Ейблкс

Номер патента: 257035

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ейблкс, Концевой, Резвы

МПК: G01N 21/55

Метки: качества, оценки, поверхности, полированной

...способ отличается от известного тем, что отраженный от поверхнос 1 и пучок лучей отбрасывают на экран и оценивают степень неравномерности светового пятна.Это отличие позволяет повысить полноту оценки поверхности.На чертеже изображена схема определения качества полированной поверхности, иллюстрирующая предложенный способ. Контролируемая полированная поверхность 1 освещается равномерным по интенсивности пучком света, испускаемым, например, лазером 2. Отраженный от поверхности 1 пучок лучей отбрасывают через зеркало 3 на экран 4. Световое пятно на экране имеет для каждой поверхности свой вид. Изгибы, перекосы, неровности, которые могут возникнуть при полировке, отражают лучи под разными углами, что создает возможность для интерференции.По...