G01J 1/14 — способом сравнения с поверхностью эталонной яркости

Номер патента: 29622

Опубликовано: 31.03.1933

Автор: Максимович

МПК: G01J 1/14, G01J 3/46

Метки: колориметр

...при визировании на испытываемый предмет получается окрашенной соответственным участком спектра, даваемого помещенной в приборе призмой,На чертеже фиг. 1 изображает колори" метр в схематическом виде; фиг. 2 в деталь прибора.Поле зрения предлагаемого колориметра состоит из двух частей 7, 2, из которых одна 7 занята изображением исследуемого предмета 8, цвет которого нужно определить, а другой 2 можно сообщить равномерную окраску любого цвета. Для этой цели служат, помещенная в трубке 70, призма 3, грань котороЯ рассматривается через щель 4, и линза 5, дающая изображение щели в равномерно освещенной плоскости б, снабженной заслонками 7, ширину и расстояние между которыми можно менять. Освещенность (яркость) плоскости б подлежит...

Номер патента: 50352

Опубликовано: 01.01.1937

Автор: Раутиан

МПК: G01J 1/14

Метки: зрения, контраста, между, наблюдателя, освещения, поля, удаленными, участками

...яркость фона.ВОтсюда 1; = - и контраст К=В,=1 -- =1 - 1; .В, - В Во оВ случае, если более светлым яв.ляется объект, то объект наблюдаютчерез участок клина, а фон долженбыть виден через чистый участокпластинки.Предмет изобретения.1. Приспособление для определения контраста освещения между удаленными от наблюдателя участками поля зрения с применением нанесенного на прозрачную пластинку светофильтра, в виде серого желатинового клина, отличающееся тем, что в определенных местах пластинки, например, в шахматном порядке, желатин снят до самой пластинки, с целью ослабления яркости более светлого участка поля зрения при сравнении его с более темным путем наблюдения первого через соответствующей плотности светофильтр из большого числа их,...

Номер патента: 61009

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Пискун

МПК: G01J 1/14, G01J 1/40

Метки: видимости, прибор

...осветителя, представляющего собой полусферическую матовую, равномерно освеШенную поверхность с темным круглым пятном посредине, и производятся две сср 11.1 измерений яркости различных участков клина.В одном случае измеряется яркость, обусловленная только рассеянными лучами, для чего исследуемый участок клина располагается против темного пятна осветителя; в другом случае измеряется яркость, обусловленная как рассеянным кл 1 шом, так и проникшими без рассеяния лучами, исходящими от осветителя, для чего исследуемый участок клина располагается на фоне светягцсйся повсрхност;1 осветителя.о 6009 Предмет изобретения 1. Прибор для измерения видимости с применением черного экрана и фотометрического устройства с рассеивающим клином, о т л и ч а ющ...

Номер патента: 65083

Опубликовано: 01.01.1945

Автор: Свешников

МПК: G01J 1/14

Метки: фотометр

...до сих пор различиими авторами фотометры,рых источниксм сравнения служи. акра , покрытый светящи." ся состаг;огм постоянного действия, обладаот двумя суц 1 ественными недостатками. Во-первых, яркость срави ния недостаточна и, во-вторых, при достаточном окулярном увеличении фотометрическое сравнение затрудняется из-за сцинтилляций.Предметом настоящего изобретегния является фотометр, в котором в качестве поля сравненияотвсрстие В Олэм теле, внхпсверхность которого покрьтящимся составом постояннствия. Такой фотометр неперечисленными выше оснедостатками, прсисущими офотометрам, в которых полепения служит непосредственвсрхность, покрытая светсоставом постоячного деист служит тренняя та свсого дейобладает ночными чнык сочв но по яшимс...

Номер патента: 68987

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Гершун

МПК: G01J 1/14

Метки: люксметр

...отверстиями, Сторона этого экрана, обращенная к испытуемому источнику света, является эталонПримерная форма выполнения изобретения изображена на чертеже,На поверхность Я, равномерно покрытую светящим составом постоянного действия, наложен фотометрический клин К и поверх его - перфорированная поверхность Е,. Отверстия в этой поверхности имеют, следовательно, разную яркость, закономерно меняющуюся от одного отверстия к другому, Отверстия видны яа фоне отражающей свет поверхности и одни из них темнее фона, другие - светлее, Измерение заключаетЗОБРЕТЕН ся в установлении того, какое именно из отверстий совпадает по яркости с фоном или, говоря точнее, в установлении границы разделения более темных, чем фон, полей от более светлых. Отсчеты...

Номер патента: 86856

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Второв, Музрин

МПК: G01J 1/14

Метки: высокой, исследований, оптический, оптической, плотностью, сред, фотометрических, эталон

...Для эталонов, предназначенных для исследования образцов муки в виде теста в проходящем свете, применяется фракция стеклянного порошка, выделяемая при просеивании через набор сит и соответствующая проходу через шелковое мучное сито23 и сходу с шелкового мучного сита25. Стандартные образцы (эталоны) для исследования муки в отраженном свея е изготовляются из более широких по крупности фракций стеклянного порошка указанных марок.Примерный состав образцов, соответствующих среднему эндосперму пшеницы, следу 1 оший: бесцветное оптическое стекло=95%; стекло ЖС 6=8%; стекло ЖЭС 5=1%86856 Предмет и зоб р етен и я Оптический эталон для фотометрических исследований сред с высокой оптической плотностью, например муки или теста, о т л и ч а ющ и й с...

Номер патента: 88245

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Хазанов, Юров

МПК: G01J 1/14

Метки: белизны, муки, подобных, тому

...тить (гбычном Фотомстиичс(ко) Ноле (5) светящиеся поверкпо("и мо:(о 1 оо "О(з,и (1 и (теии кд -11 кн ( ). 0,1 в)ддсмоЙ гкгд)з) )Ггр(тис ( ( )1("ркпси кры)и ко В п(1 нр(1 1 сппи .Лркогть (вета, )цущс(и(Н 1 а.цнии 11) и и( лизи ) ки и( )д)и, 1 ( рко( (, всг)1, ицупего в нирд(,(Нии (11. Нри здддннык )еоери егкик и;1)1к канавки ОПРЕДЕЯП(Г(Я ОСЛИНОЙ МУКИ И га ГОО МощНГОТЬЮ ЛНМПЬ 1 .)Тиогпеигп ярко ти идищлепии ярКГ тц В Ндцко ВЛЕНИП 1ОпИ дглявт,белизной уки и пактие к: )и з;1 игит от режи)( горения л)чп(,1 1,.1). 1 Лм(реиие :-)тот) )тноицния яркостей огкст быть произведено (ов)ц (,Об) )г,) зитсл).ного и.и Физического ( и, Г)О и. Фотогкектричсгкого) отоетр;.Про.тм(т изобретен иьи иизмы. рви 1 оиийс 5 Вогл(511(с,(ь и;1 кПоло;кепи( к,ии(1 от(...

Номер патента: 102949

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Болдырев

МПК: G01J 1/14

Метки: видимости, дальности, зрачковый, фотометр

...лучей света проходит через оптическ пй клин , занимающий часть зрачка, другая часть лучей проходит через область зрачка, не занятую клинни .Подвижная секторная диафрагаа ( ) перекрывает разделенный на две части зрачок и прп своем перемещении изменяет количество света, проходящее через его части.В Фокальной плоскости объектива земной трубы помещена Фигурная перегородка (8) для создания контраста сравнения, которая может иметь различную Форму, имитируя, например, характерные очертания ландшафта.Лучи света от наблюдаемого отдаленного объекта частично проходят через отверстие секторной диафрагмыи частично через оптический клин (6). В поле зренпч вгцно раздвоенное изображение объекта. Между ним и Фигурной аср- городкойвиден участок...

Номер патента: 112380

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Гаврилов

МПК: G01J 1/14

Метки: атмосферы, прибор, прозрачности

...объективом 1 установлены оптические клинья 2, служащие для наложения на рассматриваемое изображение объекта и марки дополнительной яркости. Два пучка света, пройдя призмеиную систему 3, попадают в призменный мостик 4, где, соприкасаясь с тонкой разделительной линией, образуют одно поле зрения 5, наблюдаемое в окуляр 6. Перед клином одной из половин зрительной трубы установлен коллиматор, выполненный в виде ахроматической линзы 7, в фокусе которой установлена черная марка 8.Г 1 ри наведении зрительной трубы на объект, изображение его располагается вблизи разделительной линии в одной половине поля зрения 5, Изображение же марки в этот момент находится на другой половине поля зрения б также вблизи разделительной линии. Накладывая...

Номер патента: 118080

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 11/00, G01J 1/14

Метки: клиньев, оптических, стеклянных

...сравнении помещаемых перед автоколлиматором эталонного и измеряемого клиньев вращает непрерывно эталлонный клин и о годности измеряемого клина судят по прохождению через центр поля зрения автоколлиматора светящейся дуги, являющейся развернутым изображением источника света. Для обеспечения автоматизации контроля в поле зрения автоколлиматора помещают диафрагму с отверстием, определяющим допуск на изготовление клина, сквозь которое поступает световой сигнал, используемый для запуска фотоэлектрического устройства, управляющего операциями конт118080 Предмет изобретения 1. Способ контроля стеклянных оптических клиньев путем сравнения помещаемых перед автоколлиматором эталонного и измеряемого клиньев, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с...

Номер патента: 158106

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01J 1/08, G01J 1/14, G01J 1/36 ...

Метки: 158106

...проходящий через каждую щель, будет постепенно и одинаково для той и другой щели нарастать, пока не достигнет наибольшей величины. Это произойдет в тот момент, когда обе щели будут полностью пе. рекрыты прозрачными элементами мозаики.Соотношение световых потоков, а следова. тельно, и напряжений будет нарушено только в том случае, если праницы черно-белых эле. ментов на проверяемом диске имеют угловыеошибки, или на щель попадает изображение дефекта (прозрачное отверстие или,наоборот, черное пятно). При этом баланс дифференциальной схемы нарушится и стрелка гальванометра отклонится на величину, выражающую в определенном масштабе угловую ошибку границы черно-белого элемента мозаики или эквивалентное по действшо влияние дефекта.Для ускорения...

Номер патента: 184478

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01J 1/14

Метки: коэффициента, светорассеяния

...отверстие испытуемого объектива попадали лучи света только от внутренней поверхности сегментов н черного тела.Такое выполнение устройства позволило уменьшить его габариты и повысить точность измерений.Вспомо; ательные источники светя могут быть расположены в центрах кривизны сегментов.На чертеже изображена схема устройства для измерения коэффициента светорассеяния.На поворотном рычаге 1 укреплен испытуемый объектив 2 перед фотометрическим шаром 3, диаметр которого значительно меньше эквивалентного диаметра. Далее на оптической оси объектива установлены шаровые сегменты 4 с источниками света 5, расположенными в центрах кривизны сегментов, Яркость, создаваемая такими источниками на внутрен ней поверхности сегментов, одинакова во всех...

Номер патента: 196425

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Бердникова, Гончаров, Родионов

МПК: G01J 1/14

Метки: качества, мебели, отделки, переносной, прибор

...к лампочке установлены соответственно две плоско-выпуклые линзы 7, В третьем проеме закреплен стеклянный собирающий кубик 3.Свет от лампочки, пройдя линзы, направленным пучком попадает под углом 20 - 45 ца поверхность эталона 9 и объекта 10, расположенных друг против друга в вырезах корпуса. Отразившись от поверхности эталона н контролируемого объекта пучок света попадает на кубик 8.0 1(убик может быть монолитным нлн склеен.ным прозрачным бальзамом из двух частен различной длины, представляющих собой трехгранные призмы из стекла, склеенные по боль.шой стороне (гипотенузе).5 Пучок света, отраженный от эталонной поверхности, пройдя собирающий кубик, отра.зится от участка (см, луч А - А), где большая сторона призмы граничит с воздухом...

Номер патента: 211119

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Алексеев, Миллер, Шаничев

МПК: G01J 1/14, G01J 3/10

Метки: спектрофотометр

...объекта. Приравенстве коэффициентов излучения,и темпе 20 ратур зеркал объекти(ва 1, 2, ком(пенсационпой трубки 7 и плоакого зеркала модулятораб ложный, сигнал в фотоэлектрическом (приемнике 5 не возникает. Для коонен(сации излучения держателей малаго зеркала объвктива25 (на чертеже не указаны) на (входе ко(м(пенса,ционной трубки 7 установлены зачерненные(поворотные (пластины 9,Для проверки чувствительности фотоэлектрического приемника 5 и усилительного трак 30 та 10 используется эталонный,излучатель 11,3световой поток которого поступает на фотоэлекгричеокий (приемн(к 5, ко(гда вырез на диас(ке 12 устанавливаеепся против (под(вижной за(слон(ки 13 с окнами. В этом положении окна заслонки и передней стенки монохроматора по (каналу...

Номер патента: 284600

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Козлов, Раисов, Сальвицкий, Харьковский

МПК: G01J 1/14, G03B 43/02

Метки: диафрагмы, фотозатвора, числа, экспозиционного

...электромагнит 11 обесточен, и, следовательно, шторка 10 перекрывает луч, прошедший через калиброванное отверстие диафрагмы 9, емкости 13 и 14 интегратора разряжены до нуля. На фотоумножителе 7 устанавливается заданное напряжение питания. После этого схема готова к измерению экспозиционного числа.После спуска затвора 5 свет попадает на фотоумножитель 7, с выхода которого сигнал через контакт 12 поступает на емкость 13 интегратора, Напряжение с емкости 13 интегратора подается на вход лампового вольтметра 15 и измеряется им.Кроме того, с выхода фотоумножителя 7 сигнал подается на блок 1 б управления. Первый выходной импульс блока управления, формируемый по заднему фронту импульса фотоумножителя 7, включает электромагнит 11 и...

Номер патента: 289975

Опубликовано: 01.01.1971

МПК: G01J 1/14, G01J 1/58

Метки: вида, грибкового, деловой, древесины, заражения

...вида домового гриба призводят следующим путем,Снимают с зараженной древесины налет мицелия и кусочки плодового тела, если оно достаточно развито. Готовят водную грибковую вытяжку из мицелия или плодового тела анализируемого гриба. Для этого навеску мицелия или плодового тела 1,5 г заливают 100 слез дистиллированной воды при комнатной температуре и через 20 - 30 мин отстаивания производят фильтрование, К фильтрату - грибковойВ. Клипиковльный институт им, МиКоянй"=д"С " вытяжке добавляют 0,5,яг люминофора, например Светосостав К, и смесь тщательно взбалтывают. После перемешивания вытяжку просматривают в ультрафиолетовом свете (ос ветитель ОСЛ) в затемненном помещении ирегистрируют характер вызванного люмпнесцентного...

Номер патента: 329450

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гончаров, Гончарова, Ленинградска

МПК: G01J 1/14, G01N 21/55

Метки: качества, отделкимебели

...полного внутреннего отражения и лупа установлены по отношению к сравниваемым поверхностям 15 так, что в оптической системе устройства призмы являются зеркалами, отражающими и совмещающими в поле зрения лупы одновременно одно и то же изображение оптической сетки. 20 ключатель Ь, ламп 9, багарсц питания 10 эталонную поверхность 11 и контролируемую поверхность 12. Устройство работает следующим образом.Свет от лампы 9 освещает молочное стекло 7 и через него - оптическую сетку б.1-1 цжним проемом 2 устройство ставится ца контролируемую поверхность 12, а к верхнему проему 2 прикрепляется эталонная поверхность 1,Изображение оптической сетки б на фоне освещенного молочного стекла 7 рассматривается через лупу 3 в направлении лучей 1 ц П,...

Номер патента: 333415

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Крайман, Фольб, Хазанов, Шишов

МПК: G01J 1/14

Метки: зеркального, катадиоптрического, отражения

...объективом 2 на поверхности испытуемого образца 3. Отраженный образцом световой поток попадает на сферический отражатель 4, центр которого совпадает с изображением тела накала лампы на поверхности испытуемого обр азца, Сферический отражатель возвращает лучи света в точку изображения на поверхности испытуемого образца.5 Вторично отраженный образцом свет частичноотражается ближайшей к образцу сферической вогнутой полупосеребренной поверхностью объектива. Центр кривизны вогнутой поверхности лежит в точке центра изображения 10 тела накала на поверхности испытуемого образца. Поэтому свет претерпевает еще одно двукратное отражение от поверхности образца, и этот процесс повторяется. Свет, прошедший в обратном ходе лучей объектива, после 15...

Номер патента: 368528

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Удк

МПК: G01J 1/14

Метки: анализа, электрофореграмм

...заранее известные патологические изменения.Сущность предлагаемого способа анализаэлектрофореграмм поясняется чертежом, на 15 котором изображена схема устройства, осуществляющего способ.Устройство содержит подвижный фиксатор 1 исследуемой электрофореграммы, оптическую,проекционную систему 2 с источником 20 света, зеркальным отражателем и конденсорной оптикой, кассету 3 с передвижным механизмом для фотопленки с негативным изображением эталонных образцов, объективы 4, б и проекционный экран б.25 Исследуемая электрофореграмма 7 помещается в фиксатор, после чего на нее проецируется с помощью проекционной системы изобр ажение соответствующей эталонной электрофореграммы, негатив которой размещен в 30 кассете 3.368528 10 Предмет изобретения...

Номер патента: 570792

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Есичева, Каплинская, Хазанов

МПК: G01J 1/14

Метки: видимости, объекта, освещаемого

...определяют снижение видимости реального объекта при рабочей осветительной установке по сравнению с эталонной установкой. Снижение вп димости определяют путем измерения яркостиобъекта наблюдения и фона, с последующим расчетом эффективного контраста.Недостатком этого устройства является необходимость использования специально разра ботанного сложного прибора для определенияснижения видимости и диффузного осветителя на рабочем месте, где находится рабочая осветительная установка.Наиболее близким к изобретению техниче ским решением является устройство, в кото570792 Формула изобретения 20 Составитель В. ВощанкннТехред А. Степанова Редактор Н. Коляда Корректор Л. Деннскнна Заказ 1893/13 Изд.696 Тираж 881 Подписное Ц 111111 ПИ...

Номер патента: 717560

Опубликовано: 25.02.1980

Авторы: Гук, Полякова, Ранюк

МПК: G01J 1/14

Метки: абсолютной, излучения, приемника, спектральной, чувствительности

...опре.деляемый из соотношения: ЛИнтеграл у 8 (Л) 4 (Л, Р) дл обычно по изме енным 8 Л) й вычнсле,(ям Ф (Л,Р).К недостаткам этого способа сленеобходимость наличия дополнительнника ижучения; неселективного вспектральной чувствительности калиприемника; малая чувствительностьщих неселективных приемников излпример, термопар); необходимостьния спектрального прибора, что сущуменьшает поток, попадающийна неный приемник.Цель предлагаемого изобретенияние процесса измерения абсолютнойности приемников излучения. Для этого измеряют зависимость интегральной чувствительностиприемника при облучении его абсолютным источником от параметра Р, определяющего распределение спектральной плот ности .излучения абсолютного источника ф(Л, Р), а абсолютную...

Номер патента: 750289

Опубликовано: 23.07.1980

Авторы: Исакина, Мачтовой, Терешина, Цыпин

МПК: G01J 1/14

Метки: анализатор, распределения, яркости

...установлена неподвижная полевая диафрагма 1 с квадратным отверстием,За ней в фокальной плоскости помещена сканирующая диафрагма 2 с двумя щелями, перемещаемая с помощьюшагового привода 8. Модулятор 3 приводится во вращение приводом 9. Модулированный световой поток через проекционную систему-конденсатор 4 идетна приемник излучения 5. Сигнал переменного напряжения с нагрузки, величина которого пропорциональна проходящему через одну из щелей 2 потоку, поступает на стандартный селективный усилитель-микровольтметр 6, 40например В 6-4, и далее на шлейфныйосциллограф 7 для записи уровнясигналов во времени на ленте. Тудаже заводятся импульсы напряжения отгенератора 10 управления шаговым приводом, которые связывают величинусигнала с движением...

Номер патента: 1062531

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Лопухина, Орлов

МПК: G01J 1/14

Метки: дерново, пахотных, подзолистых, почв, смытости, степени

...Затем на кривыхспектров отражения измеряют коэффициенты отражения Р при длинах волн470, 620, 750 нм, В дальнейшем используют два коэффициента: Р р иЬР =Р 62)-Р 4., Зти коэффициенты хорошодемонстрйруют различия в отражательной способности горизонтов А ),с,и В.Все возможные варианты коэффициентов отражения наиболее удобнопредставлять с помощью треугольныхдиаграмм состава, представленныхна чертеже,Любая точка внутри треугольнойдиаграммы соответствует конкретному процентному соотношению АА и В, а угловые точки диаграймысоответствуют стопроцентному содержанию одного из компонентов (А иВ, А ). На диаграммУ в ее угловыеточки наносят также значениеэталонных горизонтов А см , А 2 и В.Затем на сторонах диаграммы с помощью пропори)й...

Номер патента: 1395959

Опубликовано: 15.05.1988

Автор: Китаев

МПК: G01J 1/14

Метки: фотометр

...При вращении модулятора источник 1 света поочередно облучает емкости с эталонным и измеряемым образцами. Поток излучения, прошедший емкости с образцами, поочередно попадает на вход фотопреобразователя 3, С выхода фотопреобразователя 3 снимается последовательность электрических импульсов (фиг. 2), амплитуды которых пропорциональны коэффициентам пропускания эталонного и измерительного образцов, с учетом наложения темновых сигналов , р ир, обусловленных рассеянным излучениемФот К +1 =1 о + рФотк Кфп + Ц,д - 1/ + Ц,гдеи .) - полезные сигналы, измеряемого и эталонного образцов;К - чувствительность фотопреобразователя 3;интенсивность источникасвета; т, и т - коэффициенты пропусканияизмеряемого и эталонного образцов.Указанная...

Номер патента: 1460624

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Кеткович, Кораблев, Торонджадзе

МПК: G01J 1/14

Метки: отражательных, поверки, фотометров

...через фотометрический шар 3и отверстие попадает в устройство.Энергия луча в соответствии с количеством волокон и и ш распределяет.ся в световодах б и 7. Энергия, по-.павшая в световод 7, отражается отповерхности 8 и, возвращаясь в Фотометрический шар, попадает на прием-,ник 2 мзлучения, а энергия, попавшаяв световод 6, покидает световод без50 препятствий и не участвует в измерениях.В случае поверки Фотометра не вдиапазоне 0-100%, а в другом, более 55 узком, в комплект будут входить,кроме устройства с промежуточными, значениями коэффициента отражения, и устройства с коэффициентами отражения, соответствующими началу и Кроме того, длина всех световодов как одинарных, так и сдвоеннйх одинакова, общее количество волокон отдельных...

Номер патента: 1500918

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Бочков, Кузнецов

МПК: G01J 1/14, G01N 21/47

Метки: гумуса, пахотных, почв, содержания

...зависимость между значениями дК, где Л К - разность значений спектраль ных коэффициентов яркости (СКЯ) в точке, соответствующей точке перегиба кривой в диапазоне 560-600 нм и на длине волны 400 нм и содержанием гумуса, В качестве эталонного можно ис О пользовать химический метод определенчя гумуса по Тюрину, Оценки содержания гумуса можно получать, например, методом регрессии для каждого типа кривой, 25В ходе дистанционного зондирования почвы заданного района составляют карту отражательной способности почвы на двух длинах волн путем определения СКЯ отдельных участков почвы ЗО с заданной дискретностью (или сканированием). Определяют разность лК в каждой точке измерений и, решая регрессионное уравнение вида у = Ь+ + Ь;ЛК,...