G01N 25/72 — обнаружение локальных дефектов

Страница 3

Устройство для тепловой дефектоскопии

Загрузка...

Номер патента: 1317348

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Геращенко, Гурьянов, Декуша, Поник

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

...испытаний дефектов температура поверхности нагревателя над ними повышается. Это приводит к резкому нарастанию электросопротивления участков нагревателя, находящихся в зоне дефекта, а следовательно, и электросопротивления его секции, в которые входят эти участки, что регистрируется электро- измерительной аппаратурой. Это позволяет определить наличие дефектов в объекте и приблизительное их местоположение.Определив секции с дефектными зонами. дроизводят дополнительную ре 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 гистрацию электрических сопротивлений секций через блок контактов для точного определения местоположения дефектов. Условно присваивая секциям порядковые номера, производят регистрацию их электрических.сопротивлений, (например, прибором...

Теплометрический дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1318890

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Варганов, Геращенко, Дымченко, Коннов, Платонов

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, теплометрический

...ППТП 2. С выхода дифференциатора 10 сигнал поступает наамплитудный детектор 1.1. При этом напряжение Бя на выходе амплитудного детектора 11 равно максимальной скорости уменьшения напряже 10 ния на ППТП 2 и характеризует максимальную скорость убывания теплового потока через ППТП 2, т.е, скорости нагрева контролируемого тела. Сигналы Б и Б, с выходов дифференциатора 10 и детектора 11 поступают на входы измерителя 14 отношения, Он формирует управляющий сигнал, сбрасывающий триггер 15 в исходное состояние, при достижении определенного отношения 15 20 го участка. Участок контролируемого образца с дефектом обладает меньшей объемной теплоемкостью, чем беэдефектный участок, из-за уменьшения его плотности. Поэтому напряжение на входе...

Способ тепловой дефектоскопии тел вращения

Загрузка...

Номер патента: 1318891

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Бородин, Стороженко, Ушаков

МПК: G01N 25/72

Метки: вращения, дефектоскопии, тел, тепловой

...Амплитуды сигналов обусловлены такими факторами, как мощностьлокального нагревателя 3, наличиедефектов в образце и его угловая скорость, излучательная и поглощательная способность сканируемых участков. Визуализация сигналов по строкам осуществляется при помощи дисплея или самописца, Сущность предлагаемого способа заключается во взаимодействии элементов 8-12 с меридиональной меткой 2.В каждой строке сканирования, когда перед датчиком радиометра 4 проходят участки образца 1, амплитудчый дискриминатор 8 находится в запертом состоянии, поскольку в это время ам-. плитуда сигналов радиометра ниже порога амплитудного дискриминатора 8. При этом в сумматор 11 не поступают сигналы от интегратора 9 и генератора 10 эталонных сигналов, а в ЗУ...

Способ неразрушающего контроля теплофизических характеристик материалов изделия

Загрузка...

Номер патента: 1352332

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Битюков, Колесников, Серых, Смыслов, Страхов, Сысоев, Ященко

МПК: G01N 25/72

Метки: изделия, неразрушающего, теплофизических, характеристик

...металлического материала с температурой плавления выше температуры плавления материала эталона. В прокладку 7 встроен контрольный термоприемник 8. Нагреватель 2, контрольный термоприемник 8, нагревательный элемент 4 и измерители 9, 10 и 11 температуры подключают к блоку 12 регулирования и электропитания.Устройство работает следующим образом.Эталон 1 устанавливают на поверхности исследуемого изделия 5, подают 40 напряжение на нагревательный элемент 4. После разогрева материал эталона (выполненный из материала с невысокой температурой плавления, например полистирол, воск) переходит в текучее 4 состояние, а груз 6 совместно с прокладкой 7 прижимает вязкую массу к поверхности исследуемого материала 5 и эталон принимает форму поверхности...

Устройство для термоакустической дефектоскопии приповерхностных слоев твердых тел

Загрузка...

Номер патента: 1402922

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Гостев, Дунин, Новак, Павленко, Рау, Шестаков

МПК: G01N 25/72, G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, приповерхностных, слоев, твердых, тел, термоакустической

...пирометром по сопутствующему увеличению теплового излучения от объекта и зависит только от теплоемкости и теплопроводности (т.е, от тепловых свойств) облучаемого участка. Одновременно в зоне облучения локального участка объекта возника ют тепловые возмущения, которые генерируют термоупругие деформации, несущие информацию как о тепловых свойствах, так и, об упругих неоднородностях микроструктуры объекта.Эти механические деформации распространяются через объект и регистрируются пьезоэлектрическим датчиком 4, который смонтирован на держателе 5 объекта.Сигналы с двух датчиков 4 и 7 усиливаются двумя зарядово-чувствительными усилителями 8 и 9, а затем обрабатываются (например, суммируются или вычитаются) и усиливаются в сумматоре 10, после...

Теплометрический дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1420498

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Дымченко, Иванова, Платонов, Серафимович, Сотник

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, теплометрический

...1 теплового потокадо определенной температуры. Задан. -ную величину перегрева над температурой окружающей среды обеспечиваетэлектродный терморегулятор 3. Затемнагретый преобразователь 1 приводится в контакт с контролируемым образцом. В момент контакта происходит нестанционарный процесс передачи тепловой энергии посредством тепловогопотока от нагревателя 2 к контролируемому образцу, Тепловой поток,регистрируемый первичным преобразователем 1, сначала увеличивается, азатем экспоненциально убывает до некоторого станционарного уровня, определяемого теплообменом контролируемого образца с окружающей средой. Напряжение, генерируемое первичнымпреобразователем 1, поступает одновременно на входы интегрального канала 4,...

Тепловой дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1469418

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Будадин, Димитриенко, Пахомов, Рапопорт

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, тепловой

...ее и на время дальнейшего 1контроля иэделия на выходе схемы ,И 29 устанавливается сигнал "0". Формирователь 33 импульсов по отрица-;. тельному перепаду напряжения ка его входе из, "1" в "0" формирует на своем выходе короткий импульс, поступающий на второй вход (вход установ ки в нулевое состояние) триггера 27, По приходу этого импульса на выходе триггера 27 устанавливается сигнал ОкПри перемещении зоны контроля на 15 дефектный участок контролируемого изделия 37 на выходе порогового устк 1 ройства 7 формируется сигнал 1 который поступает на первый вход схемы И 10. При этом схема И 10 на чинает пропускать на свой выход импульсы, поступающие на ее второй вход с генератора 11 тактовых импульсов. Одновременно с выхода инвертора 8 сигнал...

Способ неразрущающего контроля изделий из диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1474531

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Исаков, Легуша, Пасынков, Пугачев, Финагин

МПК: G01N 25/72

Метки: диэлектрических, неразрущающего

...(сплошная кривая - образец имеет однородную структуру материала,пунктирная кривая - образец, материал которого имеет неоднородность структуры); на фиг. 4 - то же, на пятой (и = 5) моде собственных колебаний; на фиг. 5 - то же, на третьей моде собственных колебаний при наличии в изделии дефекта типа разрыва сплошности среды.Устройство для осуществления предлагаемого способа содержит контролируемое изделие 1, закрепленное дер31 5 14745 жателем (не показан), средство наблюдения и регистрации температурного распределения на поверхности 2 изделия 1, например тепловизор или уст 5 ройство с термочувствительнойжидкокристаллической пленкой (не показано), внешний источник - возбудитель в контролируемом изделии 1 акустических колебаний,...

Нагреватель теплового дефектоскопа

Загрузка...

Номер патента: 1481659

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Богданович, Гагис, Елкина

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопа, нагреватель, теплового

...отраженыпараболоцилиндрических понотражателей 2. Отражателины таким образом, что осиний пересекаются под углодругу в точке, находящейсяролируемом объекте,тн На жен нагреватель,общий нид,Нагревател источники 1 и ми 2, которые болоцилиндрон углом друг к крепления ист ит линейнь содерж лучения ныполне положесечес отражатн Аорме ены под ементы обеспеч дру 1 к а конти расположругу, и элчникон 1,иваюГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР К А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТ(54)(57) 1. НАГРЕВАТЕЛЬ ТЕТОСКОПА содержащий линеник излучения с отражателтом крепления, о т л и чс я тем, что, с целью пч стнительности и произв зобретение относится к областинного теплового контроля и, преимущественно, предназначено для нагрева поверхности...

Тепловизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1497543

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Арсентьев, Бекешко, Воронин, Ковалев

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, тепловизионный

...апостериорной обработки результатов измерений,Объект 10 контроля нагревается источником 1 нагрева, В начальный момент времени (время после начала нагрева) 30 мс по команде блока 9 команд блок 3 коммутации подключает выход тепловиэионной камеры 2 к блоку 4 памяти, при этом осуществляется запись (эапоминание) одного кадра, теплового изображения, Через заданное время, требуемое для нагрева объекта контроля (от 100 мс до нескольких минут) блок 9 команд выдаетний обеспечивает повышение производительности контроля. Формула и з о б р е т е н и я Фие. 1 Составитель В.Немцев Редактор Ю.Середа Техред д,олийнык КорректоР Л.Патайаказ 4437/45 Тираж 789 сное НИИПИ Государственного комитета по и ям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Жб...

Способ тепловой дефектоскопии строительных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1518755

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Беганов, Иванов, Лобанов

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, строительных, тепловой

...ачомалии с максимальным, температурным контрастом соответствует теплопроводное реброжесткости наибольшей ширины. Для повышения точности определения шириныребра величину контраста между точками принимают в линейном диапазонезависимости температуры от расстояния максимально возможной и ограничивают снизууровнем 06 исходя изконструктивных особенностей изделийи уровнем 0,95, исходя из чувстви 50тельности измерительной системы, Дляопределения ширины ребра жесткости,регистрируют величину этого контраста и измеряют расстояние Х и Хпоглади панель вдоль нормали к торцовым поверхностям на участке от точки с максимальной температурой додвух точек с температурным контрастом, составляющим соответственноК = 0,6 и К 0,95 от и-рен.ого.Для обеспечения...

Тепловой дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1520424

Опубликовано: 07.11.1989

Автор: Пахомов

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, тепловой

...5, где30 преобразуется в электрический сигнал соответствующей величины. Интенсивность инфракрасного излучения, поступающего на вход фотоприемника 5, зависит как от наличия дефектов в контролируемом изделии 20, так и от Искажений температурного поля поверхности контролируемого изделия, обусловленных действием факторов,не связанных с дефектами иэделия. Электрический сигнал с выхода Фотоприем 40 ника 5 усиливается усилителем 6, детектируется детектором 7 и поступает на вход первого блока 8 дифференцирования, который формирует на своем45выходе сигнал У= -- Ж (ЙЙТ1где У,(й) - сигнал, поступающий на вход первого блока 8 дифференцирования. Второй блок 9 дифференцирования формирует на своем выходе сигналд П(1) = -- (П (1, который одновременно...

Способ дефектоскопии поверхности изделий с алюминийсодержащим покрытием

Загрузка...

Номер патента: 1520425

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Белокур, Гаврилин, Мизин, Руднев, Ряполов, Яськин

МПК: G01N 25/72

Метки: алюминийсодержащим, дефектоскопии, поверхности, покрытием

...на этом фоне практически дефек 40ты не выявляются.Увеличение чувствительности иразрешающей способности способа достигается за счет уменьшения температуры нагрева, в результате чегоуменьшается время нагрева и, какследствие, уменьшается влияние теплопроводности на создание перепадатемпературы в дефектных местах.Кроме того, согласно предлагаемому способу чувствительность и разрешающая способность увеличиваются также за счет исключения тепла, которое шло на нагрев фонообразующей составляющей.Таким образом, при применении . предлагаемого способа достигается большая производительность способа за счет применения нового состава индикаторного вещества, в результате чего исключается операция его сушки, а также за счет сокращения времени нагрева в...

Тепловой дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1532858

Опубликовано: 30.12.1989

Авторы: Будадин, Пахомов, Рапопорт

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, тепловой

...коэффициентом усиления по 45 напряжению. Пороговые устройства 13 и 5 при повышении амплитудой сигнала на их входе некоторого порогового значения П, формируют на своем выходе сигнал логической, "1". Если амплитуда сигнала на входе, порогового устройства 13 или 15 не превышает 11, то на выходе порогового устройства 13 или 15 формируется сигнал логического "0". С выходов второго 15 и третьего 13 пороговых устройств сигналы поступают соответственно на первый и второй входы первой схемы ИЛИ 16.С выхода первой схемыИЛИ 16 сигнал поступает на вход триггера 17.Триггер 17 при изменении сигнала логического "0" на его входе на логическую "1" изменяет свое состояние на противоположное. С выхода триггера 17 сигнал поступает на первый вход схемы...

Способ обнаружения дефектов изделия

Загрузка...

Номер патента: 1538107

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Безверхий, Горулько

МПК: G01M 3/00, G01N 25/72

Метки: дефектов, изделия, обнаружения

...пропускают холодную воду или криогенную жидкость, например жидкий азот., Если система 2 охлаждения крецится к фпанцу .1 пайкой, то материал., из которого они изготовлены, должен допускать пайку, например латунь, медь и пр. Источник 6 тепла может представлять собой металлическийпредмет пРоизвольной. формыно по размерам меньше диаметра трубчатого корпуса ввода, к которому одним иэ известных методов осуществлен подвод тепла, например путем нагрева дроволочной спиралью, до которой пропускают электрический ток. Если необходим импульсный нагрев, то дрименяют тепловой, источник, выполненный в виде микрохолодильника Пельтье фЩ) запитываемого от коммутируемого источника постоянного тока, Через РП пропускают импульс постоянного тока определенной...

Способ неразрушающего контроля металлоконструкций

Загрузка...

Номер патента: 1571490

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Иванова, Пустовой, Шанявский

МПК: G01N 25/72

Метки: металлоконструкций, неразрушающего

...теплового поля в указанных зонах позволяет выделить из всей совокупности узлов и элементов конструкции области, в которых произошло зарождение и развитие трещин или материал подготовлен к началу процесса роста трещины. Фиксирование участка с максимальной температурой позволяет определить размер зоны процесса деформации, в пределах которой происходят необратимые повреждения материала, обус-. лавливающие распространение трещин. При удалении от вершины несплошности или от концентратора нагрузки на расстояние Л 1 достигается максимальное тепловыделение в условиях минимального стеснения реалируемой пластической деформации, что соответствует максимальному теплоизлучению. Измерение кратчайшего расстояния д 1 от этих участков до...

Способ обнаружения локальных дефектов внутренних диэлектрических покрытий металлических аппаратов

Загрузка...

Номер патента: 1589180

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Ободов, Решетов, Туманянц

МПК: G01N 25/72

Метки: аппаратов, внутренних, дефектов, диэлектрических, локальных, металлических, обнаружения, покрытий

...а также высоким значением температуропроводности. Эти факторы оказывают влияние на величину дефектного температурного контраста, разности температур дефектного и бездефектного участков наружной поверхности аппарата. Увеличение термического сопротивления стенки аппарата и растекание локального пятна прогрева при увеличении толщины стенки аппарата при постоянном точечном источнике тепла уменьшает величину дефектного температурного контраста, необходимого для достоверного выявления дефектов.Экспериментально установлено,что для выявления дефектов эмалевого покрытия с раскрытием не менее 0,01 мм при толщине металлической стенки аппарата 20-40 мм необходимо подавать напряжение 6-12 В в виде импульсов длительностью 2-3 мин, Более...

Способ тепловой дефектоскопии

Загрузка...

Номер патента: 1599743

Опубликовано: 15.10.1990

Автор: Панов

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

...эвтектической прослойки. В условиях общего нагреваметалл не имеет упругих свойств и разрушение в участках эвтектики не происходит. при локальном нагреве под воздействием высокой температуры эв1599743 Тектическая фаза, расположенная поГраницам зерен, подплавляется илирасплавляется. Поскольку матрица ос"тается в твердом состоянии, то приохлаждении под влиянием растягивающих напряжений происходит разрыв жидкой прослойки. В зависимости от количества эвтектики, жесткости контура и других причин образуются либоТрещины, наблюдаемые визуально, либомикротрещины, Для их выявления осуЩествляют локальный нагрев многократво. В таблице приведена кинетика разития микротрещины в трещину подвлиянием многократного нагрева. В процессе эксплуатации...

Способ тепловой дефектоскопии

Загрузка...

Номер патента: 1627954

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Деркачев, Дмитриев, Желнов, Канарчук, Кротенко

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

...которого меньше, чем у контролируемо;о изделия. Затем создают температурный градиент, нормальный поверхностям твердотельного слоя и изделия, после чего регистрируют распределение температур на поверхнос 1 и этого слоя в различные моменты времсни для определения локальных различий в скорости ее остывания. Наличие твердотельного слоя с низкой температуропроводностью способствует увеличению длительности существования кратковременных локальных отклонений температуры, обусловленных мелкими дефекта ли, и тем самым облегчает их регистрацию,Ыи создается температурный градиент, норЬ) мальный к поверхности контролируемого изделия и регистрируется температурное поле этой поверхности в различные (Л моменты времени для определен ия раз личий в...

Способ тепловой дефектоскопии стальных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1627955

Опубликовано: 15.02.1991

Автор: Дорошенко

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, стальных, тепловой

...кВт/см и часг татах источника тока 58-82 кГц получаем 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 четкую картину дефекта и дефектной зоны по контуру, т,е, возможен контроль скрытых дефектов, Следовательно, данный интервал удельной мощности и частот тока является оптимальным при дефектоскопии с исследованием данного изобретения.При дефектоскопии конкретных изделий в конкретных случаях нагрев детали осуществляют источником электрического тока с определенной мощностью и фиксированной частотой. При этом глубина нагрева пропорциональна времени нагрева и, следовательно времени появления градиента светимости на поверхности детали, которое в данном решении используется для определения глубины залегания дефектов в изделии, Глубину залегания дефектов при...

Способ неразрушающего контроля изделий из диэлектрических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1642348

Опубликовано: 15.04.1991

Авторы: Легуша, Пасынков, Финагин

МПК: G01N 25/72

Метки: диэлектрических, неразрушающего

...ых четн ых собствен н ых мод продольных колебаний, а затем регистрируют температурное распределение ЬТп(х,у) на поверхности 2 изделия, параллельной направлению 3 колебаний. Вид распределения Ь Тп(х,у) зависит от степени однородности внутренней структуры материала изделия и номера моды колебаний и, возбуждаемой в нем,Так, например, в изделиях в виде пластин, изготовленных из однородного неполяризованнЬго диэлектрика, четные моды собственньх продольных колебаний вообще не возбуждаются и какое-либо температурное распределение на поверхности пластины не возникает. Такие изделия должны быть подвергнуты дальнейшим испытаниям посредством одного из известных способов неразрушающего контроля изделий из диэлектрических материалов на...

Способ контроля теплофизических неоднородностей материалов

Загрузка...

Номер патента: 1661636

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Ребони, Шалин

МПК: G01N 25/72

Метки: неоднородностей, теплофизических

...фотоприемник, где интерферируют с преобразованием в электрический сигнал, который соответствувт разности хода лучей и пропорционален величине тепловой деформации материала, характеризующей его теплофизическую неоднородность. 1 ил,точника б получают световой пучок, который пропускают через светоделитель 7 и преобразуют формирователем 8 в два когеррентных пучка, проходящих через светоделитель 3 и фокусирующую систему 4 таким образом, что один из них сфокусирован в центре участка нагрева, а другой - вне центра на периферийном расстоянии, определяемом длиной тепловой диффузии материала, Отражаемые от поверхности 5 когеррентные пучки света, имеющие разность хода лучей, проходят в обратном направлении через формирователь 8 и светоделитель 7 и...

Способ неразрушающего теплового контроля качества объекта

Загрузка...

Номер патента: 1684649

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Кукушкин, Лебедев, Трофимов, Шакимов

МПК: G01N 25/72

Метки: качества, неразрушающего, объекта, теплового

...поп 16846495 10 15 20 25 30 35 40 ученных после предыдущего этапа нагружения, представлены на фиг.2.Способ реализуется следующим образом.В исследуемом объекте 4 (фиг,1) создают температурное поле генератором 1 сигналов за счет возбуждения в объекте механических колебаний при помощи возбудителя 3, соединенного с генератором 1 через усилитель 2, Колебания объекта регистрируются при помощи датчика 5 и осциллографа б, а температурное поле на его поверхности - при помощи приемника 7 теплового излучения. По полученным значениям температуры 1 строятся зависимости 1 - 1(М), которые эквивалентны зависимостям температуры поверхности объекта по времени.При отсутствии в объекте дефекта скорость изменения температурного поля от нагружения к...

Способ определения мест газовых полостей в изделии

Загрузка...

Номер патента: 1575690

Опубликовано: 30.01.1992

Авторы: Бондарик, Ермаков

МПК: G01N 25/72

Метки: газовых, изделии, мест, полостей

...прй ра женин увеличивают свои размеры и ко определяются.П р и м,е р 1. Контролир Систему, например эакальцовк дувают горячим воздухом с те рой 6080 С. После прогрев мы Фиксируют ее термаграмму,1575690 Изобретение позволяет легко определить места газовых полостей для их последующего устранения. Формула и э о б р е т е н и я Составитель Л. ПилишкинаТехред И.ХоданичКорректор Т Палий Редактор Л. Народная Заказ 797 Тираж 228Подписное ВНИИПИ Государственного комитета ца изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, ЖРаушская наб д. 4/5 Производственно-ИэлательсКИй комбинат "Патент", г.ужгород, уЛ. 1 агарипа,101 1 одают жидкость и производя г прокачку с изменением направления теченияжипкости, Трубопроводы, в которыхциркулировала...

Способ тепловизионного контроля внутренних дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1712852

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Вавилов, Сапцин

МПК: G01N 25/72

Метки: внутренних, дефектов, тепловизионного

...покадру в моменты времени х, х 2 и хз былиравны друг другу. Математическая обработка результатов измерений включает формирование функций 012-0(г,х 1)/0(гХг): 01 з== О(г, х 1)/О(г, гз), 02 з=О(г, х 2)/0(т хз, усреднение по координатам функций Ои, Оз,Огз, формирование относительных контрастов А 12=012/012 1, А 13=013/013-1 А 2 э = 02 з/02 з - 1, формирование пространственных Фурье-Образов А 12, А 13, А 23 функций Аи, А 1 з, А 2 з, фильтрацию полученных Фурье-образов в соответствии с выражени- ЯмИ .,- л 4 фаУффЧ 1 ч, 1 =-А щеуф л л 1 А т -4 чач, -4 дЧ 2 л-4 а У б -4 афЧИе 1где ч=(чхчД - вектор пространственнойчастотыч =чх + чт, а - температуропровод 2 2 2ность материала изделия,и выполнение обратного Фурье-преобразования функций р Иф, О...

Эллипсометрический способ дефектоскопии

Загрузка...

Номер патента: 1714479

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Мишутин, Платонов, Трубицын

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, эллипсометрический

...треугольника, а одинаковые напряжения подают в средние точки его катетов, измеряют относительно этих точек величины токов по направлениям катетов четырех треугольников, образованных совокупностью измерительных точек, и находят координаты дефекта из системы уравнений у-у(о) (х-х 1(о щ у, 3=1,2п, (1) где х,у - щординаты дефекта, м;хфу - координаты средних точек катетов равнобедренного прямоугольного треугольника,м;=а +аь =1,2, Р)(о) 0) 0) 0) О 3 =агс 9 211 - Ь - зй йгде 1, 1, 1 з - величиных токов, А.На фиг. 1 приведена блзации способа; на фиг. 2 -прямоугольный треугольниформулы для вычисления угСпособ еализ ется сл Р у узом.Устанавливают фиг, 1) четыре источника 1 тока и два источника 2 напряжения, подключенные выходами...

Тепловизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1827611

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Делик, Маташков, Пахомов, Фесенко

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскоп, тепловизионный

...нагрева объек тепловизионную камеру, поте формирователь видеосигналов манд. мый для нагрева объекта контроля, блок 5 выдает команду на осуществление 2-й кадровой развертки потенциалоскопа 3, работающего в режиме вычитания сигналов, В результате этого на экране потенциалоскопа будет зарегистрировано изображение, зависящее от значений разностных сигналов каждой строки от 1-й и 2-й кадровых разверток, то есть полученное изображение качественно характеризует амплитудное значение дефекта и его размеры, а на выходе потенциалоскопа формируется разностный сигнал каждой строки 2-й кадровой развертки потенциалоскопа, который формирователем 4 видеосигналов преобразуется в видеоимпульсы постоянной амплитуды. Уровень амплитуды выбирается выше...

Способ обнаружения трещин и неровностей поверхности в металлических заготовках

Загрузка...

Номер патента: 1838779

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Ингве, Хельяр, Ян

МПК: G01N 25/72

Метки: заготовках, металлических, неровностей, обнаружения, поверхности, трещин

...за 0,1 с после выхода детали из индукционной катушки. Предпочгительно, чтобы температурный профиль был записан менее чем за 0.05 с после выхода дезли из индукционной катушки.Когда способ, соответствующий настоящему изобретению, применяется для обнарукения трещин в немагнитной стали, используют индукционную катушку с частотой до 50000 Гц. Это достаточно для обеспечения надежного обнаружения трещин нормальной глубины. В случае магнитной стали используют частоты в диапазоне от 100 до 1000 Гц, Частоту, требуемую для конкретного материала, можно найти, на основе известных соотношений между глубиной проникновения тока и электрическим удельным сопротивлением и проницаемостью,На чертеже показана схема устройства, которая может быть использована...

Способ диагностики повреждений металла оборудования

Загрузка...

Номер патента: 2003084

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Ватник, Рабинович

МПК: G01N 25/16, G01N 25/72

Метки: диагностики, металла, оборудования, повреждений

...мм, 5В образцах делаются отверстия дпяприварки термопары.Часть образцов помещается в лабораторную печь типа СНОЛ,6-2,5 1(11-Ь,где проводится полный отжиг. Таким обра. эом получают эталонные образцы,Одну группу эталонных образцов подвергают длительному старению при температуре эксплуатации по методике, описанной в справочнике "Металловедение и термическая обработка стали" - под редакцией М.Л,Бернштейна и А.Г.Рахштадта,Другую группу эталонных образцов подвергают длительному старению при температуре эксплуатации под напряжением, соизмеримым с рабочей нагрузкой оборудования по методу, соответствующему требованиям ОСТ 108.901,102-78,Третью группу эталонных образцов подвергают испытаниям на ползучесть с фиксированной степенью деформации...

Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов

Номер патента: 1396756

Опубликовано: 20.02.2000

Авторы: Арсентьев, Бекешко, Воронин, Ковалев

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

1. Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов, включающий облучение их поверхности источником излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля путем установления помех, связанных с изменением излучательной способности контролируемой поверхности, получают два тепловых изображения объекта контроля в интервале до 30 мс после включения источника излучения и после выключения источника излучения совмещают полученные изображения и по соответствию аномалий изображений отличают истинные дефекты от ложных.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что первое тепловое изображение объекта контроля получают в отраженном излучении источника излучения.