Стрежнев

Номер патента: 1110631

Опубликовано: 30.08.1984

Авторы: Кудрявин, Стрежнев, Шадрин

МПК: B27B 29/08

Метки: бревен, впередистаночный, конвейер, подачи

...КОЦИТ(,53ОТССК 1( 151 3 1)П(.Рс,(3)С)с ЦО 1310 ГО КОЦВС 1(.рс С 30,ЕсН)ц(СИ 13 СПЬЮ 4, НССПС) тпр 3 овыс упоры ццж 3)цх цзцрзв,)яю)цсй )30- жси 5, (-обрсз)33)х клружицсццых опор- ЦЫ. РОГИКОВ , Ксц)ТОВс 1 ГЕЛЯ У С 13 СР)Р)(с)Л Ь 13 ь)1 и РОГ)313;зх)3 8 13(Рх 3 сй кзРс)ки,) с 3 Р)1- ЖМЦЫ 131 ЦОЖЗП(Ь, ПСРС 1 С)ЦсК)1 ЦМИСЯ от пцевмоцилиндра 11, качающегося рычаж.НО)О 31 рИЖИ 322, цс)црс 1 БГ)10)цИХ С)СНОК 1 ), В)1 Г 5 Ж)111 Х БсГ)Ь),СЕ 3 1 . 116(л з цпсрелистаночцого конвейера ЛЛ 310,(Е)сц) брС ВЕН ПрОИСХОЛИт СЛЕдЮщИМ (кцзо м.1 р( вцз )юолольш м транспортером 1 цйдсютс 51 цд цзкопитсГ 1 ь 2, Откмдз Они с по;кцыо отсека) сля 1 поштуцно поступают цз Вцерслистаноцный конвейер и торцовыми упорами Г)одзюеесей цепи 4 подаются в с гзцок цо (7-06...

Номер патента: 1094007

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Журавлев, Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутая, дифракционная, решетка

...к крутой грани штрихов.На фиг.1 представлена конструкция предлагаемой решетки в разрезе по ширине заштрихованной поверхности; на фиг,2 - схема отражения падающего на решетку излучения при угле "блеска" решетки.Вогнутая дифракционная решетка содержит слой 1 металлизации, на котором сформированы штрихи 2 двугранного ступенчатого профиля и который жестко скреплен с подложкой 3. Пологая 4 и крутая 5 грани всех штрихов 2 снабжены зеркальным покрытием, Угол 6 между этими гранями выполнен прямым, а угол А наклона пологих граней 4 штрихов решетки к касательной 6 ее образующей 7 определяется соотношением (1), При этом угол "блеска" решетки - о( отсчитывается от нормали 8 к ее образующей 7 в направлении нормали 9 к крутой грани 5 штрихов 2 и...

Номер патента: 1051481

Опубликовано: 30.10.1983

Авторы: Стрежнев, Файзрахманов, Функ, Хайбуллин

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционных, копий, решеток, упрочнения

...упругих столкновений передают большую часть своей энергии атомам с.оя мегалла, в результате чего пост.едкие в большом количестве вбиваются в подложку, Благодаря этому слой метал.- ла прочно " пришивается" к полиэфирной смоле. Экспериментальным и теоретическим путем установлено что процесс "пришивания" слоя металла к полиэфирной смоле происходит при бомбардировке ионами любых элементов. Однако наибольшая эффективность процесса наблюдается при бомбардировке ионами элементов массой, равной или большей массы атомов бомбардируемого металла.Кроме того, экспериментальным и расчетным путем установлено, что наибольшая прочность сцепления слоя металла с подложкой достигает"я при выполнении определенного соотношения между величиной среднего...

Номер патента: 1045201

Опубликовано: 30.09.1983

Авторы: Балясников, Куинджи, Стрежнев, Стрельников

МПК: G02B 5/18

Метки: диффракционной, измерительной, пропускающей, решетки, фазовой

...вторую половинусистемы штрихов и наносят слой такой же толщины на открытую половинудругой грани штриховНа чертеже показано последовательнае видоизменение структуры рсшеткиматрицы в процессе ее изготовления.Предлагаемый способ реализустсяследующим образом,В слое 1 металла, напри;лер, алюминия, который был предварительнананесен на стеклянную подложку 2,алмазным резцом нарезают единую систему штрихов силметричкого двуграннога профиляПри этом грани 3 и 4нарсэанных штрихов составляют с поверхностью решетки угол сг, . Затеиэкранируют участок 5, поверхностиЛГРИЫ ПРЛМЕРНО Напи.ОвинУ ДЛИНЫштрихов и путем вакуумного испарения наносят на открытую половинуграни 3, саатветствуюшую незаэкранированному участку б поверхности,слой 7 материала,...

Номер патента: 1023197

Опубликовано: 15.06.1983

Авторы: Стрежнев, Хабиров

МПК: G01B 11/27

Метки: оптических, центрирования

...асферических поверхностейс двумя плоскостями симметрии,Цепь изобретения - обеспечение центрирования деталей с асферическими поверхностями, имеющими две плоскостисимметрии.Указанная цель достигается тем,что согласно способу центрированияоптических деталей, заключающемуся в том, что центрируемую деталь смещаютотносительно оси вращения до получениянеподвижного изображения марки, полученного в отраженном ходе лучей и производят доводку детали на асферическуюповерхность центрируемой детали накладывают вспомогательную линзу, одна изповерхностей которой сферическая вогнутая, в другая, обращенная к центрируемой детали, представляет собой четыреучастка одной сферической поверхности,симметричных относительно двух другихвзаимно перпендикулярных...

Номер патента: 1010027

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: C03B 33/10

Метки: делительной, дифракционных, нарезания, режущее, решеток

...горизонтального шарнира перпендикулярна оси основного горизонтального шарнира и проходит через лезвиерезца направляющая установлена параллельно направлению движения резца, а рычаг одним концом жестко зак-,реплен на реэцедержателе, а другимподжат к направляющей.При нарезании изменяют угол наклона рабочей грани каждого штриха,поворачивая рабочую грань резца. Ачтобы не вносить фазовых ошибок врасположении каждого штриха решетки.и снижению качества изображенияспектральных линий решеток), резецперед нареэанием каждого последующего штриха поворачивают вокругоси,проходящей через лезвие резца. Таким образом, конструкция режущегоустройства должна позволять произ -водить поворот резца вокруг оси,проходящей через лезвие резца, а для тогочтобы...

Номер патента: 1000777

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: G01J 3/18

Метки: дифракционных, рассеянного, решеток, света, спектрах

...решетки "духи" 14,образующие в совокупност рассеянныйсвет, вызванный ошибками деления.На фиг. 2 представлены "духи", соот-,ветствующие двум любым последователь.ным (К и ( К + 1)-йгармоникам вразложении функции случайных ошибокделения дифракционной решетки; результаты интерференции двух смежных"духов" 15 и 16 при различных положе.ниях прямоугольной диафрагмы 9 и относительно исследуемой дифракционной решетки 5. .ЭПредлагаемое устройство работаетследующим образом.При освещении входной щели 3 излу.чением.т источника 1 монохроматора2 с исследуемой дифракционной решеткой 5 образует в плоскости выходнойщели 6 спектраьное иэображение. Оносодержит спектральную линию 1 и суммарный фон, включающий в себя фонпомеху 12, обусловленную...

Номер патента: 998857

Опубликовано: 23.02.1983

Авторы: Журавлев, Зоншайн, Куинджи, Стрежнев

МПК: G01B 11/00

Метки: делительной, приводом

...измерительная шкала 2, подвижную часть 3 делительной машины, на которой установлена индикаторная шкала 4, источники 5 и 6 света, фотоприемник 7, детектор 8, блок 9 отсчета перемещений, привод 10 грубого перемещения, привод 11 точного перемещения, мульти- вибратор 12, ключ 13, синхронный детектор 14.Устройство работает следующим образом.Мультивибратор 12 формирует прямоугольные импульсы, поступающие в противофазе на источники 5 и 6 света. оИзмерительная и индикаторная шкалы 2 и 4 образуют растровое сопряжение, которое при перемещении подвижной части 3 делительной машины относительно неподвижной части 1 делительной машины модулирует световые потоки, формируемые источниками 5 и 6 света.Благодаря взаимному сдвигу растровых решеток,...

Номер патента: 949348

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Куинджи, Саамова, Совина, Стрежнев

МПК: G01J 3/40

Метки: дефекта, дифракционной, изображения, интенсивности, образуемого, относительной, решеткой, спектрального

...путем наклона апертурной диафрагмы, установленной перед решеткой, относи", тельно направления ее штрихов до разделения дефекта спектрального изображения от изображения вторичных дифракционных максимумовизмеряют интенсивность дефекта, выделяют вто ричный дифракционный максимум, рав" ный по интенсивности дефекту спектрального изображения, определяют положение этого максимума относи"8 фтельно спектральной линии, а относительную интенсивность 1 ь дефекта спектрального изображения вычисляют по формуле где х - расстояние между положениемвыделенного вторичного дифракционного максимума и спектральной линии;А - ширина заштрихованной поности решетки;1 - длина штрихов заштрихованной поверхности;3 - угол дифракции света от решетки;- фокус...

Номер патента: 943625

Опубликовано: 15.07.1982

Авторы: Стрежнев, Файзрахманов, Функ, Хайбуллин

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционных, копирования, реплик, решеток-матриц

...производят путем бомбардировки поверхности решетки ионами кислорода с энергией, превышающей 1 кэВ, перед упрочнением на поверхность решетки наносят слойФормула изобретения Составитель В.КравченкоРедактор Л.Авраменко Техред М, Тепер Корректор Ю.Макаренко Заказ 5101/51 Тираж 5 18 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений иоткрытий 113035, Москва,.Ж, Раушская наб., д. 4/5щФилиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,94362 родия,абомбардировку проводят при до эе, не превышающей 6 У ион/смйДифракционные решетки-матрицы изготавливают следующим образом.На полированную поверхность подложки решетки из стекла наносят термическим испарением в вакууме любым из известных методов слой алюминия с подслоем хрома толщиной,...

Номер патента: 927770

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Балясников, Куинджи, Стрежнев

МПК: C03C 17/06

Метки: амплитудных, низкочастотных, решеток

...цель достигается тем,что согласно способу изготовления низкочастотных амплитудных решеток путем нанесения на стеклянную подложку слоя алюминия, формирования 0 4 штрихов двугранного симметричного профиля с заданной постоянной решеткой прозрачных участков, слой алюминия наносят толщиной, равной 0,08-0,10 от заданной постоянной решетки, а штрихи Формируют с углом наклона граней к поверхности подложки в пределах 15-20На чертеже изображена последовательность изготовления низкочастотной амплитудной решетки.На .стеклянную подложку 1 наносят слой алюминия 2, толщиной, равной 0,08-0,10 от заданной постоянной с решетки, На слое алюминия 2 алмазным резцом формируют штрихи двугранного симметричного профиля с углом с Наклона граней 3 к...

Номер патента: 924650

Опубликовано: 30.04.1982

Авторы: Куинджи, Петров, Стрежнев, Функ

МПК: G02B 5/18

Метки: амплитудных, дифракционных, прозрачных, решеток

...граней штрихов к поверхности подложки. При этом толщина слоя алюминия выбирается равной глубине штрихов и составляет, например, 2,5 мкм. Нагрузку на алмазный резец подбирают так, чтобы глубина погружения резца при формировании штрихов ограничивалась поверхностью подложки. Затем по вышеуказанной формуле определяют напряжение и осуществляют электрохимическое оксидирование в 0;53-ном (ИБ)НРО. 650 1ности решетки создается прозрачныйокисный слой. При этом на дне штрихов образуются прозрачные участкишириной Я, Заданное соотношение между прозрачными и непрозрачными участками штрихов по ширине решетки достигается за счет равномерного окисления слоя алюминия при оксидировании.Наиболее широко используются проз.10 рачные амплитудные дифракционные...

Номер патента: 922091

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Зарипов, Стрежнев, Файзрахманов, Функ, Хайбуллин, Штырков

МПК: C03C 17/06

Метки: оптических, упрочнения, элементов

...предел дозы бомбардировки6 10"4 обусловлен тем, что при меньших дозах наблюдаемый эффект упрочнения сцепления слоя металла со стеклянной подложкой оцень мал, что непозволяет использовать также слоипри изготовлении дифракционных реше 15Дозы облуцения выше 6 10 ион/смне приемлемы для упрочнения пленокметалла, так как ионная бомбардировка дозами выше 610 ион/см, ведетк неравномерному распылению слояметалла и тем самым к увеличениюсветорассеяния слоя металла более,цем в 10 раз,Кроме того, бомбардировка большими дозами6 .10 "ион/см ) вызываетЯухудшение пластичности слоя металла,цто также вызывает повышенное светорассеяние дифракционных решеток, изготовленных на таких слоях.В предлагаемом изобретении используется физический процесс,...

Номер патента: 899714

Опубликовано: 23.01.1982

Авторы: Зарипов, Стрежнев, Файзрахманов, Функ, Хайбуллин

МПК: C23C 15/00

Метки: дифракционных, решеток

...из следующих соображений.Известно, что коэффициент распыления подложки сначала монотонно увеличивгется с ростом угла падения ионов О на мишень (здесь используется общепринятая система отсчета, когда угол отсчитывается.от нормали к поверхности), достигается максимума при некотором угле 9 = бщО 1, а затем довольно резко уменьшается до нуля при скользящем падении ионов на мишеньФиг, и 2), При углах 6 7 9С процесс распыления шероховатой поверхности становится существенно неоднородным: гладкие 1 плоские)участки поверхности покрытия распыляются медленно, тогда как скорость распыления выступов близка .к максимальной по трем причинам ( фиг.1) за счет локального повышения плотности ионного пучка на склонах выступов 5; за счет бомбардировки...

Номер патента: 884958

Опубликовано: 30.11.1981

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: B23Q 17/02

Метки: делительная, дифракционных, искривленных, нарезания, решетках, штрихов

...изображена схема делительной машины для изготовления дифракционных решеток.Делительная машина содержит станину 1, делительную каретку 2, заготовку 3 решетки, резцовую каретку 4,раздельные прямолинейные направляю- . 1 Ощие 5 и 6 резцовой каретки, резец 7,закрепленный в центре резцовой каретки 4, ось качания которого (непоказана) установлена перпендикулярно нормали к поверхности решетки, 15пружинные поджимы 8 и 9 резцовой каретки, вспомогательные направляющие1 О и 11 для поджимов резцовой кареткиопорные самоустанавливающиеся башмаки 12-14, резцовой каретки, опорныенаправляющие 15-17 резцовой каретки.Делительная машина работает следующим образом,После перемещения делительной ка -ретки 2 с заготовкой 3 на постоянную. деления...

Номер патента: 864223

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: асферических, вакуумной, дифракционных, области, разрешающей, решеток, спектора, способности, ультрафиолетовой

...решетки,50М Л 2. ЛИтеор Атеор 31 теор ЬОтсюда разрешаннцая способность В )дпя длины волны 1, может быть пред 55 ставлена в видегде к лС 1)теор А 2 Из (5) и (6)следует, что разрешающуюспособность решетки В , для длиныволны К можно определить, не измеряя непосредственно при Д , ее разрешающую способность.Таким образом, зная величину разрешающей способности В для однойдлины волны Х в заданном порядке,например, в видимой области спектраможно определить разрешающую способность К 7, для любой другой длины волны , в этом же порядке, например, ввакуумной ультрафиолетовой областиспектра.Измерение разрешающей способностиасферических решеток можно произво"дить только в стигматической областицлин волн, поскольку эти решетки, вособенности...

Номер патента: 863305

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: B23Q 17/02

Метки: дифракционной, заготовки, ориентирования, позиции, рабочей, решетки, тороидальной

...дифракционной решетки, по которой производится деление решетки, ОО - нормаль к поверхности заготовок СЬС и Сшося;- ширина участка заготовки С ОСн решетки, подлежащего делению; А и В - отступления асферической по-. 15 верхности с одной плоскостью симметрии от сферической в меридиональной плоскости на краях заготовки решеткиф д. - угол, на который заготовку асферической поверхности дополни тельно поворачивают вокруг оси,проходящей через ее геометрический центр параллельно движению рабочего органа.Ориентирование на рабочей позиции заготовки асфернческой дифракционной решетки с одной плоскостью симметрии по предложенному способу производят в следующей последовательности,Заготовку асферической дирракци" онной решетки в положении дОС...

Номер патента: 859984

Опубликовано: 30.08.1981

Автор: Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: асферическая, вогнутая, дифракционная, решетка

...приборов с исправленным астигматизмом в широкой области длин волнЦель изобретения - расширение области исправленного астигматизма вогнутых асферических дифракционных решеток в установках на окружности Роуленда.859984 Формула изобретения Составитель Д,ЖуравлевРедактор М.Лысогорова Техред А, Ач Корректор С,Корниенко акаэ 7542/70 ВНИИПИ Гос по делам 113035, Моираж 539 Подписноарственного комитета СССРэобретений и открытийва, Ж -35, Раушская наб., д.4/5 филиал ППП фПатентф, г,ужгород, ул.Проектная,Цель достигается тем, что в вогнутой асферической дифракционной решетке, содержащей структуру нелинейных штрихов в проекции на плоскость, перпендикулярную нормали к ее поверхности, имеющей радиус кривизны меридионального сечения больше радиуса...

Номер патента: 834654

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Стрежнев, Файзрахманов, Функ, Хайбуллин, Штырков

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционнойрешетки

...А. Бойкас Корректор Ю. МакаренкоТираж 539 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Редактор Е. ДичинскаяЗаказ 4050/73 зпературе Т, лежащей в пределах 535 С Т - 1500 С.Дифракционную решетку изготавливают в следующей последовательности.Полированную поверхность подложки из стекла бомбардируют на ионном ускорителе ионами металла с температурой ионизации Ти, лежащей в пределах 535 С С Ти С 500 С, например сурьмы с энергией превышающей 1 кэВ, повышаюшего адгезию последующего слоя металла, например алю.миния, к подложке из стекла. При этом в приповерхностном слое подложки из стекла образуется переходной...

Номер патента: 821420

Опубликовано: 15.04.1981

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: C03B 33/10

Метки: делительноймашины, дифракционныхрешеток, плоских, режущее

...изобретения - повышение точности изготовления дифракционных решетокНа фиг. 1 изображена схема режущего устройства; на фиг. 2 - то же, Формования профиля штриха.Предложенное устройство содержит каретку 1, к которой шарнирно под" вешен резец 2, причем ось аа подвески шарнира 3 установлена параллельно лезвию резца, образоваькву пересечением рабочей грани 4 резца с другой его гранью 5 - эа 1 стовка с нанесенным на нее формуемым покрытием 6 для нарезания дифракциойной решетки, 7-груз для создания давления резца 2 на покрытие б. Полэун 8 шарнира подвески 3 резцедержателя установлен на дугообразной направляющей 9 каретки 1 с возможностью перемещения по этой направлякщей относительно оси, совпадакщей с леэ 50 55 60 Поставленная цель достигает я...

Номер патента: 811192

Опубликовано: 07.03.1981

Авторы: Лукашевич, Петров, Стрежнев, Функ

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционных, отражающихкопий, решеток

...разделительного и защитного слоев, приклеивания стеклянной подложки, отделения копии, удаления разделительного слоя и нанесения в вакууме отражающего покрытия, отражающее покрытие наносят на разделительный слой перед нанесением защитного слоя.Отражающие копии дпфракцпонных решеток по предложенному способу изготавливаются в следующей последовательности.На дпфракционную решетку-матрицу, поверхность которой защищена любым из известных способов, наносят в вакууме разде811192 Формула изобретения Составитель М. Шойтов Техред А, Камышникова Корректоры: О. Силуянова и О. ТюринаРедактор И. Квачадзе Заказ 519/17 Изд. Хо 246 Тираж 553 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35,...

Номер патента: 800940

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Балясников, Куинджи, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: амплитудная, дифракционного, интер-ферометра, осветительнаярешетка, пропускающая

...дифракционной З решетки.устройство содержит подложку 1 решетки из прозрачного материала (стекла), непрозрачные штрихи 2 решетки, покрытие 3 из непрозрачного материала, нанесенного на поверхностирешетки.На чертеже обозначены геометрическая ширина АВ=5 пропускающего участ/ Ф / ка штриха, эффективная ширина А В =5 пропускающего участка штриха, угол 40, К наклона граней штрихов к поверхности решетки, толщина и прозрачного покрытия, расстояние между мнимыми изображением пропускающего участка штриха АВ и преломляющей вогнутой поверхностью над ним, качало О координат по оси 2, совпадающее с преломляющей поверхностью покрытия из прозрачного материала, центр 9 кривизны преломляющей поверхности, цент-. ральная.точка М пропускающего участка...

Номер патента: 773557

Опубликовано: 23.10.1980

Авторы: Куинджи, Лукашевич, Петров, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вакуумной, вогнутая, дифракционная, области, решетка, спектра, ультрафиолетовой

...а границы частей покрытия расположены от начала решеткина расстояниях.где Н - радиус кривизны решеткиК - порядок спектрами- длина волны, при которойвысокоотражающие покрытиясмежных ь и ь+1 частей имеютравные коэффициенты отражения;й .- период решетки;.8 - угол между падающим и дифрагированным пучками в схей ме использования решеткиА - ширина решетки- угол между гранями штрихови плоскостью деления для55центрального участка решетки,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРр Ю 387319, кл. С 02 В 5/18, 1973.2,3 оаейоЕ Орисаб эосе 1 ц а 1 Аеегсап,у,43,1 рбз,с,Вишь,3. Оптика и спектроскопия, Л.,Наука, т.16, 1964 с, 133 (ирототип 1увеличивается до двух и более раз в зависимости от ширины...

Номер патента: 744166

Опубликовано: 30.06.1980

Авторы: Белозеров, Воробьев, Пикулев, Стрежнев, Шмелев

МПК: F16F 9/02

Метки: виброизолирующая, опора, пневматическая

...вкладыш представляет собой по крайней мере одну диафрагму, упругопластинчатый пористый материалгистерезисную резину,На фиг. 1 показана предлагаемая опорас вкладышем из упругопластичного материала, общий вид; на фиг. 2 - вариантвиброизолирующей опоры с выполнениемвкладыша в виде диафрагм из гистерезисной резины.Пневматическая виброизолирующая опора содержит камеру 1 переменного объема,камеру,2 постоянного объема, сообщающиеся между собой дроссельным отверстием3. В камере 2 постоянного объема установлен вкладыш 4 из упругопластичного пористого материала с неупругой характеристикой жесткости, например из пенополиуритана. Вкладыш 4 может быть выполнен ввиде одной или нескольких диафрагм 5 изпористой гистерезисной резины.Работа опоры...

Номер патента: 678442

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Балясников, Баранов, Петров, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: высокочастотная, дифракционная, решетка

...упругости всехслоев от слоя к слою изменяются монотонно,На фиг. 1 представлена решетка, выполненная на пластичных слоях с увеличивающимсямодулем упругости; на фиг. 2 - то же, с уменьшающимся модулем упругости.На стеклянную подложку 1 вакуумным напылением наносят подслой 2 хрома, которыййеобходим для увеличения адгезии "к стеклупоследующего слоя. Затем вакуумным напылением наносят слой пластичного материала 3,например алюминия. После этого наносят вакуумюым 1 напылением последующие дополнитель.- ейные слби пластичных материалов с увеличйвающиь+ся модулем упругости, например слой 4. меди, а затем слой 5 никеля. Устанавливаютзаготовку на делительную машину и производят нарезание штрихов решетки алмазным рез.цом мЕтодом пластической...

Номер патента: 602310

Опубликовано: 15.04.1978

Авторы: Балясников, Стрежнев

МПК: B23B 29/04

Метки: резцедержатель

...тора по конусу корпуса 8 всторону, обратную от алмаза, что компенсирует удлинение головки резца и ус упадержавки, вызванное нагревом алмазногорезца. Это позволяет сохранить постоян- брной скорость подачи резца на планшайбупри его шлифовании. Смешение державкивдоль,ее оси в направлении, противоположном алмазу, обеспечивается пружиной 7.Усилие прижима элемента 4 к конусу кор - Мпуса регулируют так, чтобы оно превышало давление на резец при шлифовании.При шлифовании алмаза трение его опланшайбу увеличивает. температуру алмазной головки резца и державки, что приво 4дит к увеличению их линейных размеров внаправлении подачи на ЬН. где Н 1 - длина головки резца до шлифования;Н - длина уступа державки до шлифования;- коэффициент линейного...

Номер патента: 599242

Опубликовано: 25.03.1978

Авторы: Куинджи, Лукашевич, Стрежнев

МПК: G02B 5/30

Метки: решетокполяризаторов

...из штрихов копии (сечение плоскостью, перпендикулярной к направлению штрихов),Предлагаемый способ осуществляют следующим образом, 40На решетку - матрицу 1, содержащую штрихи ступенчатого профиля и предварительно защищенную моноокисью или двуокисью кремния (б) О или Ь(О) наносят вакуумным испарением разделительный слой 2 и металлическое покрытие 3. При этом решетку - матрицу ориентируют так, чтобы ее рабочая поверхность была расположена под косым углом к направлению на испаритель, а испаряе- бО мый материал (направление его распространения указано на чертеже стрелками) конденсировался на одной из граней штрихов.Затем контактным копированием (см, фиг. 2) с решетки - матрицы 1 снимают прозрачную копию 4. При этом металлическое покрытие...

Номер патента: 563268

Опубликовано: 30.06.1977

Авторы: Балясников, Бывальцев, Стрежнев

МПК: B24B 3/36

Метки: алмазных, заточки, резцов

...центр дуговых направляогцих совмещен с рабочеи поверхностью планшайбы, а механизм качания уста Привод 1 устройства кинематическп сьязан со шпинделем 2 и планшайбой 3. На опорной плите 4 на юстировочных винтах 5 установлен стол 6 с направляющими 7.На заточной каретке 8 в плоскости, нормальной к рабочей поверхности планшайбы,скооа 9 с дуговыми правляющими 10, несущими резцедержатель 11 с затачиваемым резцом 12. На резцедержателе установлен механизм качания 13.Процесс заточки осуществляется следующим образом.Резцедержатель 11 устанавливают относительно рабочей поверхности планшайбы 3 на заданный угол заточки резца, перемещая резцедержатель по дуговым направляющим 10. Скоб 9 поворачивают вокруг оси планшайбы 3 с целью установки...

Номер патента: 561923

Опубликовано: 15.06.1977

Авторы: Стрежнев, Хайбуллин, Штырков

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционных, копирования, реплик, решоток-матриц

...в производстве решеток, слой алюминия не оксидируется. Однако подслой - титан, полученный термическим испарением в 30 бретения является увеличениешетки,561923 Составитель В. ВанторинТехред 3. Тараненко Редактор С. Хейфиц Корректор А. Степанова Заказ 1613/2 Изд. Ме 55 Тираж 633 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская паб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, в Это достигается тем, что по предлагаемому способу упрочнение производят путем бомбардировки поверхности решетки ионами кислорода с энергией, превышающей 1 кэВ.Дифракционные решетки-матрицы по описываемому способу изготавливают следующим образом,На полированную поверхность подложки решетки из...

Номер патента: 561922

Опубликовано: 15.06.1977

Авторы: Куинджи, Стрежнев, Хайбуллин, Штырков

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционных, решеток

...рсшеткц по предложенномуспособу изготавливают в следу 1 ощсй последовательности.Полированную поверхность подложки решетки из стекла бомбардируют на ионном ус корителе оыстрымц ионами того же металла,5 вг 922 Составитель В, ВанторинТехред 3. Тараненко Редактор С. Хейфиц Корректор А. Степанова Заказ 1613/1 Изд Мо 551 Тираж 633 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 например алюминия, что и последующий слой металла алюминия, в котором формируют штрихи решеток. При этом в поверхностном слое стекла подложки образуется слой металла, настолько прочно связанный с подложкой, что его можно удалить с подложки...