а следующими соотношениями;а й= 2 аи/1 ьа = 2 аЛь (3) С учетом размеров спеха-неоднородностей (3) выражение для сечения дифракционной картины (2) переходит вОи = Л 2/би+ аи...
Способ возбуждения резонансного излучения
Номер патента: 1642261
Опубликовано: 15.04.1991
Авторы: Гайсенок, Курейчик, Слободянюк, Шашенок
МПК: G01J 3/10
Метки: возбуждения, излучения, резонансного
...возбуждения; О - коэффициент диффузии атомов в буферном газе. 1 ил. же элемента, поскольку катоды 2 - 5 выполнены из одного и того же элемента. Затем подключаются катоды 4 и 5 к разрядной цепи, В качестве блока питания можно ис пользовать стандартный блок типа ППСЛ - 2, ( заменив в нем ручной коммутатор катодов ф на электронный, выполненный, например,на основе 590 КН - 2, или аналогичный ему,К катоду лампы прикладывалось напряжение порядка 800 В, катоды коммутирова- ф лись на другой полюс источника 800 В с часотой около 1 кГц, Ток через каждый из катодов составлял порядка 40-80 мА, выбирался регулированием напряжения источника 800 В (от 500 до 800 В).Исследования показали, что в течение порядка 100 мкс при частоте повторения 1 кГц...
Способ спектрального анализа электромагнитного излучения
Номер патента: 1642262
Опубликовано: 15.04.1991
Авторы: Банков, Гафуров, Джинчарадзе, Заяц, Кучеров, Орлова
МПК: G01J 3/12
Метки: анализа, излучения, спектрального, электромагнитного
...4 может быть выполнен, например, в виде транзисторного усилительного каскада, Оптоэлектронный преобразователь 6 может быть выполнен в виде фотодиода при работе в ультрафиолетовой и видимой областях спектра, в виде термистора - при работе в инфракрасном диапазоне. Устройство может быть также снабжено блоком светофильтров, размещенных на выходе источника 7. Блок светофильтров может быть механически связан с верньером генератора 5.Способ осуществляют следующим образом,В подложке 1 возбуждают стоячую ПАВ и направляют анализируемое электромагнитное излучение от источника 7 на диспергирующую область рабочей грани подложки 1, на которой имеются чередующиеся пуч ности и,узлы стоячей ПАВ. Рабочую частоту ПАВ выбирают из выражения 1= - 1...
Оптическое устройство для вращения изображений источников излучения
Номер патента: 1645923
Опубликовано: 30.04.1991
Авторы: Бондаренко, Гогин, Джангобегов, Карапетьян, Свечников, Шапарь, Шевелев
МПК: G02B 17/00
Метки: вращения, излучения, изображений, источников, оптическое
...по световодам жгута 2 кего противоположному торцу 8, выходят изжгута 2 со стороны торца 8 и вводятся впризму 1 через ее входную грань 4, на которую световые пучки падают под углом 90 О,Отразившись с внутренней стороны призмыот ее основания 6, световые пучки оборачиваются в плоскости главного сечения призмы на 180 и падают на выходную грань 5призмы 1 под углом 90 будучи зеркальноперевернутыми. Пройдя призму, световыепучки идут далее по световодам жгута 3,достигают его торца 12, выходят иэ жгута 3со стороны этого торца и идут в направлении общей оси 7 вращения источников иустройства,При повороте устройства на некоторыйугол р вокруг общей оси 7 вращения и неподвижных источниках иэображения по 1645923следние поворачиваются на выходе...
Многопроходный электрооптический модулятор когерентного излучения
Номер патента: 1645929
Опубликовано: 30.04.1991
Авторы: Ананьев, Лауга, Лисицын, Николаев
МПК: G02F 1/03
Метки: излучения, когерентного, многопроходный, модулятор, электрооптический
...влияния атмосферы, например, слоем лака, увеличив этим надежность устройства в сложных условиях эксплуатации.При прохождении через кристалл излучение взаимодействует с управляющим электрическим полем, изменяя свою фазу, Электрическое поле при этом создается с помощью нижнего и верхнего электродов 5 и 6. Оптическое излучение при входе в электрооптический кристалл и выходе из него взаимодействует не с просветляющими покрытиями, лучевая прочность которых ограничена, а с поверхностью кристалла, прочность которой существенно выше 5 10 15 20 25 30 35 В предлагаемом устройстве уменьшение оптических потерь, обусловленных отражениями излучения от торцов электрооптического кристалла. ввиду отсутствия просветляющих покрытий, обеспечивается...
Многопроходный электрооптический модулятор когерентного излучения
Номер патента: 1645930
Опубликовано: 30.04.1991
Авторы: Ананьев, Григорьев, Зотова, Лауга, Николаев
МПК: G02F 1/03
Метки: излучения, когерентного, многопроходный, модулятор, электрооптический
...предлагаемом устройстве величина угла падения а лежит в пределах от 3 до 10,Такая величина угла падения определяет угол наклонов(3) ребра двугранного угла, образованного верхними гранями пентапризмы, необходимый для ввода и вывода оптического излучения параллельно верхней грани основания: тцВ = щ аз 1 п 22,5 (2) Таким образом, величина угла,В лежитв пределах19 у = т 9 а сов 22,5 (4) 1 о .4 о (3 каждом его проходе через ЭО ячейку.) Синхронизм скоростей распространенияугол у при вершине биприэмы 2 излучения и модулирующих сигналов обестакже определяется выбранным углом па- печивает широкополосность модулЯции.дения а излучения 5 В результате ЭО взаимодействия в первой ЭО ячейке осуществляется двухполосная модуляция падающего...
Индикатор излучения
Номер патента: 1647441
Опубликовано: 07.05.1991
Авторы: Букуева, Меркушова, Чувилин
МПК: G01R 21/04
Метки: излучения, индикатор
...СВЧ-детекторов 3 и 4, где они преобразуются в низкочастотный импульсный сигнал, причем коэффициент преобразования Кпр= меняется в 2,5ОиЯсрраза в зависимости от плотности потока падающей на антенну мощности Яср. Для обеспечения линейной зависимости выходного напряжения каждого из СВЧ-детекторов от потока мощности, обусловливающей изотропность чувствительности индикатора излучения по углу вращения антенны, включены нелинейные корректирующие цепочки, одна из которых состоит из первого и третьего диодов, а другая - из второго и четвертого диодов. В этом случае сумма двух продетектированных сигналов (О) взаимно перпендикулярных поляризаций не зависит от углаповорота вибраторов относительно вектораэлектрической напряженности поля...
Система стабилизации мощности излучения лазера
Номер патента: 1387834
Опубликовано: 23.05.1991
МПК: H01S 3/13
Метки: излучения, лазера, мощности, стабилизации
...стабилизации. 1 ОСистема стабилизации содержит находящиеся на одной оптической осиэлемент 1 с регулируемой прозрачностью, плоский полупрозрачный Фотоприемник 2, компаратор 3 и блок управ ления 4. Перпендикуляр к приемной поверхности дотопрнемника 2 составляетс оптической осью угол, лежащей впределах 15-30Система стабилизации работает следующим образом,Излучение лазера поступает на входэлемента 1 с регулируемой прозрачностью. При изменении мощности излучения на входе элемента 1 меняется ичасть его, поглощаемая полупрозрачным Фотоприемником 2, изменяетсяэлектрический сигнал на одном из входов компаратора 3, который сравнивается с опорным напряжением на другом 30входе, и разностный сигнал поступаетв блок управления 4,...