Патенты с меткой «излучения»
Способ стабилизации светотехнических характеристик газоразрядных источников излучения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1598918
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Гулин, Карпов, Саакян, Смехун, Шарупич
МПК: A01G 9/24, A01G 9/26, G05F 1/44 ...
Метки: газоразрядных, излучения, источников, светотехнических, стабилизации, характеристик
...Но их присутствие 20 снижает долю 1-й гармоники в действующем напряжении питания газоразрядных ламп.Таким образом, не контролируется величина первой гармоники (50 Гц), которая непосредственно влияет на характеристики газо- разрядных ламп.Таким образом, вводя коррекцию по первой гармонике питающего напряжения в сигнал отклонения напряжения на нагрузке от заданного значения, можно осуществлять стабилизацию спектра излучения и мощности источников.На чертеже представлено устройство для осуществления способа стабилизации светотехнических характеристик источников излучения.Устройство для стабилизации светотехнических характеристик источников излучения содержит мост 1. на диодах, соединенный с фильтром 2 нижних частот, состоящим из резисторов...
Способ получения изображения исследуемого сечения томографируемого объекта при веерной геометрии проникающего излучения
Номер патента: 1599731
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Уткин
МПК: G01N 23/08
Метки: веерной, геометрии, излучения, изображения, исследуемого, объекта, проникающего, сечения, томографируемого
...долженбыть в г 1 раз меньше, чем интервалследования реперных импульсов. Этонеобходимо для того, чтобы вся производная проекции быпа оцифрована доначала измерений следующего цикла. После того, как данные измерень 1,осуществляется восстановление проек-,ции в ЭВМ 20 по следующему алгоритму;Р (и) = Р .(п) + Р (и)О 0 9где и = 1,211 - номер отсчетав проекции;1Р п) - пространственная проВизводная проекции дляугла 6;Р 8(п) - проекция для угла .Исследование начальных нулевых условий Р (О) = О возможно в силу то 8го, что значение проекции по концам равно 0 (нулевь 1 е краевые условия).После того, как все проекции восстановлены, они логарифмируются и обрабатываются одним из возможных алгоритмов вычислительной томографии (например, обратного...
Устройство для выполнения интегральных преобразований пучка излучения
Номер патента: 1601600
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Балашова, Лукашевич, Неофитный, Покормяхо, Сафиуллин, Свич
МПК: G02B 27/42
Метки: выполнения, излучения, интегральных, преобразований, пучка
...фазовых объектов,Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем формирования Гильберт-образа пучка 1 О в заданном дифракционном порядке1при сохранении Фурье-образов в остальных порядках, а также выполненИе преобразования Фуко.На фиг.1 и 2 представлены конструкции фазовых дифракционных структур с различной и равной глубиной шустриков на двух участках.Устройство выполнено в виде фазоной дифракционной структуры 1 с прямоугольным профилем штрихов - канаок 2, которая представляет собойва участка 3 и 4 с одинаковой шириНой и различными значениями отношений поперечных размеров ди д25штрихов к периодам Т и Т их расположения, определяемым из соотно пе- нийФормула изобретения 1. Устройство для выполнения интегральных...
Способ умножения частоты электромагнитного излучения
Номер патента: 1601655
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Нерух, Хижняк, Шаворыкина
МПК: H01J 25/00
Метки: излучения, умножения, частоты, электромагнитного
...волны, падающей на сгусток, и может быть увеличена на несколько порядков путем варьирования параметров волновода или частоты падающей волны, Сущность спосо ба состоит в том, что при отражении электромагнитной волны от Фронта лазиеннсгс сгустка ве 1 н;цццент умножения чется Асрмулсй5 16 О будет слабой во всей области. изменения % . Примеры такой зависимости приведены на фиг. 2, Следовательно, при заданной величине коэффициента умножения частоты путем варьирования волноводного фактора можно очень сильно менять величину коэффициента усиления, увеличивая ее на несколько порядков, Зависимость максимального значения К от % при заданном значении Р для случая полубесконечного сгустка приведена на фиг. 3. Значение плазменного параметра о,...
Полупроводниковый детектор излучения миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов
Номер патента: 1403919
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Ваксер, Герасименко, Погребняк, Раренко, Тальянский, Халамейда
МПК: H01L 31/02
Метки: детектор, диапазонов, излучения, миллиметрового, полупроводниковый, субмиллиметрового
...магнитного поля,рическое индикаторное устройстчувствительный элемент, обладаэлектронным фототермомагнитнымтом 3, слои 4 и 5 чувствительнэлемента с различными значенияфективной массы электронов в.,Электронный фототермомагнит(ЭФТИ) эффект заключается в поэлектроцвищущей силы (ЭДС) в иводнике при наличии в нем градэлектронной температуры 0 и педикулярного к огай О магнитного(см.фиг.1). ЭДС ЭФТМ эффекта иется в направлении, ортогональмагнитному полю и градиенту элной температуры. Величина ЭДСте с ней и чувствительность рариваемого детектора, определяютпараметрами полупроводниковогориала (величинами импульсной игетической частот столкновенийречной дифференциальной термоЭэффективной массой электронов. т.д.), из которого изготовленвительный...
Позиционно-чувствительный датчик оптического излучения
Номер патента: 1603200
Опубликовано: 30.10.1990
Авторы: Гримблатов, Калугин, Кравченко, Левченко, Трофимов
МПК: G01J 1/44
Метки: датчик, излучения, оптического, позиционно-чувствительный
...из фотодиодов 1.1-1.4 фотоприемника 1. Через резисторы 9-12 на входы ПТН 2-5 соответственно поступает ток, равный по величине среднему значению тока всех фотодиодов фотоприемника 1, а по направлению обрат-ный ему,Вследствие этого каждый из преобразователей 2-5 преобразует только ток разности током соответствующего из фотодиодов 1.1 - 1.4 и таком, равным среднему значению тока всех фо тодиодов, 4Ток подложки фотодиодов,1 =1Ь где 1 у - ток х-го фотодиода фотоприемника 1.Для всех ПТН 2-5 и 7 справедливо соотношение Б бы= -1Кф где 0 вы Х выходные напряжения ПТН; 1 - входные токи ПТН; К - номиналы резисторов в цепях обратной связи ПТН (К 3 49 КБ М ф" Для пятого ПТН 7 напряжение на выходе принимает значение Пеым 7 =К 7 ф-- 7Сигнал,на...
Способ определения длины установления стационарного режима распространения излучения в волоконном световоде
Номер патента: 1603252
Опубликовано: 30.10.1990
Авторы: Бутелков, Меш, Турсунов, Шлифер, Юдин
МПК: G01N 21/01
Метки: волоконном, длины, излучения, распространения, режима, световоде, стационарного, установления
...поверхностью которой и внутренней поверхностью нижней стенки корпуса 4 установлены пружины 7 и 8, деформирующий элемент 9 выполнен, например, в виде прямоугольного выступа и жестко прикреплен к корпусу 4, Деформирующий элемент 10 выполнен, например; в виде вращающегося на оси цилиндра, установленного с возможностью перемещения вдоль исследуемого отрезка ВС 5. Ось вращения цилиндра соединена с микрометрическим винтом 11, закрепленным, например, на резьбе в боковой стенке корпуса 4 деформирующего блока 3. С помощью деформирующих элементов 9 и 10 и прижимной пластины б в двух участках исследуемого отрезка 5 ВС путем одновременного создания аниэотропных поперечных деформаций принудительно расширяют апертуру оптического излучения до...
Дозиметр ионизирующего излучения
Номер патента: 1603314
Опубликовано: 30.10.1990
Авторы: Думик, Зыбин, Куриле, Куц, Литовченко, Розенфельд, Савинков, Слученков, Ушко
МПК: G01T 1/02
Метки: дозиметр, излучения, ионизирующего
...2 15излучения; генератор 3 тока прямого смещения перехода подложка-исток МОП-датчика 2 излучения и измеритель 4 пороговогонапряжения,МОП-датчик 2 излучения подключен истоком к выходу источника 1 тока, подпожкой -к выходу генератора 3 тока прямого смещения его перехода подложка-исток, а стокомчерез измеритель 4 порогового напряжения -к затвору, 25Дозиметр ионизирующего излученияработает следующим образом.Облученный в пассивном режиме МОПдатчик 2 излучения подключается к измерителю 4 порогового напряжения. 30Производится измерение порогового напряженияОпор до воздействия ионизирующего излучения и после воздействияизлученияОпор 1, По разности этих напряжений ЬОлор=(Опор,-Опор,), зная дозовую чувЫоствитепьиссть Ее,...
Прибор для изучения теплового излучения
Номер патента: 1603422
Опубликовано: 30.10.1990
Автор: Чумаченко
МПК: G09B 23/06
Метки: излучения, изучения, прибор, теплового
...на их излучающих поверхностях были одинаковы при установившемся тепловом режиме, Для сокращения выведения прибора на требуемый температурный режим на основании для каждого источника излучения нанесены температурные шкалы, которые фиксируют температуру излучающей поверхности соответствующей пластины в зависимости от расстояния до источника излучения. В лабораторной работе все три пластины не меняют от опыта к опыту, поэтому имеется возможность эти шкалы получить опытным путем заранее. Если же в качестве пластины в каждый раз исследуется новый материал, то для нее требуемое положение источника излучения находят подбором. Все условия проведения опыта должны соответствовать тем, при которых были получены температурные шкалы....
Способ моделирования трабекулярной костной ткани для дозиметрии фотонного ионизирующего излучения
Номер патента: 1603427
Опубликовано: 30.10.1990
Автор: Калмыков
МПК: G09B 23/28
Метки: дозиметрии, излучения, ионизирующего, костной, моделирования, ткани, трабекулярной, фотонного
...минофора из расчета, что одна частица ирует одну костномозговую полость или трабекулу, и смешивают их в отношеравном отношению масс костного мозга абекул. Способ моделирует одинаковымпонентами видовые и возрастные отликостного мозга и трабекулярной ткани. прибытьпериповырованавли тртейсости нелныеляютнелюмоделоднунии,и трми кочия мозговую полость или одну трабекулу, и смешивают их в отношении, равном отношению масс костного мозга и трабекул.Пример 1. Моделирование теменной кости половозрелого человека для измерения дозы, поглощенной костным мозгом.В моделируемой костной ткани масса костного мозга составляет 6200, а трабекул - 3800. Средний размер трабекулярных полостей - 400 мкм, трабекул - 70 мкм. Костный мозг моделируют...
Композиция для цветового пленочного дозиметра ионизирующего излучения
Номер патента: 864981
Опубликовано: 07.11.1990
Авторы: Амбросимов, Молин, Толкачев, Удачина
МПК: G01T 1/04
Метки: дозиметра, излучения, ионизирующего, композиция, пленочного, цветового
...до Б = .1 в 65П р и м,е р 3. Аналогична примеру 1 получают пленку полиметилметакрилата, содержащую 0,57 и-диметилами"ноазобензола, 5 Х четырехбрамистогоуглеРода и 9 Х трихлорэтилфосфата,Толщина пленки 150 мкм. Исходная оптическая плотность пленки Бо = 0,09.При действии ионизирующего излу 4чения в диапазоне доз 10 -10 рад бензол-(азо)- 4-аминонафталин , 0,04-0,80Бромистый алкилс содержаниемброма 92-96 мол.й 2,7-8,0Пластификатор 9,0-15,0Низкомолекулярныйполиметилметакрилатс мол.мас.50000-60000 ОстальноеПовышение радиационной чувствительности композиции достигается использованием в качестве сенсибилизатора бромистого алкила, например четырехбромистого углерода или тетра-. бромэтана, и низкомолекулярного полиметилметакрилата с мол.мас....
Композиция для получения цветового пленочного дозиметра ионизирующего излучения
Номер патента: 1289222
Опубликовано: 07.11.1990
Авторы: Амбросимов, Васильева, Гинодман, Гринев, Дмитриева, Казанков, Марочко, Молин, Пичугин, Толкачев, Удачина
МПК: G01T 1/04
Метки: дозиметра, излучения, ионизирующего, композиция, пленочного, цветового
...-пропана. Композиция аналогична по составу предложенной,мас.7: ПММА 30; аэокраситель О, 15;ЧБУ 10; пластификатора 15, раствори-.тель - остальное. Найденная чувствиотельность к гамма-излучению Со составила для данной композиции 8 хх 10 Гр .мкм, диапазон рабочих доэ 20 10 -10 Гр. Чувствительность композиции на уровне. прототипа.Данный сравнительный пример иллюстрирует преимущество предложенногорадиационно-чувствительного красителя.П р и и е р 12. В 100 г смеси.хлористого метилена и этанола при соотношении 9:1 растворяют 30 г полиметилметакрилата с молекулярной З 0 массой 60000. Раствор фильтруют иобезгаживают стоянием на воздухе втечение 24 ч. К полученному раствору добавляют 0,03 г 1-(4-И-этил-И-оксиэтилфенилаэо)-антрахинона, 3 г 35...
Устройство для защиты от солнечного излучения кабины транспортного средства
Номер патента: 1606358
Опубликовано: 15.11.1990
Автор: Надиров
МПК: B60J 1/20, B60J 3/00, B62D 33/06 ...
Метки: защиты, излучения, кабины, солнечного, средства, транспортного
...с сельскохозяйственными машинами,Формула изобретения Составитель А. Лапинский Редактор Л, Пчолинская Техред М.Моргентал Корректор М. СамборскаяЗаказ 3520 Тираж 399 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к устройствам защиты от солнечной радиации и может быть использовано на тракторах, строительных и дорожных машинах.Цель изобретения - повышение обзор ности при вертикальных перемещениях водителя с сиденьем при движении транспортных средств.На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство, 10Устройство содержит остекление 1 кабины, сиденье 2 с...
Способ измерения интенсивности ионизирующего излучения вращающихся активированных деталей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1606949
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Говорун, Рошаль, Шестиалтынов, Явельский
МПК: G01T 1/36
Метки: активированных, вращающихся, излучения, интенсивности, ионизирующего
...задержки импульса БФД 4 но отношению к опорному сигналу датчика 6 частоты вращения ротора 8, Изменяя длительность задержки от 1 мс до 18 мс, получают характерис тику интенсивности радиоактивного излучения меток 7 в функции ат времени задержки (т.е. угла поворота :ротора 8 по отношению к опорному;сигналу)55Иа основании полученной характеристики длительность экспозиции для .измерения интенсивности радиоактивного излучения меток 7, определяемую длительностью управляющего сигнала БФД 4, устанавливают дискретной, равной 3 мс, что соответствуетэффективному углу измерения, равномуоЧэр = 54, Эффективный угол определяется зоной регистрирующей поверхности детектора ионизирующих излучений, Начало управляющего импульсащ БФД 4 совпадает с...
Устройство для измерения мощности лазерного излучения
Номер патента: 1505141
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Аверин, Головин, Шелемин
МПК: G01J 5/08
Метки: излучения, лазерного, мощности
...инной пр 11 е;"ник 3, Кроме этих импульсов, ць приемник Э попадает излучс.цце цос:еоропНИХ ИСтОЧ 11 осОВ ПЭЛУЧЕНЦЯ. ВЬГХОДНО 11сигнал приемника медю 1 с:1 исо цзмс е гсв 1,"вследствие изменения условий охлаждения, вЬзникновения термоЭДС и т,д,В результате и выходцем сигнале приемника 3 кроме полезного 1 сыпут,сцо осигнала присутствуе г медпеппз и цяю 35щаяся параэитная составляю 11В интервале между импульс, . 11 з 1 еряЕМОГО ИЗЛуЧЕНИя В ВЬОС" ПНОМ о1 аЛЕприемник 3 присутствует толк па,азитиая составляющая, а ус" р 1 й 1 тво 7 2.выборки-хранения работает в ,ежимеслгжения. Передним фронтом мцуе, аот дополнительного приемника 5 уст"ройство 7 выборки-хранения пере. одцтр,ся в режим хранения, В реэультвгеэтого с приходом переднего...
Способ измерения монохроматического коэффициента излучения материалов
Номер патента: 1608444
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Данилов, Игнатьев, Леготкина, Царев
МПК: G01J 5/52
Метки: излучения, коэффициента, монохроматического
...поле с круговой частотой в 1. Тем самым задается и локальный объем образца 1, из которого извлекается информация о его истинной температуре.Глубина д 1 этого объема может быть най дена по формуле1608444 д =(иоов) Составитель А,БашаринРедактор А.Коэориз Техред М,Моргентал Корректор Т.Палий Заказ Зб 07 Тираж 429 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКН 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Т СССР роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 где,ио- магнитная постоянная; о- электропроводность материала образца 1.Величина д может составлять менее 5 0,01 мм, Затем приводят образец 1 во вращение и определяют среднее за один оборот значение температуры Т 1,...
Устройство для регистрации люминесцентного излучения
Номер патента: 1608514
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Бородыня, Гавриленко, Калюжный, Осинский
МПК: G01N 21/64
Метки: излучения, люминесцентного, регистрации
...предлагаемом устройстве, в 12 разпревышает сигнал, полученный на известном устройстве,Использование эллиптического зеркала выгодно отличает предлагаемоеустройство регистрации люминесцентного излучения плоских образцов отизвестного, так как в этом случаезначительно повышается чувствитель-, ность устройства, особенно при регистрации сдабосветящихся образцов,Диаметр держателя выбирают в1,5 раза больше диаметра отверстия вэллиптическом зеркале, так как прис 016 - с 1 неточность юстировки может привести к попаданию возбуждающего излучения на входную щель ре-. гистрирующего прибора, что приведет к сильному возрастанию фона, а следовательно, к снижению чувствительности устройства. По этой же причине невозможно использование варианта дрс 1,...
Измеритель распределения интенсивности источников ионизирующего излучения в канале пучка линейного ускорителя ионов
Номер патента: 1145777
Опубликовано: 23.11.1990
МПК: G01T 1/20
Метки: излучения, измеритель, интенсивности, ионизирующего, ионов, источников, канале, линейного, пучка, распределения, ускорителя
...цель достигается тем,что в измерителе распределения интенсивности источников ионизирующегоизлучения в канале пучка линейногоускорителя ионов, содержащем сцинтиллятор с отражателем света, полыйзеркальный световод, фотоэлектронныйумножитель и механизм перемещениясцинтиллятора, полый зеркальный световод расположен параллельно оси ускорителя вплотную к нему и имеет длину, равную длине участка измерения,сцинтиллятор с отражателем света расположен внутри световода и установленс возможностью перемещения по всейего длине вдоль его оси.Поставленная цель достигаетсятем,что внутри световода расположеныдва сцинтиллятора с отражателями света,так,что световые сигналы от них направлены в противоположные концы световода, где...
Способ генерации импульсов излучения в полупроводниковом лазере
Номер патента: 1614056
Опубликовано: 15.12.1990
Метки: генерации, излучения, импульсов, лазере, полупроводниковом
...должно быть направлено наоборот, т.е. из поглощающей части в усиливающую). Ширина поглощающей области равна 40 мкм, зазор б между поглощающей и усиливающими частями равен 30 мкм, электрическое сопротивление утечки - 510 Ом. В усиливающие части (между электродами 4 и 5 и1614056 О.Кравцова Составитель О,Куреннаядактор А,Ревин Техред М.Моргентал . Корре 3)каз 3895 ВНИИПИ Го Тираж 395 Подписноеарственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКН 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 электродом 6) подают импульсы тока величиной 2 А, к поглощающей части (между электродами 8 и 6) прикладывают постоянное отрицательное напряжение О от 1 В до 20 В. При данных...
Способ изготовления кюветы преобразователя лазерного излучения
Номер патента: 1403941
Опубликовано: 15.12.1990
Авторы: Браиловский, Гусев, Распопина, Рыжков
МПК: H01S 3/02
Метки: излучения, кюветы, лазерного, преобразователя
...под меткой разогреваются и испаряются. По мере углубления отверстия необходимо перемещать вглубь. перемычки и фокус лазерного луча. После окончания прошивки сквозного отверстия пластину 7 вынимают. Таким же опособом делают второе отверстие в перемычке. Кюнетапромывается от остатков испарившего ся при прошивке отверстия материала, высушчвается и с помощью стеклоцемента О производят пайку в среде аргона .с давлением 1,2 атм при 1380 фС оптически прозрачных полированных окон 11 из лейкосапфира. Одновременно можно производить пайку тем же цементом откачного штенгеля 12 иэ сплава ниобия. После этого через штенгель 12 производят откачку канала 2 переизлучения и дополнительно-го канала 3, заполняют кювету щелоч" ным металлом, производят...
Устройство для измерения параметров рентгеновского излучения
Номер патента: 1424510
Опубликовано: 15.12.1990
Авторы: Глезин, Ляпидевский, Мильштейн, Харон
Метки: излучения, параметров, рентгеновского
...а сигнал на выходе схемы деления 14 несет информацию об эффективной энергии излучения, что связано с тем, что "ход с жесткостью" излучения сцинтиллятора отличен от "хода с жесткостью" сборки сцинтиллятор 2 - полупроводниковый элемент 3. Результаты измерений индицируются на измерителях 15 и 16.Контроль калибровки устройства осуществляется следующим образом.Сущность процесса нерадиационного контроля заключается в том, что полупроводниковый элемент 3 является светочувствительным элементом, причем между радиационным и световым откликом этого элемента существует Функциональная (примерно пропорциональ" ная) зависимость, При контроле калибровки переключателем 7 фотодетектор 5 переводят на работу в режиме светодиода, подключая к источнику...
Устройство подавления побочного излучения
Номер патента: 1615825
Опубликовано: 23.12.1990
Авторы: Ерухимович, Пименов, Червенко
МПК: H01Q 15/14
Метки: излучения, побочного, подавления
...к величине 0,38 р 3 равна ординатам кривой 2 того же графика, если 30плоскость поляризации излучения совпадает с плоскостью симметрии щелевого экрана, проходящего через фазовый центристочника побочного излучения, и ординатам кривых 3 и 4 графика фиг,2, если плоскость поляризации излучения ортогональнаплоскости симметрии щелевого экрана,Устройство подавления побочного излучения работает следующим образом,Создаваемое источником побочного излучения поле наводит на плоских полосах 5и 6 токи, которые возбуждают поля, взаимодействующие через щель между плоскимиполосами 5 и 6, В дальней зоне в плоскостисимметрии щелевого экрана, проходящей 45через фазовый центр источника побочногоизлучения поля, дифрагированные на наружных и внутренних...
Устройство подавления побочного излучения
Номер патента: 1615826
Опубликовано: 23.12.1990
Авторы: Ерухимович, Пименов, Червенко
МПК: H01Q 15/14
Метки: излучения, побочного, подавления
...щелимежду ними равна ординатам кривой 4 графика (фиг.2); определяющих зависимостьэтих величин от отношения р/1, где р -расстояние от поверхности первой пары полос до фазового центра источника побочного излучения.Устройство подавления побочного излучения работает следующим образом,Излучаемая источником побочного излучения волна дифрагирует на проводникахкаждой из двух пар полос 5 и 6. При этомблагодаря выполнению полос из коллинеарных проводов каждая пара обладает поляризационной селективностью к взаимноортогональным векторам поляризации поля. Если ширина каждой пары полос и щельмежду полосами выбраны в соответствии сграфиками фиг,1 и 2; то в дальней зоне излучения в плоскости симметрии устройстваподавления побочного излучения...
Способ генерации когерентного синхротронного излучения
Номер патента: 1615896
Опубликовано: 23.12.1990
МПК: H05H 15/00
Метки: генерации, излучения, когерентного, синхротронного
...в тот момент, когда эту точкупроходит световой сигнал, испущенный .в точке 2, т.е. Число когерентно излучаюцих частиц И определяется плотностью частиц в пучке, максимальными поперечными размерами пучка и максимальным допуском на смещение частиц относительно плоскости модуляции. Наиболее жестким является допуск на смешение частиц относительно плоскости модуляции, который не должен превьппать предельной длины волны синхротронного излучения л= 1,710Н, где Нп - напряженность магнитного поля на оси 2, Допуск на поперечный размер пучка в плоскости орбит определяется соотно- шением де ( - угол раствораного излучения 1(х ( , 1 Д),где 1 п - расстояние от точки излучения 3 до детектора, регистрирующего излучение в точке 4. Второй член в этой...
Эталонный источник излучения для градуировки пирометров
Номер патента: 1617311
Опубликовано: 30.12.1990
МПК: G01J 5/02
Метки: градуировки, излучения, источник, пирометров, эталонный
...градуировки пирометров.На чертеже изображена схема источника излучения.Источник излучения содержит модель АЧТ 1, выполненную по принципу тепловой трубы с нагревателем 2, например резистивным, градуировочную печь 3 с чистым металлом, в котором осуществляется фазовый переход, Один спай 4 дифференциальной термопары помещен в АЧТ 1, а другой спай 5 - в градуировочную печь 3 с плавящимся металлом. Выход дифференциальной термопары подключен к входу регулятора 6 температуры. Выход регулятора 6 температуры подключен к оезистивному нагревателю 2, Термопара 7,тся к области радиаочнее к области метния температурных ть использовано для в. Целью изобретее точности пирометдостигается тем,. что олютно черного тела азе тепловой трубы, ературам...
Устройство для определения коэффициента поглощения излучения оптической средой
Номер патента: 1619072
Опубликовано: 07.01.1991
Авторы: Лубков, Малинковский, Фомин
МПК: G01K 17/00
Метки: излучения, коэффициента, оптической, поглощения, средой
...которых. имеет лыски 8, равномернорасполокенные к световому окну 5 прижимного элемента 1, устанавливаетсяоптическая среда в виде образца 14,который фиксируется прижимом 15 спружиной 16, установленными в корпу-.се 17.1После установки и фиксации образ-ца 14 поворачивают прижимной элемент1, закрепленный на внутренней стенке .корпуса 2, на оси 3 в вертикальноеположение и закрепляют невыцадающимвинтом 4, ф,Подачей упора 23 вправо по направляющим винтам 25 до совмещения отвер стия 26 с лысками 8 направляющего винта 7 пружины 9 освОбождаются от сжатия и направляющие винты 7 вместе ,с фланцем 10 обоймой 6 перемещаются ",вправо до прижатия грани 27 образца 17 к поверхности медной подложки 18, закрепленной через фторопластовые пластины 19...
Устройство для фокусировки лазерного излучения
Номер патента: 1619363
Опубликовано: 07.01.1991
Авторы: Альтшулер, Белашенков, Карасев, Румянцев
МПК: H01S 3/093
Метки: излучения, лазерного, фокусировки
...использовано в лазерной технологии и спектроскопии. Целью изобретения является увеличение протяженности области фокусировки лазерного пучка. Устройство содержит перед фокусирующей системой 2-6 лазера, цилиндрическую линзу, оптическая сила которой в сагиттальной плоскости2 Р удовлетворяет условию Р = где5 Я ф Ф - оптическая сила цилиндрической линзы:, 9 - длина волны лазерного излучения:, 0 - расходимость лазерного пучка. 1 ил.с 2 Я 02Уз = --де Р - оптическая сила цили5кой линзы;9 - длина волны лаэерногч ения,имость лазерного пучУстро раразом.Лазерное излучение пропускают рез все оптические компоненты уст ства, после чего оно фокусируется объекте, при этом цилиндрическая лин за исправляет астигманизм в сагиттал ной плоскости и тем самым...
Способ определения пространственно-энергетических характеристик импульсного излучения
Номер патента: 1545789
Опубликовано: 15.01.1991
МПК: G01T 1/29
Метки: излучения, импульсного, пространственно-энергетических, характеристик
...если нужно, устанавливают коллиматоры. После этого детекторный поясвводят в разгерметизированную каме"ру в свернутом виде, если отверстиебольшое, или в развернутом, еслималенькое. В последнем случае пояссворачивается в кольцо непосредственно в камере по мере подачи его в от-верстие с плотным прилеганием к стенкам, После установки пояса камеругерметиэируют, откачивают до нужногодавления и инициируют разряд, полу 55чая плазму. Например камеру откачива"ют до давления 1 О Торр, инициируютс . лоьощью плазменного инжектора силь 1 счиый газовый разряд с параметрами: напряжение 25 кВ, разрядныйток 500 к" емкость батареи 48 мкф,Рентгеновское излучение плазменногошнура (типа "пинц) регистРируют детекторами. При этом поглощенная веществом...
Полостной приемник солнечного излучения
Номер патента: 1620786
Опубликовано: 15.01.1991
Авторы: Рзаев, Филатов, Циклаури
МПК: F24J 2/34
Метки: излучения, полостной, приемник, солнечного
...3 поле температур, близкое к равномерному.В то же время газовый теплоноситель (гслий, гелий-ксеноновая смесь) по дополнительной входной трубке 22 с открытым вентилем 23 (при этом вентиль 21 закрыт) подается для нагрева до необходимой температуры в секцию 7 змеевика (например, двухзаходного) и затем по трубке 24 поступает в секцию 8 змеевика (например, трубчатая плоская двухзаходная спираль), после чего выходит из приемника по трубке 25,Непосредственный контакт теплообменной поверхности секции 7 змеевика с высокотенлопроводным щелочным металлом 15 позволяет приемнику начать работу практически одновременно с появлением солнечного излучения, а секция 8 змеевика, расположенная в зоне относительно низких плотностей теплового потока,...
Устройство для фокусировки излучения
Номер патента: 1620973
Опубликовано: 15.01.1991
Авторы: Сисакян, Смолович, Сойфер
МПК: G02B 27/44
Метки: излучения, фокусировки
...пути между соответствукщими зонами 3 и б пластинки 4 О1. Фазовый оптический элемент 1 иступенчатый оптический элемент 2 могут быть выполнены на противоположных сторонах одной подложки (фиг.2),В случае выполнения пластинки 1 пропускающей, а элемента 2 отражающим высота. Ь ступеньки 4 (то же, что расстояние между рабочими плоскостями ступенек 4 и 5) должна удовлетво О рять соотношению: где а - величина скачкообразного изменения высоты рельефа на границе между зонаьы 3 и б зонной пластинки 1;и - показатель преломления мате-риала пластинки 1. Ступенчатый оптический элемент 2может быть изготовлен, например, настанке с числовым программным управлением, Полученная высота ступенек может быть измерена, например, интерферометрическими методами,...