Патенты с меткой «электронографических»
Способ измерения интенсивности рассеяния электронов при электронографических исследованиях
Номер патента: 1269215
Опубликовано: 07.11.1986
Автор: Голубков
МПК: H01J 37/00
Метки: интенсивности, исследованиях, рассеяния, электронов, электронографических
...электронограммы требуется накопить не менее .Ч= 10 электронов. Время измерения в некоторой точке .= х 1/Е, гле Г - средняя цзстота регистрации электронов в этой тоцке. Частота Е.прямо пропорциональна интенсивности рассеяния электронов, току электронного луча и плотности электронов в области рассеяния. Экспериментальные условия выгодно выбирать таким образом, чтобы работать при возможно болыпих Е с тем, цтобы уменьшить время измерений 1. Однако максимальное значен ие Е. ограничивается прелельной частотой счетчика импульсов 1 и длительностью импульсов т. Необходимым условием нормальной работы является т( Г, при этом относительная ошибка при регистрации электронов, следу кпих с средней частотой Е, составляет 6==1 /1. Максимальная...
Способ подготовки образцов для электронно-микроскопических и электронографических исследований
Номер патента: 1505158
Опубликовано: 27.09.2013
Авторы: Автюшков, Бобченок, Тралле, Цыбульская
МПК: G01N 1/28
Метки: исследований, образцов, подготовки, электронно-микроскопических, электронографических
Способ подготовки образцов для электронно-микроскопических и электронографических исследований, включающий размещение исходной заготовки на поверхности нейтральной жидкости исследуемой стороной вниз, нанесение на обратную сторону заготовки порции жидкого травителя и выдержку заготовки до появления в ней сквозных микроотверстий, отличающийся тем, что, с целью повышения качества образцов за счет уменьшения подтравливания приповерхностных слоев заготовки, при выдержке заготовки в поверхностном слое нейтральной жидкости создают ее поток со скоростью 0,1-0,2 м/с в направлении, параллельном плоскости заготовки.