Патенты с меткой «электронов»

Номер патента: 1109827

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Джамалетдинов, Ниматов, Руми

МПК: H01J 37/26

Метки: дифракции, картины, медленных, регистрации, электронов

...отраженного электронногопотока производят путем поочередного изменения направления отклоняющего поля.В устройстве для регистрации картиныдифракции медленных электронов, содержащем соосно установленные систему формирования первичного электронного пучка,объектодержатель и систему формированиядифракционной картины, включающую последовательно расположенные по ходу отраженного электронного потока первую и вторую сетки и люминесцентный экран с детектирующим отверстием, система формирования дифракционной картины снабжена прямолинейным и ориентированным в радиальном направлении отклоняющим электродом,установленным между сетками у перифериидетектирующего отверстия.На фиг. 1 показана схема устройства длярегистрации...

Номер патента: 997596

Опубликовано: 30.10.1984

Авторы: Мазманишвили, Репринцев

МПК: H05H 13/00

Метки: малой, пучка, скважностью, ускорения, ускорителе, циклическом, электронов

...что по способу ускорения пучка электронов с малой скважностью в циклическом ускорителе, включающему воз действие на пучок продольным электрическим полем на локальных участках орбиты пучка, в качестве продольного электрического поля используют импульсное тормозящее или ускоряющее поле, Частоту следования импульсов электрического поля выбирают меньщей, чем частота синхротронных колебаний электронов в пучке, Длительность импульсов выбирают меньшей, чем 7596 2период синхротронных колебаний электронов в пучке,а период следования импульсов - меньшим, чем время затухания синхротронных колебаний элект.ронов в пучке.На чертеже схематически показаноустройство для реализации способа.Оно содержит кольцевую выкуумнуюкамеру 1, вдоль которой...

Номер патента: 886660

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Виноградов, Воронцов, Демин

МПК: H01J 47/02

Метки: облучения, поле, пучка, ускоренных, электронов, энергии

...нормирования сигнала первой пластины.Недостатком этого устройства является низкая точность измерения распределения средней по спектру энергии.и плотности потока в поле облу-, чения.Целью изобретения является повышение точности измерения распределения средней по спектру энергии и .плотности тока в поле облучения. Поставленная цель достигается тем, что в предложенном устройстве для измерения энергии пучка ускоренных электронов в поле облучения, содержащем два металлических изолировавных друг от друга электрода, установленных последовательно по ходу пучка, электроды расположены в вакууме на расстоянии друг от друга в плоскости, перпендикулярной направлению распространения пучка частиц, Каждый электрод окружен экранной сеткой, имеющей...

Номер патента: 875997

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Виноградов, Зайцев

МПК: H01J 47/14

Метки: датчик, облучения, плотности, полях, пучка, распределения, ускоренных, электронов, энергии

...отрицательный. но отношению, к электродам потенциал.На фиг. 1 показана схема ратника; на фиг, 2 - зависимость коэффициентов поглощения электронов в сфере и суммарного коэффициента от энергии.50Электрод 1 отделен от электрода 2 тотьким слоем изолятора 3. Датчик помещен внутри цилиндрического отпаянното вакуум. ного объема, образованного тонкой титановой фольгой 4,в котором он подвешен на ме 55 таллических растяжках-проводниках 5 и 6, прикрепленных соответственно к сферическому электроду и шаровому слою. Датчик ок. 97 2 ружен экранной сеткой 7. с коэффициентомпрозрачности, близким к единице,Измерение распределения энергии и плотности тока производят перемещая мониторпо полю облучения, Прн этом поток реляти.вистских электродов...

Номер патента: 1129667

Опубликовано: 15.12.1984

Авторы: Блохин, Васильев, Мартынов, Сатаров, Черняев

МПК: H01J 9/02

Метки: источника, многоострийного, электронов

...1 изображены диэлектри/ческая подложка, металлическая пленка с остриями и установленная на диэлектрическом слое металлическая фольга; на фиг, 2 - анод, подогреватель и образующиеся отверстия в металлической фольге.На диэлектрическую подложку 1 (фиг. 1) осаждают металлическую пленку 2 .и эмиссионный материал, на. пример гексаборид лантана, толщиной около 4 мкм, из которого с помощью фотолитографии формируют острия 3, по периметру подложки осаждают диэлектрический слой 4 толщиной, превышающей высоту острий, на который кладут и закрепляют металлическую фольгу 5 толщиной 10-15 мкм.Полученную структуру, служащую катодом в диоде, совместно с анодом б (фиг, 2) помещают в вакуумную камеру, в которой создают вакуум не хуже 1 10 мм рт.ст., и...

Номер патента: 1080721

Опубликовано: 30.01.1985

Авторы: Корепанов, Филатов

МПК: H05H 5/00

Метки: импульсный, ускоритель, электронов

...является повышение надежности ускорителя за счетувеличения срока службы разрядников,.и конденсаторов конденсаторного ис точника, а также обостряющего и срезающего разрядников.Цель достигается тем, что в импульсном ускорителе электронов, содержащем конденсаторный источник и индуктивный накопитель энергии, вклю- ченные последовательно с прерывателем тока, а также ускорительную трубку, подключенную параллельно прерывателю тока через обостряющий разряд 21 2ник и зашунтированную срезающимразрядником, между обостряющими разрядником и ускорительной трубкойвключен резистор, сопротивление которого Р выбирается из условия Р = ,где р - волновое сопротивление контура, образованного конденсаторным источником, индуктивным...

Номер патента: 1141319

Опубликовано: 23.02.1985

Авторы: Тарасенко, Турчин

МПК: G01N 22/00

Метки: ионосферной, концентрации, плазме, электронов

...облучении исследуемого участка ионосферы радиолокационным сигналом, запускают в ионосферу на задан ную высоту пробное металлическое тело в виде сферы с известным радиусом, размеры которой соизмерИмы с длинами облучающих волн, и измеряют отраженный от нее сигнал, по которо му определяют эффективные площади обратного рассеяния пробного металлического тела с плазменным сгущением не менее, чем на двух фиксированных длинах облучающих волн, и 45 по известной зависимости, связывающей эффективну(о площадь обратного рассеяния металлической сферы, концентрацию электронов в плазменном сгущении и длину облучающей волны, 50 определяют концентрацию электронов в плазменном сгущении, а затем определяют концентрацию электронов в ноно сферной плазме по...

Номер патента: 695496

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Комаров, Кузнецов, Меллех, Рыбас

МПК: H05H 5/00

Метки: ускоритель, электронов

...электрическая схема питания элементов ускорителя.Ускоритель состоит иэ электронной пушки с катодом 1, управляющим элект 1 родом 2 и анодом 3, индуктивного накопителя 4 в виде цилиндрического полого соленоида, ускорительной трубки 5, расположенной внутри ин- . дуктивного накопителя, вьводного окна, состоящего из держателей 6 и фольги 7, магнитной линзы 8, импульсных источников 9 и 10, соответствен; но анодного и управляющего напряжений для питания электронной пушки, источников 11 постоянного напряжения для накачки энергии в индуктивный накопитель, размыкателя 12 цепи накачки, Электронная пушка расположейа на некотором удалении от торца индуктивного накопителя и,следовательно, выведена из области магнитного поля индуктивного накопителя,...

Номер патента: 1115590

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Сильвестров

МПК: G01T 1/36, H01J 49/44

Метки: адронов, ливневый, спектрометр, электронов

...импульсов, а пластины кон"вертора соединены через одну с первым и вторым анализаторами импульсов.Конструктивно спектрометр выполнен в виде модулей, из которых можнополучить сборку необходимых размеровНа чертеже приведена схема одногомодуля спектрометра.590 4 и остальных четных промежутках - при прохождении только сильноионизующих частиц. Последние рождаются в ядерных ливнях и отсутствуют в электронно- фотонных,.Таким образом, величина сигнала, измеряемого анализатором 9, будет пропорциональна полному числу частиц ливня, т.е. энергии первичной частицы, а величина сигнала, измеряе" мого анализатором 10, будет пропорциональна числу сильноионизующчх частиц, т.е. будет указывать на природу ливня (ядерный или электронно- фотонный).Расчет...

Номер патента: 869473

Опубликовано: 15.06.1985

Автор: Сорокин

МПК: G01T 1/29

Метки: пучке, электронов, энергии

...же отношения к изменениям энергии электронов в пучке равна сумме чувствителькостей к изменениям энергии каждо,го из потоков.Чувствительность потока обратнорассеянных электронов, вышедших из области поверхности поглотителя, на которую непосредственно падает пучок, к изменениям энергии электронов выше, чем чувствительность к изменениям энергии электронов в пучке потока обратно- рассеянных электронов, вышедших из поверхности поглотителя на всех расстояниях от оси пучка, особенно для узких пучков. Это определяет более высокую чувствительность предлагаемого способа, особенно при измерении энергии электронов в узких пучках по сравнению с известным способом.На фиг.1 приведена схема, поясняющая предлагаемый способ измерения энергии электронов...

Номер патента: 782517

Опубликовано: 15.06.1985

Автор: Сорокин

МПК: G01T 1/00

Метки: пучке, ускорителя, электронов, энергии

...с диаметром равным диамет)ру сечения пучка 2 г = 2 мм т,е. изобласти, на которую непосредственно падает пучок,Толщина слоев, в которых регистрируют электройы. в поглотителе при этом намного меньше пробега электронов с начальной энергией электронов в пучке Г = 6 МэВ в материале поглотителя, причем первому слою соответствует восходящая часть распределения,поглощенной дозы по глубине поглотителя, а второму - нисходящая часть. Диаметр пучка также составляет в этом случае малую долю пробега электронов в материале поглотителя, т.е, пучок является узким,Распределение обратнорассеянных электронов по поверхности поглотителя для узкого пучка показано на фиг.2. Из области поверхности пог3 782 ЛОтителяу дияметром 2 Г 2 мм, ня которую...

Номер патента: 845750

Опубликовано: 15.06.1985

Автор: Сорокин

МПК: H05H 7/00

Метки: ускоренных, электронов, энергии

...Ц, /Б , Крометого, значениене зависит от изменений тока пучка на поглотитель ввидуодинакового влияния их на все резуль-таты регистраций,На фиг.1 изображено устройстводля осуществления предлагаемого способа; на фиг.2 - распределение обратнорассеянных электронов по поверхности поглотителя; на фиг.З - зави- .симость относительного изменения потока обратнорассеянных электронов,вышедших из поверхности поглотителяза пределами дбластир включающей область, на которую непосредственноподает широкий пучок электронов, отэнергии электронов в пучке,Устройство содержит циркониевыйпоглотитель 1, тонкие сцинтилляторы,2 и 3, сцинтиляционные датчики 4и 5, а для регистрации обратнорассеянных электронов, вышедших за пределами области диаметром 2 ТУ...

Номер патента: 1048956

Опубликовано: 30.06.1985

Авторы: Богатырев, Лозовой, Никитинский

МПК: H01J 3/02

Метки: источник, плазменный, электронов

...образом,При включении разрядного напряжения, прикладываемого между катодам 1 и анодом 3, в разрядной камере зажигается дуговой разряд между этими электродами через отверстие в промежуточном электроде 2. С катодной стороны промежуточного электрода возникает двойной электростатический слой, который заставляет часть элект. ранов разрядного тока попадать через отверстия в аноде 3 и во входной диафрагме 6 в полость управляющего эл ктрода 5. Электроны, ускоренные напряжением двойного слоя, ионизируют в полости газ, который поступает из разрядной камеры, и в полости образуется плазма. Из расходящегося потока электронов лишь незначительная приосевая часть их выходит в сторону ускоряющего электрода, а остальная часть оседает на внутрен-ние...

Номер патента: 1167533

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Мишин

МПК: G01R 27/26

Метки: концентрации, нестационарной, плазмы, электронов, электропроводности

...блока А регистрации определя ют проводимость б" и концентрацию п электронов плазмы по формулам г гр з 1 г (В / ) . ошдЕО 1 е бд, о ег 0 7 г(р Я)г е 1 У о е е гр к4При относительной нестабильностичастоты контура 2 с = 10 отклонение резонансной частоты от равновесного и разности фаз от Цстин динамическая ошибка слежения (воспроизведения) составляет доли радиань 6( О, 1 рад., или 12-13 град.В результате повышается частотная и фазовая стабильность измери тельного контура в режиме синхронизма. Это позволяет снизить динамическую ошибку воспроизведения в 5-10 рази гГовысить точность измерителя до1-3 по сравнению с 10-207. известно го устройства.Благодаря включению в измерительнового блока синхронно-фазового следящего фильтра в полосе...

Номер патента: 1118222

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Успенский, Федяков

МПК: H01J 3/02, H05H 1/00

Метки: источник, электронов

...размер отверстия в аноде;Н - расстояние между катодоми анодом.На фиг, 1 показан предлагаемый источник электронов в разрезе; на фиг, 2 - приведено распределение потенциала вдоль оси источника.Источник электронов, содержит газонаполненную камеру 1, в которой соосно установлены катод 2 и анод 3 с осесимметричным отверстием 4. Между катодом и анодом подключен источник питания 5. За анодом 3 со стороны противоположной катоду 2, установлен вспомогательный электрод 6, выполненный в виде отрезка металлической проволоки, электрически соединенный с анодом. При этом расстояние от анода 3 до электрода 6 удовлетворяет соот- ношению Источник. электронов работает следующим образом.При определенном давлении газа(10 2 -10 " торр) в...

Номер патента: 1144506

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Александров, Вартанов, Земсков

МПК: G01T 1/205

Метки: газовый, сцинтилляционный, счетчик, электронов

...условием для детектирования электронов с. энергией 1- 10 кэВ является концентрация азота в смеси - 0,001-0,00017 и давления 35 смеси (0,2-0,25) 10 Па. При этом длительность основной компоненты светового импульса составляет - 90 нс.При увеличении концентрации азота снижается интенсивность гелиевых ли ний в спектре, а при концентрации азота больше 0,157 они практически не различимы, что объясняется снижением вероятности оптических,.переходов гелия за счет взаимодействия его 45 с молекулами азота.При увеличении концентрации азота выше 0,0017. возрастает -вероятность столкновений молекулярного иона М с молекулами азота в основном состоя. 50 нии, вследствие чего резко снижается интенсивность первой отрицательной системы. полос...

Номер патента: 1158026

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Агранович, Ефимов

МПК: H05H 7/00

Метки: ускорения, электронов

...выраже- нием где - максимальная цяэг)яж(. Нцост,элок т 1 эи(еского 1 оля 13 111 зо)ах между электро;Ями, г)грдцичецная уровнем появления двто -электро ццой 1, холод цг)Й) э ю - сии, В/см;г г, - радиусы вцутреццего и внешнео (го ээ(ектр Одов соотве гсэ(-цц), индекс ) принимает зцдче(ие от 1 до и - 1,где и - число эгектр )Г(оэ; каждыйэлектрод радиуса г, яЭГяетс 5 яцодимпо отношению к внутреннему ээекр(эдуРДД;ГУСЯ Гк и КатОДОМ ПО ОЦСЕЦГГЮ Квнешнему электроду рддиусд гэ;. В зазоре между ээек 1,.к 1 всегдя возникают э:ектроцы в ре эу,ьтдтгрд.3:1 ицых фг(.зич вских 1 роце.СО 3, 1 Я 11)имер ц резуэьтдте взаимодействияКОСМ 1 ЕСКС)Г) И.ЭЭУкЕЦИЯ С ;ЭМк 11 О 1)е, 1 ри цдэожеции мя 1 цитцО(; п(э:япрои( хо,ит сци)кение:электрич(.скойпрочно(.тГ,...

Номер патента: 711922

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Завилопуло, Запесочный, Метелешко, Шпеник

МПК: H01J 3/18

Метки: пучка, селекции, электронов, энергиям

...127. 2тронов, влияние краевых эффектов, несовершенство катодного узла. Из-за фокусировки только в одном направлении выходной ток монохроматизированных электронов мал.Целью изобретения является увеличение первианса устройства и повышение монокинетичности электронного пучка.Этг цель достигается тем, что обкладки конденсатора выполнены в виде рамок, зашитых со стороны электронного лучка металлической сеткой, а с противоположной - Фольгой с акводажным покрытием.Кроме того, в конденсаторе по обе стороны пучка эквидистантно срединной плоскости пучка установлены электроды, выполненные в виде части колец с центральным углом 127 ю.11 а фиг. 1 приведен общий вид предлагаемой конструкции; на фиг.2 - поперечный разрез конденсатора.Устройство...

Номер патента: 1123524

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Богданович, Игнатьев, Останин

МПК: H05H 9/00

Метки: линейный, ускоритель, электронов

...секцию - отрезок замедляющей структуры(например, круглого диафрагмированного волновода)4, вход и выходкоторого соединены линией обратной связи с фазовращателем 5, В трактобратной связи через высокочастотный мост 6 включены высокодобротные резонаторы 7 с устройствами 8 дляступенчатого изменения коэффициентов связи. При этом фазовращатель5 настроен так, что электрическая длина тракта обратной связи от выхода второй ускоряющей секции 4 до устройств 8 для ступенчатого изменения коэффициентов связи и от данных устройств 8 до .входа во вторую ускоряющую секцию 4 выбирается равной 360 С.Устройство работает следующим образом.В течение первой (основной) части длительности импульса тока пучка происходит запасание энергии поляизлучения в...

Номер патента: 1088644

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Богданович, Останин, Шальнов

МПК: H05H 7/02

Метки: линейный, ускоритель, электронов

...подключенный черезимпульсныи инвертор 6 фазы к .входупервой ускоряющей секции 2 и системарециркуляции ускоренного пучка выполненная в виде канала 7 - 10 транспортировки пучка. Ускоряющая секция3 вместе с каналом обратной связи ифазовращателем 4 образует резонаторна бегущей волне (РБВ ). Рабочий цикл устройства включаетв себя два периода - накопления ВЧэнергии в РБВ и использования запасенной энергии для дополнительногоускорения пучка.В первый период рабочего цикласгрупированный релятивистский пучокинжектируемый в РБВ из ускоряющейсекции 2 вводится в секцию 3 и цир-,кулирует в ней посредством системырециркуляции которая включает в себяканалы - 7 - 1 О. При времени циркуляции кратном периоду следования сгустков инжектируемого в РБВ...

Номер патента: 1144542

Опубликовано: 30.11.1985

Авторы: Антипов, Елизаров, Мартынов, Чесноков

МПК: H01J 27/02, H01J 3/00

Метки: ионов, источников, электродная, электронов

...близким к изобретению техническим решением является ионнооптическая система, образованная тремя электродами, образованньви подпружиненными металлическими нитями.Недостатком системы является наличие элемента, подверженного тепловым и силовым нагрузкам одновременно, 20 что снижает надежность источника.Целью является повышение надежности работы нощно-оптической системы ионного источника.Цель достигается тем, что в элек тродной системе для источников электронов и ионов, содержащей по крайней мере два электрода, каждый из электродов системы выполнен в виде концентрических колец и радиально 30 расположенных стержней, причем внутренние кольца свободно посажены на стержнях, а внешние жестко скреплены со стержнями,На фиг.1 и 2 изображены две...

Номер патента: 708952

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Богданович, Останин

МПК: H05H 7/02

Метки: линейный, ускоритель, электронов

...через волноводный тракт с первой ускоряющей секцией Г 2 ЪВторая секция вместе с каналом обратной связи и фазовращатель образует резонатор на бегущей волне (РБВ), который выполняет функции накопительного и ускоряющего устройства,Однако за счет допщ 1 нительного ускорения в РБВ можно увеличить энергию частиц не более чем в два раза.В связи с тем, что напряженность электрического поля во второй секции после переброса фазы спадает, дополнительно ускорен.ные электроны имеют большой разброспо энергии.Цель изобретения - повышение выходнойэнергии ускоренных электронов и уменьшение энергетического разброса частиц.Поставленная цель достигается тем, чтовторая секция выполнена из двух подсекций,соединенных цепью обратной связи, содержащей...

Номер патента: 1186063

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Панасюк, Самошенков, Симановский, Спектор

МПК: H05H 9/00

Метки: высокочастотный, ускоритель, электронов

...сократить габариты самого элемента связи, увеличив при этом его емкость. Кро. - ме того, обращение поверхности дна стакана в сторону анода генераторной лампы повышает собственную частоту паразитного контура, образованного распределенными параметрами анода генераторной лампы, элемента связи лампы с резонатором и корпусом генератора. Таким образом совокупность перечисленных факторов обеспечивает повышение надежности и предельной энергии ускорителя при очевидном упрощении его конструкции.Поскольку продольные габариты ускорителя определяются в основном продольными размерами резонатора и генераторной лампы, а поперечные - габаритами элемента связи, то предложенные форма, расположение и ориентация последнего обеспечивают и одновременное...

Номер патента: 1239570

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Блехер, Брытов, Кораблев

МПК: G01N 23/203

Метки: веществе, длины, пробега, свободного, средней, электронов

...пучка соответствуетпорогу возбуждения Е -уровня вана 3дия то неупругие взаимодействия пер.-вичных электронов с веществом пленки приводят к уменьшению среднегозначения интенсивностинауугловых зависимостях спектров ПВМРИ,а отношение /уо, характеризует частьтока первичных электронов, прошедшихпленку не испытав неупругих взаимо" 40действий. , , и- средниезначения интенсивности на угловыхзависимостях спектров ПВМРИ, полученных от чистого монокристалла и.моно-.кристалла с нанесенной на него пленкой соответственно, Под средним значением интенсивности угловых зависимостей спектров ПВМРИ понимают зна.чение интенсивности ПВМРИ, соответствующее подложке, не имеющей упорядоченной структуры. Среднее значениеинтенсивности на угловых...

Номер патента: 1239766

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Воинов, Елкин

МПК: H01J 49/26

Метки: захвата, масс-спектров, резонансного, электронов

...спектр ПЗЭ в виде проекций кривых эффективного выхода (КЭВ),В предлагаемом способе по сравнению с известным ионизация осуществляется пучком электронов с кажущимся широким распределением эпектронных энергий, что и обеспечивает измерение интенсивности ионного тока для иона любой массы в максимуме его КЭВ.На фиг.1 изображена запись масс- спектра на бумагу, протягиваемую одновременно с разверткой поля элек - тромагнита которая регистрирует ве/личину ионного тока как проекцию ХЭВИ на фиг,2 и 3 - масс-спектры анализируемых веществ.Наибольшая скорость магнитной развертки достигается при равенстве наименьшего времени развертки вершины пика одной массы наименьшему периоду сканирования энергий электронов Т который определяется произведением...

Номер патента: 495970

Опубликовано: 30.06.1986

Автор: Сорокин

МПК: G01T 1/36, H01J 49/04

Метки: спектрометр, электронов, энергий

...строго по изображению центральной электронной лийии, и изолированные от нее две широкие боковыезоны так, что все три они охватываютполную опертуру МКП, лежат в однойплоскости и разделены зазорами (например, величиной 0,1 мм), причем выходы центральной зоны отдельно ибоковых эон вместе включены на схему совпадений через дифференциальныеанализаторы амплитуд импульсов.На чертеже изображен меридиальный размер предлагаемого устройства.Устройство содержит исследуемыйфотокатод" 1, входную щель 2 анаО 2лизатора шириной 0,1-0,2 мм, электро статический анализатор 3 эггектронов с фокусировкой на 7 (2 радиан без выходной щели и с расстоянием между цилиндрами большим, чем удвоенная ширина электронного спектра в фокальной плоскости в...

Номер патента: 1257860

Опубликовано: 15.09.1986

Автор: Фурман

МПК: H05H 5/00

Метки: импульсный, инжекции, ускоритель, электронов

...вакуума, все напряжение источника прикладывается к промежутку: сетка 2 -поверхность диэлектрика 3. С сетки 2 за счет автоэлектронной эмиссиина поверхности диэлектрика 3 начинает накапливаться электронами заряд. Скорость накопления заряда определяется током в цепи 5 источника, который регулируется токоограничивающимэлементом 6, К моменту времени с на,поверхности диэлектрика 3 накапливается требуемый заряд, диэлектрик поляризуется и уравновешивает напряжение источника питания. Электроны наповерхности диэлектрика 3 удерживаются соответствующими положительными зарядами на обкладке 4, Напряжениеисточника к моменту времени С распределено между емкостями, образованными конденсаторами с диэлектриком 3,и промежутком: поверхность диэлектрика 3 -...

Номер патента: 1265887

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Аристов, Казьмирук

МПК: H01J 37/28

Метки: микроскопе, неупругоотраженных, растровом, регистрации, электронном, электронов

...относительно задерживающей сетки 7, поэтому любой его участок можно подвести в область сканирования электронного пучка. Поэтому неосвещенные пучком участки на образце отсутствуют.П р и м е р. Секционированная пре. образовательная пластина состоит из трех концентрических колец с внешним диаметром 40, 65 и 90 мм, выполненных подобно токоведущим дорожкам печатной платы из фольгированного стек" лотекстолитаКольца покрыты окисью магния для увеличения коэффициента вторичной эмиссии.Задерживающая и вытягивающая сетки изготовлены из стандартной стальной сетки с площадью ячейки 1 мм и Фпрозрачностью около 603, Задерживающая сетка в виде полусферы радиусом 12 мм закреплена посредством пайки на экране в виде трубки с внутренним...

Номер патента: 1176724

Опубликовано: 30.10.1986

Автор: Титов

МПК: G01T 1/38

Метки: детектор, ливневый, электронов

...за другом, а в разных частях сферы вылета вторичных частиц относительно плоскости, построеннойчерез траекторию детектируемого электрона, проходящую по центру конвер-.тора. Благодаря тому, что частица, не образующая ливень, не может пройти через два счетчика, логический импульс на выходе схемы совпадений не возникает. Прй прохождении через свин цовую пластину электрона возникает ливень, частицы которого пройдут через оба счетчика заряженных частиц. При этом на выходе схемы совпадений возникает логический импульс, свидетельствующий о прохождении электрона. Отличительной особенностью предлагаемого решения является не только иная позиция в размещении счетчиков вторичных частиц, В нем, по-существу, используется иное свойство ливня -...

Номер патента: 1269215

Опубликовано: 07.11.1986

Автор: Голубков

МПК: H01J 37/00

Метки: интенсивности, исследованиях, рассеяния, электронов, электронографических

...электронограммы требуется накопить не менее .Ч= 10 электронов. Время измерения в некоторой точке .= х 1/Е, гле Г - средняя цзстота регистрации электронов в этой тоцке. Частота Е.прямо пропорциональна интенсивности рассеяния электронов, току электронного луча и плотности электронов в области рассеяния. Экспериментальные условия выгодно выбирать таким образом, чтобы работать при возможно болыпих Е с тем, цтобы уменьшить время измерений 1. Однако максимальное значен ие Е. ограничивается прелельной частотой счетчика импульсов 1 и длительностью импульсов т. Необходимым условием нормальной работы является т( Г, при этом относительная ошибка при регистрации электронов, следу кпих с средней частотой Е, составляет 6==1 /1. Максимальная...