G01N 21/41 — преломляющая способность; свойства, влияющие на фазу, например длину оптического пути

Номер патента: 326493

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Степин

МПК: G01N 21/41

Метки: дифференциальный, показателей, преломления

...4тив 4, св ль влена оптическая схерефрактометра, с позуется предложенный МОЩ спо конденсор 2 освещает одящуюся в фокальнойПройдя через объекым пучком падает на Зависимое от авт. свидетел Известен дифференциальный способ измерения показателей преломления, заключающийся в том, что в поле зрения рефрактометра получают изображения спектров эталонной и испытуемой призм. По расстоянию 5 между изображениям 1 и одной и той же спектральной линии в этих спектрах определяют разность показателей преломления.При малой разности показателей преломления изображения линии накладываются 10 одно на другое, что не позволяет произвести точное измерение.Согласно предложенному способу, последовательно перекрывают каждую из призм вместе с сопряженной с ней...

Номер патента: 335585

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Алмашин, Исхаков, Пеньковский

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...из двух примыкающих друг к другу поляризационных элементов В и Г с разной ориентацией плоскостей пропускания, например, взаимно перпендикулярной, линия раздела между которыми, играющая роль нуль-пункта, перпендикулярна направлению отклонения луча.Непосредственно за анализатором 12 установлена линза 18, в фокусе которой расположен фотоприемник 14, являющийся составной частью системы наведения и регистрации, включающей в себя избирательный усилитель 1 б, фазовый детектор 1 б, модулятор 17, усилитель мощности 18, исполнительный реверсивный двигатель 19, связанный с компенсатором 11 и регистрирующим прибором 20,Устройство работает следующим образом.Сформированный элементами 1 - б узкий, например, в виде вертикальной плоскости,...

Номер патента: 340211

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Иностранец, Иностранна

МПК: G01N 21/41, G01S 13/38

Метки: ага, актиеболаг»(швеция

...получим следующиевыражения для фазовых задержек и для двух 40частоти 2 по прохождении расстояния Р;р=Р(1+У) (1)(6) где сс - фактор, зависимый от температуры и давления, а Уо - значение У при стандартных (обычных) условиях давления и температуры. Обозначая через Уо, и Уо, значения Уо для указанных двух цветов, получаемУ, - У, = (Уо, - Уо, ) а, (7) откуда можно определить а, если известно значение Ж - У 9, В уравнении (5) удвоено измеренное значение, которое ,получается благодаря процессу переключения. Без процесса переключения и при использовании только одной частоты модуляции 1" была бы полУчена Разность фаз 1"с - 1" соответствУ- ющая уравнению (3);д д 2 й) с Й 1 г" г: (У Уг)1СДальнейшее улучшение достигается введением устройства 18...

Номер патента: 390423

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01N 21/41

...с малыми угловьмерами в фокальной плоскости наблюной оптической системы является слтак как требует трудоемкую статистобработку результатов измерений,Для упрощения способа регистрирубражение радиальной миры и опрдиаметр размытого пятна в центре еежения, а об измеряемом параметре сотношению диаметра пятна к диаметбражения миры,Сущность предлагаемого способа 3ется в следующем. 6 ретения Предме ют изоеделяютизобраудят по ру изоключ Изобретение относится квания свойств среды и можвано для определения струстики флюктуаций показаатмосферы в условиях турб ЧП. 1973, Бюллетень3ия описания 14. Х 1. 1973 ОВ ОПРЕДЕЛЕНИЯРАКТЕРИСТИКИ ФЛЮКТУАЦИЙПРЕЛОМЛЕНИЯ АТМОСФЕРЫ Перед наблюдательной оптической мой помещают радиальную миру, а по гистрации ее...

Номер патента: 393652

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 21/41

Метки: дифференциальный, рефрактометр

...автоколлимационной системы и юстировочных подвижек призменного блока введены два зеркала, одно из которых жестко связано с измерительным призменным блоком и расположено на половине фокусного расстояния объектива коллиматора, а другое установлено между объективом коллиматора и измерительным блоком.Эти отличия повышают точность измерений, На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого дифференциального рефрактометра.Световой поток от источника излучения 1 проходит с помошь 1 о конденсора 2 на входную щель 3, затем, отразившись от зеркала 4, жестко связанного с измерительным блоксм 5, попадает на объектив коллиматора б. Параллельный пучок лучей после объектива коллиматора попадает на плоское зеркало 7, затем на измерительный...

Номер патента: 401912

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 21/41

Метки: 401912

...7 в параллельный пучок, который проходит через кювету сравнения 9 иизмерительную кювету 10, расположеннуювнутри кюветы 9. Кювета 10 представляет25 собой трехгранную металлическую призму сдвумя прямоугольными сквозными ячейками25 и 26, закрытыми стекляццыми пластинами24. Зеркало 11 и полоска зеркального покрытия 8 ца объективе 7 обеспечивают двойЗО ную автоколлимацию светового пучка. Свето 4019125 10 15 20 25 30 вой пучок, проходя через измерительную кювету 10, делится ячейками 25 и 26 на два потока а и б. Поток а используется для измерения на малых диапазонах изменения разности показателей преломления (О - :2) 10 -ед.; поток б - для измерения изменения разности показателей преломления в большом диапазоне (О - :2) 10...

Номер патента: 405059

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Карасик, Кормер, Молочников

МПК: G01N 21/41

Метки: дифференциальный, рефрактометр

...разности показателей мала из-за применения прямоугольных оптических решеток и компенсации клином, связанным с приводом и отсчетным устройством.Предлагаемый дифференциальный рефрактометр позволяет повысить точность измерений благодаря тому, что одна из решеток выполнена в виде винтовой линии на цилиндрической поверхности или спиральной линии наплоской поверхности и соединена с приводоми отсчетным устройством,На фиг. 1 приведена схема предлагаемогодифференциального рефрактометра; на фиг. 2 20показано изображение, получаемое с помощьюпредлагаемого рефрактометра.Источник 1 света через конденсатор 2 ипризмы 3 равномерно освещает два диаметрально расположенных участка спиральной 25решетки на цилиндрической поверхности 4,которые...

Номер патента: 406148

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Аксенов, Вител, Горелов, Зенкин, Кудр

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...малым, ч ии экстремаль пределения по сает диапазон и Предложенныи способ свободен от этих недостатков благодаря тому, что,лучи, проходящие через кюветы с веществом, поляризуют циркулярно в противоположных яаправлениях.Способ поясняется чертежом. Монохроматический поток излучения от,источника 1, пройдя через поляризатор-модуляр 2, модулирующий излучение по колебаниям его азимута,поляризациями, при помощи призмы 3 (например, призмы Френеля) разделяются в пространстве на два циркулярно поляризованных пучка лучей, имеющих разные знаки Ь -Г тд (а, - ггз) разность фаз2 Изобретение дованадия физиче прозрачных вещ метри,и. Известны сп преломления пр используется по рия. Недостаток вблизи фазовогоВ случае, когда показатели преломления(или другие...

Номер патента: 365559

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Германска, Иностранец

МПК: G01C 5/00, G01N 21/41

Метки: измерительное, фотоэлектрическое

...4, то о 5 20 зо 35 40 Поворот плоского зеркала 7 можно осуще. ствцть и измерить с помощью известного микрогетрцческого винта (на чертехке це показан).Ы плоскости выходного окна 8, через которое выходят из передатчика параллельные световые лучи 9, расположены четыре уголковые призмы 10 - 13 непосредственно рядом с ним и симметрично относительно пучка 9 световых лучей. Если зеркало 7 перпендикулярно по отцошешцо к падающему пучку 9, то он отражается от зеркала 7 на уголковые призмы 10 - 13 и вновь ца зеркало 7, так что находящцйся у зеркала наблюдатель видит равномерно освещенные уголковые линзы.Д цлоскости 14 окна 8 могут быть установленызадке четыре фотоэлектрических приемника 11 - 18, находящиеся между уголковыми призмами, которые...

Номер патента: 381003

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Зайцев

МПК: G01N 21/41

Метки: поверхности, удельной

...диафрагмой. С развертки можно гства для реализации телевизионные магнитгектргической или оптиуммарную длину строк устанавливать равной 10 лглкгде и= - 1, 2, 3 и т, д ни мет изооре Способ опрети раздела фазметаллографичером определястрок развертячаюигийгя тем,процесса опредпересечений стрдела производяравной 1 лглг,Изобретение относится к области количественного металлографического анализа.Известен способ определения удельной поверхности раздела фаз при помощи телевизионных металлографических анализаторов, 5 при котором количество пересечений строк развертки с границами микроструктуры определяют на произвольно выбранной длине строк, а ее измерение осуществляют при помощи ооъекта,микрометра. 10Предложенный способ отличается от известного...

Номер патента: 415559

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G01N 21/21, G01N 21/41

Метки: 415559

...10 -см. 10Предлагаемый способ позволяет повысить точность определения. Это достигается тем, что при измерениях свободную поверхность пленки вначале помещают в среду, оптически менее плотную, и производят измерение раз ности фаз между перпендикулярно и параллельно поляризованными компонентами отраженного от пленки света, а затем пленку помещают в среду, оптически более плотную.Способ осуществляют следующим образом. 20 Пленку приводят в оптический контакт с прозрачной средой; имеющей показатель преломления меньший, чем показатель преломления измеряемой пленки, и измеряют Л 1 - разность фаз между параллельной и перпенди кулярной составляющими отраженного света. Затем пленку приводят в оптический контакт с прозрачной средой, имеющей...

Номер патента: 418776

Опубликовано: 05.03.1974

МПК: G01N 21/41

Метки: 418776

...следуемого вещества до частиц 0,05 длины волны излучения и ди ния их в двух прозрачных среда показателей преломления которых По измеренным значениям интенси шедшего через образцы излучения личине действительной и мнимой ч лексного показателя преломления. Способ реализуется след Исследуемое вещество др фракций с необходимым р зависимости от диапазона ния (для видимого диапазо фракраспого 0,03 - 0,02 мк).где Т, и Т, - измеренные значения пропускания;с - концентрация исследуемого вещества;д - толщина слоя образца.Решают систему уравнений 11) относительно гг, и Уг. - коэффициентов поглощения исследуемого вещества в различных средах ггг и гг 2:(4) где Составитель Ю, Галкин Редактор Т, Орловская Корректор Е. Миронова Техред Е. Борисова...

Номер патента: 678342

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Богданович, Бортовой, Григорьев, Гудименко, Каменской, Свечников, Синицын, Фесечко

МПК: G01K 11/16, G01N 21/41

Метки: поверхности, температуры

...и конден сор 3, светофильтр 4 с регулируемой длиной волны пропускания, полупроз"рачное зеркало 5, установленное под углом 45 к центральным осям осветителя и тубуса, термохромный индикатор 5 6 на жидкокристаллической пленке, многоэлементный фотоприемник 7 с чувствительными элементами 8, объектив 9, блок 10 выделения максимума сигнала, блок 11 управления светофильтром и регистратор 12.Термохромный индикатор на жидкокристаллической пленке приводят в тепловой контакт с поверхностью объекта, . температуру которой измеряют. Свет от осветителя проходит через светоФильтр 4, попадает на полупрозрачное зеркало 5, от которого отражается на поверхность термохромного индикатора, Свет, отраженный от термохромного индикатора, проецируется объек...

Номер патента: 704339

Опубликовано: 07.10.1980

Авторы: Евтихиева, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/41

Метки: градиента, показателя, поля, преломления, регистрации

...матрицы 8 включенныхпопарно по диагонали так, что каждаяпара оотодиодов 10, 11 соединена спомощью дибферецциального усилителя12 ца вычитание.Поскольку расстояние между фотодиодагли фотомарицы 8 задано и не можетменяться, а расстояцие между пучками варьируется в зависимости от раз Омеров неоднородной среды, то передфотоматрицей 8 помещается согласующая линза 7, причеи ее глестоположение и положение матрицы 8 имеют оптимальцые значения для разных неоднородностей,На исследуемый объект 4 паправля -ют набор параллельных узких пучковсвета, полученных расщеплением лазерного пучка 1 с помощью средства 2, оЧисло параллельных пучков определяется задачей исследования т.е. координатами, в направлении которых проводится исследование...

Номер патента: 792101

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Виленчиц, Коротких, Петрученко, Рутич, Черняев

МПК: G01N 21/41

Метки: анализа, газовых, смесей

...3.Способ реализуется следующим образом,Анализируемую газовую смесь продувают с постоянной скоростью через канал 2 цилиндрического поперечного сечения, температура стенок у которогоотличается от температуры смеси, т.е.температура стенок меньше температуры смеси. Температура стенок каналаи газовой смеси различны, но постоянны, В потоке газовОй смеси внутри канала создается радиальный градиенттемпературы и, следовательно, показателя преломления, близкий к параболи792101 Формула изобретения Составитель Н.Гусевда Техред С.Мигунова ектар Н. Швыдкая Редактор Н Тираж 1019 П Государственного комитета С елам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб.,писноР аэ 9420/4 ВНИИП по 1130354/5 иал ППП Патентф, г.ужгород, ул,Проектна...

Номер патента: 792102

Опубликовано: 30.12.1980

Автор: Сушков

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции, угловой

...ираж 1019 Подписно терференционных полос с другой длиной волны так, чтобы фиксация интерференционных полос на нуль-индикато- ре, образованных излучениями с различными длинами волн, происходила в противофазе,Приемное устройство дан.- ного рефрактометра содержит оптическуюколлимирующую систему 8, трехэеркальный элемент 9,. поляроид 10, кристаллическую пластину 11, устройство поворота плоскости поляризации 12, выполненное, например, иэ кристаллического кварца, кристаллическую пластину (компенсатор) 13 с поворотным отсчетным устройством, поляризационный модулятор-анализатор 14, фотоприемник 15, усилитель 16, синхронный детектор 17, источник напряжения 18, нуль-индикаторы 19,20.Работа устройства осуществляется следующим образом.Световые...

Номер патента: 792103

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Александров, Кузьмин, Павленко

МПК: G01N 21/41

Метки: вещества, концентрации, фотоэлектрический

...5, Объектив6 формирует световое иэображение диафрагмы на приемной площадке Фотоприемника 7.Оптическая кювета состоит иэ двухячеек, одна из которых заполнена раствором сравнения, а другая - измеряемым раствором, При заполнении обеихячеек кюветы раствором сравнения монохроматором выделяется спектральныйинтервал длин волн, соответствующийспектральной области поглощения исследуемого вещества, а с помощью регулируемой диафрагмы 3 устанавливается полное заполнение приемной площадки фотоприемника, определяемое помаксимальному сигналу, снимаемому сфотоприемника.При заполнении второй ячейки исследуемым веществом неизвестной концентрации происходит одновременноеизменение поглощения световой энергиии изменение линейной дисперсии светового пучка,...

Номер патента: 792104

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Лебедевич, Манов, Ямнов

МПК: G01N 21/41

Метки: газа, коэффициента, преломления

...двухлучевой интерферометр 1, установленные в лу чах интерферометра две кюветы 2 и 3 с исследуемым (рабочим) веществом, систему 4 измерения и поддержания температуры в кюветах, систему 5 из - мерения коэффициента преломления,20 систему б создания и измерения давления вещества, связанную с кюветами 2 и 3, регистрирующее устройство 7, связанное через блок автоматики 8 с системами 4, 5 и б. 25Способ осуществляется следующим образом.При автоматическом измерении коэффициента преломления создается, поддерживается и Фиксируется в регистрирующем устройстве первоначальное давление и температура исследуемого вещества в кюветах 2 и 3, системами температуры 4 и давления б. Затем по программе эксперимента блоком автоматики изменяется давление в...

Номер патента: 792105

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Лебедевич, Манов, Ямнов

МПК: G01N 21/41

Метки: газов, исследования, комплексного, рефракции, сжимаемости

...в интерферометре и соединенная одним из пьеэометров, а пьеэометры выполнены беэоптических окон и установлены внеинтерферометра.На чертеже изображено предлагаемое устройство,Устройство содержит термостатируемые пьеэометры 1 и 2, кювету 3, соединенную с пьезометром 1 и установленную в интерферометре 4. Пьеэометры соединены через вентили 5, Чьеэометры и кювета помещены в термостат б.Для измерения пьезометр 1 и кювета 3 заполняются исследуемым газом.Измеряется давление, температура икоэффициент преломления газа. Пьезометр 2 вакуумируется, Затем осуществляется перепуск газа из пьезометра1 в пьезометр 2, проводится замердавления, температуры и коэффициента преломления, Пьеэометр 2 вакуумируется. Производится перепуск газаиз пьеэометра 1 в...

Номер патента: 802851

Опубликовано: 07.02.1981

Авторы: Карабегов, Комраков, Русин, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматический, рефрактометр

...смещению светового потока на поверхности фотоприемника, При этом на входы дифференциального усилителя 6 с фотоприемника 4 пос- . тупают равные сигналы. Поэтому на выходе усилителя 6 отсутствует электрический 45 сигнал и двигатель 8 прекращает работу.Регистрация измеряемого сигнала осуществляется устройством 11, связанным с перемещаемой платформой 10.В начале, когда производится градуиров ка автоматического рефрактометра, оптиче ские плотности сравнительной и измеряемой жидкостей равны, В процессе работы оптическая плотность измеряемой жидкости меняется, что вызывает погрешность измене ния, значение которой пропорционально изменению оптической плотности измеряемой жидкости. 4При градуировке автоматический рефрактометр переводится в...

Номер патента: 807161

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Лосихин, Петров, Чен

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматическогоизмерения, воздуха, показателя, преломления, структурной, характерис-тики

...8 со эначениемамплитуды части сигнала от первойтемной полосы, соответствующей заданному световому контрасту с 4, Еслисигнал от последующей полосы презыиает сигнал с блока 7 выборки и хранения, то компаратор 8 ващает на выход импульс, если же амплитуда сигнала недостаточна, импульс на выходкомпаратора не поступает. Регистратор9 подсчитывает число импульсов. Блок11 управления выдает сигналы на сбросрегистратора 9 и блока 7 и на воз ффврат днаФрагьы 3 в исходное положение.перед измерением. Выходной величинойустройства является показание регистратора.Для измерений применяется мира в фвиде параллельных белык и чвриых полос, ориентированных вертикально, причем каждая полоса в паре (белая и.чер.ная полосы) имеет одинаковый размер,т,...

Номер патента: 807162

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Клименко, Куклин, Пагнуев

МПК: G01N 21/41

Метки: детектор, дляжидкостной, рефрактометрический, хроматографии

...8. Хакимобразом, величина пепемещення комлоднозначно определяет изменение посазателяпреломления раствора в измерительной кювете.Величина смещения кевааасатора (анализа.тора) измеряется с точиостыа до тысячных10 долей миааметра, что обеспечивает детектирование нанограммовых каачюств ана извруе.ьви веществ в растворах ири удалении комйеиспера от кюветы на расстояние всего в 150ЗВ мм. Уефрактометричаский детектор для жидкостной хроматарефаи, .содержащий последаватва 2 В НО РаеааюжааЦЫЕ. Иа ЕГО ОлтнЧЕЕКОй ОСН ИСтеяник света, кювету, линейный поляризатор, аао.дулятор состояния паскости поляризации, комненсатор и систему регистрации, о т л н ч а .ю щ н й с я тем, что, с целью упрощения гю конструкции, повыпюиия надежности и етабильности...

Номер патента: 702839

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Беленький, Макаров, Миронов, Покасов

МПК: G01N 21/41

Метки: преломления, структурной, характеристикипоказателя

...передающей оптической системой 2 на расстоянии Е. После прохождения турбулентной трассыдлиной , на которойизмеряетсяструктурная характеристика Сп, расг "="сеЗИйоеаэрозолем лазерное излучениепопадает на приемную фокусирующуюоптическую систему 3, исправленнуюна аберрации, с входной апертурой Ои фокусным расстоянием Р, при этом0 ъ Д Гф, В Фокальной плоскости системы помещена щель 4, ширина которойменьше невозмущенного дифракционногоизображения рассеивающего объема", адлина много больше эфФективного размытого турбулентностью; изображения.На развертывающую систему фотоприемника диссектора 5, входной апертурой которого является щель 4, поступает"развертывающее напряжение от цифроаналогового преобразователя с двоич- ЭО" АМ...

Номер патента: 851204

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Саввон, Сказка

МПК: G01N 21/41

Метки: изучения, седиментации

...клин 15 и анализатор 16 регистрируется фоторегистратором 17. В случае отсутствия градиента показателя преломления в измерительной кювете 12 при угле поворота компенсатора 13, равном нулю, на фоторегистраторе 17 возникает система параллельных полос. При вращении ротора ультрацентрифуги в измерительной кювете 12 возникает градиент показателя преломления, который регистрируется на фоторегистраторе 17 в виде интерференционного контура ., форма которого искажена влиянием оптических неоднородностей окон измерительной кюветы (фиг. 2), Поворотом компенсатора 13 на угол р создается разность хода интерферирующих пучков, обратная раз. ности хода, вызванной оптическими неоднородностями стекол измерительной кюветы 12, полностью компенсирующая...

Номер патента: 855447

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Арутюнов, Выскребенцев, Жирнов

МПК: G01N 21/41

Метки: жидкости, изменения, коэффициента, преломления

...часть15 светового пучка, прошедшую через призма.тическое окно.На чертеже изображена схема детекторадля жидкостной хроматографии.Детектор состоит из источника 1 излу.чения, линзы-конденсатора 2, обтюратора 3,проточной кюветы 4 с задним окном, выпол.ненным в виде призмы 5, собирающей лии.зы 6 и фотоприемника 7 (ФЭУ),855447 Формула изобретения СоставительТехред А. БойТираж 907рственного кообретений и- 35, Раушскг. Ужгород Н. Клевцоас аКорректор П.ПодписноеССР Редактор И. НестеровЗаказ 689358ВНИИПИпо д3035, МоФилиал ППП пылкаосудаисква, ЖПатент итета С открыти н няб., ул. Пр д 4/5ектнан, 4 Детектирование осуществляется следующим образом.Пучок света от УФ-лампы проходит через кювету, заполненную жидкостью, и под некоторым углом 4(в...

Номер патента: 855448

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Биленко, Дворкин

МПК: G01N 21/41

Метки: поглощения, показателей, преломления, слоя, толщины

...чвеличецием псрядковго номера луча. Олцако при это падает энергия излучения, Для увеличения эцЕргии излучения в лучах с п,Ъ 1, что облегчает процесс измерения и цовьцнает точность, на противоположную исследуемому слою сторону подложки на.носятополнительный отражающий слой 3 (фиг. 2). В этом случае для опрелеления оптических постоянных слоя и его толщины достаточно измерить три какие-либо параметра в одном из отраженных лучей, напри-мер поляризационные (азимут линейнойполяризацииЯ, разность фаз между ортогонально поляризационными компонентами электрического поля световой волны Ь) и один из энергетических - коэффициент отражения К или 5 компонент поляризованного излучения (К или Кд соответственно) или их отношение, Однако так как...

Номер патента: 857798

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Красовский, Наумов, Сидоренко

МПК: G01N 21/41

Метки: воды, исследования, морской, неоднородностей, оптических

...диафрагма 2 отражает лучй,отклоненные неоднородностями от Ипервоначального направления, на приемник 7 излучения (неотклоненные лучипроваливаются в отверстие диафрагмы 2).Система контроля чувствительнос- Ц) ти состоит из герметичного корпуса 8 и дозирующего устройства 9При сжатии дозирующего устройства давле ние в герметичном корпусе 8 повышается, и возникает плосковогнутая воздушная линза 10, отклоняющаясветовые лучи на фиксированные углы,Если исследуются неоднородностираспределения рассеивающих частиц вморской воде, то зеркало б не устанавливается, и на приемник 7 попадает излучение, рассеянное на этихчастицах (в заданном телесном угле),За защитным стеклом 4 расположены диафрагма 11 и объектив 12, оптические оси которых...

Номер патента: 857799

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Борисов, Шапиро, Шубов

МПК: G01N 21/41

Метки: диэлектрика, коэффициента, образцов, плоских, преломления, пространстве, свободном

...25Принятый сигнал через детекторнуюсекцию 10 также подается на индикаторное устройство б, Пространство,в котором расположен испытываемыйобразец экранированно поглощающимматериалом 11 для уменьшения влиянияпереотражений на точность измерения.Генератор и индикаторное устройствоохвачены синхронизацией. Если наоткалиброванный стенд устанавливается испытываемый образец диэлектрика,то индикаторное устройство с помощьюсамописца и осцилографа (не показаны)фиксирует величину прошедшего черезобразец поля в полосе качания частоты,а также частоты внутреннего резонанса образца (частоты максимальнойи минимальной прозрачности), При необходимости процесс измерений можетбыть полностью автоматизирован.Приэтом результаты измерения частотвнутреннего...

Номер патента: 857800

Опубликовано: 23.08.1981

Автор: Коваленко

МПК: G01N 21/41

Метки: веществ, главных, кристаллических, показателей, преломления

...повреждений, Кроме того, недостатком устройства является отсутствие поворотного механизма держателя камер с жидкостями. При смене камер поворот держателя осуществляют непосредственным приложением вращающегося момента к самому держателю,что снижает надежность устройства и создает неудобства при работе с ним.Целью изобретения является упрощение конструкции камер, повышение удобства работы и надежности эксплуа тации.Указанная цель достигается тем, что в устройстве для определения главных показателей преломления кристаллических веществ теодолитно-иммерсионным способом, содержащем закрепленные на основании держатель с вращающейся иглой и револьвер с камерами иэ оптического стекла для иммерсионных жидкостей, камеры выполне- З ны в виде пар...

Номер патента: 790970

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Науменко, Олейник, Хайруллина

МПК: G01N 21/41

Метки: веществ, действительной, диспергированных, относительного, показателя, преломления, части

...частиц.На фиг. 1 представлен градуировочный график; на фиг. 2 - зависимостьвеличины (и) от угла рассеяния,при котором элемент матрицы рассеяния Г изменяет знак на обратный.Способ осуществляется следующимобразом,Предварительно сферулированныеэритроциты, представляющие собой полидисперсную среду с наиболее вероятным радиусом частиц, равным го2,4-:3,4 мкм, относительной полушириной функции распределения по размеРам Ь 1 1 го= 0,65-:0,85 и мнимой частью комплексного показателя преломления М.= 10 в ; 10, освещаютсветом, полчриэованным под углом 45 Ок плоскости падения, и длиной волныизлучения Ао = 0,546 мкм. Для угловрассеяния 80 О, 100 и 120 на поляризационном нефелометре измеряюттрети параметр Стокса 54 о = 34, -4 о-46 х3 , где 1-...