Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что первое тепловое изображение объекта контроля получают в отраженном излучении источника излучения.
3. Способ по пп.1 и 2, отличающийся тем, что температуру источника излучения при получении первого теплового изображения и температуру нагрева поверхности при получении второго теплового изображения объекта контроля выбирают равными.
Заявка
3986330/25, 05.11.1985
Научно-исследовательский институт интроскопии
Бекешко Н. А, Арсентьев Н. С, Воронин И. Д, Ковалев А. В
МПК / Метки
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектоскопии, тепловой
Опубликовано: 20.02.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1396756-sposob-teplovojj-defektoskopii-izdelijj-i-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов</a>
Предыдущий патент: Рабочий ролик стана холодной прокатки труб
Следующий патент: Антиокислительная присадка к топливам
Случайный патент: Способ определения нагрузок на опоры вращающейся печи