Патенты с меткой «дифракции»
Устройство для изучения дифракции медленных электронов
Номер патента: 43973
Опубликовано: 31.08.1935
Автор: Остроумов
МПК: H01J 35/00
Метки: дифракции, изучения, медленных, электронов
...пред-ставляет большой интерес, однако реальное применение этого способа затрудняется малой энергией медленных электронов, которые не в состоянии ни подействовать на фотопластинку, ни возбудить флуоресцирующий экран.Изобретение состоит в том, что дляувеличения энергии медленных электронов после дифракции, с целью получениявозможности фотографирования или наблюдения на экране дифракционных колец, на электронный поток воздействуютускоряющим электроны сильным электростатическим полем,Предлагаемое для осуществленияэтого способа устройство, изображенноена фиг, 1 и 2 чертежа в двух вариантах,состоит из электронно-оптической системы А, принцип и конструкция коей известны (см, напр, В. Е. Лашкарев, Дифракция электронов, ГТТИ, 1933 г.стр. 77 -...
Способ определения коэффициента дифракции измерительных микрофонов
Номер патента: 123569
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Ривин
МПК: H04R 29/00
Метки: дифракции, измерительных, коэффициента, микрофонов
...воздействует на приемный микрофон, на выходе которого возникает напряжение Е,. При втором измерении излучатель и приемник устанавливают в закрытой (замкнутой) камере малого объема , внутри которой звуковое давление распределено равномерно, Поддерживают прежним напряжение, подаваемое на излучатель. Звуковое давление, созданное излучателем в камере,123569 С .ЕВ=- -- , л где: С - скорость звука; 1 - частота звуковых колебаний. Из выражения для коэффициента дифракции 0 видно, что в том случае, если объем камеры Г и расстояние д между преобразователями известны, то для определения коэффициента дифракции достаточно измерить отношение напряжений, возникающих на выходе приемника при работе в свободном поле и в камере малого объема....
Способ измерения углов дифракции монокристаллов
Номер патента: 441487
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 23/20
Метки: дифракции, монокристаллов, углов
...кристаллом пучки,производят колебания эталонногокристалла и измеряют угол междуего положенивщ, в которых имеютместо минивумы йнтенсивности диафрагированного исследуемым кристаллом чка,чертеже приведена оптическая схема, иллюстрирующая предлагаемый способ.Исследуемый присМлл 1 устанавливают в отражающее положение.Эталонный кристалл 2, углы дифракции которого известнй с большоиточностью и который слабо поглощает рентгеновские лучи, установлентаким образом, чтобы йервичный 3и дифрагировайный 4 пучки проходили через него. Затем производятколебания эталонного кристалла 2,причем он последовательно попадает, в оттижаюшие положения по отноше -3441487нию к первичному 3 и дифрагирован" в том-,"что опредбляют угловое сменому 4 исследуемым...
Способ непрерывного сканирования светового луча на основе брэгговской дифракции света
Номер патента: 458717
Опубликовано: 30.01.1975
МПК: G01J 3/06
Метки: брэгговской, дифракции, луча, непрерывного, основе, света, светового, сканирования
...увеличение 15 разрешающей способности, повышение скорости сканирования светового луча и снижение потребляемой мощности,Это достигается тем, ч.го по предлагаемомуспособу световой луч с помощью и-позицион ного переключателя последовательно направляют на и идентичных акустооптических дефлекторов, на каждый из которых подают частотно-модулированный по пилообразному закону сигнал, сдвинутый относительно сосед него дефлектора на 1/и-ую часть периода сканирования. Переключатель работает синхронно с дефлекторами таким образом, что в каждый момент времени световой луч про.ходит через тот дефлектор, в котором пере ходной процесс формирования дифрагирован.458717 Предмет изобретения Составитель А. Субояевактор Е, Караулова Техред Т. Миронова...
Способ регистрации картины дифракции медленных электронов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1109827
Опубликовано: 23.08.1984
Авторы: Джамалетдинов, Ниматов, Руми
МПК: H01J 37/26
Метки: дифракции, картины, медленных, регистрации, электронов
...отраженного электронногопотока производят путем поочередного изменения направления отклоняющего поля.В устройстве для регистрации картиныдифракции медленных электронов, содержащем соосно установленные систему формирования первичного электронного пучка,объектодержатель и систему формированиядифракционной картины, включающую последовательно расположенные по ходу отраженного электронного потока первую и вторую сетки и люминесцентный экран с детектирующим отверстием, система формирования дифракционной картины снабжена прямолинейным и ориентированным в радиальном направлении отклоняющим электродом,установленным между сетками у перифериидетектирующего отверстия.На фиг. 1 показана схема устройства длярегистрации...
Способ измерения полей рассеяния и дифракции на телах
Номер патента: 1538151
Опубликовано: 23.01.1990
Автор: Данилин
МПК: G01R 29/10
Метки: дифракции, полей, рассеяния, телах
...и = 0,1Ориентацию максимумов системы вибратор-тело можно определить из вы- ражения (6) Ысояцсоя 6 - Й = 2 пп,откудаЛсоявсоя- (и + - ),оя (и + - )(7)Л 1йсоя 6 2максимумов определяетИ соясоя В - 7 = (2 п + 1)Т 1,5 1538151 6 Амплитуды интерференционных макси- Определяют угол с точки Г Произв мумов системь 1 вибратор-тело равны водят нормировкуа минимумов 1 Емнн(М = Еп(1 д Р, (Ж) ) . (10) Вычитая из максимума минимум, по 10 лучимВначале исследуемое тело устанавливают на расстоянии Й от вибратора и производят запись ДН системы вибратортело. Затем тело последовательно устанавливают в точки д + с (например,Лс 1 кратно - ) и производят анало2гичные измерения. Производится калиб" ровка уровней Е и тарировка углов ц. 45По получении ДН...
Способ демонстрации оптической интерференции и дифракции света
Номер патента: 1541660
Опубликовано: 07.02.1990
Авторы: Аванянц, Вабищевич, Корчажкин, Куницын, Матвеев
МПК: G09B 23/22
Метки: демонстрации, дифракции, интерференции, оптической, света
...значение К=О (фиг, 3), обозначив при этом, что начальная установка ЦАПв нулевое положение закончена. Затем, задав временной интервал перемещения Фотодатчика 12 от точки к точке, равный, например, Т=О,1 с, вдоль горизонтальной оси, Фотодатчиком 12 непосредственно снимают уровень интенсивности картины 10 по точкам, количество которых задается ЦАП, и равно 2 -1021 точкам. Сигналы от фотодат- Мчика 12 усиливаются усилителем 13 до уровня напряжений срабатывания блока 15 преобразования аналогового сигнала в цифровой, например, АЦПгде аналоговые сигналы преобразуются в цифровые значения и через контроллер 19 и двунаправленную информативную шину 20 поступают на общую шину -ВП 21 миниЭВМ 22, например "Электрони" ка", в которой периферийные...
Устройство для демонстрации явлений интерференции и дифракции света
Номер патента: 1622897
Опубликовано: 23.01.1991
Авторы: Авакьянц, Вабищевич, Матвеев, Яковлев
МПК: G09B 23/22
Метки: демонстрации, дифракции, интерференции, света, явлений
...поэтому контрастность полос получается максимальной, причем в расположении полос разных пятен нет никакого соответствия, поскольку распределение фаз пятен случайно. Наблюдаемое распределение освещенностей экрана 5 не является простым наложением интерференционной картины, получаемой от бипризмы Френеля 7 и пятна от диффузного рассеивателя 4, в чем убеждаются, убрав диффузный рассеиватель 4 и получив на экране 5 от бипризмы Френеля 7 полосы, которые определяются расходимостью лазерного луча и преломляющим углом бипризмы Френеля 7. Область локализации интерференционных полос оказывается значительно меньше области локализации интерференционной картины в схеме Юнга, Наличие возможности съема информации с экрана через подвижный датчик и Э...