Патенты с меткой «дефектных»

Страница 2

Устройство преимущественно для удаления дефектных заклепок

Загрузка...

Номер патента: 975171

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Сулханишвили, Харитонашвили

МПК: B21J 15/50

Метки: дефектных, заклепок, преимущественно, удаления

...предлагаемоеустройство.Устройство содержит установленные одно над другим верхнее приводное 30 основаййе 1 и нижнее неподвижное ос 975171нование 2, соединенные между собой направляющими колонками 3 Между основаниями на этих же колонках размещены подпружиненные относительно оснований прижимы 4 и 5 пакета деталей, выполненные в виде плит, в кото рых имеются отверстия 6 для прохода рабочих исполнительных инструментов- пуансонов 7, одна часть которых жестко закреплена на верхнеи основании 1 по одному ряду заклепок, а другая часть - на нижнем основании 2 подругому ряду заклепок. В каждом из прижимов 4 и 5 пакета деталей выполнены каналы 8 соосно пуансонам для удаления заклепок. На нижнем ос новании 2 закреплена центрирующая диски ось 9....

Запоминающее устройство с коррекцией дефектных элементов памяти

Загрузка...

Номер патента: 980165

Опубликовано: 07.12.1982

Авторы: Конопелько, Сухопаров

МПК: G11C 29/00

Метки: дефектных, запоминающее, коррекцией, памяти, элементов

...записи информации на соответствующие шины устройства подаются сигналы разрешениязаписи 11, записи 12 и управления 13.При этом происходит возбуждение шиндешифраторов 3 и 4 в соответствиис кодом адреса опрашиваемого элемента 2 памяти матрицы 1. Возбужденнаяшина дешифратора 3 подключает элементы 2 памяти матрицы 1 выбранного слова к разрядным шинам 10. Одновременнопроисходит сравнение входного адресаопрашиваемого разряда, поступающегона входы 15 с информацией о дефектных разрядах, содержащейся в матрице 16,Если опрашивается исправный основной разряд матрицы 1, управляемыйэлементами И 7, то на выходах 18матрицы 16 появляются нулевые сигналыкоторые устанавливают на выходе эле-"мента ИЛИ-НЕ 19 единичный сигнал,а на выходах 21 элементов И 20...

Способ получения дефектных интерферирующих частиц вируса гриппа

Загрузка...

Номер патента: 803479

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Закусило, Фучижи, Христофоров

МПК: C12N 7/00

Метки: вируса, гриппа, дефектных, интерферирующих, частиц

...раство.ра, Элюаты снимают с интервалом в30 или б 0 мин до значительного снижения их титров гемагглютинина(0-134), Для предотвращения приростав используемый физиологический раствор и в пробирки для элюатов добавляют смесь антибиотиков.Проверка элюатов.У полученных элюатов кроме гемагглютинирующей активности проверяют инфекционность на куриных эмбрионах или на хорионаллантоисных оболочках куриного эмбриона (ХАО) . Инкубацию куриных эмбрионоь и ХАО проводят при температуре 35,5 С в тео,чение 48 ч,П р и м е р 1, Для выделениядефектных интерферирующих частиц(ДИЧ) берут вирус А/Гонконг/1/б 8,НЗ 2-2 с титром гемагглютинина1:128. После его накопления на куриных эмбрионах и замораживания100 мл вирусосодержащей аллантоисной жидкости адсорбируют...

Устройство для измерения длины дефектных участков изоляции провода

Загрузка...

Номер патента: 1112269

Опубликовано: 07.09.1984

Авторы: Носов, Смирнов

МПК: G01N 27/68

Метки: дефектных, длины, изоляции, провода, участков

...З 5 появление бракованного участка 2,Недостатком известного устройства является низкая точность в определении протяженности дефектнык участков изоляции проводов, что связано с ко нечным размером датчика точечных повреждений и, как следствие, ограниченной разрешающей способностью датчика.Цель изобретения - увеличение точности контроля качества изоляционных 45 покрытий, а также упрощение. Цель достигается тем, что в устройство для измерения длины дефектных участков изоляции провода, содержащее датчик точечных повреждений и последовательно соединенные датчик скорости, формирователь импульсов и счетчик импульсов, введены второй счетчик с регулируемым коэффициентом 55 пересчета, триггер, дифференцирующая цепочка и ключевое устройство,...

Способ обнаружения дефектных подшипников качения

Загрузка...

Номер патента: 1180724

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Образцов, Орлов, Тагиров, Шмерман

МПК: G01M 13/04

Метки: дефектных, качения, обнаружения, подшипников

...3 запоминания максимального сигнала за оборот вала или 25сепаратора, датчик 4 оборотов, счетчик 5 оборотов, первый сумматор 6,дешифратор 7, блок 8 вычисления среднего, ключи 9, датчик 10 скорости,ячейки 11 памяти, второй сумматор 12,30пороговое устройство 13 и регистратор 14,.Устройство работает следующимобразом.При вращении колесной пары с испы-З 5тываемыми подшипниками виброизмерительный преобразователь вырабатывает серию импульсов Х , которые усиливаются усилителем 2 и поступают вблок 3, который запоминает максималь ное значение А из поступивших навход серии импульсов.фДатчик 4 скорости в конце каждогооборота вырабатывает импульс, который поступаетв блокЗ для считывания45с него максимального уровня сигналаАм и на счетчик 5 оборотов....

Формирователь сигнала оценки дефектных элементов изображения в телекинопроекционной системе

Загрузка...

Номер патента: 1233300

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Макаров, Ролдугин

МПК: H04N 5/14

Метки: дефектных, изображения, оценки, сигнала, системе, телекинопроекционной, формирователь, элементов

...кадра с выхода второй линии 2 задержки на кадр. На выходе 25 второго блока 5 присутствует сигнал разности 13,(с)=У(с)-Б(с) (фиг.2 у). Сигналы Б(с) и Б(С) двуполярны. Первый и второй формирователи 6 и 7 из сигналов Ц,(с), с(с) формируют однаполярные сигналы ц,(с) (фиг.2 е)и 11 (с) (фиг. 2 ж соответственно), Первый и второй интеграторы 8и 9 интегрируют сигналы У, (с) иН(С) по всему кадру. В конце кадра на входы сброса обоих интеграторов 8 и 9 поступает импульс сброса и устанавливает их в начальное состояние (фиг. 2 р, И ) соответственно, Третий блок 10 вычитает сигнал с выхода интегратора 8 11 (с) из сигна 40инн ла с выхода интегратора 9 11,с) (фиг,2 к) .В конце кадра код напряжения Б (С) переписывается в буферный рею 45 гистр блока 11....

Устройство для ремонта дефектных мест бетонных и железобетонных конструкций

Загрузка...

Номер патента: 1301722

Опубликовано: 07.04.1987

Авторы: Бакатин, Голубев, Дудкин, Крысанов, Марьямов

МПК: B28B 11/00

Метки: бетонных, дефектных, железобетонных, конструкций, мест, ремонта

...роликов, на которых смонтирована бесконечная пористая лента 17. Направляющие ролики 13 и 14 установлены на разных уровнях один относительно другого, причем ближний к пропиточной камере 1 направляющий ролик 13 установлен ниже ролика 14 на величину а сжатия губчатой ленты. Под выжимными роликами 15 и 16 установлен бак 18 для сбора остатков пропитывающего состава. Рама 5 снабжена проушинами 19 и 20, с помощью которых она соединена с базовой машиной (не показана), на которой установлен механизм для подачи рабочего агента в виде компрессора 21 и ресивера 22. Последний соединен воздуховодами с емкостью 4 для компонентов пропитываюц 1 его состава и баком 23 для растворителя и лалее со смесителем 9. Воздуховоды имеют вентили 24 - 28 с...

Устройство для обхода дефектных регистров в доменной памяти (его варианты)

Загрузка...

Номер патента: 1305773

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Андреева, Бородин

МПК: G11C 11/14

Метки: варианты, дефектных, доменной, его, обхода, памяти, регистров

...следующему адресу, к которому будет обращение в следующем такте.Если в очередном такте Т 1 встретится дефектный регистр, то на прямом выходе соответствующего разряда бло ке 8 логический "О", а на инверсном - логическая "1". Информация по переднему фронту Т 1 записывается в регистр 1, но коммутатор 2 закрыт по второму входу, и на выход 18 поступает сигнал 30 нуля. В течение такта Т 2 формирователь 10 вырабатывает сигнал, который через открытый .элемент 6 переключает соответствующий счетчик 3 в следующее состояние, а перед приходом так- З 5 та Т 1 соответствующий коммутатор от-крывается по следующему входу, вследствие чего информация, поступающая через первый информационный вход этого регистра, до следующего дефектно го регистра в ЦМД ЗУ...

Способ определения энергетического положения уровней дефектных и примесных центров в полупроводниковых и диэлектрических материалах

Загрузка...

Номер патента: 1330676

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Горбань, Одулов, Олейник, Соскин

МПК: G01N 21/00, H01L 21/66

Метки: дефектных, диэлектрических, материалах, положения, полупроводниковых, примесных, уровней, центров, энергетического

...угол из этого диапазона. В данном случае =2.Экспонирование светом производят до тех пор, пока дифракционная эффективность 1 решетки, записываемой в кристалле, измеряемая при помощи дополнител.ного тестирующего лазера с неактивным излучением, не достигнет заметной величины, не превышающей 0,01-0,02. В этом случае дифракционная эффективностьоказывается прямо пропорциональной квадрату изменения показателя преломления п, что облегчает пересчет полученных температурных зависимостей.После экспонирования, как и во всех способах определения энергетической структуры по термостимулированным процессам, образец подвергают нагреву; наиболее удобным с точки зрения последующей расшифровкй температурных зависимостей является линейный по времени...

Способ отбраковки дефектных подвесных высоковольтных изоляторов из закаленного стекла

Загрузка...

Номер патента: 1350614

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Бучко, Гусак, Дякивский, Жуков, Качалин, Николаев, Притула

МПК: G01N 33/38

Метки: высоковольтных, дефектных, закаленного, изоляторов, отбраковки, подвесных, стекла

...в течение 15-30 мин и охлаждением до10-20 С в течение 2-10 мин.Составитель М.СлинькоРедактор П.Гереши Техред М.Моргентал Корректор Л.Пилипенко Заказ 5281/4 Ь Тираж 776 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 23506Изобретение относится к области исследования стекла особыми способами, в частности к области исследования высоковольтных изоляторов из стекла. 5Цель изобретения - повышение эффективности отбраковки.Способ осуществляется следующим образом.На гирлянду высоковольтных иэоля торов воздействуют растягивающей силой, равной 40-603 нормированной разрушающей растягивающей силы...

Устройство поиска дефектных паяных соединений

Загрузка...

Номер патента: 1377780

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Дмитриев, Долгий, Каченков, Кипаренко

МПК: G01R 31/04

Метки: дефектных, паяных, поиска, соединений

...питания контролируемой платы. Вибратор 6 возбуждает механически паяные соединения платы. Приемныйдатчик 1 состоит иэ ферритового сердечника с зазором и обмотки, Датчик1 механически закреплен на корпусевибратора, С обмоткой датчика последовательно соединены предусилитель12, усилитель 13, выход которого подключен к блоку 14 индикации, причемпредусилитель размещен вместе с датчиком в одном экране, при этом датчикрасположен вблизи наконечника вибратора так, чтобы зазор сердечника быпперпендикулярен оси вибратора, т,е.этот зазор должен быть направленвдоль электрической цепи, которойпринадлежит возбуждаемое механическивибратором паяное соединение. На чертеже указаны также клеммы для подключения источника питания вибратора.Устройство поиска...

Устройство управления замещением дефектных элементов изображения

Загрузка...

Номер патента: 1385327

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Аринин, Головлев, Казаров, Уваров, Хитрово, Шеманков

МПК: H04N 1/40, H04N 5/217

Метки: дефектных, замещением, изображения, элементов

...разрядам того адреса,который на единицу меньше фактического адреса дефектного элемента изображения. Такое опережение позволяетзакончить процедуру регистрации совпадения адресов до момента сканирования подлежащего замещению элементаизображения,Запись заранее скорректированныхкодов адреса дефекта в блоке 6 непрепятствует указанию любого желаемого адреса и не вызывает неоднозначности при его регистрации, причемэто очевидно для случая замещения вподынтервале любого элемента изображения за исключением первого и второго, которым соответствуют кодымладших разрядов 0000 и 0001, Длязамещения первого элемента данногоподынтервала в качестве кода старшихразрядов надо указывать код предшествующего подынтервала, а в качествекода младших разрядов...

Запоминающее устройство с обходом дефектных элементов памяти

Загрузка...

Номер патента: 1387046

Опубликовано: 07.04.1988

Автор: Алексеев

МПК: G11C 29/00

Метки: дефектных, запоминающее, обходом, памяти, элементов

...13 коды 11111111, 11 11111 разрешают прохождение кода через элементы И 10 з, 106, 1 Од, 19 г, 1015 10 нь 10 г, 10 г 4 в 10 е разряды блока 3.Таким образом, информация из регистра 7 числа записывается только в исправные элементы памяти ячейки памяти блока 3 при любой локализации по разрядам,Считывание числа из блока 3 в регистр числа 7, Считываемое слово ранее записывается по соответствующему адресу в 8 годных (из общего числа 100) разрядах блока 3. При подаче на входы регистра 1 и блока 4 кода адреса на выходах преобразователей 12 и 13 появляются коды, поступающие на соответствующие входы элементов И первой группы 8, реализующие прохождение кода слова из годных разрядов 10 15 20 ячейки памяти в разряды регистра 7.Например, если в...

Запоминающее устройство с обходом дефектных элементов памяти

Загрузка...

Номер патента: 1387047

Опубликовано: 07.04.1988

Автор: Алексеев

МПК: G11C 29/00

Метки: дефектных, запоминающее, обходом, памяти, элементов

...с (ги+1) -го по (и+К) -й выбранной ячейки памяти.Таким образом, в дефектные разряды (элементы памяти) ячейки памяти блока 3 информации из регистра 6 числа не записываются. При этом локализация дефектов несущественна, т,е. дефекты могут быть в любом из разрядов ячейки памяти,Считывание числа из блока 3 в регистр 6 числа.Считываемое слово было ранее записано по соответствующему адресу в и годных, из общего числа (и+К), разрядах блока 3. При подаче на входы регистра 1 и блока 4 кода адреса на выходах блока 5 появляются коды, поступающие на соответствующие управляющие входы мультиплексоров 7. 25 30 35 40 45 50 55 При этом на выходы мультиплексоров 7 подключаются выходы соответствующих разрядов блока 3 памяти, Так, если в выбранном слове...

Устройство управления замещением дефектных элементов изображения

Загрузка...

Номер патента: 1394462

Опубликовано: 07.05.1988

Авторы: Аринин, Головлев, Казаров, Уваров, Хитрово, Шеманков

МПК: H04N 5/21

Метки: дефектных, замещением, изображения, элементов

...возврат в нулевое состояниене происходит в следующем такте, какэто было после окончания кадровогоимпульса. Различие обусловлено тем,что теперь счетчик 5 адресов уже ненаходится в нулевом состоянии, вслед"ствие чего на выходе дешифратора 6,соединенном с К-входом счетчика 5,поддерживается уровень логического 30нуля, На протяжении ряда тактов триг"гер 3 остается в состоянии логической единицы и это состояние подается на Т-вход триггера 4. Так как наК-входе триггера 4 состояние логической единицы присутствует всегда,он переходит в счетный рахим работыи считает такты до изменения состояния своего Х-входа на противоположное. 40По фронтам импульсов на выходетриггера 4 происходит счет в счетчике 5 адресов. В момент перехода отсостояния "001" к...

Устройство для выделения сигнала дефектных областей телевизионного изображения

Загрузка...

Номер патента: 1408541

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Антонюк, Задорожный, Пытьев

МПК: G06K 9/68, H04N 7/18

Метки: выделения, дефектных, изображения, областей, сигнала, телевизионного

...областей(фиг. 2 в), Каждой области соответстн 1135вует наличие логической 1 тольков одном определенном разряде кода,Этот код поступает на входы управле -ния М ключей 6 блока 2 и управляетих работой, Резистор 5 вместе с Иключами 6 конденсаторами 7 вычисляеттекущее среднее значение по какцойобласти разбиения эталона (фиг. 2 в).В каждый момент времени к резистору5 подключен только один из конденсаторов 7, образуя с ним интегрирующуюНС-цепь. На вход блока 2 подаетсявидеосигнал обрабатываемого изображения, который является периодической функцией времени. Ее период равен длительности кадра (включая время50обратного хода развертки), На входАЦП 1 видеосигнал эталонного изображения подается синхронно с ббрабатываемым. Тем самым...

Устройство для выделения сигнала дефектных областей телевизионного изображения

Загрузка...

Номер патента: 1408542

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Антонюк, Задорожный, Пытьев

МПК: G06K 9/68, H04N 7/18

Метки: выделения, дефектных, изображения, областей, сигнала, телевизионного

...в) подается видеосиг 45 нал обрабатываемого изображения, который является периодической функцией времени. Ее период равен длительности кадра включая время обратного хода). На вход АЦП 1 видеосигнал эталонного изображения подается синхронно с обрабатываемым, тем самым обеспечивается периодичность входного воздействия на И каналов блока 2,При этом напряжение, снимаемое с резистора 6 (фиг, 2 г), равно разностимежду входным обрабатываемым сигналом и средним значением, взятым пообласти эталона, которая в данный момент выбрана АЦП 1 и коммутируетсяключом 4. Поэтому на вход формирователя 3 поступает сигнал, имеющийминимальное значение в среднеквадратичном смысле. В этом сигнале присутствуют только области обрабатываемого изображения,...

Способ определения дефектных изделий и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1411659

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Грузнов, Жукова, Красько, Макаров, Поляков, Фокин, Шипук

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектных

...на основе входного сигнала формируется аналоговое напряжение, величина которого пропорциональна текущей интенсивности потока сигналов на входе приемника 1 сигналов акустической эмиссии. Напряжение с выхода интегратора 6 подается на вход формирователя 9 и на первые входы группы компараторов 7 и 8, Выходное напряжение первого из Х выходов формирователя 9 равно выходному напряжению интегратора 6. Напряжения на других выходах формирователя 9 повышаются от предыдущего к последующему на некоторую заданную постоянную величину. Поскольку эти напряжения прилагаются к вторым входам компараторови 8, то при интенсивности сигналов акустической эмиссии, меньшей фоновой, на выходах всех компараторов 7 и 8 устанавливаются запрещающие потенциалы....

Способ получения мутантов чумного микроба, дефектных по синтезу оболоченного антигена “фракции 1

Загрузка...

Номер патента: 1439122

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Гончарова, Заренков

МПК: C12N 15/00

Метки: антигена, дефектных, микроба, мутантов, оболоченного, синтезу, фракции, чумного

...сохраняется. Выделения и гель-электроФорез у плазмидной ДНК обнаруживают делецию плазмид рУТ. Реверсии к Рга 1 -фенотипу не наблюдают в течениео года при хранении штаммов при +4 С.П р и м е р 2. 10 клеток У,рея 5+1 я 377 (рУТ, рУРТп 10) высевают на пластинку 1,57-ного агара 1 В с 20 мМ оксалата Еа, рН 7,2. Посевы инкубируют при 37 С 3 сут. Частота появления крупных колоний -1 О . 10 таких клонов исследуют на продукцию "Фракции 1", "мышиного" токсина и проводят гель-электрофорез выделенной из них плазмидной ДНК. В восьми из них имеется делеция рУТ-плаэмиды с потерей "фракции ", но с сохраненной продукцией мышиного токсина.П р и м е р 3. 10 клеток штамма У.резня 377 (рУТТп, рУ 7, рУРТп 10) высевают на агар, содержащий 25 мм оксалата Иа,...

Устройство для отбраковки дефектных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1449846

Опубликовано: 07.01.1989

Авторы: Милян, Шуминский, Яцишин

МПК: G01H 9/00, G01M 7/00

Метки: дефектных, отбраковки

...колебаний вибратором 2 йачинают вибрировать все составные части устройства за исключением блока-индикатора 8. При недостаточно жесткой закрепке вставки 7ювелирном изделии 6 она начинает перемещаться под воздействием вибрацииотносительно оправы, Так как изделиеб, осветитель 3, Фотоприемник 4 составляют жесткрю систему, то вставка 7 перемещается относительно этой системы на величину +У, которая может составлять десятые или сотые доли миллиметра, Такое перемещение вставки 7 вызывает изменение степени перекрытия вставкой светового пучка 15, что в свою очередь приводит к появлению полезного сигнала, т.е.переменной составляющей фототока в Фотоприемнике 4. Сигнал с выхода фотоприемника 4 поступает на вход усилителя 9 блока индикатора...

Раствор для обработки дефектных пленок, включающих дубильные вещества

Загрузка...

Номер патента: 1458433

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Белойваненко, Жеско, Кошелева, Симонова

МПК: C23F 1/30, C23G 1/12

Метки: вещества, включающих, дефектных, дубильные, пленок, раствор

...олигомерпредставляет собой про- р дукт конденсации сланцевых суммарных фенолов с формальдегидом и последующего м-сульфинирования. Синтетический олигомерв сочетании с с(-оксипропионовой кислотой, обеспечивающей М необходимый рН состава, не только СФ удаляет с поверхности продукты старения дубителей, но и адсорбируется на поверхности в местах удаления дубителей, обеспечивая, самозапечивание микродефектов конверсионной пленки, возникающих вследствие удаления с ее поверхности продуктов старения дубителей.При снижении концентрации синтетического олигомераменее 0,5 г/лстепень удаления продуктов станения1458433 0,5-2,01 Внешний вид цинк-конверсионнойпленки, включающей дубители Ы-ОксиСтепеньудаленияпродуктовстарениядубителейХ тический...

Устройство для измерения длины дефектных участков изоляции провода

Загрузка...

Номер патента: 1522023

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Косенчук, Смирнов, Хабаров

МПК: G01B 7/04

Метки: дефектных, длины, изоляции, провода, участков

...увеличением амплитуды импульсов с датчика дефектов.Сигнал с датчика 5 дефектов изоляции (эпюра 2.2) поступает на вход5 компаратора 8, где его амплитуда сравнивается с постоянным напряжением на делителе 7 напряжения, Напряжение на . делителе 7 напряжения (эпюра 2.2) 1 Овыставляется порядка 0,7-0,9 выходного напряжения датчика 5 дефектов изоляции при отсутствии дефекта. Верхнее значение этого диапазона выбрано с учетом помехоэащищенности прибора, 15нижнее - с учетом точностных характеристик. В связи с тем, что на вход делителя 7 напряжения подают напряжение питания датчика 5 дефектов изоляции, это соотношение напряжений не 20 зависит от величины напряжения питания. На выходе компаратора 8 появляется положительный потенциал, если...

Способ огневой многосекционной зачистки дефектных участков поверхности заготовки

Загрузка...

Номер патента: 1542720

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Богатырев, Дайкер, Ермишин, Морозов, Полищук, Родионова

МПК: B23K 7/08

Метки: дефектных, заготовки, зачистки, многосекционной, огневой, поверхности, участков

...в начале зачистки производят продвижение электродной проволоки к центральной части средней секции устройства и в момент подхода конца проволоки к поверхности заготовки 5 возникает электрическая дуга, а на поверхности заготовки 5 образуется пятно расплава металла, На этом пятно расплава металла из секции направляется струя пускового кислорода через сопло 3. После того, как зона расплавленного металла распространится по поверхности заготовки 5 величиной, равной 2,20 ширины струи у ее основания, производится включение пускового кислорода на последующие участки заготовки секции. Пусковые струи кислорода подаются под углом 15 - 25 к направлению перемещения заготовки, причем вершина угла расположена со стороны пятна расплава. За счет...

Устройство для удаления дефектных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1595942

Опубликовано: 30.09.1990

Автор: Шварцман

МПК: C23D 17/00

Метки: дефектных, покрытий, удаления

...подается через дополнительный регулятор 30 давления и дроссель 31.Сделано зто для подачи в рабочую полость пневмоцилиндра 13 сжатого воздуха с минимальным рабочим давлением,необходимым для перемещения штока14 и удержания его в рабочем положении. Дроссель 31 дает возможностьрегулировать скорость перемещенияштока 14,На фиг. 2 показана только однапара напорных рукавов 29, подводящихсжатый воздух к пневмоцилиндру ипневмотурбине,Устройство работает следующим образом.Вал 3 с установленным на нем суппортом 8 без пневмоцилиндров 13 устанавливают в подшипниковой опоре 4 и на вращающейся оси 6, закрепленной на стенке резервуара 5 магнитной плитой 7 так, чтобы ось вала 3 совпадала с горизонтальной осью резервуара 5. Устанавливают цепную...

Устройство поиска дефектных паяных соединений

Загрузка...

Номер патента: 1631468

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Дмитриев, Долгий, Кипаренко, Кузуб

МПК: G01R 31/04

Метки: дефектных, паяных, поиска, соединений

...последовательно в цепь питания контролируемых узлов, блоков РЭА (источник 1 питания).Датчик 2 служит для выделения55сигнала при наличии дефектного паяного соединения 20, так как по токовой обмотке 9 протекает прерывистый ток при вибрации непропаянного вывода19 ИМС,Предварительный усилитель 5 с переменным коэффициентом усиления слу,жит для усиления сигнала с выходадатчика до уровня компарирования (т.е,увеличивает соотношение сигнал/шум).Компаратор 6 предназначен длявыделения сигналов по амплитуде в цепи питания контролируемых узлов иблоков РЭА. Порог срабатывания компаратора б задается выше уровня шумов усилительного тракта.Калибровка устройства осуществляется с помощью имитатора 8 дефектныхпаяных соединений, В качестве коммутатора 15...

Отделитель дефектных плодов

Загрузка...

Номер патента: 1676577

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Попов, Старовойтов, Фенин

МПК: A23N 15/00

Метки: дефектных, отделитель, плодов

...Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Изобретение относится к сельскохозяйственному производству, в частности к сор,тировочным машинам по качеству, и может быть использовано в линиях товарной обработки плодов для контроля качества плодов, преимущественно картофеля.Цель изобретения - повышение точности отделения дефектных плодов.На чертеже схематически изображен отделитель дефектных плодов.Отделитель дефектных плодов содержит устройство поштучной подачи 1, узел осмотра плодов, включающий наклонный транспортер 2 и анализирующую систему 3, состоящую из оптико-электронного анализирующего блока...

Способ переработки дефектных курительных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1697713

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Джунусов, Коробов, Пельке, Репп, Шадрин

МПК: A24C 5/36

Метки: дефектных, курительных, переработки

...механизм (на чертеже не показан).Для подачи дефектных курительных изделий в межвалковый зазор 15 установлен 35лоток 16, на который изделия подаются сблока 5 контроля качества по направляющим 7 и ленточному подающему конвейеру9 или с бункера 17, установленного для сбора дефектных изделий, образуемых до блока контроля качества, по ленточномуконвейеру 9,Для вывода из механизма разрывания иподачи смеси выделенного табака и разсрванных гильзовых рубашек на устройство 45их разделения установлена воронка 18 свыводящим отверстием 19, на внутреннихстенках которой закреплены щетки 20 дляочистки валков.Устройство работает следующим образом.Форматная гибкая лента, несущая насвоей поверхности табак и гильзовую бумагу, перемещается внутри канала 3...

Способ получения мутантов чумного микроба дефектных по синтезу капсульного антигена фракции i

Загрузка...

Номер патента: 1754779

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Анисимов, Карлышев, Кравченко, Красильникова

МПК: C12N 15/01

Метки: антигена, дефектных, капсульного, микроба, мутантов, синтезу, фракции, чумного

...и обеспечиваат при температуре 37 С образование белковой капсулы (Е антигена) в несущих эти конструкции клетках кишечной палочки и чумногомикроба, Векторная часть плаэмиды включает гены Ар", Тс, а плазмида рГз 2 несетлишь ген Ар", т,к. проведенная в процессе5 ее получения делеция Яа 1 Е 1-фрагмента привела к инактивации гена Тс",Для получения плазмиды РЕЗЯХ ДНКрЕз 1 гидролиэовали рестриктазами Яа Цограниченный гидролиз) и ХйоЦполный гидро 10 лиз), смешивали с Яа 1 И-фрагментомплаэмиды рОС 4 К несущий ген устойчивостик канамицину, обрабатывали ДНК-лигазойфага Т 4, Полу.ченным лигатом трансформировали клетки Е. соИ Н В 101, отбирали Ка"Тс15 клоны, выделяли плазмидную ДНК клонов.При получении плазмиды рГз 23 применялисходные приемо,...