Способ определения оптических характеристик

Номер патента: 559134

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Кононенко, Коралова, Орманджиев, Потемпа, Ревенко, Цупко-Ситников

МПК: G01J 1/04

Метки: коэффициента, объекта, оптического, пропускания

...через ъект н ослабитель, третий поток - лаби тель. Для реализации способа измерения в устройстве дисковый модулятор выполнен с четырьмя измеря. тельными отверсгиями, трн нз которых раслоложе. ны на одинаковом расстоянии от центра, а четвертое расположено между одним нэ крайних отверстий н центром, .причем на четвертом отверстии и срегвгем из трех установлены ослабнтели.Обозначим интенсивность потока излучения Э, а коэффициенты пРопУсканиЯ длЯ объекта тоб, первого ослабнтеля твторого ослабителя т,. Начальное смешение характеристики приемника нз. лучения выразим через эквивалентную интенснв59134 ЦНИИПИ Закаэ 1438/116Тираж 1101 Подписное филиал ППП ффПатент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3ность Зн, Тогда н выходе приемника...

Номер патента: 935701

Опубликовано: 15.06.1982

Автор: Полторацкий

МПК: G01B 9/00

Метки: оптических, систем

...симметрично относительно осисистемы пар приемников бизлучения, корреляторы 10, 11, через которые выходы с пар приемников соединены с регистрирующими приборами 12,13.Устройство работает следующимоЬразом.Однородный с известной расходимостью пучок электромагнитного излучения от источника 1 излученияи формирователя 2 поступает на входоптической системы 3. Установленнаяв фокальной плоскости системы 3 подвижная рассеивающая пластина М (например,ликоподий на стекле) рассеивает свет, который попадает на входыприемников 6-9 излуцения,5 10 15 20 25 30 55 40 45 50 55 Так как рассеивающая среда движется, то движутся и пятна в структуре рассеянного света, хотя средняя картина сохраняется. Движение пятен вызывает соответствующие флук...

Номер патента: 61548

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Волынский

МПК: G02B 21/02

Метки: микроскопа, насадка, объектив

...плоской ее грани.Для связи компаратора с объективом микроскопа применяется приспособление типа, указанного на фиг. 1 - 3, состоящее из металлического держателя компаратора, который надевается на верхний с резьбой конец объектива и прижимается к нижней части тубуса микроскопа или к соединительному приспособлению любой системы одновременно с привинчиванием объектива, Приспособление это также состоит из металлической оправы компаратора, снабженной в концевых частях отверстиями для соединительных стоек, и из двух соединительных стоек, притягивающих систему призм компаратора к нижней фронтальной линзе ооъектива,Комп аратор, установленный на объективе микроскопа указанным выше способом, направляет в объектив и далее в окуляр микроскопа...

Номер патента: 125851

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Почтарев

МПК: H01J 37/26

Метки: камера, микроскопов, объектов, электронных

...Положительный электрод 1, изолированный от земли изолятором 2, укреплен в оправе 3, фиксируемой винтами 4 после центровки электрода относительно оптической оси микроскопа, Внутри электрода размещен подвижной столик б, который может перемещаться при помощи изолирующих толкателей, управляемых снаружи, во взаимно-перпендикулярных направлениях для пересмотра объекта. Объект 6 устанавливается в коническое гнездо объектодержателя 7, расположенного в подвижном столике б, Для смены объекта штанга-толкатель 8 подводится к ооъектодержателю 7 и сцепляется с ним замком 9, После сцепления штангу-толкатель двигают вперед до тех пор, пока объектодержатель не войдет в гильзу 10 до упора, Гильза 10 вместе с объектом выводится из камеры через шлюз....

Номер патента: 252503

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Завод, Игнатова, Шул, Электроавтоматики, Яременко

МПК: H01J 37/26

Метки: исследуемого, координат, микроскопе, объекта, участка, электронном

...объекта.Вследствие больших увеличений электронного микроскопа (до 200000 раз) к приводам столика объектов предъявляются очень жесткие требования: отступления от траектории перемещения столика объектов, рывки и толчки обекта не должны превышать 0,1 - 0,2 мк, Поэтому механическая связь приводов столика объектов с какими-либо дополнительными механизмами нежелательна, так как неизбежно возникающее трение, люфты и заедания между деталями механизма затрудняют задачу плавности перемещения столика объектов, могут привести к дрейфу столика объектов и тем самым снижают гарантируемую разрешающую способность прибора и точность отсчета координат.При чисто механической конструкции индикатора координат его расположение строго лимитировано из-за...