G01N 21/41 — преломляющая способность; свойства, влияющие на фазу, например длину оптического пути

Номер патента: 1187029

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Васильева, Красовский, Лукаш, Наумов

МПК: G01N 21/41

Метки: проточный, рефрактометр

...обработки информации,В данной конструкции кюветы засчет выбора определенной величины. двугранного угла выходящие из кю 55веты через входные окна плоскопараллельных пластин световые пучкиобразуют между собой некоторый,близкий к нулевому значению, угол х;- отношение показателей преломления жидкостии воздуха;- поправка к прямому углу между плоскопараллельнЫми пластинами вследствие несовершенства изготовления механической конструк" ции их крепления;Е,с - поправки вследствиеклиновидности плоско- параллельных пластин.Величина угла х определяется при помощи автоколлиматора так же как и величина у, а величину двугранного углаизмеряют гониометром. Таким образом, изменениям показателя преломления жидкости, находящейся в анализируемом...

Номер патента: 1196740

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Баклунов, Оввян

МПК: G01N 21/41

Метки: варианты, его, значения, оптического, показателя, преломления, световода, эффективного

...излученияд АЙ - длина отрезанногообразом. МОЩНОСТЬ ОПТИЧЕСКОГО СИГНЗ ла, ПРОМОДУЛИРОВЗННОГО ЧЗСТОТОЙ Е , записывается Р= Ре 1+тсо 5(шс+ч)(2) где % - среднее значение мощ ности; тглубина модуляции оптического излучения; из=2 ПЕкруговая частота; Ч=-%ц: фаза оптического изГР пучения. (3)"эФФ приращения фазы (ДЧ) в зависимости от приращения длины-(ДЕ)" с получаем формулу (1).. . Точность указанного способа измерения эффективного эначеня показателя преломления определяется путем дифференцированя выражения (1)цде 4 Ч 12- точность измерения значений фаз фЧд 2. Относительная точность: т; 42 д э.Точность измерения фаз Ч 1 иодн(Пнаковая. Максимальная величина отно сительной ошибки составит:. А п Относительная точность -Б 331- опре...

Номер патента: 1203408

Опубликовано: 07.01.1986

Авторы: Кельбалиханов, Матюшенко, Родионов

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...ю щ ии с те м, чт о, относительной чувствивыполцец с квадратцым в двух взаимно перпецтях, причем в каждой сет 5-образнмо фор,гсцица свето цс:ии пади ода; оказатель пр. и свстовода; оказатели псттвсццо цижиь раба:егак:остра(э) ВиднО, что ) тем 60,1 н(сч ч("и ,и ,1ПОКЯЗЯТС Л Ь ПСЛО(Лен И 51 ИССЛЕЛС 101. С РС. ЫК ОКЯЗЯТЕЛК) СГОМ(1 СН(51 )СТ)Во,(1,51МОРСКОИ 130,(Ы . 51 1) 53 КТС) НОС ЗН(31 НИРС.ЛОМЛЕНИЯ ),33 )О. ИЗ И:31(ССТП 1 " 11 ОК С" К, 1;н а и м с н ь ие с з и я (с и и с и 0 к я з я г с л я 1, р . л , , с .ния 1,472 имеет стекло (311(. (;,с,13;(ьпри измеспи и изВсстны 3 с)Ойс(В . Госвстоволом из стскг)Ь,) морск(имеем:5 -= 9,5 Г 6Для предлагаемого ус тройст(3 мс О ,с(3 етовол той ке п,нцяли и формь(с:Нн.что и известное, н)лу п(м и Т 0,1...

Номер патента: 1206652

Опубликовано: 23.01.1986

Авторы: Дудниченко, Малый, Понежа

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления

...положение наименьшего отклонения,при котором образец 5 вместе с зеркалом 3 лазера 1 образует дополнительный резонатор, в котором излучение лазера 1, выходя через полупрозрачное зеркало 3, попадает в автоколлимационный призматический образец 5, отражается от катетной грани ВС последнего и возвращается в резонатор лазера 1. В результате интерференцйи между генерируемым излучением лазера и излучением, отраженным от катетной грани ВС автоколлимационного призматического образца 5, установленного в положение наименьшего отклонения, происходит модуляция лазерного излучения, которую фиксируют индикатором 4. Модуляция лазерного излучения возникает .только в том случае, когда автоколлимационный призматический образец 5 с большой точностью...

Номер патента: 854137

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Александров, Кузьмин

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматический, рефрактометр

...частота модуляции максимальное приближение траектории модуляции к траектории отклонения свето вого потока).Целью изобретения являются повышение точности, чувствительности, расширение динамического диапазона измерений угловых и линейных отклонений световогб потока.Поставленная цель достигается тем, что в автоматическом рефрактометре, содержащем источник света и установленные последовательно по ходу светового луча оптическую проекционную систему, кювету, полый цилиндр с винтовой прорезью, фото- приемник, опорный фотогенератор и самописец, полый цилиндр установлен перед фотоприемником так, что ось его вращения совпадает с направлением перемещения светового луча, причем ширина Й и угол наклона с винтовой прорези связаны соотношениемби 1...

Номер патента: 807776

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Алехин, Васильев, Ершов

МПК: G01N 21/41, G02B 27/60

Метки: исследования, нестационарных, прибор, процессов, теневой, фотоэлектрический

...способаограничивается дифракцией на исследуемой неоднородности и визуализирующей диафрагме прибора и фоновойзасветкой. Дифракционные ограничениясвязаны с разрешающей силой и чувствительностью прибора и могут бытьуменьшены только при ухудшении этиххарактеристик.Из-за высокой чувствительностифотоэлектрической системы практическая чувствительность способа оченьсущественно зависит также от величины фоновых засветок, обусловливаемыхрассеянием света на неоднородности,оптических и конструктивных элементах. Величина фонового сигнала определяется общей величиной световогопотока, проходящего через все полеприбора. С увеличением световогопотока возрастает роль шумов, уменьшается минимальная величина освещенности, которая еще может быть...

Номер патента: 1226195

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Гуменник, Евтихиева, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/41

Метки: градиента, показателя, преломления

...позволяет ус тановить точное месторасположение неоднородной области в исследуемой среде или определить наличие и расположение микроструктур. После этого с помощью дефлектора 2 параллельные 50 пучки рефрактометра перемещаются таким образом, чтобы один из пучков (измерительный) вплотную подошел к неоднородной области или микро- структуре, которую предполагается 55 исследовать, а дополнительный пучок шел вне пределов этой области. Если дополнительный пучок попадает также в неоднородную область, то необходимо изменить расстояние между измерительным и дополнительным пучками, пе - реместив поворотную призму. При этом на экране наблюдаются помимо теневой картины две яркие точки, одна нз них располагается вплотную к исследуемой области, а другая...

Номер патента: 1241112

Опубликовано: 30.06.1986

Авторы: Ватутин, Игнатченко, Чичев

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, порошка, преломления

...наличие,ррудуха между средой и материалом, а следовательно, исключ фачить необходимость уплотнения порош" а"ка.Преобразование оптических свойств жидкости, в частности показателя пре- ломления по, позволяет использовать только одну подложку, исключить операцию прессования, фиксировать лишь два дискретных значения коэффициента отражения. Такое преобразование можно осуществить путем наложения внешних воздействий, например тепловых, электромагнитных, химических, световых и др., с известной заранее харак. - теристикой среды, не оказывающих существенного влияния на порошок. Например, измерение осуществляют на приборе ФМШМ, В качестве исследуемого порошка берут порошок технического углерода (сажу). Засыпают его в кювету, имеющую возможность...

Номер патента: 1247726

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Гайда, Платонов, Пулькин, Спорник

МПК: G01N 21/41

Метки: исследования, количественного, неоднородностей, пространственных

...с двух взаимно перпендикулярных направлений. Таким образом, в плоскость фоторегистрации записываются проекции траекторий лучей х(г) и у(г). Ввиду того, что из-за увеличения рефракции атомов или ионов отклонение траектории лучей можно довести до нескольких градусов дажедля очень сЛабых неоднородностей при приближении длины волны просвечивающего излучения длине волны, соответствующей центру линии поглощения, что.достигается, например, при использованин излучения от лазеров на краси- телях с перестраиваемой длиной волны излучения, проекции траекторий лучей х(я) и у(г) координируются 25 30 35 40 45 50 55 с большой степенью точности. Решениеуравнения каждого луча, преобразованного к системе уравненийЖт"д-Ьн. - " Ь ),где х(г). и...

Номер патента: 869993

Опубликовано: 15.08.1986

Автор: Яськевич

МПК: G01N 15/02, G01N 21/41

Метки: анализа, дисперсионного, микрообъектов

...ин-струмента 6.На оси 5 при помощи шпонки 7 закреплены диски 8, в канавки которых входятшарики 9. Шарики 9 сопрягаются с канавками 10 обоймы 2.В продольных отверстиях обоймы 2 ус 1 в тановлены шарики 11, пружины 12 и штифты 13.От случайного выпадания шарики 9 удерживаются вставками 14.Осевая нагрузка воспринимается упорным подшипником 15.15 Для неподвижного закрепления корпуса 1 относительно обоймы 2 на резьбовомучастке обоймы выполнены пазы 16,в которые входят винты 17.Принцип работы патрона.При нагружении патрона крутящим моментом сверх допустимого ось 5 с дисками8 останавливается, а шарики 9 выталкиваЮтся скосами углублений, расположенными на дисках, в канавки 10 обоймы 2. Корпус 1 с обоймой 2 проскальзывает относительно дисков...

Номер патента: 1254358

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Костылев, Лосев, Попов

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...электрический сигнал,На фиг, 1 представлена оптическаясхема рефрактометра; на фиг. 2 - 25прохождение света через призму, изображенную в горизонтальной плоскости.Рефрактометр содержит источникизлучения - вольфрамовую лаину 1накаливания и расположенные по ходуизлучения конденсор 2, эа конденсором установлена диафрагма 3,проецирующая линза 4, отстоящая отдиафрагмы на расстояние, равное Фокусноиу, за линзой расположена про- З 5уточная кювета 5 и зеркало 6, в нижнейчасти схемы установлена нулевая пластина 3, призма 8, непосредственно эа нейдифференциальный Фотоприемннк 9,Устройство работает следующим 40образом.Луч света от лампы 3 через конденсор 2 и диафрагму 3 передается в кювету 5. Конденсор и проецирующая лийэа 4 формируют изображение...

Номер патента: 822630

Опубликовано: 30.08.1986

Автор: Перуанский

МПК: G01N 21/41

Метки: приземном, рефракции, слое

...4, освещенной источником света 5 через посредство стеклянной прозрачной пластинки 6, и зафиксирован безрефракционный отсчет микрометра И, Во втором положении изображение нити 4 смещено из-за рефракции на отрезке АВ и зафиксированотсчет И.Предлагаемый способ осуществляется следующим образом.Для измерения полного угла рефракции на отрезке АВ в точку А устанавливают угломерный инструмент, имеющий микрометр, например универсаль-. ный инструмент (универсал). В трубу универсала направляют пучок света, выходящий из коллнматора, с которым скреплен уровень типа талькоттовского (в качестве коллиматора можно использовать второй универсал), причем объективы угломерного инструмента и ксалиматора максимально сближены, так что рефракцией,...

Номер патента: 1179768

Опубликовано: 30.08.1986

Автор: Перуанский

МПК: G01N 21/41

Метки: рефракции

...держателю узла креплашя зеркалпридсцот гакае положеце, црц которомоба зеркала строят антака:лимациаццыеизображения итей микрометра в цецтре поля зрения, наворачивая держатель вокруг оси 20, а с ламацыомикраметрическога винта 19 вокругоси 15, В случае зачцельнага рассогласования изображеций необходимадобиться с помощью остравацгх вин-тов с параллельцастц атражающх поверхцастей зеркал,Прц измерениях моменты о 1;реле;ецябезрефракцианцага и искажешага рефракцией отсчетов па вазможности должць савпадаГь др 1 с друга 1 паэтамуцелесообразно вьлалцять совмещенияреальных штей с антакаллмаццаццыи изображениями и сшгмать отсчеты микраметра, ц 1 приср, и така, порядке; 1, М, М М М Мгде нижние индексы указзаот зеркала (1 ближнее к...

Номер патента: 790972

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Апакова, Перуанский

МПК: G01N 1/00, G01N 21/41

Метки: рефракции

...инструменте 1 вместо. 15.автоколлцлаццонного окуляра можетустанавливаться горизонтальная щель,свет от которой с помощью оптического кубика выводится цз объектива трубы параллельным пучком. Это усложнит. конструкцшо, но позволит измерятьдвойной угол рефракции, что можетповысить точность измерений.Для измерения полного угла рефракции 6 ца некотором отрезке АВ (на 25чертеже не показаны) в точке А устанавливается угломерный инструмент 1.Инструмент 2 устанавливают так, чтобы зеркало 3(4) располагалось максимально близко к объективу инструмента 1, и с помощью накладных цлц подвесных уровней придают цилиндрам 11горизонтальное положение, выводя пузырек уровня в нульпункт механизмаммикрометрцческого вращения осц 7 (на35чертеже этот...

Номер патента: 1257474

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Беляева, Паращук, Яблонский

МПК: G01N 21/41

Метки: газов, жидкостей, показателя, преломления

...ис следуемой среды;и - показатель преломления полупроводникового кристалла;- угол при вершине пирамиды(фигуры травления);8 - угловой размер световой картины.Угловой размер 8 световой картины связан с ее линейным размером П соотношением, зависящим от структуры кристалла. В случае гексагональной решетки П - диаметр световой картины, т.е. расстояние между центрами 1 О диаметрально расположенных световых пятен,и йде = О/4 Й для излучения иэ области прозрачности кристалла и йд 9Р/2 й для возбуждающего излучения, где Й - толщина пластины крис талла, Следовательно, при определении показателя преломления жидких и газообразных сред с использованием в качестве дифракционно-преломляющей структуры полупроводниковой кристал лической пластины с...

Номер патента: 1259158

Опубликовано: 23.09.1986

Авторы: Брамсон, Комаров, Тарасюк, Трошкова

МПК: G01N 21/41

Метки: воды, морской, океана, параметров, состояния, условиях

...определения параметров морской среды (температуры, солености, плотности) синхронно измеряют значения скорости звука, оптического показателя преломления, электропроводности, по значениям которых находят искомую величину из соотношения:171 ич Г 1 ч-- зб "(11Й . - заранее определяемые пофэкизвестным табличным даннымпостоянные коэффициенты;6 - значение электропроводностисинхронно измеренное со значениями скорости звука 7и оптического показателяпреломления и .При этом пространственное разрешение составляет порядка сантиметра- дециметра, а ограничения по быстродействию отсутствуют.Для реализации данного способамогут быть использованы измерители оптического показателя преломления (наприер, рефрактометрического или...

Номер патента: 1260772

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Медовиков, Пушкарев

МПК: G01N 21/41

Метки: воздуха, показателя, преломления, среднего, трассе

...трассезначение показателя преломления воздуха, как среднее из егозначений, рассчитанных по метеопараьйтрам, которые измеряют -на концах11 трассы в момент времени йНа фиг.5 дана схема интерферометра для измерения угла полной реф"реакции., 1260772Интерферометр работает следующим образом.Излучение лазера 3 последовательно проходит поляроид 4, объектив 5, 6, диафрагму 7, пластинку 3 /2-8, поляроиды 9 и 10, диафрагму 11, пластинку /2-12, объектив 13, 14. Систе ма поляроидов и пластинок 9 /2 приводит к тому, что верхний и нижний пучки разделены и при интерференции 10 в точке 2 приема позволяют определить угол б, если измерить разность хода 3 интерферирующих лучей б = 3 /Ъ (Ъ - база интерферометра).Предложенный способ осуществляют 15...

Номер патента: 1265558

Опубликовано: 23.10.1986

Автор: Семиошко

МПК: G01N 21/41

Метки: анизотропии, коэффициента, нелинейного, поглощения, показателя, преломления

...т.е, когда и я 1 и= и соя ,или о = 0 Уо г и 2 г Если и , и имеют различные знаки, то угол между плоскостями поляризации записывающих пучков должен быть взят равным нулю, и производит.ся только изменение угла между опти- Ы ческой осью и плоскостью поляризацииобеих пучков, так как только в этом случае будет наблюдаться компенсация противофаэных решеток. Устройство работает аналогично ив случае измерения аниэотропии коэффициента поглошения.Пусть угол между оптической осью 5 образца С и плоскостью поляризациикаждого из записывающих пучков равен (1 . Тогда можно разложить электрические вектора записывающих пучков Е, и Ег на составляющие вдоль иперпендикулярно оптической оси С(фиг.2). Из векторной диаграммы нао Офиг.2 видно, что компоненты Е и...

Номер патента: 1267230

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Виноградов, Медовиков

МПК: G01N 21/41

Метки: вертикальных, рефракции, углов

...что в свою очередь обусловливает высокую точность способа.и одновременно, что следует из(фиг.), как сумму углов рефракции,а также учитывая коэффициент связи 1К между углами рефракции г и гизмеренный предлагаемым способом,получаем выражения для определенияискомых углов рефракции 8.г,1+К Ш 2 +а,где К = в ;- в ,коэффициент связи.ШСпособ может быть реализован с помощью устройства, представленного на фиг.2.Установленными на концах трассы в пунктахи 2 высокоточными теодолитами 3 и 4 одновременно измеряют взаимообратные зенитные расстояния, значения которых через преобразователи 5 и б вхоцной информации передают на устройство 7 для измерения средних значений зенитных расстояний, измеренных в пункте 1 трассы, и через радиопередатчик 8,...

Номер патента: 1278688

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Агеев, Блоха, Милославский

МПК: G01N 21/41

Метки: диэлектриков, показателей, преломления

...оНижнее значение Ь=15 нм из указанного интервала Ь = 15-100 нм толщина пленки АяС 1 определяется минимальной толщиной, при которой сохраняется способность к регистрации решетки в пленке А 8 С 1-А 8 и, в то же время задает согласно выражению (2) нижний предел измерения и для заданных 1,и и , Верхнее значение Ь = 100 нм выбрано на основе выражения (3), исходя из значения Ь = 105 нм для красного края рабочего спектрального интервала 1, =750 нм (и =2,04). Из выражения (3) видно что тол+щина Ь не зависит от показателяопреломления и, Наименьшее значениеЬ соответствует коротковолновомукраю рабочего спектрального диапазона 1, = 400 нм (и,2,14) и равно Ь 0 53 нм. При толщине Ь50 нмпленки АяС 1 на исследуемом диэлектрике можно измерять любые и...

Номер патента: 1280501

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Некрасов, Поляков, Трухин, Ярошецкий

МПК: G01N 21/41

Метки: инфракрасной, области, показателя, преломления, спектра

...пучков, оптический путь опорного пучка регулируют оптической задержкой до появления максимального электрического сигнала на фотоприемнике, что соответствует определенной величине оптической задержки, 128050 1которую регистрируют. Регистрацию производят для того, чтобы относительно этой величины в дальнейшем судить об изменении оптического пути пробного пучка, создаваемом исследуемым образцом. Для нахождения этого изменения на оптическом пути пробного пучка устанавливают исследуемый образец; после этого повторно изменяют оптическую задержку опорного пучка и добиваются появления максимального электрического сигнала.Поскольку оптический путь пробного пучка изменился, а максимальный электрический сигнал регистрато ра появляется только...

Номер патента: 1280502

Опубликовано: 30.12.1986

Автор: Белоцерковский

МПК: G01N 21/41

Метки: оптоволоконный, рефлектометр

...поток от источника 1 излучения, падающий на приемник 5 излучения, также не будет меняться. При изменении показателя преломления контролируемой жидкости происходит изменение коэффициента затухания на поверхностных нерегулярностях свето- вода измерительного участка 3, что приведет к изменению светового потока от источника 1, падающего на приемник 5 излучения (фотодиод). Соответственно происходит изменение тока фотодиода 5, что приводит к изменению падения напряжения на сопротивление нагрузки фотодиода 5, которое контролируется высокоточным цифровым вольтметром.В качестве источника излучения использовался светодиод АЛ, приемника излучения - фотодиод ФДб-К, в вентильном режиме (режиме фото-ЭДС) применялся серийно выпускаемый светодиод типа...

Номер патента: 1163716

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Беленький, Лукин, Миронов

МПК: G01N 21/41

Метки: каналов, расстояния, рефракционных, фокусного

...специальный источник теплового излучения, то способ осуществляют следующим образом. Тепловое излучение от источника 1 под. небольшим углом ч к оси рефракционного канала 2, созданного излучением мощного лазера 3 на СО, посыпают в атмосферу и принимают после выхода из канала линзой 4, положение иэображения источника теплового излучения в области изображения линзы определяют при помощи диафРагмы 5 и приемника3 11637 Ь, а по нему судят о средней кривизне волнового фронта и, следовательно,о фокусном расстоянии рефракционного канала., В том случае, когда используется тепловое излучение выходного зер-.5 кала мощного лазера (см.фиг.2), способ осуществляется следующим образом. Тепловое излучение от выходного зеркала 7 лазера 8 на СО...

Номер патента: 1293583

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Краснопрошина, Сачко, Скаржепа

МПК: G01N 21/41

Метки: двухслойного, показателя, преломления, распределения, световода, сердечника, сечению

...обработки осу ществляет периодический или по заданной программе опрос освещенностиотдельных элементов фотоприемника 5и выбор элементов с максимальной ос -вещенностью, для чего напряжениеи(х,у ) с выхода фотоприемника поступает на схему 7 определения максимальной величины. Координаты элементов фотоприемника х, у. с максимальным выходным напряжением, а следовательно, с максимальной освещенностью, запоминаются запоминающимустройством 8 и используются для определения искомого распределенияпоказателя преломления, Блок электопределения экстремальных величин, основанной на использовании диодных избирательных схем, включенных на входе интегрального операционного 10 усилителя, работающего в режиме повторителя. Устройства 8-11 являются...

Номер патента: 1295305

Опубликовано: 07.03.1987

Автор: Уткин

МПК: G01N 21/41

Метки: анализа, рефрактополяриметрического

...9, преобразующим световой поток в электрический сигнал, поступающий на информационный вход электронного вычислительного блока 17.В момент прохождения вращающегося анализатором 7 начального положения датчик 8 опорного направления, кинематически связанный с анализатором 7, вырабатывает опорный электричес-. кий импульс, поступающий на синхронизирующий вход электронного вычислительного блока 1. По величиневременного сдвига сигналов, поступивших на информационный и синхронизирующие входы, электронный вычислительный блок" 17 вычисляет величину угла вращения плоскости поляризации в исследуемом образце. Одновременно излучение с бокового выхода поляризатора 3 зеркалами 10 и 11 пропускается через боковые клиновидные грани 6 кюветы 4,...

Номер патента: 1303909

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Брамсон, Гончаров, Дурович, Лукаш, Петриков

МПК: G01N 21/41

Метки: воды, морской, солености

...излучения, Оптическое из" лучение от источника света 1 направляется на входной торец чувствительного элемента и, проходя через чув ствительный элемент устройства, взаимодействует со средой. Принцип действия данного измерительного элемента основан на методе нарушенного полного внутреннего отражения, обеспечивающего достаточно высокую точность измерений. Изменения интенсивности потока излучения на выходном торце элемента пропорционально изменениям показателя преломления ис следуемой среды. С выходного торца измерительного элемента поток излу" чения поступает на светоделительную пластину 3, после чего часть излучения проходит через фильтр 4 на фото приемное устройство 6, а часть излучения, отразившись от пластины 3, поступает через...

Номер патента: 1308829

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Афанасьев, Зоткин, Кузнецова, Мецик, Щербаченко

МПК: G01B 9/02, G01N 21/41

Метки: кристаллической, пластины, толщины

...лучи, отразившиеся полупрозрачными покрытиями, различное число раз взаимодействуют, 25 на выходе из пластины, образуя интерференционную картину, которую можно наблюдать на экране, установленном за пластиной. При непараллель-. ности оси оптической индикатрисы пластины и.плоскости поляризации лазерного пучка наблюдаются две системы концентрических эллипсов. Вращая пластину вокруг оси пучка, устанавливают ось индикатрисы пластины параллельно плоскости поляризации, 35 что соответствует моменту исчезновения одной иэ систем эллиптических полос на экране. В этом положении измеряют углы К, , с и Ф. , образуемые с осью освещающего пучка тремя 40 интерференционными максимумами, попарно отличающимися друг от друга на одинаковую величину...

Номер патента: 1317334

Опубликовано: 15.06.1987

Автор: Медовиков

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферы, рефракции, угловой

...ц = соя (2 - Е) (3)При распространении в плоскослоистой среде, каковой является атмос 20Фера, т,е. испытав преломление на1-границах раздела слоев воздуха(фиг.1), имеем:А Е /Е= Г 1 соя (Е; - 2;)М:юУчитывая, что углы Е; близки между собой (4) можно разложить в ряд,ограничиваясь первым членом разложе.ния:30(5) получим:г= --1 п (е /е )11 Г 21 (Е Ею)2Е Е45ю иЭнергия электромагнитных волн приобработке сигналов преобразуется вэлектрические сигналы, поэтомуи - АВ) (7) 50 " 22 огде х, и- амплитуды электрических токов при вертикальной и горизонтальной поляризациях электромагнитной волны;Ею - зенитное расстояниеисточника излучения.Полученная Формула свидетельствует, что угол рефракции можно най 1317ти путем измерения и последующего сравнения...

Номер патента: 1318858

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Ангерт, Кальштейн, Резник, Умаров

МПК: G01N 21/41

Метки: кристаллов, показателя, преломления, сегнетоэлектрических

...преломления соотношениями, описывающими законы сохранения волновых векторов и закон сохранения энергии. Для прямолинейного рассеяния этот закон имеет вид 18858 2и ,и ,и - соответствующие им покаоезатели преломления.Рассеяние на высокочастотной поляритонной ветви в кристалле может бытьзарегистрировано при следующих геометриях рассеяния;Х(ЕУ) Х, (а)1 О или У(7 Х)У, (б),где 2 - направление оптической осикристалла.Из (а) и (б) следует, что направ 15 ление рассеяния должно совпадать сосью Х (для поляризации а ) или с осьюУ (для поляризации о). В этом случаепоказатель преломления и являетсяонеобыкновенным пе.20 Из (1) следует, чтооо Ъ + Фп, (и и)+п (2)Фгде и и п - обыкновенные показатели преломления для предельной длины волны...

Номер патента: 1320721

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Богатырев, Григорьев, Оробинский, Широков

МПК: G01N 21/41

Метки: датчик, интегрально-оптический, параметра, поля, физического

...опорноеплечо 6 которого расположено на массивной части подложки 7. Фоторегистрирующая система 8 установлена навыходе интерферометра.Устройство работает следующим образом.Излучение лазера 1 вводится впланарный интерферометр 2, затемразветвляется по сигнальному 5 и1опорному 6 плечам интерферометра.Измеряемая величина, действующая вплоскости пластины 3, т.е. в чувствительной зоне, вызывает реакцию модулирующего покрытия 4, приводящую кдеформации сигнального плеча интерферометра (вследствие, например, маг. нитострикционного или электрострикционного эффекта) . Таким образом вызывается модуляция фазы оптическогоизлучения, распространяющегося всигнальном плече, которая на выходеинтерферометра преобразуется в модуляцию интенсивности....