Способ определения глубины залегания -перехода
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е г 1 г 1457424ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Респуйик(22) Заявлено 29.09.72 (21) 1832078 гг 26-25 присоединением заявк осударстееннык комит) Опубликовано 02,79, Бюллетеньло делам изобретений и открытий45) Дата опубликования описания 28.02.7) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ЗАЛЕГАНИ р - и-ПЕРЕХОДАпозволяет ооеспеглубину залегания Изобретение относится к области технологии полупроводниковых приборов и может применяться для определения параметров полупроводниковых приборов.Известен способ определения глубины залегания р - и-перехода в полупроводниковых приборах, основанный на измерении двух параметров: слоевого сопротивления р, и поверхностной концентрации легирующей примеси Лгпо которым, зная закон 10 изменения концентрации легирующей примеси в и (р)-слое, можно определить толщину легирующеи примеси Ур, определяется четырехзондовым методом, а Л. - по положению Л, в инфракрасном спектре отражения от поверхности легированного слоя.Однако в реальных переходах профиль распределения легирующей примеси может отличаться от расчетного, поэтому указанный метод не дает точных результатов. Кроме того, определение концентрации легирующей примеси по положению Льщу возмож" но только для однородных материалов, причем начиная с определенного значения концентрации указанной примеси,С целью повышения точности и упрощения способа структуру облучают светом с длиной волны из области спектра собственного, поглощения и по величине фототока короткого замыкания судят о глубине залегания р - гг-перехода.Облучают прибор со стороны гг(р)-области электромагнитным излучением в области спектра собственного поглощения данного материала и измеряют фототок короткого замыкания. При помощи градуировочного графика, который связывает величину фототока короткого замыкания прибора на разных длинах волн с глубиной залегания р - п-перехода, определенной одним из известных методов, находят участок спектра, в котором существует однозначное соответствие между величиной фотоответа прибора и глубиной залегания перехода. Згог спектральный диапазон соответствует излучению, которое полностью поглощается в п(р)-области. Кривые зависимости фототока от длины волны, соответствующие разным глубинам залегания р - гг-перехода, обьединяются на этом участке спектра в отдельные, неперекрывающиеся группы, Измерение фототока короткого замыкания приооров на какой-либо длине волны в найденном спектральном диапазоне и сопоставление измеренного значения с градуировочным графиком дает величину глубины залегания р - ггперехода в приборе.Предлагаемый способчить строго заданнуюРедактор Т. Колодцева Заказ 574/10 Изд,205 Тираж 950 Подписное НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 р - л-перехода при финишном травленииприборов под монохроматическим светом. Формула изобретенияСпособ определения глубины залегания р - и-перехода в полупроводниковых структурах, включающий облучение ее светом,отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения способа, структуру облучают светом с длиной волны из области спектра собственного поглощения и 5 по величине фототока короткого замыканиясудят о глубине залегания р - п-перехода,
СмотретьЗаявка
1832078, 29.09.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2763
ГОЛОВНЕР Т. М, ЖИДКОВА Е. В, КОВАЛЕВА Л. В, ЛАНДСМАН А. П
МПК / Метки
МПК: H01L 31/00
Метки: глубины, залегания, перехода
Опубликовано: 28.02.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-457424-sposob-opredeleniya-glubiny-zaleganiya-perekhoda.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения глубины залегания -перехода</a>
Предыдущий патент: Штамм 24-24-продуцент низина
Следующий патент: Способ получения -фенил-2-нафтиламина
Случайный патент: Способ регулирования производства окатышей