Патенты с меткой «асферических»

Номер патента: 1304987

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Бочков, Гришкевич, Жаровский, Кладов, Колесников, Назаренко, Яковлев

МПК: B23B 1/00

Метки: асферических, вращения, механической, поверхностей

...подач) во взаимоперпендикулярных плоскостях приводит к дополнительному натягу технологическойсистемы, повышению жесткости ее силового замыкания , что в итоге повышает точность обработки асферическихповерхностей вращения.На фиг.1 схематически показановзаимодействие обрабатываемого иэделия и инструмента, аксонометрия; нафиг.2 - проекция на плоскость получаемой асферики и следа режущегоинструмента,На фиг.1 и 2 показаны обрабатываемоеиэпелие 1, резец 2; проекция 3следа режущей кромки инструментапри сообщении ему одноплоскостныхдвижений формообразования) проекция4 следа режущей кромки инструментапри осуществлении предложенного способа обработки. Кроме того, приняты следующие обозначения: ось 00, вращения обрабаю тываемого изделия, ось 0 0...

Номер патента: 1311850

Опубликовано: 23.05.1987

Авторы: Бочков, Гришкевич, Жаровский, Кладов, Колесников, Назаренко, Яковлев

МПК: B23B 1/00

Метки: асферических, вращения, поверхностей

...уменьшает их суммарную погрешность по сравнению с одноплоскостными движениямиФормообразования, что позволяет повысить точность технологической системы,Формула изобретения Способ обработки асФерических поверхностей вращения, при котором обрабатываемому изделий сообщают вращательное движение резания, а инструменту - круговое движение подачи 1 1311 В 50 2Изобретение относится к станкостроению и может быть использованов станках для получения оптическихдеталей с асФерическими поверхностями, в том числе зеркал телескопов.Цель изобретения - повышение точности и качества обработки асферических поверхностей путем уменьшения влияния погрешностей Формообразующих движений и снижения высоты микронеровностей.При реализации известного...

Номер патента: 1342699

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Агеева, Терехин, Терехина

МПК: B24B 13/02, B24D 17/00

Метки: асферических, инструмент, линз, полирования

...5 которого через перфорации 6 в стенке сообщается с объемом сыпучего материала 3, а через канал 7 в штоке 8 подсоединяется к источнику разрежения, в качестве которого используется ручной вакуум-насос 9. Размер перфорации выполнен меньше диаметра частиц сыпучего материала 3. 30Сыпучий материал, заполняющий герметичную камеру, является легкоподвижным и деформируемым, что обеспечивает при прижатии эластичного обрабатывающего органа к детали деформирова 35 ние эластичного органа в точном соответствии с конфигурацией детали. Так как упругие частицы сыпучего материала контактируют с обрабатывающим органом практически в каждой точке, обеспечивается точное отображение характера поверхности детали на обрабатывающем органе. При создании...

Номер патента: 1348640

Опубликовано: 30.10.1987

Автор: Чунин

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, бесконтактного, вращения, поверхностей, полированных, профиля

...Ужгород, ул. Проектная, 4 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения.Цель изобретения - измерение профиля поверхностей большой крутизны (50-60 , до 90), обе фокальные точки которых находятся внутри измеряемой поверхности типа выпуклого эллипсоида или вогнутого гиперболоида.На чертеже изображена принципиальная схема реализации способа.Луч света от источника 1 проекционной системой (не показана) с объективом 2 направляется в находящуюся внутри измеряемой поверхности 3 ее первую фокальную точку 4. Отраженный от поверхности луч создает в ее второй фокальной точке 5 мнимое изображение, которое положительной линзой 6 переносится...

Номер патента: 1359151

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Великожон, Свищ

МПК: B29D 11/00

Метки: асферических, зеркал

...толщина обоих колец 5 мм, диаметртела наполненных колец 15 мм).Собирают обечайку, обеспечиваясовпадение геометрических центров заготовки, колец и обечайки.Полые кольца подключены черезсоответствующие вентили и регуляторыдавления к компрессору; С помощьюкомпрессора повышают давление (т.е.увеличивают толщину колец) и, такимобразом, нагружают заготовку до достижения равномерно распределенногопо окружности изгибающего момента495 кГс см/см, при этом достигаетсяпрогиб зеркала, величина которогов геометрическом центре заготовки6,05 мм, с фокусным расстоянием25 5165 мм,С отражающей стороны заготовкиустанавливают устройство контроляасферичности, с противоположной стороны устанавливают с возможностью30 перемещения по всей поверхности заготовки...

Номер патента: 1368623

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...процесса установки объектива в заданное положение при на гблюдении сплошной юстировочной интерференционной картины и уменьшениявлияния децентрировок элементов рабочей ветви на результаты контроля.На чертеже показана принципиальная схема интерферометра и ход лучейв нем.Интерферометр содержит источник 1монохроматического излучения, телескопическую систему для создания параллельного пучка лучей, состоящуюиз линз 2 и 3, светоделитель 4 дляразделения излучения на две ветви,плоское зеркало 5, установленное водной ветви, объектив 6, установленный в другой рабочей ветви, и регистратор 7 интерференционной картины,Объектив 6 рабочей ветви выполненв виде плосковогнутой и двояковыпуклой линз, установленных так, что35плоская поверхность...

Номер патента: 1379626

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Грузевич, Сальников, Седова

МПК: G01B 21/30

Метки: асферических, поверхностей

...пространственный период которого Т, а его коэффициент пропускания описывается Ьункцией Амон (хР,у ). При этом центр растра смещен в поперечном направлении вдоль оси Ох, на величину Ъ, Для преобразования энергии отраженного от контролируемой поверхности 7 оптического излучения в электрическую после МАИ 8 помещен ПИ 9, центр чувствительной площадки1 которого совпадает с фокусом Г контролируемой поверхности. Чувствительность квадратной площадки ПИ 9 со стороной 2 с описывается функцией Н(х,УР), а свойства ПИ 9 определяются величиной чувствительности Я , и характеристикой Б(Л)0,., а инерционные свойства ПИ 9 характе0 при остальных 41) Р ( 4). ЧХ / ). аЧ ) / (4 Х сх + /)У г с)ч ) у 1,2М - номер контролиру емого меридианального...

Номер патента: 1423507

Опубликовано: 15.09.1988

Авторы: Грузевич, Солдатенков

МПК: C03B 19/00

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...5 4 ЦЕ,ЦППУ Ц ЦДП 1)с(В.ЕНИС ЦОЛ 5 В ЭЛ(КТРОМс 1 Г- цпъ( Зеобивдотс 51 требуемой формы рдв- ЦОЦ(.СЦОИ ЦОВСсРХЦОСТИ )1 с)1 ЦИТЦО-РЕОГ 10 ГРЕЦ(С- ко ц ж и;е к О ст и . 1 1 р ц н к г к) 1( ц и и м д Г н и т н О 0 ПОГ 51 )1 с 1 ПИноРС 0.10 ИЦЕСКс(51 ЖИДКОСТЬ ПРИ Обрл дст Определен пук) ) иердость, которую можно регулировать цзмсцепи(-м пцдукии мдгццтОГО;оля, и равцовесц;я поверхность мдгццтцо-рсологццеской жидкости приобретал форму Оордоатывдемой поверхности, ца коОрой р(спо,Ожсцы с;(стццки сбрдзивцо 0 М сГЕ 1 ИДГ 1 Д.Обрдбстгываемую оптическую деталь 5СТ 3 Ц с 1 Е(Г И Е Д ЮТ Ц Д и О,1 В И Ж и 0 М и Р И С и ОС 0 ОГ С- ццц 6, прц помопи которого обеспеццвасг - ся Есцтрироцка, глуоицд погрхжения детали ОТЦО.ИТОГ ЬЦО РДВНОВ(.Спой ПОВЕРХ...

Номер патента: 1427172

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Панин, Сало

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, поверхностей

...9, установленным на большем плече рычага 6.Ведомое звено 2 связано с ползуном 8,установленным на меньшем плече рычага 6. Соотношение плеч каждого иэрычагов 6 и 7 выбрано иэ условия; 30 где -1,2,1,ш - длины соответственно меньшего и большего плеч рычагов. Устройство работает следующим образом, в виде двух разноплечих рычагов 6и 7, двух ползунов, установленных насоответствующих плечах рычага 6 с воэможностью перемещения вдоль него, икулачка 10, жестко закрепленного наоси качания ведущего звена 1. Рычаг 7 своим большим плечом взаимодействует с кулачком 10, а меньшим связан с ползуном 9, установленным на,большем плече рычага 6, ведомое звено 2 связано с ползуном 8, установленным на меньшем плече рычага 6, 1 ил. Проверяемую деталь 11...

Номер патента: 1458174

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Голубчик, Кулин

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей

...радиального перемещения относительно детали 5. Палец 19, закрепленный на каретке 18, проходитв отверстие держателя инструмента20 с возможностью скользящего осе"вого перемещения, Устройство прижи"ма инструмента выполнено в виде двуходнополюсно расположенных магнитов25, один из которых закреплен накаретке 18, а второй - на инструмен"те 20, и двух экранов 26, например,из стали, установленных на направляющих б над краями детали 5 на уровнезазора между магнитами. Устройство работает следующим образом.При включении привода (не пока" зан) конус 1 вариатора совершает вращательное движение. Через ролик 2 вариатора, конус 3 и червячную передачу (не показана) вращение передается полому шпинделю 4 с направляю" щими б, Через тягу 16...

Номер патента: 1502272

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Бабин, Гущин, Журавель, Ковалев, Стешенко

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей, станок

...в прорезях крышек 16,Внутри гильзы 20 установлен гидроцилиндр 9, шток 23 которого жестко крепится к корпусу 1, Золотник13, управляемый от перемещения якоря 18 - 20, соединяется с гидроцилиндрами 2 и 9 с помощью трубопроводов 24.Якорь 18 - 20 и крышки 16 изготавливаются из немагнитного материала, например бронзы, корпусная часть14 линейного двигателя и магнитопровод 15 - из ферромагнитного, например низкоуглеродистой стали.Предлагаемое устройство работаетследующим образом,Обмотка 9 возбуждения создаетмагнитное поле, линии индукции которого замыкаются через магнитоиронод15, обмотки 21 якоря, корпуснуючасть 14, Направление магнитной индукции перпендикулярно оси обмоток21, подключенных к источнику постоянного тока, при прохождении которогопо...

Номер патента: 1516767

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Голуб, Казанский, Сисакян, Сойфер

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...- координаты, определяемыэ уравнений 9 щ х - 1- Г(х,у Г(х,у3 -1 - к(х,у)Д д- ГСх,у)а 7671 Осадочное место для контролируемой поверхности и блок регистрации, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности при контроле ; набора внеосевых сегментов оптическойасферической поверхности, оно снабжено кассетой, узлом смены внеосевыхсегментов и блоком согласования,электрически связанным с кассетой ис узлом смены внеосевых сегментов, аширокоапертурный компенсационный оптический элемент выполнен в виде набора малоапертурных плоских Фазовых оптических элементов, установленных в кассете так, что в процессе контроля каждый элемент расположен на одной оптической оси с посадочным местом.2. Устройство по и,1, о т л и ч аю щ е е с я тем,...

Номер патента: 1523905

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...которой равен рассе,янию между фокусами контролируемойасферической поверхности 12, олок регистрации, оптически связанный черезсветоделитель 4 с линзой 9, Линза 9установлена так, что аплацатическаяточка-предмет первой поверхности совмещена с фокусом объектива 7,45Контролируемая асферическая поверхность 12 устанавливается так, что один из ее фокусов совмещается с вершиной второй поверхности 11 линзы 9, а другой ее фокус совмещен с центром кривизны поверхности 11. При этом линза 9 и контролируемая асферическая поверхность 12 составляют автоколлимационцую систему, Ножевая диафрагма 8 перекрывает половину пучка лучей, выходящего из объектива 7 и служит 55 для экранировация пучка лучей, отраженного вершиной поверхности 1 в обратном...

Номер патента: 1537481

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Баландин, Глотов

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей

...зубчатыми колесами 4, соедине ными осью 5На оси закреплен стержень 6, несущий регулируемый элемен и подпружиненный абразивный инструмент 8Уст м об ройство работает следующи тка 3 соединяется с водиломпри помощи пальца 9, Приводприводит во вращение обрабатыдеталь 10, одновременно ка(57) Изобретение относится к аб ной обработке и может быть испо вано для шлифования и направлени ферических поверхностей, Цель ретения, - повышение точности об ки за счет упрощения кинематики вода инструмента, Рабочий орган полнен в виде каретки с зубчаты лесами, соединенными осью, на к рой закреплен стержень, несущий гулируемый элемент и подпружинен абразивный элемент, 2 ил,ретка 3 совершает осциллирующее движение, перемещаясь по зубчатым рейкам 2, При этом...

Номер патента: 1543276

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Лазарева, Пуряев, Турчков

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: асферических, компенсатор, поверхностей, формы

...поверхность 15 3. Буквой А обозначена вершина гомоцентрического пучка лучей; 8 - расстояние от точки А до первой поверхости компенсатора; С 0 - центр кривизны при вершине асферической по-20 ерхности; С - точка пересечения Крайней нормали с оптической осью;6 - апертурный угол крайнего луча Входящего пучка.Коипенсатор работает следующим 25 ОбразомГомоцентрический пучок лучей, идущих из точечного монохроматического источника излучения, расположенного в точке А, преобразуется линзами 1 и 2 компенсатора в негомопентрический, лучи которого являются нормалями к контролируемой асферической поверхности 3. Отразившись от контролируемой поверхности, лучи вновь проходят через компенсатор, формируя гомоцентрический пучок лучей с центром в точке...

Номер патента: 1550311

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Соснов, Трифонов

МПК: G01B 5/004, G01B 5/213

Метки: асферических, поверхностей, профиля

...копир 8, координаты точек которого определяют по Формулам1+у 1+ и Х = х-у -уу Ргде Х и У - текущие координаты образующей асферической кривой; Р йу йууи у - значения - ив выбс 1 х срхранной точке кривой.5Затем фиксируют измеритель 1 линейных перемещений так, чтобы наконечник 3 контактировал с деталью 4 ввершине асферического профиля, а осьстержня 2 совпала с осью асферической детали 4. Поворачивают деталь 4за счет обкатывания шпинделя 6 по копиру 8. При этом лента 7 удерживаетшпиндель 6 от проскальзывания, чтообеспечивает совмещение контролируе мого профиля текущими точками с точкой, в которой был зафиксирован наконечник 3, и осуществляется копирование профиля эволютного копира 8.Отклонения контролируемого профиляот расчетного...

Номер патента: 1553341

Опубликовано: 30.03.1990

Авторы: Бабин, Ковалев

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей, станок

...из обмотки возбуждения 16, якоря 17. На якоре 17 устанавливается плунжер 18 месдозы 19, гидравлически соединенный с гидродатчиком 20. Гидродатчик 20 выполнен в виде напорного золотника 21 с дополнительным плунжером 22, установленным в автономном корпусе 23.В напорном золотнике 21 имеется дросселирующая кромка 24 и сливной трубопровод 25.Напорный золотник 21 гидравлически соединен с бесштоковой полостью 13 гидро- цилиндра 1,Станок работает следующим образом.Рабочая жидкость через фильтр 9 подается насосом 8 в делитель потока 11, откуда два независимых потока жидкости попадают в штоковую 12 и бесштоковую 13 полости гидроцилиндра.Обмотка возбуждения 16 линейного двигателя постоянного тока 15 создает магнитное поле, в котором находятся...

Номер патента: 1566207

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Пуряев, Турчков

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...плоскости контролируемого профиля 2.Способ осуществляется следующим образом,,Устанавливают контактирующий элемент 1 с отражающей полированной гшоской поверхностью с возможностью поворота вокруг оси О, и перемещения поконтролируемому профилю 2 при постоянном с ним контакте, посылают на отра"жаюптую поверхность контактирующегоэлементасветовой пучок. Отражевньй1566207 Сост авит ель В, Ко стюченк оРедактор Н,Бобкова Техред Л. Олийнык ктор М, Мак сими Заказ 1215 Подпис Тираж 4 Н о изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС35, Раушская наб., д. 4/5 Государственного комитет113035, Москва,оизводственно-издательский комбинат Патент", г.ужгород, ул. Гагарина пучок принимают автоколлиматором 3, имеющим ось О поворота, параллельную оси 01...

Номер патента: 1588531

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Бардин, Щербаков

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей

...2 Ит+фг)где Я т - отступление от параболоида вращения.После механической обработки плоскости путем шлифования и полирования и снятия остаточных напряжений, обработанная поверхность приобретает форму, противоположную первоначальной деформированной, т.е. Ж(г)=+,Р(г - И ),В случае неполного устранения остаточных напряжений, профиль поверхности останется параболоидом вращения, но имеющим меньший прогиб в центре и другое фоку ное расстояние. Снятие остаточных напряжений целесообразно осуществлять, тепло- изолировав основания или образующую деталь, со скоростью охлаждения, меньшей скорости охлаждения первичной термообработки, но равной или больше скорости отжига детали. При неравномерном теплоотводе возможно получить оптические поверхности и...

Номер патента: 1618594

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Бакаев, Калугин, Чунин

МПК: B24B 13/005

Метки: асферических, поверхностей, установки

...и опусканием малого кольца сог,1 асно стрелок А и Б, постепенно уменьшают Йепараллельности осей - до рав 1 овесия, определяемого величиною сил трения в точках контакта и степенью соосности опорных колец 2 и 3.При испьгганиях способа наблюдалось последовательное уменьшение ве личины ( с сохранением ее знака. Результаты приведены в таблице. Известный +ЗО +о +4Предлагаемый +ЗО +4 +2 Измерения проводились на плоско- выпуклых эллиптических линзах диапроектора "Пеленг" при помощи автоколлиматора, цена деления шкалы которого ЗО угл.с. Формула изобретения Способ установки асферических поверхностей, при котором определяют положение оси асфернческой поверхности в двух сечениях, в одном из которых - с помощью кольцевого опорного элемента, о т л и...

Номер патента: 1627829

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...Световой размер лвтоколлимлционного зеркала мажет быть огрлтнтчен в осевомнаправлении (показано пунктиром нафт;г.2 и 3) по ходу луча от наружнойсветовой зотттт контролируемой летали. 30ИнтерАер(.тетр работает следуоттобразо;т,Пу тт;тт,:учей (стятг. 1) источника 1монохромлтического излучения собираются конценсорот 2 на дилАрагме 3,проходят через светоделитель 4 и объектив 5, Параллельные пучки частично отражаются светоделителем 6 ичастично проходят его. Частично отражающая поверхность светоделителя 6 40является эталонной плоскостью, Аормттруюгтетт опорный пучок лучей интерферомтра. При контроле эллипсоидовпучки, частттчно прошедшие светоделитель 6, попадают в объектив 7, и 45пройдя длльтттттт Аокус Б, после отражения от элпипсоида...

Номер патента: 1649260

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Курибко, Селезнев

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, вращения, второго, оптических, поверхностей, порядка

...на фигурах имеютсяФ У%обозначения; Мь, 11Иволновые Фронты пучков, соответст венно однократно отраженного от поверхности 7, отраженного от отражателя 8 с инвертированием,. двукратпоотраженного от поверхности 7 с инвертированием перед повторным отражением.Контроль оптических поверхностейосуществляют следующим образом,С помощьв источника 1 монохроматн"ческого излучения, осветительной системы 2 и сменного объектива 5 освещают сквозь эталонную поверхность б контролируемую поверхность 7 гомоцен- трическим монохроматическим пучком излучения с Фронтом Ч с центром кривизны в точке . 1, которув совмещают с геометрическим Фокусом Р контролируемой поверхности 7 взаимными перемещениями и наклонами устройства к поверхности 7. 11 ри этом получают...

Номер патента: 1657947

Опубликовано: 23.06.1991

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...точка - предмет А 1 поверхности 9 совмещена с фокусом Е 7 объектива 7, где формируется изображение диафрагмы 3. При установке контролируемого эллипсоида его ближний фокус Е 1 совмещается с вершиной поверхности 10, а его дальний фокус Ег - с изображением А 2 этой поверхности, При контроле выпуклых и вогнутых гиперболоидов (фиг. 2) апланатическая линза 8 устанавливается между объективом 7 и его фокусом Ет в сходящемся пучке лучей. Первая поверхность 9 линзы 8 в этом случае выпуклая, вторая поверхность 10 - вогнутая, Линза 8 установлена в положение, при котором апланатическая точка - предмет А поверхности 9 совмещена с фокусом Ет объектива 7. При установке выпуклого контролируемого гиперболоида его ближний фокус Е 2...

Номер патента: 1675812

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Голуб, Казанский, Сисакян, Сойфер

МПК: G02B 3/02, G02B 5/10

Метки: асферических, зеркал

...поверхность, размечают эту поверхность на отдельные асферические элементы, с помощью интерференционных методов осуществляют контроль поверхности с использованием голографического эталонаизготавливаемой поверхности, При необходимости производят доводку поверхности и разрезают заготовку по размеченным линиям, получая набор зеркала или линзы с асферической поверхностью, 3 ил. ской волны. В конкретной реализацииный эталон формируется с помощью голограческой пластинки или соответствуюэлемента компьютерной оптики, осущляют контроль поверхности 2 с пом интероферометрии с использованием пол- О ученного эталона, При необходимости осуществляют доводку поверхности 2 в (Я заготовке 1, после чего осуществляют рэзь- О единение заготовки 1...

Номер патента: 1689035

Опубликовано: 07.11.1991

Автор: Иртуганов

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, внеосевых, оптических, поверхностей

...сферической заготовки и сохраняет свое полажение да конца сеанса обработки, Установка 5 сферической заготовки идентична ее паг 2 О- жениО, заДаннаму на этапе обработки гОлнараэмерным инстйментам для получения ближаЙО 2 ей сферь 2, Укаэанные условия обеспечивают ваэмъкность перемещения 10 инструмента полировальной головки) вдаль дуги окружностей с центром, г,амещенным в Геометрический цент) асфе 222)ческай Г 20" верхости,Процесс внеасевой асферизации за" 15 клгачается в том, что время работы палиаа- вальноЙ Головки на ка)кдай зоне выбиг)ается пгспарциапальным величине припуска на рассма-,диваемой зоне детали, Зоны на поверхности детали задаются этно сительно центра асферическай поверхности (тачка с)1 на аси и), Равномерное перемещение...

Номер патента: 1712778

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...для контроля вогнутых эллипсоидов.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на две ветви - рабочую иэталонную, последовательно установленные по ходу прошедшего светоделитель 2 излучения фокусирующий объектив 3, диафрагму 4, плоское зеркало 5, объектив 6 для формирования плоского эталонного волнового фронта, светоделитель 7 для совмещения эталонного и контролируемого волновых фронтов, блок регистрации интерференционной картины, состоящий из объектива 8, диафрагмы 9 и фотоприемного устройства 10, и размещенные по ходу отраженного светоделителем 2 излучения плоское зеркало 11, второй фокусирующий объектив 12, диафрагму 13, установленную в заднем фокусе объектива 12,...

Номер патента: 1728650

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бодров, Васильев, Комраков

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...и для любой поверхности, эквидистантной идеальной.Контроль общей погрешности контролируемой поверхности осуществляется следующим образом.Схема интерферометра включает плоское зеркало с центральным отверстием, ориентированное таким образом, что его от-. ражающая поверхность пересекает оптическую ось интерферометра под прямым углом в точке заднего фокуса первого компенсатора, а также второй компенсатор, расположенный между задним фокусом первого компенсатора и контролируемой поверхностью. Центральная часть светового пучка, сформированного после прохождения через первый компенсатор, падает на второй компенсатор. Расчет второго компенсатора выполняется таким образом, что, если контролируемая поверхность не имеет погрешностей, то прошедшие...

Номер патента: 1731448

Опубликовано: 07.05.1992

Автор: Гречишкин

МПК: B23B 5/40

Метки: асферических, поверхностей

...для шпинделей на аэростатических опорах. С целью упрощения конструкции кольцо 7 может кре= агссоз (1зп /3 5где б - диаметр инструмента при ОО - диаметр опорной окружносДиаметр обрабатываемой поверхнжет быть любым, меньшим 2 б,С целью повышения точностики за счет снижения погрешностройки параметров 3 и Опредпредварительно по известной мпроизводить обработку и контроль5точной сферы радиуса й при О= 0 и. ОСТИ МОобработстей налагается етодике промежу 50 а последующий наклон колвать по величине максима ния траектории резца от к ца контролиро.ного отступлеговой А= - (1 - б 2 П р и м е р, Производдеталей диаметром 240 мм,болическую поверхность сридионального сечения У =2 ится обработк меющих гипе равнением м 1600 х+ 44 х (Р питься...

Номер патента: 1753258

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бодров, Комраков, Чудакова

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...изобретение предпочтительнее применять для контроля поверхностей, технологический процесс изготовления которых не приводит к появлению несимметричных ошибок, Это условие выполняется, например, при изготовлении асферических поверхностей методом вакуумной асферизации, где возможно лишь появление зональных осесимметричных ошибок.5 10 На чертеже изображена оптическая схема интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, микрообьектив 2, светоделитель 3, объектив 4, плоскопараллельную пластину 5 с эталонной светоделительной поверхностью 6, оптический компенсатор 7, на центральный участок поверхности которого, противолежащей плоскопараллельной пластине 5, нанесено зеркальное отражающее, покрытие 8 диаметром 01...

Номер патента: 1759563

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Абульханов, Дубенко, Дурнов

МПК: B23B 5/40

Метки: асферических, поверхностей, точением

...вращения, необходимо, чтобы оси шпинделя для закрепления детали 5 и инструментального шпинделя располагались в одной плоскости и устанавливались па отношению друг к друу перед началом обработки на расчетный угол р который определяется величиной радиуса Ва окружности, формируемой а обрабатываемой поверхности детали 5 р =- агст 9 - + агсз 1 п В Ва В В 2 +В 2где В - длина отоезка от точки А до точки К; В - радиус формируемой на обрабатываемой поверхности окрукности; В - длина отрезка от точки С до точки А, Кроме того, наибольшая глубина Ь асферической поверхности от торца детали должна быть в следующем соотношении с В, В, В: Вд.+ В В-+ В " Во Режущий инструмент 3 с резцедержателем 4 установлен на инструментальном шпинделе 2 таким...