Патенты с меткой «асферических»

Номер патента: 864223

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: асферических, вакуумной, дифракционных, области, разрешающей, решеток, спектора, способности, ультрафиолетовой

...решетки,50М Л 2. ЛИтеор Атеор 31 теор ЬОтсюда разрешаннцая способность В )дпя длины волны 1, может быть пред 55 ставлена в видегде к лС 1)теор А 2 Из (5) и (6)следует, что разрешающуюспособность решетки В , для длиныволны К можно определить, не измеряя непосредственно при Д , ее разрешающую способность.Таким образом, зная величину разрешающей способности В для однойдлины волны Х в заданном порядке,например, в видимой области спектраможно определить разрешающую способность К 7, для любой другой длины волны , в этом же порядке, например, ввакуумной ультрафиолетовой областиспектра.Измерение разрешающей способностиасферических решеток можно произво"дить только в стигматической областицлин волн, поскольку эти решетки, вособенности...

Номер патента: 865619

Опубликовано: 23.09.1981

Автор: Хабиров

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...по заданной программе вокруг оси О - О относительно а сферической поверхности, устанавливают кольцевой инструмент 4, закрепив его на пиноли 5, расположенной под углом ьк оси асферизуе 5 0 15 го 25 Зо 35 40 мой поверхности таким образом, чтобы сагиттальная плоскость инструмента, перпендикулярная плоскости чертежа, прошла через середину кольцевой части инструмента и через ось вращения асферизуемой поверхности.При этом ширину кольцевой рабочей поверхности инструмента а выбирают равной диаметру д центральной зоны заданной асферической поверхности, в пределах которой асферичность не превышает допуск на обработку заданной асферической поверхности в целом.Радиус кривизны кольцевой рабочей поверхности инструмента в меридиональном сечении...

Номер патента: 874261

Опубликовано: 23.10.1981

Авторы: Белов, Зотов, Максимов, Моржанов, Пашкевич, Петрушин, Солонец

МПК: B23B 1/00

Метки: асферических, вращения, поверхностей

...поступательного перемещения режущего инструмента вдоль радиуса его вращения выбирают в зависимости от углового положения инструмента и характера обрабатываемой поверхности так, чтобы вершина режущего инструмента двигалсь в секущей плоскости М-М по траектории 5, определяемой параметрами обрабатываемой асферической поверхности.Наконечник 6 измерительного устройства устанавливают на плече К, равном расстоянию от оси вращения инструментального шпинделя до вершины обрабатываемой поверхности, и это расстояние не изменяют при вращении инструментального шпинделя. Поэтому вершина наконечника измерительного устройства движется по линии 7 пересечения обработанной асферической поверхности 8 поверхностью кругового цилиндра 9 с радиусом К,...

Номер патента: 901027

Опубликовано: 30.01.1982

Авторы: Рошак, Самуйлов, Семенюк

МПК: B24B 13/00

Метки: алмазным, асферических, выпуклых, инструментом, оптических, поверхностей, станок, шлифования

...и шпиндель23 смонтированы в общей бабке 27с возможностью возвратно-поступательного перемещения по направляющим 28вдоль Оси шпинделя 23, Ленты 11, 12и 14 имеют толщину 0,3 мм к ширину35 мм.Перед включением станка в работуего настраивают.Для этого крепят к шпинделю 6 заготовку оптической детали 9, с помощью пиноли 5 через червячно-косозубуюпередачу 10 перемещают шпиндель 6с заготовкой оптической детали 9вдоль своей оск для совмещения центра радиуса ближайшей сферы заготовки Оптической детали 9 с осью 1. Устанавливают требуемый угсл качанияшпкчделя 6 изделия за счет регулирования хода поршня гидроцклиндра 13 итребуемую величину подачи с помощьюмеханизма 22 подачи,С включением станка для работыОдновременно пркводятюя во вращениешпиндели...

Номер патента: 911150

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Горшков, Пуряев

МПК: G01B 11/24

Метки: автоколлимационный, асферических, вогнутых, крупногабаритных, оптических, поверхностей, формы

...поверхности Э. При выполнении этого условия указанный пу" 10 чок лучей отражается от выпуклого зеркала, вновь направляется на контролируемую поверхность Э и далее в автоколлиматор . При .перемещении зеркального блока 2 в направлении 15 оптической оси автоколпиматора 1 изображение его диафрагмы в поле зрения не смещается с оптической оси в том случае, если отсутствует ошибка формы поверхности. В противном слу чае автоколлимационный ход лучей нарушается и изображение диафрагмы смещается в поле зрения , а это смещение измеряют отсчетным устройством автоколлиматора 1, например. 2 винтовым окулярным микрометром, и оп ределяют затем ошибки изготовления поверхности.При перемещении зеркального блока 2 поворачивают отражающий эле- З 0 мент...

Номер патента: 927484

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Галещук, Коноплицкий, Рейхерт, Решетуха, Храбрый

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей, полирования, шлифования

...передачу (на чертеже не показана).; Полуоси 18 проходят через центр тяжести шлифовально-полировальной головки 19 в сборе с инструментом-кру/гом 20 и электродвигателем 21, Заготовка 22 устанавливается в .оправке 23 и приводится в движение от отдельного привода. Для регулирования усилия прижима круга 20 к заготовке 22 служит гидроцилиндр 24, корпус которого шарнирф но закреплен на каретке 13, а Йток связан с шлифовально-полировальной головкой 19Устройство работает следующим образом, 35Для каждого типоразмера заготовки в зависимости от формы образующей на стойке 1 крепится соответствующий ей копир 11, а положение шлифовального (полировального) круга 20 относительно 40 заготовки (при втянутом штоке гидро- цилиндра 24) выставляется по...

Номер патента: 986737

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Кузнецов, Мельников, Русинов, Чебакова, Чунин

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, копирной, поверхностей

...типом копирного механизма.Рассмотрим, например, Формообразование глубокой асферической поверхности высшего порядка, симметричной относительно оси вращения ОХ и заданной следующим уравнением в меридиональном сечении У = 0 (вводим ортогональную систему координат х, у, г, начало которой - точка О - находится в вершине асферической поверхности): 21 /у игде Р(ХЬЕ:ах - полином и-ного по 5=1 рядка. Координатная ось ОХ совпадает с осью вращения (осью симметрии) детали 4 с асферической поверхностью 5 формообразуемой в процессе обработки. , Ось б цилиндрического шарнира 7, посредством которого осуществляется разворот рычага 8 в плоскости, параллельной плоскости УОХ, расположена между осью 9 цилиндрического шарнира 10, осуществляющего разворот...

Номер патента: 996174

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Беляев, Кузнецов, Мельников, Русинов, Чебакова, Чунин

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, копировальной, поверхностей

...имеющего асферический характери соответствующего профилю обрабатываемой асферической поверхности 2, вслучае применения неточечного инструмента, например, инструмента-круга столщиной Н, и в случае применения неточечных сечений контактных элементов,например, контакгных роликов 5 и 7 с 74 4радиусом цилиндрической поверхности %, сравнимом с радиусом цилинцрической поверхности инструмента-круга. ВеличиныН и К таковы, что ими нельзя пренебрегать при определении координат реальной точки контакга пар .инструменг - поверхностьи копир - ролик. Профиль основного копира выполняется соответствующим профилю обрабатываемой асферической поверхности цля снятия ограничения по типу(вицу) обрабатываемой поверхности и возможности обработки на...

Номер патента: 1000243

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Буфетов, Каплан, Лысянный

МПК: B24B 13/02

Метки: асферических, инструмент, линз, полирования

...рабочего давления ккорпусу инструмента указанные частицы за счет сыпучести массы располагаются в 5 камере корпуса инструмента в соответствии с видом обрабатываемой асферической поверхности и за счет своей упругости образуют необходимые кинематические связи между корпусом и эластичной диафрагмой, обеспечивающие слежение поверхностью эластичной диафрагмы за рельефом асферической поверхности обрабатываемой детали при качании инструмента. На чертеже показан предлагаемый ин15 струмент, разрез. Инструмент имеет корпус 1, к прикреплена прижимным кольцом тичная рабочая диафрагма 3. Кам разованная корпусом 1 и диафр заполнена сыпучей массой, состо частиц 5 упругого материала (напр листирола). Эластичная рабочая ма 3 контактирует с...

Номер патента: 1004286

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Голубева, Муранова, Первеев, Степуро

МПК: C03C 17/30

Метки: асферических, поверхностей

...имеющие слабую связьсо слоем, т. е. удаляются атомы,сконденсированные в направленияхкристаллизации с малой энергиейсвязи и с менее плотной упаковкой,Обработанный ионной полировкойна глубину 0,2-0;3 мкм слой характеризуется высокими значениями энергии связи зародышей и последующеенанесение пленки сопровождаетсяуменьшением свободной энергии образования.Таким образом, ионная полировкавызывает увеличение и активизациюцентров кристаллиэации, вследствиечего конденсированная пленка обнаруживает плотную мелкодисперснуюструктуру при хорошей адгезии к подложке.Выборслоя в диапазоне 1-2 мкмопределяется градиентом асферичности, т. е. изменением величины асферичности на 1 мм дуги осевого сечения. Если асферичность детали меньше 1 10 ф то толщина...

Номер патента: 1017923

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Лукин, Маврин, Мустафин, Рафиков, Топоркова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 5/32 ...

Метки: асферических, поверхностей

...что и не позволяет использовать его для контроля одновременно двух сечений торической поверхности, 65 Цель изобретения - возможность контроля неосесимметричных поверхностей, преимущественно торических.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для контроля асферических поверхностей, содержащем последовательно расположенные моно- хроматический источник света, коллиматор и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, зеркало, установленное в одной ветви, голограммный компенсатор, установленный в другой ветви, и регистрирующий блок, голограммный компенсатор выполнен в виде осевой голограммы сферического волнового Фронта с радиусом кривизны Р, равным в плоскости голограммыЙВ - Й 5 Р=" 2 с возможностью установки ее...

Номер патента: 1024706

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Контиевский, Липовецкий, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04

Метки: асферических, поверхностей, прибор, формы

...10, Компенсатор 15 можетбыть выполнен, например, в виде линзы, перемещаемой перпендикулярно оптической оси 00, микрометренным вин.том.Функцию проекционной системы выполняют следующйе детали автоколлимационного микроскопа 7: источник 8 излучения, конденсатор 9, марка 10, светоделитель 11 и объектив 12, Функцию оптической системы измерения направления отражаемых контролируемой поверхностью, лучей выполняют (по хо3 102ду отражаемых контролируемой поверхностью 3 лучей) объектив. 12, светоделитель 11, компенсатор 15, сетка 13и окуляр 14.Автоколлимационный микроскоп 7установлен с возможностью перемещениявдоль его оптической оси 00 подополнительной направляющей 6, скоторой жестко связана диафрагма 16.Центр диафрагмы 16 совмещен с опти" .ческой...

Номер патента: 1028480

Опубликовано: 15.07.1983

Авторы: Биндюк, Иванов, Мельников, Русинов, Чебакова

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей

...и инструмента 11, регулируемого при помощи противовеса 18 с переменным моментом нли с переменной силой разгрузки. Настройка устройства в начальном положении осуществляется следующим образом: центры поверхностей 14, 15 и 16 устанавливаются в одной вертикальной плоскости (в плоскости чертежа в определенном положении относительно друг друга и на одной оси в горизонтальной плоскости, при этом происходит ввод параметров начального положения.Устройство работает следующим образом.Изделие 2 и инструмент 11 приводятся во вращение со скоростями в и ц, рычаг 7 движется в пространстве при помощи соответствующего .привода, при этом инструмент 11 движется по поверхности 16, осуществляя съем материала изделия 9 в соответствии с параметрами процесса...

Номер патента: 1042891

Опубликовано: 23.09.1983

Авторы: Ашкеров, Ефремов, Минаев, Репкин, Сорокин, Цеснек

МПК: B23B 5/40

Метки: асферических, поверхностей

...осевоНаиболее близким к изобретению по го перемещения инструмента 7, включаютехнической сущности является устрой щее датчик 8 осевого перемещения (Д 1),ство для обработки асферических повер- датчик 9 угла поворота (Д 2) и электрон.ностей в котором в качестве толкателя, но-вычислительную машину (ЭВМ) 10,контактирующего с плоским копиром, Привод осевого перемещения инструмениспользован цилиндрический плунжвр, тального шпинделя 6 выполнен в винеимеющий плоскую поверхность, совпада- пневмоцндиндра 11 и связанного с нимющую по углу с поверхностью копнра. регулятора 12 цавления. ИнструментальМежду осями шпинделя и пдунжвра име ная головка 4 снабжена установленнымется некоторое расстояние, благодаря Оцоэитно цилиндру 1 1 аэростатическимчему...

Номер патента: 1055589

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Аракелян, Атоян

МПК: B23B 5/40

Метки: асферических, поверхностей

...изведения образующей кривой, вследствие отклонения оси инструментальной головки от нормали.Целью изобретения является повн шение точности обработки асферических :поверхностей за счет непрерывного совмещения осн инструментальной головки с нормалью обрабатываемой кривой.Цель достигается.тем, что устройство для обработки асферических поверхностей, содержащее стол .дпя закрепления детали и инструментальную головку с приводом осевого и угло вого перемещений, на одном конце которой установлен инструмент, а другой взаимодействует с копиром осевых перемещений, оснащено вторым копкром с профилем эволюты образующей кривой, установленным с возмож- З 0 костью взаимодействия с периФерийной поверхностью инструментальной головки, а привод угловых...

Номер патента: 1055629

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Баранов, Витриченко, Сидоров

МПК: B24B 13/00

Метки: автоматизированного, асферических, поверхностей, формообразования

...5, оптическую заготовку 6, малоразмерный инструмент 7, поводок 8, балансир 9, контактный ролик 10, датчик 11 силы, преобразователь 12, формирователь 13 сигнала по усилию, блок 14 управления, ме 5 10 35 20 25 30 35 40 4,5 50 55 ханизм 15 отработки заданных усилий, программное значение 16 сигнала по усилию, текущее значение 17 сигнала по усилию, сигнал 18 управления по усилию, сигнал 19 управления механизмом, механизм 20 задания постоянйой составляющей усилия прижима, корпус 21, пьезоэлектрический элемент 22, якорь 23, штифты 24, О О- ось вращения балансира.Устройство работает следующим образом,Зада нный съем материала в зоне поверхности заготовки 6, установленный на шпинделе 5 станка 1, обеспечивается малоразмерным инструментом 7,...

Номер патента: 1093484

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Грудяев, Невражин

МПК: B23Q 35/00

Метки: асферических, поверхностей, станок

...режущий инструмент, а другое - опирающийся на верхнюю поверхность копираролик и введенные в станок дополнительные прижимные колеса, предназначенныедля взаимодействия с боковыми поверхнос 50тями копира, который установлен симметрично относительно направляющих.По крайней мере одно из прижимных колес выполнено подпружиненным, а инструмент, ролик и опорные колеса имеют одинаковый диаметр.55На фиг. 1 изображен станок, вид сбоку;на фиг. 2 - то же, вид в плане; на фиг. 3 -вид А на фиг. 2. Станок состоит из станины 1 с поворотным столом 2 для обрабатываемой детали 3 и снабжен двуплечим рычагом, выполненным в виде возвратно-поступательно перемещаемого коромысла 4 с двумя широко расставленными подвижными опорами качения, выполненными в...

Номер патента: 1098764

Опубликовано: 23.06.1984

Авторы: Контиевский, Липовецкий, Хуснутдинов

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, оптических, поверхностей, полирования, шлифования

...их во взаимно противоположных направлениях вокруг оси шпинделя 2 инструмента.Узлы нажимных роликов включают ролики 6 и 7, контактирующие с нерабочей поверхностью инструмента 4 и смонтированные посредством подшипников на коромыслах 8 и 9. Коромысла 8 и 9 шарнирно связаны с каретками 10 и 11 и сильфонами 12 и 13. Узлы нажимных роликов соединены с механизмом синхронного их качания посредством рычагов 14 и 15 с направляющими для кареток 10 и 11. Другими концами рычаги 14 и 15 закреплены на втулках 16 и 17, смонтированных на шпинделе 2 инструмента соосно как между собой, так и с упомянутым шпинделем с возможностью качания во взаимно противоположных направлениях от реверсируемого привода 18 с программным управлением скоростью качания...

Номер патента: 1103947

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Добровольский, Крячек, Люненко

МПК: B23B 5/40

Метки: асферических, поверхностей, токарной

...рабочего инструмента, чем значительно повышает жесткость, точность и быстродействие работы исполнительного механизма, чтов конечном итоге повышает точностьобработки поверхностей.3 11 О 3Наиболее целесообразным вариантом реализации исполнительного устройст- ва ввиду небольших (в пределах десятков микрон) линейных перемещений является исполнение в виде прецизионно го двигателя малых перемещений, например, пьезоэлектрического или электро- гидравлического, что обеспечит его высокую жесткость, точность и быстродействие, 1 ОНа фиг. 1 изображена схема обработки асферических поверхностей в плоскости, проходящей через оси инструментального и рабочего шпинделей; на фиг, 2 - то же, в пространственной 15 системе координат; на фиг, 3 -...

Номер патента: 1103996

Опубликовано: 23.07.1984

Автор: Липовецкий

МПК: B24B 13/02

Метки: асферических, инструмент, поверхностей

...примыкают две системылепестков: внутренних 5 и внешних 6, количество которых может быть различным.Хвостовик 7 оправки служит для установкина шпинделе 8 инструмента в сборе, Оправка 4 и системы лепестков 5 и 6 имеют общуюсферическую поверхность радиуса ЙОсь вращения инструмента КС совпадаетс радиусом его сферической поверхности,проходящим через центр С трубчатого кольца 4, Край обравуюшей отстоит от точки Сна величину радиуса г центральной нерабочей зоны инструмента. Радиус г, определен конструктивно с учетом закруглениясужающихся консольных концов внутреннихлепестков 5.Ось симметрии КБ толщины кольца в егоосевом сечении расположена под углом о коси инструмента КС, значение которого определено по формуле (3),Силовое замыкание...

Номер патента: 1144982

Опубликовано: 15.03.1985

Авторы: Антонов, Гаврилов, Федоров, Фокин

МПК: C03B 23/023

Метки: асферических, оптических

...изменение первоначальной формы является результатом накопления пластических деформаций, обусловленных релаксацией термических напряжений, возникающих в процессе термоциклической обработки заготовки. При различии скоростей нагрева ц охлаждения менее чем в 10 раз отклонение (в пределах погрешности измерения), от первоначальной формы (даже в случае нескольких сотен циклов термической обработки) не обнаружено. При различии скоростей нагрева и охлаждения более чем в 100 раз, процесс асфери- зации затягивается во времени и приводит к геометрии поверхности, которая не описывается кривыми второго порядка.Отклонение от первоначальной формы будет тем больше, чем больше проведено термоциклов, чем сильнее различаются скорости нагрева и охлаждения,...

Номер патента: 1172681

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Грушин, Колосов, Хуснутдинов

МПК: B24B 13/02

Метки: асферических, инструмент, поверхностей

...разрез; на фиг. 2 - вид А на фиг.1. 15Инструмент выполнен в виде жесткого корпуса (хвостовика) 1, снабженного радиальными упругими элементами 2. К кромке 3 упругих элементов 2 прикреплен эластичный элемент 4, в 20 котором выполненЫ радиальные прорези 5. К поверхности эластичного элемента прикреплен полирующий слой 6, например сукно, пропитанное полировочной смолой, В корпусе предусмотрено 25 сферическое углубление 7 для поводка 8. Внутреннюю поверхность упругих эле ментов 2 корпуса 1 выполняют таким об разом, чтобы под рабочей нагрузкой Я его кромки 3 располагались параллель-ЗО но касательной к обрабатываемой поверхности детали 9 и на расстоянии от нее, равной сумме толщин эластичного элемента 4 и полирующего слоя 6. Упругие элементы 2...

Номер патента: 1176171

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Левин, Федосов, Чунин

МПК: G01B 21/20, G01B 5/22

Метки: асферических, поверхностей

...точности контроля.На чертеже представлено устройство для контроля асферических поверхностей, общий видУстройство содержит станину 1 сбазовой поверхностью 2, шпиндель 3 для размещения контролируемой детали 4, ось которого параллельна базовой поверхности 2 станины 1, диск 5 со сферической поверхностью 6, ось которой перпендикулярна базовой поверхности 2, и с плоской поверх-:3ностью 7, параллельной базовой поверхности 2, установленный на диске 5 с возможностью поворота относительно оси 8 его сферической поверхности 7 стол 9 с базовыми опорами 1 О и 11 две из которых (.опоры 11) контактируют с плоской поверхностью 7 диска 5, а третья (опора 1 О ) - со сферической поверхностью 6, отсчетный узел 12 с измерительным наконечником 13.Опоры...

Номер патента: 1185071

Опубликовано: 15.10.1985

Авторы: Контиевский, Феоктистов

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, интерференционный, поверхностей

...для равномерного распределения светового потока по рабочей поверхности фотоприемника 16.Контроль поверхности производят следующим образом.Сферическое пробное стекло в виде концентрического мениска 20 выполняют так, что радиус кривизны его эталонной поверхности равен сагиттальному радиусу кривизны крайней световой зоны контролируемой поверхности детали 19. Последнюю устанавливают на столик 18. Мениск 20 накладывают эталонной поверхностью на контролируемую поверхность детали 19. При этом центр кривизны эталонной поверхности мениска совмещается с сагиттальным центром кривизны крайней световой зоны контролируемой поверхности, лежащим на оптической оси детали 19. Воздушный зазор между контролируемой и эталонной поверхностями изменяется при...

Номер патента: 1217631

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Кульбачный, Панин

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей

...одной плоскости. Затем, приведяинструмент-фрезу 1 и заготовку 2 вовращательное движение, инструментузадают траекторию движения, котораяопределяется двумя координатами:центррежущей кромки перемещают 10;перпендикулярно плоскости, в которойлежат оси вращения инструмента 1 изаготовки 2, и вверх (от детали)по направлению оси вращения заготовки 2. На фиг. 2 линия сечения заго товки 2 в плоскости, проходящей покромке алмазной полой фреэы 1, наплоскости ХОЕ изображается окружностью, а плоскость,.соприкасающаяся с ней - эллипсом. Инструмент 1 20 перемещается вдоль осей ОУ и ОЕпо заданной траектории, в результате чего заготовка 2 принимает заданный профиль параболоида вращения,причем погрешность изготовления не 25 превышает 8 мкм./ 12...

Номер патента: 1234165

Опубликовано: 30.05.1986

Авторы: Каплан, Лысянный, Хохленков

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...осуществляется через червячную передачу 8. Вертикальная настройка шпинделя изделия 20 производится с помощью реечной передачи 9. Шпиндель 2 инструмента смонтирован в каретке 3, вращается от 1собственного привода и перемещается в осевом направлении под действием механизма давления (приводы не показаны),. Каретка 3 смонтирована с возможностью программного качания в го" ризонтальной и вертикальной плоскостях на двух взаимно перпендикулярно ЗО расположенных и лежащих в одной плоскости валах 4 и 10, при этом вал 4 параллелен осям,.шпинделей 1 и 2.Вал 10 расположен на подшипниках в головке 11 и перпендикулярен оси шпинделя 2 инструмента. На втором конце вала 10 закреплен сферический башмак 12, радиус сферы которого ра-вен радиусу сферы...

Номер патента: 1247809

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Кулакова, Пуряев

МПК: G02B 11/24, G02B 9/12

Метки: асферических, вогнутых, компенсационный, объектив, поверхностей, формы

...и ход лучей в нем.На схеме обозначены: 1 - компонент, исправленный на сферическую аберрацию (объектив); 2 - выпукло-плоская линза; 3 - менисковая линза; 4 - контролируемая асферическая поверхность; Г - задний фокус системы, состоящей из первого компонента и выпукло-плоской линзы; о - апертурный угол; г., О, у - начало координат для асферической поверхности.Компенсационный объектив действует следующим образом.Первый компонент 1 (объектив) формирует сферический волновой фронт, апертура которого увеличивается в п раз (и - показатель преломления линзы 2) после выхода лучей из линзы 2. Конструктивные параметры объектива 1 и линзы 2 выбраны так, что задний фокус г фокусирующего компонента, состоящего из компонентови 2, располагается на...

Номер патента: 1254293

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Кузнецов, Попов

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: асферических, вогнутых, зеркал, компенсатор

...выпуклой Формы накаждую из сферических поверхностейлинз 1 и 2 нанесены марки 3 и 4 Линзы ориентированы вогнутыми поверхностями друг к другу и установленымежду собой на расстоянии, равномрадиусу вогнутой поверхностиНа чертеже также показаны точечный источник 5 монохроматическогоизлучения, светоделительная пластчнка 6, контролируемая вогнутая сферическая поверхность 7, регистрирую- ЗОщая система 8.Устройство работает следующимобразом,Предварительно юстируют между собой пространственно разнесенные линзы 1 и 2 компенсатора. Для этогоподсвечивают точечным источником 5одну из марок (например 3). Наблюдают в микроскоп (не показан) со стороны выпуклой поверхности линзы 1 0автоколлимационное изображение марки 3 после отражения части...

Номер патента: 1295211

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Алипов, Контиевский, Феоктистов, Чунин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, интерферометр, поверхностей, формы

...выходного объектива 6 и светоделителя 7 изображение диафрагмы3 формируется в фокусе Рб объектива6, совмещенного с осью 00 поворотасканирующей головки. Лучи проходятпробное сферическое стекло 23 непреломляясь, так как центр кривизныэталонной поверхности пробного стекла 23 совмещен с изображением диафрагмы 3 осветительной системы и, отразившись от эталонной поверхностипробного стекла 23 и контролируемойповерхности детали 22, интерферируют,образуя интерференционную картину,локализованную в воздушном промежутке между эталонной поверхностью пробного стекла 23 и деталью 22, Интерферирующие лучи, пройдя светоделитель 7 и отразившись от плоского 35 зеркала 8, попадают во входной объектив 9 измерительной системы, фокускоторого совмешен с...

Номер патента: 1301659

Опубликовано: 07.04.1987

Авторы: Глебов, Каплан, Мелентович, Рошак

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, поверхностей, станок, шлифования

...2, шлифовальную каретку 3, поворотный в горизонтальной плоскости стол 4. Перемещение шлифовальной каретки 3 осуществляется от шагового двигателя 5 через привод 6, ходовой винт 7 с гайкой 8 и сферический упор 9. Перемещение поворотного стола 4 осуществляется от шагового двигателя 10 через привод 11, барабан 12 и металлические ленты 13,Управление шаговыми двигателями осуществляется устройством 14 числового программного управления. Для подвода - отвода шпинделя изделия 1 служит пневмоцилиндр 15. Вращение шпинделя изделия 1 производится электродвигателем 16 через ременную передачу 17, шпинделя инструмента - электродвигателем 18 через ременную передачу 19. Перемещение в горизонтальной плоскос ти поворотного стола 4 производится вокруг оси...