G01M 11/02 — испытание оптических свойств

Номер патента: 1795411

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Живов, Свистунов

МПК: G01M 11/02, G03B 43/00

Метки: изображения, качества, объектива

...предлагаемого устрой ства позволяет сократить приборный составна конвейере, т.к. вместо двух приборов проверка качества изображения объектива на конечном расстоянии и на бесконечности обеспечивается одним заявляемым прибо ром; сократить время контроля, т.к. не требуется переустановка контролируемого объектива на другой прибор; повысить качество контроля, т.к. проверка выполняется одним оператором на одном приборе, по единой методике и при одной установке обьектива на посадочное место прибора. 5 10 15 стия - с центральной мирой, снабжено до 20 полнительнь 1 м объективом, установленным с возможностью ввода и вывода между контролируемым объективом и оптическим блоком 25 Проверяемый объектив 4, сфокусированный на бесконечность,...

Номер патента: 1800302

Опубликовано: 07.03.1993

Автор: Гусев

МПК: G01M 11/02

Метки: интерферограмм, качества, линз, объективов

...1- х 2) +(у 1-у 2) )/2 Ц ехр(1(х 2-хз) +(у 2- уз) )/21 Р 1(хз,уз)ехр(р (хз, уз)ех-,30 Цхэ 2+уэ )/2 Цехр(с(хЗ-х 4) +(уЗ у 4) )/22)дх ду 1 дх 2 ду 2 дхздуз (1)где 1 - волновое число;1,2 - соответственно расстояния отглавной плоскости (хз,уз) контролируемой35 линии до матового стекла и фотопластинки; Р 1(хз,уз)ехр 2(хз,уз) - обобщенная функция зрачка контролируемой линзы с фокусным расстоянием 1.Если перед второй экспозицией матовое стекло, находящееся в плоскости (х 2,у 2), смещается в своей плоскости, например в направлении оси 2 на величину д, а фотопластинка в том же направлении на величину Ь, то комплексная амплитуда поля, соответствующая второй экспозиции, в плоскости фотопластинки принимает вид:в 2(х 4,у 4)ООО Т(х 1,у 1)1(х 2+а,у...

Номер патента: 1807322

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Рожков, Тимашов, Тимашова

МПК: G01M 11/02

Метки: оптической, системы, состояния

...абе (11) им 328 10 Фде/Я 0,1914 оз(0,0025/цпор)= 0,01 4 оз 0;Р 4где 1 макс=(А) +4 АВ соз Флет) ф 4(В); 2 г, мин=(А)2 4 АВсоз (К Филет) +4(В). Обозначив отношение амплитуд внеосевых В и осевой А сферических волн ц=В/Я, получим Нечетные волновые аберрации искажают пространственную частоту ме на величи- ну и их количественная оценка глазом затруднена.На фиг.2 показана зависимость контраста распределения интенсивности К от отношения амплитуд сферических волн ц=В/Апри отсутствии и наличии аберраций,Иэ(8) и фиг,2 видно, что при малых ц(т,е,малых контрастах) эта зависимость практически линейная, т,е. лк "ф 4 Ц соз (К Фет) пРи Ц 1 в (10) Как известно, при оптимальных уровнях 35 освещенности пороговая контрастная чувствительность глаза Мпер...

Номер патента: 1809343

Опубликовано: 15.04.1993

Автор: Олейников

МПК: G01M 11/02

Метки: волоконно, затухания, кабеля, оптического, оптической, передачи, системы

...соотношения для определения затухания. Пусть мощности передатчиков Р 1 и Р 2, коэффициент передачи первого приемника К 1, коэффициент передачи второго приемника К 2, Коэффициент передачи оптического волокна к первому приемнику а 1, а от приемника к передатчику й 1, аналогично для обратного направления коэффициенты передачи соот(12) ветственно аг и а 2, Коэффициенты передачи аттенюаторов соответственно А 1 и Аг.Проводя последовательность измерения при прохождении сигнала по укаэанным путям найдем следующие соотношения: по пути П 1 а а 1 Пр 2 011 = Р 1 А 1 Кг (1)по пути П 1 а Ьс 1 1 теоПр 1012= Р 1 а 1 К 1 (2) по пути П 1 Ь Ь 1 с 1 Ы 1 теоПр 1 О 1 з = Р 1 аК 1(3) по пути Пгб 1 дПр 1 021 = Р 2 А 2 К 1 (4)по пути Пго 1 е 1 т 1 ЬС 1 Ь...

Номер патента: 1811599

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Быканов, Зимокосов, Коровкин, Олейник, Поврозин, Русаловский, Шевченко

МПК: G01M 11/02

Метки: волоконных, затухания, мест, неоднородностей, распределения, световодах

...кода /ап/ к коду /ап/,Преобразователь 2 кодов преобразуетбиполярный композиционный кодовыйэлектрический сигнал в два униполярных 30кодовых электрических сигнала в соответствии с алгоритмами,/сп/ -- (1 - /сп/).35Этими униполярными кодовыми электрическими сигналами модулируют излучение лазера 3, формируя таким образом рвекодовые зондирующие посылки Р/с/ и 40Р/с,/которыми через направленный ответ-витель 4 осуществляют последовательноезондирование исследуемого ВС 5.Рассеянные в обратном направлениисигналы Я/сп/ и Я/сп/ через направленный+" 45ответвитель 4 принимают фотоприемником6, усиливают усилителем 7, оцифровывают вАЦП 8 и получают массивы О/сп/и О/сп/В вычитающем устройстве 9 производят вычитание сигналов Ов/сп/+ и Оз/сп/и...

Номер патента: 1817843

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Верещагин, Каряки, Колядинцев, Лапсарь, Мазяркин, Остапчук, Попов, Савич, Федоров

МПК: G01M 11/02

Метки: децентрировки, линз

...на фиг,За,Сигналы, снимаемые с выходов компараторов 33 и 34, соответствуют условию АВ, где А и В - числа, подаваемые соответственно на первый и второй входы, На фиг,Зв и Зс показаны сигналы на выходах компараторов ЗЗ и 34 соответственно, Логическое умножение этих сигналов на элементе И 37 дает сигнал окна по координате Х (фиг.ЗО),Таким образом, как видно из фиг,З, формируемый сигйал окна центрирован относительно наблюдаемого изображения точечного источника, Аналогично происходит формирование окна по кадру (координате У), которое обеспечивается блоками 30, 31, 35, 36 и 38.Работа точного измерителя 5 координат основана на измерении методом взвешенного суммирования координат центра тяжести наблюдаемого пятна, которое выполняет измеритель...

Номер патента: 1824518

Опубликовано: 30.06.1993

Автор: Гусев

МПК: G01B 9/025, G01M 11/02

Метки: виде, записи, интерферограмм, линз, объективов, объектов

...в сходящуюся сферическую волну освещения матового стекла 4 с радиусом кривизны в его плоскости й "11 /(11+12), где 11, 12- соответственно рассто 2яния от главной плоскости контролируемой линзы в узле крепления бдо матового стекла 4 и фотопластинки 8, в плоскосткоторой строится изображение матового стекла 4.1824518 Составитель В.Гусев Техред М.Моргентал Редактор Корректор В,Петраш Заказ 2220 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при 1 КНТ СГСР113035. Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород ул Г,н;ии, 101 3На фотопластинке 8 проводится запись спеклограммы за время первой экспозиции, Перед второй экспозицией с помощью механизмов перемещения 5, 7...

Номер патента: 1826008

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Демидов

МПК: G01M 11/02

Метки: микрооптики, оптических, параметров

...излучения, 15Вторая кольцевая экран-диафрагма 7 устанавливается перед фотоприемником 8 натаком расстоянии, которое позволяет получить диаметр пятна изображения источника больший, чем диаметр кольцевой 20экран-диафрагмы при различных параметрах пучка излучения, прошедшего черезлинзу (см.рис,За,б,в).При такой схеме устройства световойпоток, выходящий из линзы, преобразуется 25в близкий к параллельному и проходя экрандиафрагму 7 падает на фотоприемник 8 сусилителем 15, измерительным блоком 16 и.индикатором визуального наблюдения 17.С целью увеличения точности иэмерения фокального расстояния форма пятнаприемной площадки фотоприемника "вырезается" кольцевой экран-диафрагмой 7, укоторой центр отверстия затемнен, Такаяконструкция...

Номер патента: 1489351

Опубликовано: 10.01.1996

Авторы: Иноземцев, Куликов, Федорец

МПК: G01M 11/02

Метки: меры, поверки

СПОСОБ ПОВЕРКИ МЕРЫ в виде системы параллельных полос с постоянным периодом для калибровки увеличения и систем позиционирования оптических и электронных микроскопов, включающий облучение меры волной с волновым вектором, нормальным полосам меры, и измерении характеристик волны после ее взаимодействия с мерой, отличающийся тем, что, с целью удешевления поверки за счет использования радиотехнических методов, облучение меры производят поверхностной акустической волной релеевского типа, а в качестве измеряемых характеристик волны после ее взаимодействия с мерой используют верхнюю fв и нижнюю fн частоты режекции, при этом о периоде меры судят по величине ,...

Номер патента: 1840209

Опубликовано: 20.08.2006

Авторы: Герловин, Котов, Кузьмин, Лысенко, Маламед, Скворцов, Трегуб, Шульман

МПК: G01M 11/02

Метки: объективов, оптических, передаточных, функций

1. Устройство для измерения оптических передаточных функций объективов, содержащее осветитель, тест-объект в виде подвижного растра, коллиматор, расщепитель оптических каналов на основной и сравнения, установленные в оптических каналах анализаторы основной и сравнения и систему обработки сигналов анализаторов, отличающееся тем, что, с целью повышения точности в условиях вибраций изображения, расщепитель оптических каналов установлен перед тест-объектом, оба анализатора установлены в фокальной плоскости испытуемого объектива, а оптические оси каналов расположены в плоскости, параллельной штрихам растра.2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что за тест-объектом установлена линзовая система, выполненная в виде последовательно...