Способ оценки качества полированной поверхности

Номер патента: 1584760

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Йорг, Хорст

МПК: G01M 11/00

Метки: направления, оси, пучка, света, юстировки

...суммируются в суммирующем каскаде 27 блока 25нормирования, и на выходе получаетсясуммарная величина 7 Б, которая делится в делителе 28,Нормированные параметры световогосигнала Б, - Б подаются в пороговуюсхему 29. В последней из первого ивторого, третьего и четвертого и извторого и четвертого нормированногопараметра светового сигнала Я в каскадах 30-32 вычитателя, выполненныхв виде дифференциальных блоков, определяются три нормированных разностных сигнала П, - 5 э и модифицируютсяв соответствии с заданной монотоннойфункцией, например в соответствии сквадратичной функцией, нарастаниекоторой для меньших значений разностного сигнала происходит сильнее,чем у линейной функции. Благодаря это.му элиминируются знаки разностныхсигналов и оценка...

Номер патента: 1597118

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Йорг, Херст

МПК: G01M 11/00

Метки: оптической, оси, положения, пучка, света, юстировки

...и четвертого и второго и четвертого нормированных световых сигналов в дифференциальных блоках 31 - 33 определяются три нормированных раэностныхсигнала 3 - П , которые модифицируются в соответствии с квадратичнойфункцией, нарастание которой дляменьших значений раэностного сигнала происходит сильнее по сравнениюс линейной функцией, Благодаря этому элиминируются знаки разностныхсигналов и оценка отклонений становится более удобной,Нормированные значения разностныхсигналов 5,= 6 з подаются в каскады34 - 36 возведения в квадрат, Затемнормированные возведенные н квадрат 25разностные сигналы В, - Г) сравниваются н средствах 37 - 39 сравнения снормированным граничным значением Ь,хранящимся в регистре 40. Нормированное граничное значение...

Номер патента: 1339479

Опубликовано: 23.09.1987

Автор: Черкасов

МПК: G02F 1/17

Метки: заданную, интенсивностью, направляемого, область, обрабатывающего, объекта, пучка, света, удаленного

...(источник 6, оптическая система 12, диафрагма 8, зеркало 14) установлен таким образом, чтопучки всех трех каналов на выходеустановки соосны, Наводка устройстваосуществляется перемещением еговдоль оптической оси пучка 5, приэтом не меняется его репер на объекте 7, точно обозначая границы области облучения, при совпадении с которыми реперов пучков 1 и 9 обеспечивается необходимый режим облучения,Реперы пучков 1 и 9 при перемещенииотносительно плоскости объекта 7 об-.лучения изменяют свои размеры, Приэтом в зависимости от положения 1518 плоскости объекта 17. обеспечивается точное наведение двух режимовобработки: режим облучения, обозначенный репером управляющего пучка 5 в положении 17 и режим максимальнойплотности мощности облучения,...

Номер патента: 131897

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Бездетный, Мирзоев

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34, G01D 5/34

Метки: качества, оценки, поверхности

...ряССЕИВтТ;т П(1 дяЮ- щие ня них потоки света, Источником падающего света слу)кит,а)Ия Ня б В МощНОСтьЮ В 20 т, СВЕТ Л 11 ттПЬ Нацрян,ястея Ня ПСПЬ)тус(тц 1 объект под углом 45.В качестве индикатора интенсивности светового потока, отбрясыв 1- смого испытуемым объектом, пр 1 зСн(н(т фотосопрот 1(вленис ФСКс внутренним фотоэффектом, Фотосопротивление ФСКразмещается н пути луча, отраженного от испытуемого объект под угл(о 1 и лчу также 45.131897 В цепь введены,сопротивления Йь Й Ра и /, - . О коли й, 16 ком, Ра - 10 колт, Ят - 115 ол), й Ьв и- 1 ком, Й ыколи а также конденсатор С, емкостью 10 л)кф 1 на 450 в).Устрбйство градуируется на основе показаний микроампермтра от установленного лучшего образца средней шероховатости....

Номер патента: 375478

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оценки, поверхности

...мостовой схемы включен усилитель 8 и индикатор 9, имеющий нуль в средней части шкалы. Балансировка моста производится клином 11 путем перемещения его О перпендикулярно оптической оси системы К недостаткам этого устроиства относится влияние на точность измерения колебаний накала источника света, колебаний напряжения источника питания, изменение во времени параметров лампы и фотоприемника, изменение температуры окружающей среды, отличия в физических свойствах поверхности материалов различных марок, имеющих одну и ту же степень шероховатости. Цель изобретения - уменьшение влияния на точность измерения колебаний напряжения питания, нестабильности накала источника света, изменения температуры окружающей среды, изменения во времени...