Патенты с меткой «дифракции»

Устройство для изучения дифракции медленных электронов

Загрузка...

Номер патента: 43973

Опубликовано: 31.08.1935

Автор: Остроумов

МПК: H01J 35/00

Метки: дифракции, изучения, медленных, электронов

...пред-ставляет большой интерес, однако реальное применение этого способа затрудняется малой энергией медленных электронов, которые не в состоянии ни подействовать на фотопластинку, ни возбудить флуоресцирующий экран.Изобретение состоит в том, что дляувеличения энергии медленных электронов после дифракции, с целью получениявозможности фотографирования или наблюдения на экране дифракционных колец, на электронный поток воздействуютускоряющим электроны сильным электростатическим полем,Предлагаемое для осуществленияэтого способа устройство, изображенноена фиг, 1 и 2 чертежа в двух вариантах,состоит из электронно-оптической системы А, принцип и конструкция коей известны (см, напр, В. Е. Лашкарев, Дифракция электронов, ГТТИ, 1933 г.стр. 77 -...

Способ определения коэффициента дифракции измерительных микрофонов

Загрузка...

Номер патента: 123569

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Ривин

МПК: H04R 29/00

Метки: дифракции, измерительных, коэффициента, микрофонов

...воздействует на приемный микрофон, на выходе которого возникает напряжение Е,. При втором измерении излучатель и приемник устанавливают в закрытой (замкнутой) камере малого объема , внутри которой звуковое давление распределено равномерно, Поддерживают прежним напряжение, подаваемое на излучатель. Звуковое давление, созданное излучателем в камере,123569 С .ЕВ=- -- , л где: С - скорость звука; 1 - частота звуковых колебаний. Из выражения для коэффициента дифракции 0 видно, что в том случае, если объем камеры Г и расстояние д между преобразователями известны, то для определения коэффициента дифракции достаточно измерить отношение напряжений, возникающих на выходе приемника при работе в свободном поле и в камере малого объема....

Способ измерения углов дифракции монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 441487

Опубликовано: 30.08.1974

Авторы: Ковьев, Фокин

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракции, монокристаллов, углов

...кристаллом пучки,производят колебания эталонногокристалла и измеряют угол междуего положенивщ, в которых имеютместо минивумы йнтенсивности диафрагированного исследуемым кристаллом чка,чертеже приведена оптическая схема, иллюстрирующая предлагаемый способ.Исследуемый присМлл 1 устанавливают в отражающее положение.Эталонный кристалл 2, углы дифракции которого известнй с большоиточностью и который слабо поглощает рентгеновские лучи, установлентаким образом, чтобы йервичный 3и дифрагировайный 4 пучки проходили через него. Затем производятколебания эталонного кристалла 2,причем он последовательно попадает, в оттижаюшие положения по отноше -3441487нию к первичному 3 и дифрагирован" в том-,"что опредбляют угловое сменому 4 исследуемым...

Способ непрерывного сканирования светового луча на основе брэгговской дифракции света

Загрузка...

Номер патента: 458717

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Балакший, Парыгин

МПК: G01J 3/06

Метки: брэгговской, дифракции, луча, непрерывного, основе, света, светового, сканирования

...увеличение 15 разрешающей способности, повышение скорости сканирования светового луча и снижение потребляемой мощности,Это достигается тем, ч.го по предлагаемомуспособу световой луч с помощью и-позицион ного переключателя последовательно направляют на и идентичных акустооптических дефлекторов, на каждый из которых подают частотно-модулированный по пилообразному закону сигнал, сдвинутый относительно сосед него дефлектора на 1/и-ую часть периода сканирования. Переключатель работает синхронно с дефлекторами таким образом, что в каждый момент времени световой луч про.ходит через тот дефлектор, в котором пере ходной процесс формирования дифрагирован.458717 Предмет изобретения Составитель А. Субояевактор Е, Караулова Техред Т. Миронова...

Способ регистрации картины дифракции медленных электронов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1109827

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Джамалетдинов, Ниматов, Руми

МПК: H01J 37/26

Метки: дифракции, картины, медленных, регистрации, электронов

...отраженного электронногопотока производят путем поочередного изменения направления отклоняющего поля.В устройстве для регистрации картиныдифракции медленных электронов, содержащем соосно установленные систему формирования первичного электронного пучка,объектодержатель и систему формированиядифракционной картины, включающую последовательно расположенные по ходу отраженного электронного потока первую и вторую сетки и люминесцентный экран с детектирующим отверстием, система формирования дифракционной картины снабжена прямолинейным и ориентированным в радиальном направлении отклоняющим электродом,установленным между сетками у перифериидетектирующего отверстия.На фиг. 1 показана схема устройства длярегистрации...

Способ измерения полей рассеяния и дифракции на телах

Загрузка...

Номер патента: 1538151

Опубликовано: 23.01.1990

Автор: Данилин

МПК: G01R 29/10

Метки: дифракции, полей, рассеяния, телах

...и = 0,1Ориентацию максимумов системы вибратор-тело можно определить из вы- ражения (6) Ысояцсоя 6 - Й = 2 пп,откудаЛсоявсоя- (и + - ),оя (и + - )(7)Л 1йсоя 6 2максимумов определяетИ соясоя В - 7 = (2 п + 1)Т 1,5 1538151 6 Амплитуды интерференционных макси- Определяют угол с точки Г Произв мумов системь 1 вибратор-тело равны водят нормировкуа минимумов 1 Емнн(М = Еп(1 д Р, (Ж) ) . (10) Вычитая из максимума минимум, по 10 лучимВначале исследуемое тело устанавливают на расстоянии Й от вибратора и производят запись ДН системы вибратортело. Затем тело последовательно устанавливают в точки д + с (например,Лс 1 кратно - ) и производят анало2гичные измерения. Производится калиб" ровка уровней Е и тарировка углов ц. 45По получении ДН...

Способ демонстрации оптической интерференции и дифракции света

Загрузка...

Номер патента: 1541660

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Аванянц, Вабищевич, Корчажкин, Куницын, Матвеев

МПК: G09B 23/22

Метки: демонстрации, дифракции, интерференции, оптической, света

...значение К=О (фиг, 3), обозначив при этом, что начальная установка ЦАПв нулевое положение закончена. Затем, задав временной интервал перемещения Фотодатчика 12 от точки к точке, равный, например, Т=О,1 с, вдоль горизонтальной оси, Фотодатчиком 12 непосредственно снимают уровень интенсивности картины 10 по точкам, количество которых задается ЦАП, и равно 2 -1021 точкам. Сигналы от фотодат- Мчика 12 усиливаются усилителем 13 до уровня напряжений срабатывания блока 15 преобразования аналогового сигнала в цифровой, например, АЦПгде аналоговые сигналы преобразуются в цифровые значения и через контроллер 19 и двунаправленную информативную шину 20 поступают на общую шину -ВП 21 миниЭВМ 22, например "Электрони" ка", в которой периферийные...

Устройство для демонстрации явлений интерференции и дифракции света

Загрузка...

Номер патента: 1622897

Опубликовано: 23.01.1991

Авторы: Авакьянц, Вабищевич, Матвеев, Яковлев

МПК: G09B 23/22

Метки: демонстрации, дифракции, интерференции, света, явлений

...поэтому контрастность полос получается максимальной, причем в расположении полос разных пятен нет никакого соответствия, поскольку распределение фаз пятен случайно. Наблюдаемое распределение освещенностей экрана 5 не является простым наложением интерференционной картины, получаемой от бипризмы Френеля 7 и пятна от диффузного рассеивателя 4, в чем убеждаются, убрав диффузный рассеиватель 4 и получив на экране 5 от бипризмы Френеля 7 полосы, которые определяются расходимостью лазерного луча и преломляющим углом бипризмы Френеля 7. Область локализации интерференционных полос оказывается значительно меньше области локализации интерференционной картины в схеме Юнга, Наличие возможности съема информации с экрана через подвижный датчик и Э...