Способ тепловой дефектоскопии

Номер патента: 1627954

Авторы: Деркачев, Дмитриев, Желнов, Канарчук, Кротенко

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕ;СКИХсОциАлистическихРЕСПУГЛИК 5)5 8 01 й 25/7 К АВТОРСК СВИДЕТЕЛЬСТВ но-дорожныи,нс л Октябрьскои со Деркачев .Дмитрие нии М 21 Я 4 97 73-15.4 1970.(54) СПОСОБ ТЕРИИ ЛОЬОУ ДЕФЕКТОСКО(57) Изобретениеразрушающему кпольэовднодля онарушений сплоштак и в слоистых относится к теплово нтрог ю и может бы наружения дефекто ности как в однор материалах. Цель и му неть исвтипа дных, сбрео изде- материаодности мператуГОСУДАР СТ В Е ННЫ Й КОГЛИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫф ИЯ 1ПРИ ГКЗ,Т СССР ОПИСАНИЕ И(53) 536.2(088,8)6) Патент Великобритакл. 0 01 М 25/72, 1986.Патент СЫА М 36 Изобретение относится к тепловому нераэрушающему контролю и может быть использовано для обнаружения дефектов типа нарушений сплошности как в однородных так и в слоистых материалах,Цель изобретения - повышение чувствительности способа при изучении материалов с высокой температуропроводностью,Способ тепловой дефектоскопии осуществляется следующим образом. На поверхность контролируем лия наносится равномерный слой ла, коэффициент температуропро которого меньше коэффициента те ропроводности контролируемого тения - повышение чувгтвительности способа. Для обнаружения р фекта типа несплошнссти, расположенного в толще матерала, на поверхность контролируемого изделия наносят твердотельный слой, коэффици нт температуропроводности которого меньше, чем у контролируемо;о изделия. Затем создают температурный градиент, нормальный поверхностям твердотельного слоя и изделия, после чего регистрируют распределение температур на поверхнос 1 и этого слоя в различные моменты времсни для определения локальных различий в скорости ее остывания. Наличие твердотельного слоя с низкой температуропроводностью способствует увеличению длительности существования кратковременных локальных отклонений температуры, обусловленных мелкими дефекта ли, и тем самым облегчает их регистрацию,Ыи создается температурный градиент, норЬ) мальный к поверхности контролируемого изделия и регистрируется температурное поле этой поверхности в различные (Л моменты времени для определен ия раз личий в скооости ее остывания, Локальные отклонения температуры, возникающие в процессе нагрева и остывания и обусловленные наличием дефектов в контролируемом изделии, дольшесохраняются на поверхности твердотельного слоя с малым коэффициентом температуропроводности, чем на поверхности при отсутствии этого слоя, который служит своего рода теплофизиче:ким устройством памяти,1627954 Формула изобретения Составитель Е. СириденкоТехред М.Моргентал Корректор М. Максимишинец Редактор А. Долинич Заказ 336 Тираж 387 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Способ тепловой дефектоскопии, включэющий создание температурного градиента, нормального к поверхности контролируемого изделия, и последующую регистрацию температурного поля этой поверхности в различные моменты времени для определения скоростей ее остывания, по которым судят о наличии дефекта, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения чувствительности способа при изучении материалов с высокой температу ропроводностью, на нагреваемую поверхность контролируемого изделия наносят твердотельный слой из материала, коэффициент температуропроводности которого меньше, чем у контролируемого изделия.10

Смотреть

Заявка

4414792, 25.04.1988

КИЕВСКИЙ АВТОМОБИЛЬНО-ДОРОЖНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. 60-ЛЕТИЯ ВЕЛИКОЙ ОКТЯБРЬСКОЙ СОЦИАЛИСТИЧЕСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ

КАНАРЧУК ВАДИМ ЕВГЕНЬЕВИЧ, ДЕРКАЧЕВ ОЛЕГ БОРИСОВИЧ, ЖЕЛНОВ ГЕННАДИЙ НИКОЛАЕВИЧ, КРОТЕНКО ПАВЕЛ НИКОЛАЕВИЧ, ДМИТРИЕВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

Опубликовано: 15.02.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1627954-sposob-teplovojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ тепловой дефектоскопии</a>

Похожие патенты