Тепловой дефектоскоп

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 51)4 С 01 И 25/72 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ о СССР1981. С. и др. неразрузделий, с.67-71 54) ТЕПЛОВОЙ Д 57) Изобретен) ительной техни ЕКТОСКО относит и може к изме- быть испловым иповерхнолистовой повышение ользовано дляетодом поверхнтных дефектов онтроля стных и издел етени рмы. Цель изо дифференцирования, второй блок 9 дифференцирования, первое пороговое устройство 10, второе пороговое устройство 11, третье пороговое устройство 12, формирователь 13 импульсов, схему ИЛИ 14, первый триггер 15,схему И 16, второй триггер 17, регистратор 18, блок 19 перемещения, контролируемое изделие 20На временных диаграммах (фиг.2) реализация электрического сигнала обозначена следующими позициями: 21 - на выходе фотоприемника 5, 22 - на выходе детектора 7, 23 - на выходе первого блока 8 дифференцирования, 24 - на выходе второго блока 9 дифференцирования, 25 - на выходе первого порогового устройства 10, 26 на выходе второго порогового устройосится к измериможет быть исполья поверхностных иефектов в изделия ение доектоскости опекта вдоль ок-схемафиг.2 ект содержит блок ь объектив 2 а модулявто нирования,тор 3 инфрарой объектилитель 6, д ас4 излученияприемникпервый усиок 8 кто ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР 21) 4180760/24-2522) 19.01.8746) 07.11,89. Бюп. В 4172) Е.А.Пахомов53) 536.6(088.8)56) Авторское свидетельст1038857, кл. С 01 М 25/7. Рапопорт Д.А., Щипцов Вепловизионная система дляающего контроля качестваДефектоскопия, 1978, У 2 Изобретение отнтельной технике изовано для контролприповерхностных длистовой формы.Цель изобретения - повышстоверности результатов депии за счет повышения точиределения протяженности дестроки сканирования.На фиг.1 представлена бтеплового дефектоскопа; навременные диаграммы работыскопа.Дефектоскоп достоверности результатов дефектоскопии путем повышения точности определения протяженности дефектоввдоль строки сканирования. Устройство содержит средства сканирующегосчитывания с объекта сигнала инфракрасного излучения, детектор, два последовательно соединенных блока дифференцирования, три пороговых устройства, логические схемы И, ИЛИ, триггеры, регистратор Цель изобретениядостигается благодаря использованиюв качестве критерия определения дефекта значения второй производнойтемпературы поверхности, величина которой зависит от наличия дефекта вбольшей степени, чем от неравномерности нагрева и поверхностных свойствобъекта контроля. 2 ил.ства 11, 27 - на выходе третьего порогового устройства 12, 28 - на выходе схемы ИЛИ 14, 29 - на выходе первого триггера 15, 30 - на выходе Формирователя 13 импульсов, 31 на выходе схемы И 16, 32 - на выходе второго триггера 17, П - пороговыйгуровень второго порогового устройства 11, П - пороговый уровень третьего порогового устройства 12.Дефектоскоп работает следующим образом.Перед началом дефектоскопии дефекстоскоп приводится в исходное состояние, при котором сигналы на выходах первого 15 и второго 17 триггеров - логический "0". Блок 19 перемещения обеспечивает перемещение контролируемого изделия 20 относительно блока 1 сканирования. Блок 1 сканирования обеспечивает построчное сканирование поверхности контролируемого изделия 20. При этом сигнал, содержащий информацию о контролируемом изделии 20, с первого выхода блока 1 сканирования через первый объектив 2, модулятор 3 инфракрасного излучения и второй объектив 4 поступает на фотоприемник 5, где30 преобразуется в электрический сигнал соответствующей величины. Интенсивность инфракрасного излучения, поступающего на вход фотоприемника 5, зависит как от наличия дефектов в контролируемом изделии 20, так и от Искажений температурного поля поверхности контролируемого изделия, обусловленных действием факторов,не связанных с дефектами иэделия. Электрический сигнал с выхода Фотоприем 40 ника 5 усиливается усилителем 6, детектируется детектором 7 и поступает на вход первого блока 8 дифференцирования, который формирует на своем45выходе сигнал У= -- Ж (ЙЙТ1где У,(й) - сигнал, поступающий на вход первого блока 8 дифференцирования. Второй блок 9 дифференцирования формирует на своем выходе сигналд П(1) = -- (П (1, который одновременно поступает на входы пороговыхустройств 10-12. Первое пороговоеустройство 10 в случае, если Нз0 формирует на своем выходе сигнал логической "1".При П; 4 0 на выходе первого порогового устройства 10 формируется сигнал ло- гического "0". Второе пороговое устройство 11 при П (С) =- Пформирует на своем выходе сигнал логической "1". В случае, если НзУна выходе второго пороговогоустройства 11 формируется сигнал логического 0. Третье пороговое устройство 12 в случае, если У(Т)У, формирует на своем выходе сигнал логической "1". При П (г.)0на выходе третьего порогового устройства 12 формируется сигнал логического "0". Пороговые уровни Пи Увыбираются экспериментально, причем П )О, а 13 з( 0С выхода первого порогового устройства 10 сигнал поступает на вход формирователя 13 импульсов. Последний при изменении сигнала на его входе из логического "0" в логическую "1" и при изменении сигнала на его входе из логической "1" в логический "0" формирует на своем выходе короткий импульс положительной полярности. В случае, если сигнал на выходе формирователя 13 импульсов не изменяется,на его выходе устанавливается сигнал логического "0", Импульсные сигналы с выходов второго 11 и третьего 12 пороговых устройств через схемы ИЛИ 14 поступают на вход первого триггера 15. Первый 15 и второй 17 триггеры при изменении сигнала на их входе из логического "0" в логическую "1" изменяют свое состояние на противоположное, При этом на выходе второ" го триггера 17 при контроле качественного участка изделия формируется сигнал логического "0", а при контроле дефектного участка изделия формируется сигнал логической "1". Сигнал с выхода второго триггера 17 по" ступает на первый вход регистратора 18, обеспечивающего регистрацию 1.дефектных участков контролируемого изделия 20. На второй вход регистратора 18 с второго выхода блока 1 сканирования поступает импульсный сигнал, обеспечивающий прерывание записи на регистратор дефектных участков изделия, на время обратного хода сканирующего зеркала блока 1 сканирования.5г Формула изобретенияТепловой дефектоскоп, содержащий блок перемещения, последовательно соединенные блок сканирования, первый объектив, модулятор инфракрасного излучения, второй объектив, фото- приемник, усилитель и детектор, а также первое пороговое устройство,регистратор, вход которого подключен к выходу блока сканирования, о т - л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьппения достоверности результатов дефектоскопии за счет повышения точности определения протяженности дефекта вдоль строки сканирования, он дополнительно содержит два блока 20424 6дифференцирования, второе и третье пороговые устройства, два триггера, схемы И и ИЛИ, формирователь импульсон причем к выходу детектора подключены последовательно соединенные первый и второй блоки дифференцирования, первое пороговое устройство, формирователь, схема И, второй триггер, регистратор, к выходу второго блока дифференцирования подключены последовательно соединенные второе пороговое устройство, схема ИЛИ, первый триггер, схема И, а третье пороговое устройство соединено с выходом второго блока дифференцирования и входом схемы ИЛИ.1520424 21 24 27Составитель В.Немцев Редактор Н.Тупица Техред М,Ходанич, Корректор М.ПожоЗаказ 6750/45 Тираж 789 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101