401899

Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 11,7.1971 ( 1655532/18-10) М. Кл. 6 01 пт 11/02 присоединением заявкиГосударственный комитвСоввта Министров СССРпо делам извврвтенийи открытий Приоритет УДК 535.818.8(088.8) 3, Бюллетень41 публиковано 12,Х,1 Дата опубликования описания 20.11,1974 Авторизобретения Молчаи аявитель СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СФЕРИЧЕСКОЙ АБЕРРАЦИ ЗЕРКАЛЬНО ОТРАЖА 1 ОЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ Изобретение относится к оптико-механической промышленности и может быть использовано для определения аберрации отражающих поверхностей, например, концентраторов оптического излучения, применяемых в гелиотехнике.Известны способы определения сферической аберрации зеркально отражающей поверхности путем наблюдения отраженных от исследуемой зеркальной поверхности узких парал лельных лучей, получаемых с помощью непрозрачного экрана с отверстиями и последующего фотографирования их на фотопластине, помещаемой в фокусе исследуемой отражающей поверхности. 15Предлагаемый способ отличается от известных тем, что исследуемую поверхность визируют с помощью оптического угломерного инструмента по линии, не совпадающей с направлением лучистого потока, отраженного от 20 этой поверхности, и располагают в поле зрения угломерного инструмента координатную сетку, видную при изменении угла наблюдения исследуемой поверхности. Затем осуществляют пространственную привязку опорных 25 точек базы поверхности и считывают липейные координаты точки изображения координатной сетки при различных углах визирования исследуемой поверхности. Это позволяет получать аберрограммы больших отражаю- Зо щих поверхностей при одновременном и независимом исследовании всех их участков.На чертеже изображено взаимное расположение линии визирования угломерного инструмента, координатной сетки и контрольныхточек исследуемой поверхности.В точке 1 (на чертеже) расположен оптический угломерный инструмент. Линия визирования 2 при наблюдении контролируедгоучастка 3 - 4 отражающей поверхност 1: о проходит вне направления 6 лучей. На плоскостикоординатной сетки 7 точки 8 1; 9 есть точки,изображения которых накопятся на .пинии визирования угломерного пнструмента при углахвизирования а, соответствующих точкам 3 и 4поверхности 5Способ заключается в следующем,Угломерный инструмент располагают в некоторой точке 1 так, чтобы его линия визирования 2 при изменении угла наблюденияданного участка 3 - 4 зеркально отражающейповерхности 5 в данной плоскости наблюдения 1 - 3 - 4, т. е. в плоскости снятия аберрограммы, находилось вне направления 6, отраженного этим участком поверхности лучистого потока, падающего на поверхность. Плоскость координатной сетки (шкалы) 7 располагают относительно поверхности так, чтобы при указанном изменении угла наблюдения в поле зрения угломера находилось изоб3ражение участков в точках 8 - 9 сетки в соответствующем участке 3 - 4 поверхности, с которого снимается аберрограмма.Затем с помощью установленного таким образом угломера осуществляют пространственную привязку поверхности и сетки, т. е. определяют угловые координаты трех опорных точек базы поверхности, например 3, 4 и 10, и трех опорных точек координатной сетки, например 8, 9 и 11, (не лежащих на прямой) относительно одной из них, например 3, принятой за начальную, Последовательно изменяя угол наблюдения а, считывают линейные координаты точки 12 изображения координатной сетки, наблюдаемой на линии визирования оптического угломерного инструмента в соответствующем элементе отражающей поверхности - точки 13, Полученные данные позволяют рассчитать величину аберраций.В качестве угломерного оптического инструмента применяют, например, теодолит. В качестве опорных точек поверхности используют технологическую базу (центр, обод ит.п).Для ускорения измерений и фиксации их результатов фотографируют наблюдаемую шкалу оптического угломерного инструмента и изображение координатной сетки при каждом изменении угла наблюдения поверхности.Для упрощения вычислений при снятии меридиональных аберрограмм отражателя с оптической осью применяют в качестве координатной сетки измерительную линейку, которую размещают, например, вдоль оптической оси,Точность измерений зависит, в частности, отрасстояния координатной сетки (измерительной линейки) до фокуса отражающей поверхности и до самой поверхности.5 Для исследования очень больших зеркалснятие аберрограмм предлагаемым способом можно проводить по участкам, сохраняя вы.бранные опорные точки.Аберрограммы в других плоскостях (сече ниях поверхности) получают изменением плоскости наблюдения.Предмет изобретенияСпособ определения сферической аберрациизеркально отражающей поверхности путем наблюдения ее оптического изображения, отли чающийся тем, что, с целью получения аберрограммы больших отражающих поверхностей при одновременном и независимом исследовании всех их участков, визируют испытуемую поверхность с помощью оптического угломер З ного инструмента по линии, не совпадающейс направлением отраженного от этой поверхности лучистого потока, и располагают в поле зрения угломерного инструмента координатную сетку, видную при различных углах на блюдения исследуемой поверхности, затемосуществляют пространственную привязку опорных точек базы поверхности и считывают линейные координаты точки изображения координатной сетки при различных углах виЗ 5 зирования исследуемой поверхности.Корректор Е. Хмелева Редактор С. Титова Типографвя, пр. Сапунова, 2 Заказ 306/4 Изд.135 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб д. 45