Способ контроля качества сферических поверхностей объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯ К ДВтоРСКОМУ СВИДЕтЕЛЬСТЕ 257036 Союэ Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства М аявлено 04,Х,1968 (Рй 1280908/25-2присоединением заявки М Кл. 42 Ь, 12(05 МПК С 0 рио Комитет по деламобретений и открытий публиковано 11.Х 1.1969, Бюллетень М 35ата опубликования описания 8.ГК 1970 31.7.715.27;620.19.121 (О ри Совете Министре СССРъ.р 1 Д Ъвл,Маранц Авторыизобретен Б. орницкии, С. Н, Нови 3 аявител СПОСО ТРОЛЯ КАЧЕСТВА СФЕРИЧЕСКВЕРХНОСТЕЙ ОБЪЕКТА иус с еры Известен способ контроля качества обработки поверхности объекта, заключающийся в том, что за исследуемым объектом устанавливают экран, направляют на объект пучок света и по теневому изображению на экране 5 судят о качестве поверхности.Предложенный способ отличается от известного тем, что экран, имеющий форму сферы, устанавливают между контролируемым обектом и источником когерентного пучка 10 света, который направляют на контролируемую поверхность объекта через отверстие в экране и проецируют изображение контролируемой поверхности на внутреннюю поверхность указанного экрана с увеличением, рав ным У= - , где Ь - расстояние от объекта2 Егдо экрана; г - . радиус сферы объекта. Эго позволяет получить увеличенное изображение контролируемой поверхности с высокой 20 разрешающей способностью при большом поле зрения.Предложенный способ иллюстрируется чертежом.Описываемый способ заключается в следу ющем.Пучок когерентного монохром атического света от лазера 1 через отверстие в сферическом экране 2 направляют на сферическую поверхность контролируемого объекта 3, уста- Зо новленного в держателе 4. Свет, отраженный от сферической поверхности объекта 3 дает ее увеличенное изображение на экране 2 (направление отраженных лучей показано стрелками). Степень увеличения выражается фор 211 гмулой У= -при - 11, где Е - расстояние от сферической поверхности объекта до экрана, г - радиус сферы контролируемого объекта.Увеличенное изображение сферических поверхностей можно фотографировать.Предмет изобретенияСпособ контроля качества сферических поверхностей объекта с использованием пучка когерентного монохроматического света, например, от лазера, и экрана, отличающийся тем, что, с целью получения увеличенного изображения малых сферических поверхностей объекта с высокой разрешающей способностью при большом поле зрения, экран, имеющий форму сферы, устанавливают между контролируемым объектом и источником когерентного пучка света, затем этот пучок света направляют на контролируемую поверхность объекта через имеющееся в экране отверстие и проецируют изображение контролируемой поверхности объекта на внутреннюю поверхность указанного экрана с увеличением, рав 21,ным Ж= - ; где 1. - расстояние от исследу- г мого объекта до экрана; гконтролируемого объекта.М 7036 Составитель Гриши Редактор Гр, Сапу ва, 2 пп ия аказ 728/7ЦНИИПИ Комитета по делам иМосква Тираж 480ретений и открытий при Совете М35, Раушская наб., д, 4/5 Подписноеистров СССР
СмотретьЗаявка
1280908
В. Д. Горницкий, Н. Новиков, Б. Д. Маран
МПК / Метки
МПК: G01M 11/02
Метки: качества, объекта, поверхностей, сферических
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-257036-sposob-kontrolya-kachestva-sfericheskikh-poverkhnostejj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества сферических поверхностей объекта</a>
Предыдущий патент: Способ оценки качества полированной поверхности
Следующий патент: Прибор для измерения диаметра внутреиней резьбы
Случайный патент: Устройство для моделирования нагруженного контакта зубчатых и червячных зацеплений