Способ дефектоскопии поверхности изделий с алюминийсодержащим покрытием
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
30 В тепловых методах контроля с использованием традиционных средствнагрева перепад температуры на поверхности иэделия, являющийся критериемналичия дефекта, обусловленразличной скоростью передачи теплана дефектных и бездефектных участках изделия. На массивных металлических изделиях добиться перепадатемператур в несколько градусов даже на относительно крупных дефектах, как правило, не удается. Приприменении предлагаемого способаперепад температур создается за счетнеравномерной плотности вихревыхпотоков в дефектных местах, что приводит к значительному превышению температуры в этих местах.Границы температурного режима нагрева определяются следующими факторами. Начальная температура термохимического превращения предлагаемого состава индикаторного веществасоставляет 191-192 С. Дефекты глубиной 0,4-0,5 мм, перпендикулярные поверхности, создают перепад температуры 10-15 С, Таким образом, нагревповерхности контролируемого иэделиядо температуры, меньшей 181 С,приводит к невыявлению указанныхдефектов.При нагреве поверхности изделияовыше 190 С индикаторное вещество начинает претерпевать термохимическоепревращение и возникает вероятностьпоявления ложной информации о наличии дефектов. При значительном повышении верхнего предела температуры поверхность настолько темнеет,что на этом фоне практически дефек 40ты не выявляются.Увеличение чувствительности иразрешающей способности способа достигается за счет уменьшения температуры нагрева, в результате чегоуменьшается время нагрева и, какследствие, уменьшается влияние теплопроводности на создание перепадатемпературы в дефектных местах.Кроме того, согласно предлагаемому способу чувствительность и разрешающая способность увеличиваются также за счет исключения тепла, которое шло на нагрев фонообразующей составляющей.Таким образом, при применении . предлагаемого способа достигается большая производительность способа за счет применения нового состава индикаторного вещества, в результате чего исключается операция его сушки, а также за счет сокращения времени нагрева в виду изменения структуры индикаторного покрытия на изделии,Увеличение чувствительности и разрешающей способности способа достигается за счет изменения влияния теплопроводности при создании перепада температуры в дефектных местах за счет уменьшения времени нагрева.На чертеже изображено устройство для реализации предлагаемого способа.Устройство содержит изделие 1, рольганг 2, распылитель 3, индикатор 4 и высокочастотный генератор 5.При дефектоскопии поверхности иэделий с алюминийсодержащим покрытием изделие 1, двигаясь по рольгангу 2, перемещается мимо распылителя З,где на его поверхность наносят раствор казеинового клея, после чего поверхность изделия нагревают токами высокой частоты до 181-190 С с помощью индуктора 4 высокочастотного генератора 5. По изменению окраски индикаторного вещества судят о дефектах. Формула изобретенияСпособ дефектоскопии поверхности изделий с алюминийсодержащим покрытием, заключающийся в том, что на поверхиость наносят индикаторное вещество, нагревают изделие токами высокой частоты, а о дефектах судят по изменению окраски индикаторного вещества, отличающийся тем, что, с целью увеличения производительности и чувствительности способа, на поверхность изделия наносят 10-20%-ный водный раствор казеинового клея, а нагрев ведут до 181-190 С,
СмотретьЗаявка
4409038, 28.01.1988
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТАЛЛУРГИИ
БЕЛОКУР АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, МИЗИН ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ, ГАВРИЛИН ЕВГЕНИЙ ФЕДОРОВИЧ, РУДНЕВ ЕВГЕНИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, РЯПОЛОВ ГЕННАДИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЯСЬКИН ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 25/72
Метки: алюминийсодержащим, дефектоскопии, поверхности, покрытием
Опубликовано: 07.11.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1520425-sposob-defektoskopii-poverkhnosti-izdelijj-s-alyuminijjsoderzhashhim-pokrytiem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектоскопии поверхности изделий с алюминийсодержащим покрытием</a>
Предыдущий патент: Тепловой дефектоскоп
Следующий патент: Устройство для измерения влажности
Случайный патент: Устройство для разрушения горных пород