G01N 21/41 — преломляющая способность; свойства, влияющие на фазу, например длину оптического пути
Способ контроля качества термообработки пленок фоторезиста
Номер патента: 1103121
Опубликовано: 15.07.1984
МПК: G01N 21/41
Метки: качества, пленок, термообработки, фоторезиста
...полимера, а следовательно, и точностьконтроля,Целью изобретения является повышение точности контроля,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу контролякачества термообработки пленок фоторезиста, включающему регистрацию ианализ спектра пропускания пленкойэлектромагнитного излучения, преимущественно инфракрасного, регистрируют интерференционную картину вспектре пропускания пленки фоторезиста, сравнивают ее с интерференционной картиной в спектре пропускания эталонного образца и по фазовомусдвигу и изменению интенсивностив интерференционных максимумах иминимумах определяют качество термообработки пленки фоторезиста.Регистрировать интерференционнуюкартину в спектре контролируемойпленкифоторезиста можно или в проходящем...
Способ измерения показателя преломления среды
Номер патента: 1104399
Опубликовано: 23.07.1984
Авторы: Закиров, Лейкин, Молочников
МПК: G01N 21/41
Метки: показателя, преломления, среды
...элемента в виде плоскопараллельной пластины, вырезанной подуглом к оптической оси кристалла.Нормально падающий на пластину широкий пучок линейно поляризованного света А - А разлагается в кристаллооптическом элементе на два когерентных пучка,поляризованных в ортогональных плоскостях и сдвинутых в поперечном направлении на величину д, зависящую от толщиныпластины, ее двупреломления и угла междуосью кристалла и нормалью к поверхности.Если диаметр исходного пучка Р превышает д, то прошедшие кристалл обыкновенный и необыкновенный пучки частичнопереналожены. В области переналоженияпучки интерферируют, результатом чего является эллиптически поляризованная световая волна с некоторой начальной разностьюфаз Фр (в некоторых более сложных...
Способ определения комплексного показателя преломления пленочных структур на подложке
Номер патента: 1107033
Опубликовано: 07.08.1984
Автор: Текучева
МПК: G01N 21/41
Метки: комплексного, пленочных, подложке, показателя, преломления, структур
...дисперсные кривые действительной и и мнимой пЖ частей комп лексного показателя преломленияв широком спектральном интерваледля пленок, полученных в процессетехнологического режима на подложках с неизвестными оптическими ха рактеристиками. Кроме того, известный способ не может быть применендля определения оптических характеристик отдельного слоя из многослой.ной структуры пленок, нанесенных на 25 неизвестную подложку.Целью изобретения является повышение точности измерений отдельныхслоев из многослойных (М-слойных)структур на неизвестной подложке 30 и расширение спектральной областиисследований.Цель достигается тем, что согласно способу, включающему измерениеинтенсивностей падающего Ло прошедшего 4(, отраженного со стороны пленочных...
Способ аттестации и калибровки высокочувствительных дифференциальных рефрактометров
Номер патента: 1109598
Опубликовано: 23.08.1984
Авторы: Молочников, Овчинникова
МПК: G01N 21/41
Метки: аттестации, высокочувствительных, дифференциальных, калибровки, рефрактометров
...и т.д, Линия раздепа фотосопротивлений и ребро разделительной призмы ориентируются перпендикулярно меридиональной плоскости.Поэтому фотоэлектрический сигналпоявпяется только при отклонениипучка в меридиональной плоскости.Согласно предлагаемому способу сначала вводят на оптическую ось дифференциального рефрактометра от -клоцяющий клин и разворачивают его,ориентируя главное сечение клина перпендикулярно меридиональцойплоскости. В этом случае отклонецие пучка света происходит вдоль линии раздела фотоприемников, грани делительцой призмы и т,д т.е, фо - тоэлектрический сигнал рассогласования не возникает, 31)Пр и развороте клина и з этого полож ени я в о кру г о пти ч е ск ой о си н а уголугловое отклонение пучка и р ои...
Устройство для измерения нелинейности показателя преломления оптических сред
Номер патента: 1111075
Опубликовано: 30.08.1984
Авторы: Альтшулер, Белашенков, Карасев, Овчинников, Студеникин
МПК: G01N 21/41
Метки: нелинейности, оптических, показателя, преломления, сред
...функций блоков регистрации формы световых импульсов.В качестве калиброванного делителя может быть использовано лазерное диэлектрическое зеркало с коэффициентом пропускания на рабочей;цлине волны порядка 50, поскольку лазерные диэлектрические зеркала являются наиболее удобными и распространенными делителями излучения, а значительное отступление коэффициента пропускания на рабочей длине волны .от значения 50 создает невыгодные усло" вия для создания области НИПП в том образце, в который поступает меньшая доля энергии, так как НИПП .пропорционально интенсивности излучения,На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2, и 3 - примеры его конкретного выполнения; на фиг. 4 - осциллограмма сигналов на выходе...
Способ термометрии микрообъектов по пристенному слою окружающей среды
Номер патента: 1111076
Опубликовано: 30.08.1984
МПК: G01N 21/41
Метки: микрообъектов, окружающей, пристенному, слою, среды, термометрии
...слоя осуществляется введением люминофора в среду, содержащую микрообъект. В пристенном слое регулярность органиэации молекул люминофора определена взаимодействием его с поверхностью микрообъекта, а также организацией растворителя. При этом термсзависимой величиной является интегральная интенсивность перпендикулярно поляризованной ком- поненты люминесценции пристенного слоя при возбуждении ее поляризованным светом. Особенности организации пристенного слоя обусловливают высокую яркость этой компоненты, практически в десятки раз выше яркости фона.Термометрия микрообъектов по предлагаемому способу включает размещение термоактивного микрообъекта клаксон, ьашечное волокно и др. в кювете с раствором люминофора, размещение кюветы между....
Способ определения оптических констант ферромагнетиков
Номер патента: 1116364
Опубликовано: 30.09.1984
Авторы: Грибков, Зубов, Кринчик, Лысков, Таблин
МПК: G01N 21/41
Метки: констант, оптических, ферромагнетиков
...- изменения интенсивности д:о от угла падения света определяют оптические константы ферромагнетика по методу наименьших квадратов.На фиг, 1.изображено устройство, реализующее предлагаемыйспособ;на фиг. 2 - результаты измерения зависимости относительного изменения интенсивности отраженного света от угла падения света для ортоферрита иттрия (УРеО,).Способ осуществляется следующимобразом,Исследуемый образец, имеющийотражающую поверхность, помещают1 между полюсами электромагнита так,чтобы вектор магнитного поля былперпендикулярен плоскости падения света, имеющего Р - поляризацию. Затеи, измеряя интенсивность отраженного света Э ив отличие от известного технического решения изменение интенсивности 3, вызванное перемагничиванием образца...
Способ измерения диэлектрических потерь
Номер патента: 1120223
Опубликовано: 23.10.1984
Авторы: Роговцев, Фурашов, Чермянин
МПК: G01N 21/41
Метки: диэлектрических, потерь
...на фиг. 2 и 3 крайние положения зеркала с образцом относительно потока излучения при модуляции.Устройство содержит субмиллиметровый генератор 1, делитель 2 потока излучения, диафрагму 3, модулятор и приемник 5. Модулятор 4 содержит диэлектрический образец б,плоское зеркало 7, каретку 8, кривошипношатунный механизм 9, электродвигатель 10 с редуктором и датчик 11 опорного напряжения. Приемник 5 содержит квадратичный детектор 12, усилитель 13, синхронный детектор 14 и индикатор 15.Генератор 1 предназначен для формирования близкого к параллельному потока электромагнитного излучения субмиллиметрового диапазона. В качестве генератора 1 используются субмиллиметровый оптический кванто 40 вый генератор или лампа обратной волны....
Устройство для определения главных показателей преломления кристаллических веществ
Номер патента: 1122935
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Иманбаева, Серебряков, Щитченко
МПК: G01N 21/41
Метки: веществ, главных, кристаллических, показателей, преломления
...значение главных показателей преломления кристалла, его необходимо прикрепить к кристаллодержателю 5. Пространство между диском 1 и 2, образующее им-25 мерсионные камеры, заполняют иммерсионными жидкостями с различными показателями преломления, Затем кристалл 4, прикрепленный к кристаллодержателю 5, поочередно вводится в им-мерсионные камеры до тех пор, пока не будет установлено равенство по 1 ". казателя преломления жидкости.,и изучаемого кристалла. Равенство показателей преломпения устанавливают по полоске Бекке. Установив равенство показателей, определяют значейие показателя преломления жидкости. Для этого фиксируют окуляр-микрометром положение риски 3 в поле зрения, Удаляют иммерсионную жидкость фильтровальной бумагой и вновь...
Способ измерения нелинейности показателя преломления оптических сред
Номер патента: 1122936
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Альтшулер, Белашенков, Ермолаев, Козлов
МПК: G01N 21/41
Метки: нелинейности, оптических, показателя, преломления, сред
...и нелинейной сред нелинейные формулы френеля имеют вид30 При этом 40 1 гг (б(1+5 )бакр"ь х2 б(1 й 5) Выравнивание линейных показателей преломления граничащих сред может 45 быть осуществлено путем изменения линейного показателя преломления линейной среды любым известнымспособом, например изменением температуры линейной среды, изменением давления и т.д.Предлагаемый способ более точен по сравнению с известным так как при его осуществлении не проводится раздельного определения коэффициен тов нелинейности показателя преломления йг и П гР , при котором в измерения вносится дополнительнаял,Х - Х - текзор линейной восприимчпвости для линейнонопяризованного света,= Х - текзор линейкой воспригимчивости для поляризо 5ванного по кругу...
Способ измерения коэффициента нелинейности показателя преломления оптических сред
Номер патента: 1122937
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Альтшулер, Белашенков, Ермолаев, Карасев, Козлов
МПК: G01N 21/41
Метки: коэффициента, нелинейности, оптических, показателя, преломления, сред
...известного способа является низкая точность измерений, связанная с погрешностью установки угла полного внутреннего отражения и погрешностью, определяемой неконтролируемой расходимостью излучения, падающего на границу раздела. 1122937 2отраженного от границы раздела,а коэффициент нелинейности показателя преломления О исследуемой средыопределяют по формулеФ 30"о - линейный показатель преломления граничащих сред;3 - интенсивность излучения,отраженного от границы раздела;9 - угол падения излучения награницу раздела.В известном способе основным фактором, снижающим точность измерений,является погрешность установки углаполного внутреннего отражения вусловиях отсутствия контроля расходимости излучения, падающего,награницу раздела. Оптические...
Способ измерения показателя преломления и коэффициента поглощения материалов в ик-области спектра
Номер патента: 1122939
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Варшал, Денисов, Маврин, Подобедов, Стерин
МПК: G01N 21/41
Метки: ик-области, коэффициента, поглощения, показателя, преломления, спектра
...освещение монохроматическим световым пучком с частотой Я; в области прозрачностиматериала регистрацию излучения 50орассеянного под углами 0910при угле сбора А 6 6 0,5 , измерениеугловой зависимости спектра рассеянного излучения и определение по результатам измерений искомых параметров, измерение угловой зависимости спектра рассеянного излученияпроводят в спектральной области 2 (д.,Предлагаемый способ основан на соблюдении законов сохранения энергии и импульса в процессе гиперкомбинационного рассеяния света (ГКР) на поляритонах в центросимметричных кристаллах, стеклах и жидкостях, а также на правилах отбора, в соответствии с которыми ГКР на поляритонах активны в этих средах.Способ осуществляют следующим образом.Показатель...
Рефрактометр-колориметр
Номер патента: 1125514
Опубликовано: 23.11.1984
МПК: G01N 21/41
Метки: рефрактометр-колориметр
...оптическую систему,дифференциальную кювету с полупрозрачной зеркальной перегородкой, делящеи кювету на измерительную и сравнительную полости, фотоприемник,расположенный перпендикулярно оптической оси рефрактометра-колориметра,и измерительное устройство, выходнаягрань сравнительной полости дифференциальной кюветы выполнена зеркальной и параллельной полупрозрачнойперегородке, а фотоприемник - в виде фотоприемника развертывающего типа (сканистор, прибор с зарядовой связью.и т.п.).На фиг, 1 показан рефрактометрколориметр; на фиг. 2 - эпюра видео- импульсов, полученных на выходе развертывающего фотоприемника. Рефрактометр-колориметр состоит из источника 1. света, оптического устройства 2, формирующего световойпучок, дифференциальной...
Устройство для исследования оптических неоднородностей морской воды
Номер патента: 1133509
Опубликовано: 07.01.1985
Авторы: Королев, Красовский, Лукаш, Наумов, Поварков, Самков, Соловьев
МПК: G01N 21/41
Метки: воды, исследования, морской, неоднородностей, оптических
...стекло 3, зеркало 4, фотоприемник, светорегистрирующую систему, содержащую диаграму 6, объектив 7, светофильтр 8, приемник 9 излучения и вычислительное устройство 10. формируются два оптических канала, устайовленнх в одном жестком корпусе 11 таким образом, чтобы обеспечить возможность регистрации через защитное стекло флуктуаций показателя преломления внутри исследуемого объема воды (первый канал) и флуктуаций температуры на поверхности исследуемого объема, прилегающей к защитному окну (второй канал). Конструкция и принцип действия первого оптического канала аналогичны соответствующему каналу в известном устройстве. В качестве оптической системы визуализации флуктуаций показателя преломления можно использовать как теневую, так и...
Устройство для измерения анизотропии коэффициента поглощения и нелинейного показателя преломления
Номер патента: 1133510
Опубликовано: 07.01.1985
Автор: Семиошко
МПК: G01N 21/41
Метки: анизотропии, коэффициента, нелинейного, поглощения, показателя, преломления
...что в устройство для измерения анизотропии коэффициента поглощения и нелинейного показателя преломления образца, содержащее лазер и последовательно установленные по ходу излучения средство для измерения интенсивности излучения, линзу и средство для измерения распределения интенсивности в лазерном пучке, дополнительно введены расщепитель и компенсатор, установленные последовательно между линзой и средством для измерения распределения интенсивности в лазерном пучкетаким образом, что оптические оси рас.1щепителя и компенсатора ориентированы под углами к оси излучения соответоственно 45 и 90 , а плоскости главного сечения расщепителя и компенсатора взаимно перпендикулярны.При этом толщина компенсаторавыбирается из соотношения п -а(45)Ь,о...
Угловой рефрактометр
Номер патента: 1138714
Опубликовано: 07.02.1985
Автор: Сушков
МПК: G01N 21/41
Метки: рефрактометр, угловой
...увеличивает трудоемкость работ с прибором,Целью изобретения является повышение точности измерения угловой рефракции,4 2Укаэанная цель достигается тем,что в угловой рефрактометр, содержащий два лазера с различными длинамиволн и расположенные последовательнопо ходу излучения коллиматор, приемную оптическую систему, элемент переворота изображения, поляризатор,двулучепреломляющую пластину и фОтоприемник, соединенный со схемой регистрации, дополнительно введены элемент разделения излучения по длинамволн, два электрооптических компенсатора, второй и третий поляризаторы,два регулятора напряжения и схемасравнения напряжений, причем элементразделения излучения по длинам волнустановлен между двулучепреломляющейпластиной и фотоприемником,...
Оптический анализатор
Номер патента: 1140010
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Александров, Евстрапов, Кузьмин, Матисен, Перевезенцева
МПК: G01N 21/41
Метки: анализатор, оптический
...сформирован),. Прок.дит поперемени модулятора 5 и ячейкала с помощью кость двухщелевлельный снетовоный объективом но через 1-роре ля тор.Устройство сос.оит (Фиг.из источника света 1, коцдс)1 сатс рд 2, днухщепевой диаФрагмы 3, объектива 4, модулятора 5, кюветы 6, обьективя 7, зеркал 8 и 9, плоско;араппельной пластины 10, янцзы 11, Фотоприемника12 и светофильт",)а 13, Фотоприемника14, светофильтра 15, Фотоприемника 16, измерителя 17 интервалов времени, логарифмического измерцтепя 18 отношения амплитуд, измерителя линейного19, яндяющ)ихся преобразователями, и ;огоканально.о регистрирующего УГтройства 20.Устройство работает следующим образом.ки кюветы 6. Далее с помощью объектива 7 формируется изображение светового диаметра...
Способ измерения показателя преломления
Номер патента: 1141316
Опубликовано: 23.02.1985
Авторы: Закиров, Молочников
МПК: G01N 21/41
Метки: показателя, преломления
...измеряют1 1углыотклонения пучкалэ или Л(,соответственно для минимальной илимаксимальной длины волны, из рабочего спектрального диапазона при использовании иммерсионной жидкости,имеющей показатель преломления(1 ЛЬ,оравный показателю преломления иисследуемого образца для наименьшейдлины волны э из рабочего спектрального диапазона, затем дополнительно11измеряют углы отклонения пучка ф эили 9 Л,( соответственно для минимальной или максимальной длины волны израбочего диапазона при использованиииммерсионной жидкости, имеющей покаизатель преломления и , равный покаазателю преломления образцаЛ(, длянаибольшей длины волны А из рабоче-.го спектрального диапазона, а номинальное значение угла отклонения л,для любой промежуточной длины волныХ...
Способ определения интегрального группового показателя преломления воздуха
Номер патента: 1144033
Опубликовано: 07.03.1985
МПК: G01N 21/41
Метки: воздуха, группового, интегрального, показателя, преломления
...- круговая частота модуля-,ции,Ь 6 Э; - ИЗМЕРЕНная девиация-йнесущей колебаний;- длина трассы;6 и С - дисперсионные коэФфициентыФормулы Коши для стандартных условий;Т - средняя температура воздуха на концах трассы;М, и 2 - коэФФиЦиенты формулы Баррела-Сирса;" и " - коэффициенты формулы фр 1ма-Эссена,причем величину разнесения оптических несущих колебаний по спектру Ьопределяют по формуле Ь="з Ь"где Ь " заданная точность определенин показателя преломления воздуха в радиодиапазоне частот;Ь 8 - точность определения индек"са преломления в оптическомдиапазоне частот;Э - средняя длина волны;033 3 11447 - скорость электромагнитныхколебаний в воздушной сре-,де.На чертеже представлена блок-схема устройства для реализации...
Способ измерения показателя преломления жидких и газообразных прозрачных сред и устройство для его осуществления
Номер патента: 1144034
Опубликовано: 07.03.1985
Авторы: Арефьев, Госьков, Старостенко
МПК: G01N 21/41
Метки: газообразных, жидких, показателя, преломления, прозрачных, сред
...искажения и смещения ее экстремальных точек относительно неискаженной картины пропорциональны величине дц . Положение нулевого максимума определяют при помощи колеблющегося щелевого электромагнитного анализатора и установленного за ним фотоприемника, закрепленных на подвижной каретке, снабженной микрометрическим винтом. По величине амплитуды первой гармоники сигнала, снимаемого с Фотоприемника, судят о положении нулевого максимума дифракционной картины относительно щелевого анализатора. Блок обработки сигнала состоит из предварительногоона щели относит аспроетранения с но направ 40 оследовательформирую"3 11440 и узкополосного усилителей и Фазового детектора, на который также поступает сигнал с генератора, питающего электромагнитный...
Устройство для измерения структурной характеристики показателя преломления турбулентной среды
Номер патента: 1149145
Опубликовано: 07.04.1985
Авторы: Крыжановская, Нечаева, Савостьяненко, Стасенко
МПК: G01N 21/41
Метки: показателя, преломления, среды, структурной, турбулентной, характеристики
...жителя 15 и 16, согласующие линзы 1-20, предварительные усилители 21-23,датчик 24 давления., направляющую 5 перемещения подвижного моду Сля 26 с чувствительным элементом (пласт 1 лнкой) 14, кабельнуо линию 27, преобразователь 28 электрических сигналов и блок 29 регистрации,Устроиство работает следующим образм. Световой поток от источника 1 излучения (ОК 1) модулируется с помощью модулятора 2, расширяется и коллимируется сптической системой 3 и 4, Светоделительной пластинкой тс большим коэффициентом отражения, чем пропускания, световой поток делится на двд пучка, причем для выравнивания пучков применяется светофильтр 9 типа 11 С, Пучок света, прошедший пластинку 5 и отклоненный зеркалом 6, попадает на светофильтр 9, призму 30 и...
Способ определения действительной части показателя преломления металла
Номер патента: 1151869
Опубликовано: 23.04.1985
МПК: G01N 21/41
Метки: действительной, металла, показателя, преломления, части
...второго слва, что для нееся соотношение в вакууме; казателя алла, толоя 3 тако- выполняетс 1 г В маФ -- - я ю ов На фиг. 1 представлена принципиальная схема устройства для реализазатеи через полученную структуру пропускают световой пучок с фиксированной частотой излучения, возбуждаяв ней направляемую ТМ-моду, и измеря.ют интенсивность вышедшего из структуры светового пучка, по которой определяют спектр того пучка, измеряют полуширину о" спектра, а действительную часть показателя преломления металла ь определяют по формуле ии предлагаемого способа, на фиг. асчетные спектральные зависимости3 1151 коэффициента затухания ТМ-моды четырехслойного металло-диэлектрического волновода ж(ы и величины х(шр (оэ.Устройство, реализующее предлагаемый...
Устройство для измерения структурной характеристики показателя преломления атмосферы
Номер патента: 1153276
Опубликовано: 30.04.1985
Авторы: Барышников, Шапиро
МПК: G01N 21/41
Метки: атмосферы, показателя, преломления, структурной, характеристики
...б, а также с обнаружителем 7 сигналов, подключенным к вторым входам двух электронных ключей 8 и 9, первые входы которых соединены с выходом первого счетчика 6, последовательно соединенные схему 10 вычитания кодов, блок 11 памяти, схему 12 совпаде 4счет изм ненни отношения 1 /1 яец нфгвязанного с характеристикой турбулентности,Цель изобретения - повышение точности измерений структурной характеристики показателя преломленияатмосферы.Поставленная цель достигается тем,что устройство, содержащее источникизлучения, фокусирующую линзу, последовательно соединенные сканирующийфотодетектор, расположенный приемной поверхностью в фокальной плоскости фокусирующей линзы, аналого-цифровой преобразователь (АЦП), блокпреобразования кодов и первый...
Устройство для определения показателей преломления и поглощения твердых тел
Номер патента: 1155920
Опубликовано: 15.05.1985
Авторы: Васильева, Лейкин, Молочников, Морозов, Николаев
МПК: G01N 21/41
Метки: поглощения, показателей, преломления, твердых, тел
...до О, 1,На фиг, 1 приведена схема устройства, на фиг. 2 - зависимостькоэффициента отражения от толщиныслоя иммерсионной жидкости.Устройство содержит осветительную систему 1 и последовательно расположенные по ходу излучения расщепитель 2 излучения,по крайней мерена два пучка, измерительный блок выполненный,например,в виде сферического или цилиндрического элемента НПВО 3,клиновидный слой иммерсионной жидкости 4 и фотоприемный блок, включающий фокусирующую линз 5 и приемник 6 излучения, соединенный сэлектрической схемой 7 регистрации,исследуемое твердое тело 8.Устройство работает следующимобразом.Излучение от осветительной системы 1 расщепляется расщепителем 2 на несколько пучков и проходит через1155920 а Р -1-г И. и 110 т ци фВ щина...
Рефрактометр поляризационный
Номер патента: 1155921
Опубликовано: 15.05.1985
Авторы: Афанасенко, Пеньковский
МПК: G01N 21/41
Метки: поляризационный, рефрактометр
...отражении от грани ы паздела воздух-алюминий.Рефрактометр поляризационныйсодержит неподвижное и подвижноеплечи. В неподв 1 окном плече установлены источник 1 света, формировательколлимированного монохроматическогопучка света, состоящий из линз 2 и 50 3, между которыми установлен интерференционный фильтр 4, диафрагмы 5 и коллиматора 6, разделитель 7пучков света, например, в виде делительного кубика, поляризационный 55 Фильтр 8, укрепленный на лимбе 9,магнитооптический модулятор 1 О,подключенный к источнику переменноготока частоты ц), например к сети, 1155921 бэлектрооптический модулятор 11 разности фаз, подключенный к источнику 12 переменного напряжения часто-ты Л -"о) . В подвижном плече установлено зеркало 13 так, что его отражающая...
Способ измерения разницы показателей преломления спеченных стекол
Номер патента: 1157414
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Потапова, Седов, Цветков, Щавелев
МПК: G01N 21/41
Метки: показателей, преломления, разницы, спеченных, стекол
...измерения разницы показателей, преломления спеченных стекол, одно иэ которых поглощающее, включаюшем прспускание зондирующего и опорного пучков излучения через образцы, регистрацию пучков излучения, прошедщих через образец, и иэмерение угла отклонения зондирующего пучка излучения по отношению к опорному пучку, по которому судят с разнице показателя преломления спеченных стекол, зондирующий и опорный пучки излучения пропускают через образец, изготовленный иэ слоистой заготовки спеченных поглощающего и прозрачного стекол, так что плоскость спекания образует с входной и выходной гранями образца соответственно углы о и ов интервале 0Жр.90 , причем опорный пучок излучения пропускают только через один иэ спеченных слоев, при этом угол...
Фотоэлектрическое теневое устройство
Номер патента: 1157415
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Королев, Красовский, Крастина, Матвеев, Наумов
МПК: G01N 21/41
Метки: теневое, фотоэлектрическое
...зеркального ножа 2 и кромка световоэнращающего зеркала 3 образуют световую диафрагму. Световоэвращающее зеркало 3 расположено в передней фокальной плоскости объектива 4 перпендикулярно его оптической оси, Оптический клин б устанонлен так, что ребро двугранного угла клина параллельно рабочей кромке зеркального ножа 2, а грань, соединяющая преломляюшие поверхности1574клина, расположена на оптическойоси, причем угол к между каждойиэ преломляющих граней клина иоптической осью объектива удовлетворяет условию 50 с с--- 1,,)где 1 - расстояние между оптическойосью и той границей зеркальной поверхности ножа 2 или 1 Осветовозвращающего зеркала3, которая расположена набольшем расстоянии от оптической оси,1 - фокусное расстояние объектива...
Способ регистрации поля градиента показателя преломления
Номер патента: 1158905
Опубликовано: 30.05.1985
Авторы: Евтихиева, Ринкевичюс
МПК: G01N 21/41
Метки: градиента, показателя, поля, преломления, регистрации
...достигнет пучка, идущего вдольоптической оси, и в результате дифракции этого пучка получится в кот нечном счете набор параллельных пучков, зондирующих неоднородную среду, При прохождении через неоднородную среду эти пучки отклонятся от первоначального направления и электронный блок 5 синхронизации обеспечивает проВедение измерения отклонений в этот же момент времени, При этом наклонныйпучок проходит УЗМ, не испытывая дифракции. Через интервал.времени "=Р/Ч ультразвуковая волна достигнет наклонного пучка и дальнейшие измерения станут .невозможными. Таким образом, в результате измерений получают поле углов отклонений набора параллельных пучков и наклонного пучка. По измеренным зависимостям восстанавливают поле градиента...
Проточный рефрактометр
Номер патента: 1165949
Опубликовано: 07.07.1985
Авторы: Александров, Евстрапов, Кузьмин, Павленко
МПК: G01N 21/41
Метки: проточный, рефрактометр
...а в рефрактометрвведен дополнительный оптическийканал регистрации, оптически связанный с оптической системой рефрактометра через светоотражающую дополнительную перегородку кюветы, подключенныйк блоку регистрации.На фиг. изображена .оптическаясхема предлагаемого рефрактометра;на фиг.2 - вид А на фиг,1.Устройство содержит источник 1излучения, Оптическую систему,включающую конденсор 2, диафрагму3 и объектив 4, кювету 5, содержащуювходное окно б, внутреннюю прозрачнуюперегородку 7, внутреннюю перегородку 8 со светоотражающим покрытием ивыходное окно 9два Оптических канала регистрации, включающих объективы 10, зеркала 11, прерыватель 12,линзы 13 и Фотоприемники 14 и 15,блок регистрации, включающий измерители 16 и 17 длительности...
Устройство для измерения абсолютного показателя преломления
Номер патента: 1185195
Опубликовано: 15.10.1985
МПК: G01N 21/41
Метки: абсолютного, показателя, преломления
...7, подключенным к выходу усилителя б. При введении в устройство измеряемого образца, который помещается между невзаимным делителем 3 мощности и зеркалом 4, оптическая длина вышеуказанного канала изменяется, а следовательно, и частота автоколебаний, модулирующих оптическое излуче" ние, Показатель преломления измеряемого образца вычисляют по формулес И.-й,)и = 1 + 1во ггде и - показатель преломления;с в .скорость света в свободномпространстве, м/с;Г - частота автоколебаний в отосутствии образца, Гц;- частота автоколебаний приналичии образца, Гц;й - толщина образца, м.Эта формула справедлива для образцов в виде плоскопараллельных пластин,Возможность измерения абсолютного показателя преломления образцов с толщиной больше длины волны...