Патенты опубликованные 07.09.1988

Страница 25

Преобразователь перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1421981

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Иванов, Конюхов, Семенов

МПК: G01B 7/00, G01B 7/30

Метки: перемещений

...которого составляет примерно 20 Х от длины ротора, и две другие диаметрально противоположные секции 5 и 7 первичной обмотки возбуждения. Через каждые полпериода питающего тока направление магнитного потока меняется на обратное. Это создает ЭДС в секциях вторичных обмоток ГО и ТО, которые зависят от магнитной.проводимости воздушного зазора между соответствующими секциями обмоток ферромагнитного ротора 2 и находящимися напротив них частями ферромагнитного цилиндра статора 1. Чем больше площадь перекрытия зубцов статора и ротора (на,фиг. 2 она показана двойной, штриховкой), тем больше ЭДС, наве1981 фо рмула 40 45 50 55 142 денная в секциях обмоток ТО и ГО ротора 2, При линейном относительномперемещении ротора 2 и статора 1 изменяется...

Датчик перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1421982

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Робинов

МПК: G01B 7/00

Метки: датчик, перемещений

...размещен на внешнейповерхности вала 5, установленного свозможностью вращения относительно 25корпуса 1. Вал 5 имеет торцовое отверстие с резьбой для взаимодействияс ходовым винтом, шаг которой равеншагу резьбы на винте и выполнен сошлицом для установки на нем ролика 306. Ролик 6 с намотанным на нем измерительным тросом 7, свободный конецкоторого предназначен для связи собъектом контроля в процессе измерения (не показан), установлен с возможностью вращения относительно корпуса 1. Длина 1 ходового винта 2 определяется из условия 1ЬТ/2 %К,гдеЕ - длина троса 7; Т - шаг резьбы ходового винта; 2 В. - радиус ролика 6.Датчик линейных перемещений работает следующим образом,Линейное перемещение троса 7 приводит к вращению ролика 6, который 45через...

Устройство для измерения относительной деформации материала

Загрузка...

Номер патента: 1421983

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Кулида, Таланов, Харахнин

МПК: G01B 7/04

Метки: деформации, относительной

...(56) Авторское свидетельство СССР У 453557, кл. С 01 В 7/04, 1972. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТНОСИ" ТЕЛЬНОЙ ДЕФОРМАЦИИ МАТЕРИАЛА (57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения- расширение функциональных возможностей путем измерения неравномерности распределения деформации по ширине материала. При транспортировании ма".80142198 териала входной 1 и выходные импульсные датчики 2, 3 длины материала формируют сигналы, пропорциональные длинам вошедшего и вышедшего из ."оны обработки материала. Измерители 4 и 5 деформации подают сигналы на вычитатель, который подает сигнал, соответствующий относительной деформации по ширине материала, на умножитель 7, определяющий удлинение материалаБлок 8...

Способ измерения толщины слоя ферромагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 1421984

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Арушанов, Полуянов, Сапранков

МПК: G01B 7/06

Метки: слоя, толщины, ферромагнитного

...перпендикулярно к торцу слоя 18, Затем отключают намагничивающее поле и измеряютостаточный магнитный поток Ф, проходящий через участок заданной длинына торце контролируемого ферромагнитного слоя 18, т.е. через площадку,расположенную в плоскости, параллельной поверхности его торцового участка, причем определение остаточногомагнитного потока Ф ят осуществляютпутем измерения потоков Ф, и Ф черездве равные по размерам параллельныеплощадки, расположенные с разныхсторон контролируемого слоя так, чтоих плоскости пересекаются с плоскос.тью торца слоя 18,При этом элементарный магнитныйпоток, проходящий через площадку заданной длины на торце слоя, будетравен сумме элементарных потоков,пронизывающих указанные площадки,т.е.Фрт =Фь,+Фст =1 с...

Индукционный толщиномер

Загрузка...

Номер патента: 1421985

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Гамбарян, Нерсесян

МПК: G01B 7/06

Метки: индукционный, толщиномер

...или ВР), В результате магнитные сопротивления мест стыка, где потоки складываются, и мест стыка, где потоки вычитаются, начинают существенно различаться. Результирующие магнитные потоки в местах стыка сердечников получаются больше каждого иэ магнитных потоков входных и выход. ных обмоток, взятых в отдельности. Следовательно, если даже величины потоков входных и выходных обмоток таковы, что магнитопровод 1 толщиномера кроме мест стыка не насыщаетоя, то участки в местах стыка магнитной цепи всегда находятся в насьпценном состоянии. Именно насыщение мест стыка магнитной цепи приводит к периоди-, ческому изменению индуктивности измерительной обмотки 9 и способствует работе толщиномера как индуктивного параметрического генератора. Энергия иэ...

Датчик для измерения смещений оси вала

Загрузка...

Номер патента: 1421986

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Белавин, Левин, Серебряков, Черноштан

МПК: G01B 7/14, G01B 7/315, G01R 31/34 ...

Метки: вала, датчик, оси, смещений

...Ф = Ь г. соэЫ/2,(3) где 61 - величина осевого смещенияконтролируемого вала 1Ы/2 - половинный угол конусности ротора;6 г - величина радиального сме 1щения вала, измереннаяпод -м магнитом статора(здесь д = 18).При учете направления радиальногосмещения бг 1 = Зг; з 5 пч 6 г = Аг 1соз Ч,(4) где у - угловое положение линии, покоторой происходит радиальное смещение.Для обеспечения синфазности ЭДС, наводимых в соответствующих парах обмоток, число зубцов ротора должно быть таким, чтобы в определенный момент времени против каждого полюса магнитопровода статора находился об/мин.При наличии осевого 6 о или радиального .ОФ смещения вала 10 измеРняется величина воздушного зазора межжу статором и ротором датчика.Зависимость приращения воздушного...

Тензометр

Загрузка...

Номер патента: 1421987

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Грищак, Коновалов, Ющенко

МПК: G01B 7/16

Метки: тензометр

...- обеспечивается засчет новой конструкции и взаимосвязиэлементов, обеспечивающих контакт 10чувствительного элемента с поверхностью, деформация которой измеряется.На чертеже показана схема тензометра.Тензометр содержит корпус 1, в ко. тором размещен упругий П-образныйчувствительный элемент, состоящий иэупругой пластины 2 и жесткой опоры 3,закрепленных на поперечине 4. Поперечина 4 и накладка 5 образуют шарнир 20с шаровой рпорой 6, жестко соединенной со штоком 7, имеющим контргайку8 на другом конце. На конце втулки 9подвижной платформы 10 выполнено от"верстие 11, образующее скользящую 25пару со штоком, Пружина 12 установлена в посадочные гнезда платформы 1 Ои седла 13, опирающегося на шар 6.Платформа 10 опирается на рабочую...

Трансформаторный датчик угла поворота

Загрузка...

Номер патента: 1421988

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Агагусейнов, Алиев, Едуш, Салигов, Тер-Хачатуров

МПК: G01B 7/30

Метки: датчик, поворота, трансформаторный, угла

...крьппки 2 на п-секторов, В 30 кольцевом пазу 4 размещена обмотка 6 возбуждения.Измерительная обмотка 7 выполнена из ипоследовательно соединенных секций, каждая иэ которых размещена .35 в соответствующем секторе торцовой крьппки и имеет число витков, изменяющееся в арифметической прогрессии в зависимости от номера секции, причем число витков в каждой соседней секции 40 равно (1+1 с)ь, где 1 с = 0,1,2,(п), а ч - число витков в первой секции. В полости статора 1 размещен однополюсный Ферромагнитный ротор 8. Поперечное сечение ротора представляет 45 собой сектор круга с длиной дуги, равной длине дуги одного сектора торцовой крышки 2. Ротор 8 и крышки 2 и 3 статора 1 могут быть изготовлены из прессованной порошковой стали....

Способ определения отклонения размеров объекта от номинального

Загрузка...

Номер патента: 1421989

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бахтин, Бахтина, Сарычев

МПК: G01B 9/00

Метки: номинального, объекта, отклонения, размеров

...совпадают, торазмер объекта меньше номинального,т.е. исследуемая поверхность находится за номинальной по ходу пучка излучения (этот случай приведен на чертеже); в) если направления смещения исследуемой поверхности 6 и элементов7, 8 спекл-структуры противоположны,то.размер объекта больше номинального, т.е. исследуемая поверхность находится перед номинальной.После определения наличия и знакаотклонения определяют величину отклонения Р по соотношению скоростей ч ич перемещения единичных элементов 7 и8 спекл-структуры, расположенных нарасстояниях 1, и 1 от исследуемойповерхности б, по формулеЧ,1, - . Ч 1,Определение величины отклонения основано на результатах экспериментальных исследований, которые показали,что при фокусировке...

Устройство для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1421990

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Ларионов, Лукин, Маврин, Мустафин, Рафиков, Федорова

МПК: G01B 9/02

Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиусов

...держателяобразцовый оптический элемент 8 иустанавливают в держатель контролируемый оптический элемент 11, после чего перемещают держатель в положение, при котором обеспечиваетсяавтоколлимационный ход лучей в устройстве, при этом контраст интерференционных полос на экране регистрирующего блока будет максимальным,после чего снимают второй отсчетизмерителя 9 перемещений, По разности двух отсчетов определяют знаки величину отклонения радиуса кривизны контролируемой поверхности отноминального значения,/Установка корригирующей голограммы 7 позволяет уменьшить сферическую аберрацию телескопической системы 4, что приводит к повышению контраста интерференционной картины, аследовательно, и точности измерения за счет повьюпения точности продольной...

Способ контроля формы асферической поверхности линзы

Загрузка...

Номер патента: 1421991

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, линзы, поверхности, формы

...блок 1 формируетпучок лазерного излучения требуемой конфигурации, который после отражения от светоделителя 2 разделяется образцовой поверхностью пластины 3 на два пучка - объектный, который проходит через поверхность пластины 3, и опорный, который отражается от нее. Первоначально компенсатор 4 отсутствует и объектный пучок,проходит через иммерсионную жидкость 5,:контролируемую асферическую99 35 д 0 лируемой поверхностью линзы компен 45 где Ь - длина волны излучения;Х - допустимая погрешность формыконтролируемой поверхностилинзы50 вновь освещают контролируемую поверхность объектным световым пучком и регистрируют вторую интерферограмму , а корректировку интерферограммы выполняют вычитанием первой интерферо...

Устройство для измерения фокусных расстояний

Загрузка...

Номер патента: 1421992

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Пизюта, Сырова, Шульженко

МПК: G01B 11/02

Метки: расстояний, фокусных

...каждый из которых связан с соответствующей линзой, два фотоприемника 11 и 12, каждый из которых установлен в задней фокальной плоскости соответствующей линзы, два электродвигателя 13 и 14, входы каждого из которых связаны с выходами соответствующих датчиков 9 и 1 О, цифровое устройство 15, вход которого связан с выходами двух датчиков 9 и 10 и с выходами двух фотоприемников 11 и 12, блок 16 индикации, вход которого связан с выходом цифрового устройства 15, и цифропечатающее устройство 17, вход которого связан с выходом цифрового устройства 15.Устройство работает следующим образом.Излучение от осветителя 1, пройдя конденсатор 2 и щелевую диафрагму 4, объективом 3 формируется в широкий параллельный пучок, из которого посредством...

Способ определения деформационных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1421993

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бахтин, Костюченко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформационных, перемещений

...материала и пуансона в плоскости регистрирующей среды, Получают на ней голограмму сфокусированного изображения обьекта. После приложения через пуансон к материалу внешней нагрузки, приводящей к жесткому смещению пуансона и суперпозиции жесткого и деформационного перемещений прессуемого материала, на ту же регистрирующую среду записывают голограмму сфокусированного изображения объекта в измененном состоянии. После фотохимической обработки на полученной двухэкспозиционной голограмме восстанавливают нерасширенными пучками когерентного излучения два участка, один из которых соответствует точке на пуансоне, а второй - исследуемой точке на поверхности прессуемого материала. В плоскости действительного изображения регистрируют...

Способ определения остаточных напряжений в пластинах

Загрузка...

Номер патента: 1421994

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бахтин, Костюченко

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, остаточных, пластинах

...в двух точках 4 и 5 (4 и 5 ) (пластина показана в первоначальном 3 и конечном 3 состояниях), расстояние между которыми равно Ьх; отраженные от поверхности пластины 3 (3) пучки 6 и 7 оптически совмещаются системой 8 (например, плоскопараллельной пластиной) и образуют в области 9 пересечения интерференционную картину.Способ осуществляется следующим образом.На поверхности пластины 3 по нормали к ней освещают две точки 4 и 5, расстояние между которыми равно Лх, двумя нерасширенными пучками 1 и 2, когерентного излучения, лежащими в плоскости изгиба пластины 3. Затем осуществляют удаление с неосвещенной поверхности пластины 3 слоя материала, в результате чего из-за перераспределения остаточных напряжений пластина изгибается и принимает...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 1421995

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Агапов, Половцев

МПК: G01B 11/255, G01B 11/30, G02B 27/54 ...

Метки: прибор, теневой

...тень от экрана 4 при контроле детали 2 идеальной формы будет иметь вид прямых линий. Измерительный экран 5 установлен за плоскостью изображения источника 1 света в плоскости анализа теневой картины, т. е. в плоскости компенсации кривизны экрана 4, с возможностью перемещения его вдоль оптической оси измерения величины этого перемещения. Взаимная ориентация и размерные зависимости прямых на измерительном экране 5 и кривых на криволинейном экране 4 определяется, параметрами контролируемой детали 2 и схемой контроля. На фиг. 2 представлен вариант разметки экрана 5, где 6 - линии разметки, 7 линия световой апертуры, 8 - центр теневой картины,Теневой прибор работает следующим образом.Перед началом измерений точечный источник 1 света...

Способ измерения шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1421996

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Сысоев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...оптическим методам измерения высоты шероховатости поверхности, и может быть использовано во многих отраслях народного хозяйства, в частности в прецизионном приборостроении.Цель изобретения - повышение чувствительности и точности измерения за счет увеличения соотношения сигнал/шум.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ измерения шероховатости поверхности изделия.Устройство содержит лазер 1, оптический расщепитель 2, линзу 3, фотоприемник 4 и пространственный фильтр 5.Способ осуществляется следующим образом.Луч лазера 1 разделяют на два потока оптическим расщепителем 2, между которыми вносят оптическую разность хода, оба потока фокусируют линзой 3 и направляют на исследуемую поверхность объекта...

Устройство для контроля неплоскостности движущейся полосы

Загрузка...

Номер патента: 1421997

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Дрель, Ковальков, Полоник

МПК: G01B 13/22

Метки: движущейся, неплоскостности, полосы

...жидкость непрерывным потоком под некоторым избыточным давлением подается к соплам 8 и 9 и в виде струй 16 и 7 истекает в атмосферу, При отсутствии полосы 15 в зоне струй 16 и 17 сопла 8 и 9 находятся под электрическим потенциалом источника 10 тока, на первый и второй входы логического элемента ИЛИ-НЕ 12 поступают сигналы, соответствующие логической единице, а с выхода элемента 12 - сигнал, соответствуюший логическому нулю и поэтому клапан 5 находится в закрытом положении.Когда полоса 15 передней кромкой пересекает струю 16, электрический потенциал сопла 8 за счет контакта струи с полосой 15 снижается до уровня логического нуля, и с выхода элемента ИЛИ-НЕ 12 через усилитель 13 на электрогидроклапан 5 поступает сигнал,...

Толщиномер

Загрузка...

Номер патента: 1421998

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Недавний, Опокин

МПК: G01B 15/02

Метки: толщиномер

...и Л 0 в скорос счета соответственно для первой и второй энергетических линий при нулевой толщине поглотителя;Ми М - скорость счета соответственно для первой и второй энер гетических линий при толщине поглотителя 6;р и р - коэффициент ослабления излучения для первой и второй энергетических линий соответственно.Тогда можно записать отношение)ц Ф(Р 1 Л 1+ф Р 2 М 2) )и, Н+рЧ)У,-(-Л,где ф - квадрат отношения сигнал/шум прикоэффициенте передачи интегратора 4, равном 1;ф- - квадрат отношения сигнал/щум прикоэффициенте передачи интегратора 4, равном единице.Из условия максимума отношения (2) находим Используя тот факт, что источники с Е и Е независимы, и вводя вместо Е и Ез и так далее, можем записать условие оптимума для произвольного спектра...

Рентгеновский измеритель толщины проката

Загрузка...

Номер патента: 1421999

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Грачева, Егоров, Маслов, Моргенштерн, Соколов, Фирстов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, проката, рентгеновский, толщины

...полосу 1 проката и через стандартный образец 4, определяются по формулам р - линейный коэффициент ослабления;Ь - толщина стандартного образца; Ьм - толщина контролируемой полосы; Ь, Ь 2 - коэффициенты, характеризующиеусиление фотоэлектронных умножителей и электрических цепей.Указанные сигналы попадают в коммутационно-управляющий блок 8, где производится сравнение этих сигналов, В случае, если толщина контролируемой полосы не отличается от толщины стандартного образца, то выходной управляющий сигнал коммутационно-управляющего блока 8 отсутствует и оба фотоэлектронных умножителя 6 и 12 питаются одинаковым высоким напряжением (1 и с 12 от источников 7 и 10. При появлении разнотолщинности полосы на выходе...

Способ измерения толщины покрытия

Загрузка...

Номер патента: 1422000

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Выстропов

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...квантов и проводят в фиксированных условиях (фиг. 2), при которых максимум в спектре рассеянного основанием 4 излуцения соответствует линии с энергией Ес, для которой в материале покрытия коэффициент ослабления рассеянного излучения р д (Еа ) равен коэффициенту ослабления характеристического излучения ц(Е.р), Связь между энергией квантов рассеянного излучения Есс, первичного излучения Ео и углом рассеяния определяется известным соотношением Комптона, и для каждого значения энергии квантов характеристического излучения Ес. (каждого типа покрытия) существует определенная совокупность значений энергий квантов первичного излуцения Ео и углов, между направлением облучения и направлением регистрации рассеянного излучения, удовлетворяющих...

Устройство для контроля полупроводниковой структуры

Загрузка...

Номер патента: 1422001

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Кутявин, Старов

МПК: G01B 21/00

Метки: полупроводниковой, структуры

...БосыИ им их л ьсов ФЗ триггер Д 7.1 сбрдсыв 1 ется. При эгом сраба.5тывает одновибратор Д 6,2, сбрасывая по цепи й счетчик ДЗ, Д 4, Д 5, это приводит к выключению из видеосигнала первых восьми битов, не несущих информации об изображении.Одновременно при наличии сигнала Запись маски 3 м (третий выход блока 1) на входе 2 блока 10 происходит установка триггера Д 2, сигналом которого (с шестого выхода блока 10) управляется режим работы аналого-цифрового преобразователя блока 11 (выдача выходной инфорМации в прямом или инверсном коде). Далее счетчик ДЗ, Д 4, Д 5 продолжает считать с нуля. Таким образом, каждому считанному зарядовому пакету с ПЗС линейки соответствует координата (номер) на вь 1 ходах счетчика. После прохождения еще 1024...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1422002

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Дмитриев, Коляда, Мироненко, Янушкин

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещений

...подключены к выходам формирователей 32 и 33, вторые входы элементов И 34 и 35 подключены к выходу нуль-органа 30, выходы элементов И 34 и 35 соединены с входами реверсивного счетчика 2.Устройство работает следуюгцим ооразом.Источник 1 света формирует параллельные пучки лучей, направляемые на измерительный и индикаторный растры 3 и 4, входящие в блок 2 формирования интерференционных или муаровь 1 х полос.Индикаторный растр 4 совершает колебательные движения относительно измерительного растра 3 с амплитудой, не превышающей периода растра.Колебательные движени я придаются индикаторному растру 4 с помощью блока 5 сканирования.Г 1 ри перемещении измерительного растра 3 относительно индикаторного растра 4 на выходе фотоприемников 7 и 8...

Способ измерения угловых мер и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1422003

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Костава, Отаришвили, Поухишвили

МПК: G01B 21/22, G01B 7/30

Метки: мер, угловых

...один выход редуки,. 6 электрсдаигатслем 7. Одновремен. о, Вм рительный стол 3 приьодится во вранге.:ие со скоростью со: через второй выход редукг 1 ра б электродвигателя. Фотоэлектрическим автоколлиматором 8 засскакт перПсм ПРК)ЛЯ 1 рНОСТЬ ГраНЕй МЕРЫ 1 ОСИ аВтО ко, - , им,тора. С датчика 4 Р гловых иереС 1,еИЙ поступает инфо,ация об угловых перемещениях основания 2 относительно:змерительного стола 3 в видс числа Ргм- : пу,ьсов на один вход Вычислительного блока 9. Оповременно с датчика 5 угла ГовоПга посгупаег информац 1:я оо угловых перевецениях измерительного стола 3 относит льна оси автоколлиматора в виде числа им 17 1 ьсоВ на Бтсрси Вход Выцис.1 итель 1 ого блока 9. р 1 мпуггьсь:, Оступагощие па ервый и второй входы вычислитель-...

Способ измерения площади листьев растений

Загрузка...

Номер патента: 1422004

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Алейников

МПК: G01B 21/28

Метки: листьев, площади, растений

...возбуждению электронных состояний молекул и, как следствие, к яркому свечению этих областей. Это явление и используется для визуализации объекта измерений. Регистрируя суммарную интенсивность излучения разряда, судят о площади листа.При определенной напряженности поля для конкретных листьев растения можно получить изображение, которое будет характеризовать площадь поверхности листа. Повышая напряженность электрического поля, можно достигнуть однородного объемного разряда, в котором интенсивность света пропорциональна общей площади листа растения. Значение напряжения поля может колебаться в пределах 10 - 100 кВ, частота до нескольких десятков мГц.Интенсивность свечения (при прочих равных условиях) зависит от влажности поверхности...

Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий

Загрузка...

Номер патента: 1422005

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Витман, Гребенюк, Зайченкова, Суминов

МПК: G01B 21/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...внутри детали контролируется лишь 3/4 периметра. Рассеянный на дефектах цилиндрической поверхности световой поток воспринимается секционным волоконно-оптическим световодом 10 и направля-ется на соответствующие приемники 11 излучения. Сканирование поверхности осуществляется при поступательном перемещении устройства вдоль оси детали, которое обеспечивается любым известным приводом 13. Когда устройство переместится так, что расстояние от фокусируюшей линзы 7 до торца отверстия детали 8 будет равно фокусному расстоянию линзы, что обеспечивается любым известным датчиком 12 положения, блок 9 перемешает луч лау зера 1 параллельно самому себе на входной торец световода 5. Пройдя по свето- воду и сфокусировавшись цилиндрической линзой 7 в...

Электроннооптический фазовый светодальномер

Загрузка...

Номер патента: 1422006

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Горбачев, Качугин, Чайковский

МПК: G01C 3/00

Метки: светодальномер, фазовый, электроннооптический

...на плоскость 18 уголкового отражателя 4. Отразившись от отражателя, луч обратно тем же путем приходит в объектив 15 и далее - на фотоумножитель 34 (фиг. 2). Там происходит преобразование оптического сигнала в электрический. С анодной нагрузки 35 фотоумножителя 34 через емкость 36 (фиг. 2) сигнал А (фиг. 3) с выхода 19 блока 1 (фиг. 1) поступает на вход 20 блока 5 выработки сигнала запоминания. Блок 5 работает следующим образом.Схема 37 представляет собой активный двухполупериодный выпрямитель, собранный на операционных усилителях, на вход которой приходит сигнал А (фиг. 5), а на выходе получается сигнал В (фиг. 5), т. е. схема выделяет модуль сигнала х). Схема 38 ( 0 ) представляет собой пороговое устройство, которое выдает сигнал от...

Электронно-оптический фазовый светодальномер

Загрузка...

Номер патента: 1422007

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Качугин, Лосев, Чайковский

МПК: G01C 3/08

Метки: светодальномер, фазовый, электронно-оптический

...до напряжения отсечки, с приходом на нее сигнала схемы выделения модуля она выдает на выход 22 блока 5 сигнал, поступающий на вход 23 блока 6 исключения инерционности призмы. При увеличении частоты сканирования лучом в пространстве по вертикали и горизонтали происходит проскакивание лучом плоскости отражателя ввиду инерционности призмы. На основании этого сигнал С появляется на входе блока 6 во время прохождения лучом отражателя. При этом на выходе К 8-триггеров 37 и 38 появляются сигналы В и Е. Сигнал В (фиг. 3) поступает на первый вход схемы .;) 40. Одновременно с выхода схемы генератора 39 прямоугольных импульсов непрерывно на второй вход схемы .) 40 поступает прямоугольный сигнал и с ее выхода сигнал Р поступает на счетный вход (С)...

Датчик угла наклона

Загрузка...

Номер патента: 1422008

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Зубов, Ковалев, Круглов, Панин, Пучков

МПК: G01C 9/06

Метки: датчик, наклона, угла

...связь восстанавливается (этот момент определяется правым диском, левый уже подготовлен), на выходе фотоприемника снова появляется высокий потенциал. Таким образом, при положении маятника, указанном на фиг. 2, на выходе 4 образуется последовательность импульсов, следуюгцих с периодом Т, равным времени оборота дисков, имеющих длительность А= 2 а/ы, где ю - круговая частота вращения дисков, ы=-2;т/Т.Вид сигнала 4 для углов крена обьекта противоположного знака поясняют временные диаграммы фиг. 3. Здесь за исходное положение дисков принято то же, что и в рассмотренном ранее случае. Видно, что начиная от положения Г, вплоть до положения Д, соответствующего повороту дисков на угол л - и, на выходе оптопары имеет место нулевой потенциал,...

Шагомер

Загрузка...

Номер патента: 1422009

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Хохлов

МПК: G01C 22/00

Метки: шагомер

...между магнитоми ферромагнитным элементом для минимального рабочего зазораГр ) больше силы при-тяжения для максимального рабочего зазора(Г,ьмакс)Гыбин ) Гиакс,Параметры плоской пружины 4 выбираются таким образом, чтобы сила упругости в зоне перемещения подвижной массы была значительно меньше силы притяжения магнита и не оказывала существенного влияния на работу датчика, пружина, таким образом, используется только как несущий элемент.Также необходимо обеспечить превышение силы притяжения над силой тяжести при отсутствии вертикального ускорения в нижней точке нахождения подвижной массы. При соблюдении этих условий динамическая характеристика массы имеет вид, приве 2денный на фиг. 2, где по оси ОГ отложена сила, действующая на...

Устройство для дозирования сыпучего материала

Загрузка...

Номер патента: 1422010

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Герчиков, Дервоед, Клопова, Сафрошкин, Терехин

МПК: G01F 11/00

Метки: дозирования, сыпучего

...образцу 17, который устанавливается на роторе 18, движупгемся по круговой траектории так, чтобы расстояние от выпускного дозирующего отверстия канала 16 до верхнего края образца составляло 0,5 - -1,0 1, где 1 - характерный размер дозируюшего отверстия, датчика 19 роестатного типа, который вклкгцен в одно из плеч измерительного моста фиг. 2) и механически связан с шибером 13, уравнительной трубки 20, соединяющей верхнюю часть бункера 4 с выпускным каналом 6 и закрепленной удозирующего отверстия канала 16 так, цто торец трубки 20 находится на уровне выхода материала из отверстия, гальванометра 21, вклюценного в диагональ измерительного моста.50 гцийся объект, в него введена трубка, один конец которой сообщен с верхней цастью...