G01M 11/02 — испытание оптических свойств
Устройство для определения смещений линии визирования зрительной трубы при изменении фокусировки
Номер патента: 149596
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Розенберг, Эфрос, Ясицкий
МПК: G01M 11/02, G02B 27/32
Метки: визирования, зрительной, изменении, линии, смещений, трубы, фокусировки
...устройство исключает применение автоколлимационной трубы и практически обеспечивает совершенно параллельное перемещение жидкостного зеркала в необходимом диапазоне, что упрощает конструкцию устройства и повышает точность определения смещений.На чертеже изображена схема предлагаемого устройства, содержащего объектив 1, марку 2 (перекрытие нитей) и жидкостное зеркало 3(например, ртутное),При проведении измерения проверяемую трубу устанавлиред объективом 1 и последовательно фокусируют на мнимое иние марки 2 при различных положениях жидкостного зеркалалельность перемещения поверхности которого сохраняется сточностью. вают пе- зображе 3, парал- большой П редмет из об ни Устройство для ой 1 руоь 1 пои изме ку, допил тельн 1,;имаркой, и...
Способ измерения размеров пятна рассеянияобъективов
Номер патента: 176099
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: G01M 11/02
Метки: пятна, размеров, рассеянияобъективов
...через усилитель 9 соединен с регистрирующим прибором (О.11 редлагаемыи способ измерения основан на изменении глубины модуляции светового потока пятна рассеяния объектива, возникаюри перемещении миры перпендикулярно скои оси исследуемого ооъектива. ерения проводят при перемещении ранои миры перпендикулярно оптической сследуемого объектива 11 от центра к ному диаметру миры до получения макьного сигнала с фотоприемника. еделяя расстояние К от центра миры до касания пятна с сектором миры вычисразмер пятна й, по формулеа, = 2 Лв 1 п - -Й - общее число секторов миры.Шкала перемещения может быть проградуирована в значениях размера пятна.Измерения можно производить в любой плоскости. Плоскость изображения точечной диафрагмы 4 определяют...
187351
Номер патента: 187351
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G01B 9/04, G01M 11/02, G02B 6/04 ...
Метки: 187351
...в микроскоп микрообъектива 7, сетки 8 со ра 9. Контролируемую детал на столике, имеющем мик 5 движки в двух взаимно нерпеправлениях, лежащих в плос кулярной оптической оси мик рот вокруг указанной оси,Устройство юстируется так, что в отсутст. вие контролируемой детали изображение светящегося перекрестия сетки коллиматора совпадает с перекрестием сетки окуляра, а по садочная плоскость оправы для крепления детали перпендикулярна оптической оси микроскопа. Для исследования установленной на столике волоконной детали, столик микроскопа закрепляют, а микроскоп фокусируют на входной торец детали. Если на рассматриваемом участке ось центральной группы волокон перпендикулярна плоскости входного торца, то изображение светящегося перекрестия...
Устройство для определения разрешающей
Номер патента: 187355
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G01M 11/02
Метки: разрешающей
...в видимой области спектра.Для визуализации изображения миры на чувствительном элементе прибора в виде полос различной энергетической яркости в предлагаемом устройстве решетка установлена перед рабочим отверстием инфракрасного оптического черного излучателя с термоизолироганной внешней поверхностью корпуса. Непрозрачные полосы решетки выполнены из металлических трубок, через внутренние полости которых пропускается хладагент, обеспечивающий термостатирование решетки.На чертеже представлен схематический разрез устройства, выполненного в виде инПредмет изобретенияУстройство для определения разрешающей способности инфракрасных приборов воспроизведения изображения, содержащее миру, выполненную в виде решетки с параллельными...
189177
Номер патента: 189177
Опубликовано: 01.01.1966
Авторы: Афремов, Аэрофотосъемки, Ильин, Картографии, Центральный
МПК: G01M 11/02
Метки: 189177
...двух проекторов 1, фотопластинки 2, испытуемого объектива 3 и ряда коллиматоров 4. 25С помощью проекторов на фотопластинке, расположенной в фокальной плоскости исследуемого объектива, впечатывают со стороны подложки две метки а и О, создающие недисторсированное направление, принимаемое за 30 начальную линию оМ ных смещений.Зрачок испытуемого объектива совмещен с точкой пересечения визирных осей коллиматоров. Углы между осями коллиматоров измеряют угломерным инструментом, его коллимационная плоскость совпадает с плоскостью, в которой расположены визирные оси коллиматоров. Чтобы контролировать параллельность создаваемого недисторсированного направления на фотопластинке с плоскостью, в которой расположены визирные оси коллиматоров...
178141
Номер патента: 178141
Опубликовано: 01.01.1966
Автор: Омельченко
МПК: G01M 11/02
Метки: 178141
...и обратно-круговом ходе лучей.Принципиальная схема предлагаемого фокометра изобракена ца чертеже.Свет от источника осверез коцденсор 2, зеленый собъект в виде шкалы 4 сла 5, б, 7 и попадает в обцой плоскости которогообъект, Выходя из объектпучком, свет полупрозрачнделяется на два потока. 0галлилеевскую систему 10пытуемой (положительноцой) и эталонной линз, омц 11, 12, 18 и попадаетДругая часть светового п проходит в обратном цаправлешш зеркала 18, 12, 11 ц галлцлеевскую сцстему 10 цтакжс попадает в объектив 8. В фокальцой плоскости обьектцьа 8 получаются два совмещенных изображения тест-шкалы: одно уменьшенное, другое увеличенное. Оба нзображешгя рассматриваются в окуляр 14. Прц этом подсчитывается число штрцхоь уменьшенного...
180377
Номер патента: 180377
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G01B 9/02, G01M 11/02
Метки: 180377
...систему 8 и автоколлимационное зеркало 9, направляющее отраженный поток света через светоделительное зеркало б, систему линз 10 и 11 и измерительную систему 12 (винтовой окулярный микрометр) в глаз наблюдателя.Эталонное зеркало, контролируемая система и автоколлимационное зеркало в целом составляют систему многолучевого интерферометра Фабри-Перо.Измерение изгиба интерференционных полос производят винтовым окулярным мик рометром 12, в полость сетки которого линзы 10 и 11 проектируют зрачок испытываемой оптической системы. Если линза 11 выведена из хода лучей, то в плоскость сетки винтового окулярного микрометра проектируется ряд 10 изображений отверстия 4, При этом, наблюдая в окуляр микрометра, можно осуществить настройку системы...
Способ выставления параллельности образующих цилиндрических оптических систем
Номер патента: 180378
Опубликовано: 01.01.1966
Автор: Британ
МПК: G01M 11/02
Метки: выставления, образующих, оптических, параллельности, систем, цилиндрических
...прямых,Тест-объект устанавлива плоскости коллиматора. компонент юстируемого объ в параллельном световом пу образует в своей фокальной жение тест. объекта в виде т прямых. Параллельность обр рического компонента некоторому з направлению определяют биссекти расстояния между двумя крайними являющимися изображениями двух5 точек тест-объекта, а в качестве б используют среднюю прямую, обра изображением средней светящейся го же тест-объекта. 10 Если образующая цилиндрического компонента параллельна заданному направлению, например высоте равнобедренного треугольника, образованного тремя светящимися точками тест-объекта, средняя прямая занимает 15 серединное положение относительно двухкрайних прямых (фиг. 2). Если же образующая цилиндрического...
Способ определения угла между направлением
Номер патента: 181334
Опубликовано: 01.01.1966
Авторы: Блох, Всесоюзный, Новгородцева, Шапиро
МПК: G01B 9/02, G01M 11/02, G02B 6/04 ...
Метки: между, направлением, угла
...световыми лучами, выходящими из световода,На чертеже изображена схема устройства для осуществления предложенного способа.Устройство состоит из лампы накаливания 1, коллиматора 2, создающего тонкий пучок параллельных лучей света, отсчетной шкалы 3, поворотного столика 4 с зажимами для свето- вода, экрана 5 и световода б.Сущность описываемого способа заключается в следующем,На входную торцовую поверхность световода направляется из коллиматора (объектив которого перекрыт непрозрачной отсчетной шкалой) узкий параллельный пучок света от лампы накаливания. За выходным торцом установлен экран, на котором наблюдается интерференционная картина. Наклонами поверхности входного торца световода в двух взаим но перпендикулярных направлениях...
Устройство для измерения смещений линии
Номер патента: 190612
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01M 11/02, G02B 27/30
...измерять сметцешя лппш низровая зрптелы ой трубы О с дссгаточой точостыс. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕ ИЗИРОВАНИЯ ЗРИТЕЛЬН И ИЗМЕНЕНИИ ПОЛОЖЕН В известных устройствах для определения смещений лиги визирования зрительной трубы при изменении фокусировки, содержащих объектив, неподвижнуо марку и жидкостное зеркало для получения мнимых изображений марки, измеение положения ьнивых изображении осущесгвляОт утех параллельнсгс перемещения зеркала. При этом для обесечения необходимой точности измереий необходимо примеять антивибрациоую конструкцию зеркала, что в зачительпой мере усложняет устройство в целом.Предлагаемое устройство сравнительно просто пс своему конструктивному выполнению и обеспечивает перемещение мнимых изображений марки по прямой...
Автоматический измеритель разрешающей способности телевизионных устройств
Номер патента: 199214
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Ленинградска, Можайского, Титков
МПК: G01M 11/02, G01R 31/28
Метки: автоматический, измеритель, разрешающей, способности, телевизионных, устройств
...способности, измеряется счетным (цифровым) методом. 10Погрешность измерений таких устройств определяется, главным образом, временным интервалом то между счетными импульсами. Дальнейшее увеличение точности измерений связано с уменьшением величины то и, следо вательцо, с увеличением быстродействия пере- счетных схем.Предлагаемый измеритель разрешающей способности телевизионных устройств позволяет повысить точность измерений без предь явления особых требований к дальнейшему увеличению быстродействия перссчетцых схем. еключатель 1, усни преобразователь к измерительному по изображению экране приемной 6, входную цепь выделения строки а). Выход схемы 7к формироватечителем 9 импуль импульсов - к счетных импхтль199214 оставптель Г, Корол...
Способ измерения относительного светопропускания световодов
Номер патента: 200804
Опубликовано: 01.01.1967
Автор: Кучик
МПК: G01M 11/02
Метки: относительного, световодов, светопропускания
...свето- вода, Это позволяет проводить измерения свстопропускания оез раз 1)ушения исследуемого образца.Описываемый способ предназначается, преимущественно, для измерения светопропускания тонких световодов, диаметром не более 100 лтк, не имеющих покрытия.На чертеже изображена схема проведения измерений,Свет направляется в световод 7 через его боковую поверхность с помощью призмы 2 и жидкостной прослойки 3, помещенной между призмой и световодом для оптического контакта. Показатели преломления призмы и жидкости следует выбирать равными показа телю преломления материала световода, Приизменении места установки призмы по длине световода изменяется длина засвечнваемой части,10 Предмет изобретенияСпособ измерения относительного...
206863
Номер патента: 206863
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Контиевский
МПК: G01M 11/02
Метки: 206863
...зрения трубы по обе стороны от границы раздела (изображения ребра 8) наблю даются изображения двух расположенных нанекотором расстоянии друг от друга частей штриха, наклон которого измеряется. Благодаря тому, что в поле зрения по разные стороны границы раздела наблюдаются части 30 . штриха, разделенные некоторым расстоянием(средняя часть штриха в поле зрения не попадает), при наклоне штриха помимо наклона изображения в поле зрения наблюдается взаимное смещение изображений частей штриха, По величине взаимного смещения изображений частей штриха оценивается наклон изображений. Использование нониального метода совмещения обеспечивает высокую точность измерений. Для отсчета угла поворота трубы вокруг оптической оси при нониальном совмещении...
210420
Номер патента: 210420
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Клочкова, Контиевский
МПК: G01M 11/02
Метки: 210420
...плоскости коллимационного объектива 2. Контролируемая линза 3 устанавливается на столик (на чертеже не показан), имеющий возможность перемещения перпендикулярно оптической оси. Столик снабжен отсчетным устройством (на чертеже не показано), позволяющим измерять величину его перемещения. Изображение шкалы 1 наблюдается с помощью визирной системы 4. За контролируемой линзой 3 установлена диафрагма б, ограничивающая пучки лучей. Для расширения диапазона измерений перед объективом коллиматора могут быть введены эталонные клинья б.При измерении фокусных расстояний контролируемая линза 3 устанавливается на перемещающийся столик, Визирная система 4, сфокусированная на шкалу 1, наводится на выбранное деление шкалы перемещением столика с...
Способ выставления поверхностей оптических элементов перпендикулярно падающим лучам
Номер патента: 231165
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Степин
МПК: G01M 11/02
Метки: выставления, лучам, оптических, падающим, перпендикулярно, поверхностей, элементов
...и поворотом полупрозрачного элемента совмещают автоколлимационные изображения щели и штриха,На чертеже представлена схема ультрафиолетового рефрактометра, предназначенного для реализации описываемого способа.Рефрактометр содержит источник света (искра в вакууме) 1; конденсор 2; входную щель 3; объектив 4 коллиматора; диспергирующую призму 5; плоское зеркало б; объектив фотокамеры 7; фотопластинку 8; полупрозрачное зеркало 9; лампочку 10; конденсор 11; штрих 12, куб-призму 13; перекрестие 14; окуляр 15, Ножи входной щели 3 имеют прорези посередине, имитирующие горизонтальный штрих. Штрих 12 выполнен непрозрачным на прозрачном фоне, а перекрестие 14 - прозрачным на полупрозрачном фоне, Юстируемым элементом явщая призма 5, входнаяа быть...
Способ определения качества цветопередачиобъективов
Номер патента: 231168
Опубликовано: 01.01.1968
МПК: G01M 11/02
Метки: качества, цветопередачиобъективов
...значения интегралов сравниваются между собой, составляя числовое выражение формулы цветопередачи объектива.Особенностью предложенного способа является то, что о качестве цветопередачи объектива судят по балансному соотношению эффективных коэффициентов светопропускания для трех зон, соответствующих трем областям спектра с длинами волн 360 в 4, 480 в 6 и 560 в 6 нм. Это позволяет упростить процесс и сократить время исследования объектива,На чертеже представлена схема установки для контроля качества цветопередачи объективов.Схема установки включает в себя: источник 1 света, конденсор осветителя 2, фокальную диафрагму 3 коллиматора, коллиматорный объектив 4, испытуемый объектив б, зонные светофильтры б (сменные), приводящие...
Установка для измерения коэффициента светорассеяния объективов
Номер патента: 231169
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Ефимова, Соколовский
МПК: G01J 1/04, G01M 11/02
Метки: коэффициента, объективов, светорассеяния
...светового потока попадает на приемник и создает ток 1,. Если в фотометрический шар установлена пробка с отверстием, то при соответствующей юстировке весь прямой свет, создающий на линзе освещенность Е выйдет из фотометрического шара. Рассеянный свет, падающий на линзу и распространяющийся в большом телесном угле, задержится стенкой фотометрического шара, и только небольшая его часть вместе с прямым световым потоком выйдет из шара. Часть рассеянного света в результате многократного отражения от внутренних стенок шара попадает на приемник и создает ток 1 р .Коэффициент свето рассеяния вычисляется по формуле: Поскольку небольшая часть рассеянного света выходит из фотометрического шара вместе с прямым светом, то такой способ измерения...
Способ контроля качества сферических поверхностей объекта
Номер патента: 257036
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Горницкий, Маран, Новиков
МПК: G01M 11/02
Метки: качества, объекта, поверхностей, сферических
...ным У= - , где Ь - расстояние от объекта2 Егдо экрана; г - . радиус сферы объекта. Эго позволяет получить увеличенное изображение контролируемой поверхности с высокой 20 разрешающей способностью при большом поле зрения.Предложенный способ иллюстрируется чертежом.Описываемый способ заключается в следу ющем.Пучок когерентного монохром атического света от лазера 1 через отверстие в сферическом экране 2 направляют на сферическую поверхность контролируемого объекта 3, уста- Зо новленного в держателе 4. Свет, отраженный от сферической поверхности объекта 3 дает ее увеличенное изображение на экране 2 (направление отраженных лучей показано стрелками). Степень увеличения выражается фор 211 гмулой У= -при - 11, где Е - расстояние от сферической...
Интерференционный резольвометр
Номер патента: 243216
Опубликовано: 01.01.1969
Автор: Островский
МПК: G01M 11/02, G02B 27/10, G03B 43/00 ...
Метки: интерференционный, резольвометр
...меняется и пространственная частота,из- вырж- ым зволяет также упрос надежность и точн ающей способности,твенных частот непрть ть ак ыКроме того, оно по юстировку, повысить определения разреш как спектр пространс вен. Интерференционнь на выходе испытуемо терференционные по частотой до, =2/=300 лин/мм. Предложенное устройство служит длямерения разрешающей способности оптиских систем, строящих изображение, илидельных частей этих систем-объективов, экнов, фотографических слоев.Известен интерференционный резольвомесодержащий источник когерентного светелескопическую систему, расширяющую стовой пучок, и систему, отклоняющую свевые пучки, выполненную в виде нескольотклоняющих призм,Предложенное устройство отличается отвестного тем,...
Прибор для контроля вершинной рефракции неастигматических линз
Номер патента: 251861
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Гких, Диков, Кирюхин, Палагута
МПК: G01M 11/02
Метки: вершинной, линз, неастигматических, прибор, рефракции
...величину вершинной рефракции проверяемой линзы.Марка 2 (см, фиг, 2)вьвполненная в виде креста, образованного рядом точек и сплошных боковых линий В, В, С, С, Д, Д, Е, Е, параллельных вертикальной линии креста и обозначающих верхние, границы допустимых отклонений, устанавливается наклонно, например, под углом в 45 к оптической оси прибора.Когда линия А креста установлена в плоскости А (см. фиг. 1), соответствующей номинальной рефракции, линии В, В, С, С, Д, Д, Е, Е, благодаря наклону марки, лежат в плоскостях, которые соответствуют рефракции, отличающейся,от номинальной на величину допустимого отклонения. Если проверяемая лин. за имеет рефракцию, равную нохтиналу, то средняя линия Л резко видна при наблюдении/у в аэ ОФ Оее иг. 2...
Прибор для контроля вершинной рефракции
Номер патента: 255608
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01M 11/02
Метки: вершинной, прибор, рефракции
...крестообразной диафрагмы 12.В начальный момент времени линза 13 смещена с оптической оси прибора, и изображение 23 перекрестия диафрагмы 11 занимает положение, показанное на фиг. 2, а. При движении линзы изображение 23 перемещается в направлении, показанном стрелкой на фиг, 2,а. В тот момент, когда его горизонтальная линия совмещается с параллельной ей прорезью крестообразяой диафрагмы 12 (см. фиг. 2,б), на фотоприемник 14 падает свет, Величина светового потока, регистрируемая фотоприемником, зависит от расфокусировки светящейся марки. Если линза по диоптрийности соответствует номинальному значению, то величина этого светового потока максимальная,Светоделительная пластинка 5 направляет часть светового потока на фотоприемник 15,...
Устройство для исследования оптических систел
Номер патента: 278160
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Бубис
МПК: G01M 11/02
Метки: исследования, оптических, систел
...и смещен относительнооптической оси ца расстояние Л. Дополнительная система - вогнутое сферическое зер 30 калоили апланатический объектив 4 с плос278160 п=2 - +1 ким зеркалом Б - установлена так, что ее совпадающие а план атические точки - центр кривизны О вогнутого зеркала 3 или передний фокус системы объектив 4 - зеркало 5 лежат в фокальной плоскости на расстоянии д от оптической оси. Величина смещениявыбирается в зависимости от требуемого числа прохождений (отражений) и величины Л.На фпг. 3 представлены случаи, когда д=Л; д= - Л; д= - Л; д= - Л. 2 3 4 Для упрощения показано только прохождение лучей через фокальную плоскость исследуемой системы, Лучи, падающие на исследуемую систему, обозначены буквами (А, В, С, Д, Е), а прошедшие...
Устройство для измерения тангенциальной
Номер патента: 283827
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Афремов, Аэросъемки, Ильин, Картографии, Центральный
МПК: G01M 11/02, G03B 43/00
Метки: тангенциальной
...3 и измерительную решетку 4, прикрепленную к камере Б с испытуемой оптикой.Для определения тангенциальной дисторсии необходимо отъюстировать камеру с испытуемой оптикой относительно автоколлиматора и кольцевого объектива. Для этого кольцевой объектив фокусируется на штрихи измерительной решетки при положении 1 и изображение крайнего креста измеряемого радиуса- гектора на решетке совмещается с крестом нитей в автоколлиматоре путем вращения камергс 5 вместе с решеткой вокруг оси ВВ. Пе реводя автоколлиматор в положение 11, наблюдают изображение креста, симметричного первому. При наличии вертикального расхождения крестов это расхождение наполовину устраняют поворотом камеры 5 вокруг оси ВВ.10 Для достижения более высокой...
Способ определения функции рассеяния оптической системы
Номер патента: 289329
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Буйнов, Лукин, Мустафин
МПК: G01M 11/02
Метки: оптической, рассеяния, системы, функции
...измерения применяют узкую приемную щель 5, малую амплитуду колебания и резонансную фотоэлектрическую регистрирующую систему.25 Способ определения функции рассеяния оп 30 тической системы по изображению резкого Известный способ определения функции рассеяния линии оптической системы основан наизмерении краевой функции по изображениюрезкого края, формируемого оптической системой, и нахождении производной в каждойточке этой краевой функции. Таким образом,при определении функции рассеяния по этомуспособу необходимо предварительное измерение краевой функции и последующая ее обработка,Предложенный способ отличается от известного тем, что изображению резкого краяпридают колебательное движение относительно приемной щели в направлении,...
Оптико-электронное устройство
Номер патента: 397795
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Василенко, Прибыловский, Тройников
МПК: G01M 11/02
Метки: оптико-электронное
...системы или функция рассеяния линии зо имеет следующий вид( )=ОИ, У - 1) (йййгде 5(х, у) - функция рассеяния,системы; Я) - дельта - функция Дирака (функция бесконечно тонкого линейного источника излучений).Используя преобразования Фурье от обеих частей (1) и учитывая фильтрующие свойства д - функции, получим т. е. распределение интенсивности в фокаль. лой плоскости объектива, где осуществляется преобразование Фурье от бесконечно узкой щели, эквивалентно значению частотно-конкретной характеристики ооъектива,Устройство работает следующим образом.В монохроматоре 1 устанавливают длину волны излучения, на которой предполагается производить измерение, а в оправку 4 устанавливается исследуемая линза 5, Монохроматический свет, проходя...
401899
Номер патента: 401899
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01M 11/02
Метки: 401899
...5 в данной плоскости наблюдения 1 - 3 - 4, т. е. в плоскости снятия аберрограммы, находилось вне направления 6, отраженного этим участком поверхности лучистого потока, падающего на поверхность. Плоскость координатной сетки (шкалы) 7 располагают относительно поверхности так, чтобы при указанном изменении угла наблюдения в поле зрения угломера находилось изоб3ражение участков в точках 8 - 9 сетки в соответствующем участке 3 - 4 поверхности, с которого снимается аберрограмма.Затем с помощью установленного таким образом угломера осуществляют пространственную привязку поверхности и сетки, т. е. определяют угловые координаты трех опорных точек базы поверхности, например 3, 4 и 10, и трех опорных точек координатной сетки, например 8,...
402773
Номер патента: 402773
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01M 11/02
Метки: 402773
...образцу 5, роликов 18, установленных на осях 19 и имеющих пружины, прижимающие эти ролики к стеклу со стороны измеряемой поверхности.Устройство работает следующим образом.Источник света 1 создает при помощи конденсора 2 направленный пучок света, диафрагмированпый щелевой диафрагмой 3 и фокуспруемый оптической системой 4 на измеряемую поверхность испытуемого образца 5; отраженный луч проходит через плоскопараллельную пластину 6 автокомпенсатора и попадает на ребро призмы 7, где он делится на два пучка, которые соответственно фокусируют изображение щели линзами 8 на фотоприемники 9,При наличии оптических искажений ивображение щели смещается с ребра призмы 7, и разделенные п чки света становятся раз" ными и по разному освещают...
408186
Номер патента: 408186
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01M 11/02
Метки: 408186
...оптического стекла.Таким образом, причиной возникновения нецентрированной и тангенциальной дисторсииявляется плохая центрировка оптической си 10 стемы объектива.Предлагаемое устройство позволяет производить экспресс-контроль тангенциальной составляющей дисторсии при юстировке объектива.15 На фиг. 1 из оптическая схемапредлагаемого а; на фиг, 2 - видполя зрения,В фокальной плоскости испытуемого объектива 1 закрепляется измерительная сетка 2,20 имеющая ряд радиусов-векторов, проходящихчерез ее центр. Перед объективом устанавливают симметрично относитсльно оптическойоси две одинаковые призмы 3 с двумя отражениями, углы которых зависят от угла поля25 зрения Р, для которого определяется тангенциальная составляющая дисторсии,...
414495
Номер патента: 414495
Опубликовано: 05.02.1974
МПК: G01B 7/14, G01M 11/02
Метки: 414495
...предназначено для измерении вибраций лопаток рабочих колес турбомашнны.Известны отметчики, содержащие импульсные датчики, магнит и формирователь импульсов. Однако в них часто бывает невозможно точно установить датчики, что ограничивает возможность их применения.Предлагаемый отметчик позволяет электрически регулировать взаимное расположение импульсных датчиков. Это достигается тем, что он снабжен блоками изменения амплитуды сигналов, входы которых соединены с пульсными датчиками, а выходы - с фо рователем импульсов.На фиг. 1 изображена блок-схема отметчика.Импульсные датчики вляемых диодов Д 1 и Д 2 раните 1 и соединены череамплитуды сигналов 2 и ф Р рования импульсов 4.На фиг. 2 приведена временная диаграмма паботы...
415536
Номер патента: 415536
Опубликовано: 15.02.1974
МПК: G01M 11/02
Метки: 415536
...испытываемого объектива.Решетки 12 и 13 имеют две другие заданные пространственные частоты. Изображение щели 14 перекрывает все три решетки одновременно, и прошедший световой поток попадает на расположенный за растром фотоприемник 15 (фиг. 1). Амплитуды первых гармоник электрических сигналов иа выходе фотоприеыника пропорциональны коэффициентам передачи контраста для пространственных частот решеток 11 - 13.С выхода фотоприемника сигнал попадает на широкополосный усилитель 16 и далее на избирательные усилители 17 - 19, резонансные частоты которых соответствуют частотам решеток 11 - 13, Пройдя через детекторы 20 22, эти сигналы попадают на схему сравнения, состоящую из потенциометров 23, 24 и компараторов 25, 26, Потенциометры служат для...