Устройство для исследования оптических систел

( Мо и О и3 1 Д 1, Й Д, ";г РОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 278160 Союа Советокив Социалиотичеокиа РеолубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 20 Х,1968 ( 1240832/18-10) Кл. 421 т, 3501 с присоединением заявкиПриоритет МПЬ,Коеаитет ло делам 1 гп 11/02 иаобретекии и открытиори Совете МиниотроеСССР публпковапо 05 Х 111.1970, Бюллетень2ата опубликования описания 16.Х 1.1970. Д 1 с, 535,824,8(088,8) Авторизобретения, Я. Бубис вител ТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВ ПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ скости исследуемоещенпя апланатичптической осп свения источника кальной пло личина д см носптсльно о ной Л смещ 5 нпямп й системы. Вееской точки отзана с велпчпвета соотношеИзобретение касается устроиств для исследования качества оптических систем, находящих применение в оптическом приборостроении.Известные устройства построены, как правило, по принципу анализа гомоцентрического волнового фронта, созданного с помощьюточечного источника света и искаженногоисследуемой системой,Известны подобные устройства, в которыхисточник света, размещенный в фокальнойплоскости исследуемой системы, смсщен относительно оси оптической системы, и предусмотрены дополнительные оптические систе.мы, обеспсчцвающие многократное прохождение (нли отражение) через исследуемую си.стему,Однако в известных устройствах при многократных прохождениях цли отражениях (преломлениях) световые лучи не проходят черезодни и те ке точки исследуемой системы, апоэтому известные устройства не могут ооеспечить необходи мои чувствительности приконтроле качества поверхностей исследуемойсистемы,В предлагаемом устройстве для исследования оптических систем отмеченное ограничение устранено путем выполнсця дополнительной оптической системы с совпадающимиапланатическими точками, лежащими в фод=ЬП-- 1 для случая отражения,Л10 г 1 = - для случая прохокденпя,л - 1где гг - число прохождений или отраженийсоответственно.Дополнительная оптическая система в пред 15 почтительных вариантах построения устройства может быть представлена вогнутым сферическим зеркалом пли апланатическимобъективом с плоским .зеркалом,На фиг. 1 и 2 изображены принципиальные20 схемы построения устройства для двух предпочтительных вариантов построения; нариг, 3 - схемы хода лучей для гг числа прохождений через исследуемую систему.Источник света - светящаяся точка - 125 размешен в фокальной плоскости исследуемой системы 2, показанной своими главнымпплоскостями Л и О, и смещен относительнооптической оси ца расстояние Л. Дополнительная система - вогнутое сферическое зер 30 калоили апланатический объектив 4 с плос278160 п=2 - +1 ким зеркалом Б - установлена так, что ее совпадающие а план атические точки - центр кривизны О вогнутого зеркала 3 или передний фокус системы объектив 4 - зеркало 5 лежат в фокальной плоскости на расстоянии д от оптической оси. Величина смещениявыбирается в зависимости от требуемого числа прохождений (отражений) и величины Л.На фпг. 3 представлены случаи, когда д=Л; д= - Л; д= - Л; д= - Л. 2 3 4 Для упрощения показано только прохождение лучей через фокальную плоскость исследуемой системы, Лучи, падающие на исследуемую систему, обозначены буквами (А, В, С, Д, Е), а прошедшие (или отразившиеся) теми же буквами с индексами (А, В С. Д, Е); лучи, падающие на дополнительную систему - римскими цифрами (1, 11, 1 П и т. д.), прошедшие (илп отразившиеся) - теми же римскими цифрами с индексамп (1, 11, 11 Г и т. д.). Конечные изображения, построенные при последнем прохождении через исследуемую систему, совпадают с самим источником, если число прохождений и равно Если исследуемая система работает на отражение, то число отражений равно Л и= - +1,(Полученные выражения определяют зависимость величины смещения апланатпческой точки дополнительной системы от смещения источника света.При построении предлагаемого устройства не происходит оборачивания лучей, а значит, при многократных прохождениях или отражениях лучи идут через исследуемую систему по одному и тому же пути.Разумеется, смещение источника несколько нарушает подобное положение. Но при надлежащем выборе сравнительно небольшого смещения, а также соответствия между фокусными расстояниями исследуемой и дополнительной систем (наример, кривизны ссрерического зеркала) можно добиться совпаде пия лучей, удовлетворяющего практическимтребованиям,Число прохождений (отражений) выбирается в соответствии с требованиями к точности исследования с учетом яркости псточникз И света,Г 1 редмет и зоб ретенпя 1. Устройство для исследования оптическихсистем, содержащее источник света, смещенный относительно оптической оси исследуемойсистемы в ее фокальной плоскости, и дополнительную оптическую систему, обсспечиваю.- щую многократное прохождение созданногоисточника гомоцентрпческого волнового фронта через исследуемую систему или отражениеот нее до попадания г, анализирующий прибор, отлачагогаееся тем, что, с целью повы 25 щения чувствительности при исследованиикачества поверхностей оптических систем, дополнительная система выполнена с совпадающими апланатическими точками, лежащими вфока льной плоскости исследуемой системы3 О вне оптической оси, причем величина смещения гг апланатической точки определена в зависимости от величины Л смещения источника света соотношениямиЛ35 - для случая отражения,П-- 12Лд= - для случая прохождения,гг - 1 где п - соответственно, число прохожденияили отражений,2. Устройство по п. 1, отлаааюгаееся тем,что дополнительная система выполнена каквогнутое сферическое зеркало.45 3, Устройство по и. 1, отличагогцееся тем,что дополнительная система содержит аплапатпческий обьектив и плоское зеркало.