Патенты с меткой «коллимации»

Номер патента: 1547036

Опубликовано: 28.02.1990

Авторы: Кондрашкина, Новиков, Степанов

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, коллимации, монохроматизации, рентгеновского

...помощьювторого монокристалла или щели, тотем самым ограничится спектральныйинтервал/ и соответственно расходимость ) в плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции. Кроме того, выбирая различные индексы вторичного отражения, можно изменять В,р итем самым изменять величину угловойрасходимости в плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции.Устройство для осуществления прецлагаемого способа содержит монокристалл 1 и устройство ограничения угловой расходимости рентгеновского пучка - щель 2, 11 онокристалл 1 установлен в положении брэгговского отражения падающего на него рентгеновскогопучка 3. В качестве устройства ограничения угловой расходимости можетиспользоваться как показанная на,фиг. 1 щель 2, так и второй монокристаал в положении...

Номер патента: 1561062

Опубликовано: 30.04.1990

Авторы: Голуб, Карпеев, Сисакян, Сойфер

МПК: G02B 27/48

Метки: выравнивания, гауссова, интенсивности, коллимации, лазерного, оптическая, пучка, расширения

...6(может быть положена ной О). азовые корректирующ и 6 могут быть выполнплоских оптических элементов, синтезируемых при помощи ЭВМ. При этомфазовая функция рассчитывается наЭВМ по формулам (1) и (2) и приводится к интервалу (0,2 к ), в результатечего корректирующая пластинка разби,вается на эоны, Затем пластинка из"готавливается из прозрачного материала с показателем преломления и, причем высота Фазового рельефа Ь(г) вкаждой зоне меняется от 0 до где той(г) = г - 12 тп пр При расчеТе системы расстояния от лазера 1 до микрообъектива 2 (й), а также фокусное расстояние микро- объектива (г) и коэффициент диафрагмирования гауссова пучка (К) выбирают исходя из необходимых габаритных размеров, а также характеристик точности изготовления...

Номер патента: 1640663

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Гнатовский, Логинов, Медведь, Плевако

МПК: G02B 27/30, G02B 27/42

Метки: излучения, коллимации, коррекции, лазера, полупроводникового, пучка

...равную диаметру спекл-неоднородностей, при этом, если50 55 5 10 20 25 30 35 40 45 спекл-неоднородности круглые, то форма дифракционной картины не искажается,При дифракции светового пучка с несимметричным сечением, каким обладает . полупроводниковый лазер, дифракционная картина искажается, Это искажение вызва. но изменением формы спекл-неоднородностей, которая соответствует форме тела свечения полупроводникового лазера 1; размеры спекл-неоднородностей ай и а в плоскости р - и-перехода и ортогональной ей плоскости, соответственно, связаны с размерами тела свечения аи и а следующими соотношениями;а й= 2 аи/1 ьа = 2 аЛь (3) С учетом размеров спеха-неоднородностей (3) выражение для сечения дифракционной картины (2) переходит вОи = Л 2/би+ аи...

Номер патента: 1785578

Опубликовано: 30.12.1992

Автор: Шахиджанов

МПК: G21K 1/02

Метки: излучения, коллимации, рентгеновского

...зпементоеУстройство дпч коппимэцци ренггенонс ога цзпученцч содерх цт по меньшей мере ад)у пару пь)нэты: друг ) другу па образующим ццпндрцчески, поспощающц зпемен гон 1,2 и средства 3 цповорота на руг осц А-А, перпендльупчрной плоскостиаппп)-)ь)ранэннаго пучэУстройства работает спедующим образамаппмируемый пуча 4 рентгенонсь ого цзпучзнич проадцт через зону при) этич оцпндры)есьи пагпаща)ощц) зле) )ентов 1,2 ц преврэщаетсч в каппцмцрованный пучаь )5, ь)Меюшг)й пр,ктичес) ) гауссонс)г)е распредепенце цнтенсиннагтц по тапщцнеьутсм поворота погпощающц; эпементон 1,2 наь руг оси А-Ааж но изменчть ьэ топщну гоппимированнага пучка 5 таь и ега угпану)а рас одимасть )1 змененцч пэрэь)стран нопп),)мцр)нанн)эго пуч) напри п). - ре аде от...