G01M 11/02 — испытание оптических свойств

Страница 6

Устройство для измерения числовой апертуры волоконного световода

Загрузка...

Номер патента: 1520468

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Калугин, Субботин

МПК: G01M 11/02

Метки: апертуры, волоконного, световода, числовой

...параллельных цилиндров 3 с последовательно убывающими радиусами КК ,К, Волоконный световод 2 последовательно намотан на цилиндры 3 по ходу .распространения н нем излучения в сторону убы" вания радиусов цилиндров 3. У боковых поверхностей цилиндров 3 установлены фотоприемники 4, оптически связанные с волоконным световодом 2. Фотоприемники 4 связаны с блоком 5 индикации и обработки информации. Цилиндры 3 выполнены с возможностью вращения. 25 1 Устройство работает следующимобразом.Поток излучения от источника 1 вводится в волоконный световод 2. Рас пространяясь по световоду 2, поток последовательно излучается на витках световода, попадая на фотоприемникиПричем величина излучаемой на изгибе оптической мощности обратно пропорциональна...

Устройство для контроля качества изображения объективов

Загрузка...

Номер патента: 1522062

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Айсин, Асташкин, Земсков, Подобрянский, Путилин, Хлебников

МПК: G01M 11/02

Метки: изображения, качества, объективов

...ПЗС 14-16, амплитуды которых пропорциональны коэффициентам передачимодуляции контролируемого объектива51 на пространственных частотах,5 15 определяемых частотой штрихов, нанесенных на многощелевые диафрагмы .9-11.Сигналы, снимаемые с полосовых фильтров 25-27, поступают на усилители 29-31, входящие в блок 28 смещения напряжения, Источники 32-34 задают смещение постоянной составляющей на выходе усилителей 29-31.Сигналы с выходов усилителей 29-31 поступают на информационные входы ключевых элементов 36-38,Сигнал, формируемый на выходе дешифратора 21, период которого равен периоду опроса приборов 14-16, поступает на вход кольцевого счетчика 40. Состояние счетчика дешифрируется дешифратором 41, выходные сигналы с которого поступают на...

Способ измерений оптических потерь в волоконном световоде

Загрузка...

Номер патента: 1532828

Опубликовано: 30.12.1989

Авторы: Бухштаб, Коромысличенко

МПК: G01M 11/02

Метки: волоконном, измерений, оптических, потерь, световоде

...участке световода о, наКодящегося в фотометрическом шаре нарасстоянии 1, от места ввода светового потока, Затем измеряют поток сравнения 9 излучения, рассеянно 1 о участком световода длиной 1 р и находящегося на расстоянии 1 от места первого измерения (или на расстоянии 1.от места ввода излучения), Далее измеряют второй поток сравнения Р ,освещая излучением, выходящим из участка световода длиной 61, расположенного правее координаты 1 (причем,351-1)ь 1) и содержащего свободный,конец световода, дополнительный Фото,метрический шар, стенки которого выполнены из просвечивающего материалатипа "молочное стекло , Такой шар обфе 40ладает свойством не ослаблять падающее на него излучение независимо отусловий его освещения, т,е,...

Устройство для контроля центрировки оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1543277

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Понин, Семчуков

МПК: G01M 11/02

Метки: оптических, систем, центрировки

...объективом 10, проходит через отверстие в зеркале 2 и попадает на контролируемую систему 8 соосно ей. Каждая из поверхностей системы 8 отражает часть падающего на него излучения, Пучки, отраженные поверхностями системы 8, после отражения зеркалом 2 проходят компенсатор 3 и попадают в ИПС 1, Если поверхность системы 8 децентрирована относительно оси проекционной системы 1, то пучок, отраженный этой поверхностью, имеет на входе ИПС центр сходимости в точке А, не лежащей на оптической оси ИПС. Последний Формирует из этого пучка пару пучков, центры сходимости которых благодаря выполнению формулы (1) симметричны относительно оси ИПС, Объектив 5 строит действительное изображение точки А в виде точек А1(и А , находящихся в пределах диапазона...

Способ определения положения фокальной плоскости объектива

Загрузка...

Номер патента: 1571459

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Малков, Рожков, Тимашов, Тимашова

МПК: G01M 11/02

Метки: объектива, плоскости, положения, фокальной

...в точке на оптической оси; К = 2 л/Л- волновое число. В точке на оси волновая аберрация Ф(Х) складывается из сферической аберра ции объектива Фс, = Ссф Х и его дефокуси 4 ровке Фде= Сде Х:Ф(Х) = Сдех +СсфхС учетом аберрациоииой функции зрачка Ф(х) и, принимая во внимание что Ф(о) = О и Фх) = Ф(-х), распределение поля в плоскости входного зрачка (х) будет соответствовать55х)=В А д(х)+ - д(х - хо)+д(х+хо) ехр ) 1 Ф(х)гдеФ(хо) = фде(хо)+уф(хо) = Цехо +Ссф.хохо = Овх.зр/2,С точностью до постоянного фазового множителя, учитывающего отступление плоскости входного зрачка объектива от его передней фокальной плоскости и не влияющего на распределение интенсивности, распределение поля в задней фокальной плоскости объектива 5 описывается...

Способ измерения фокусного расстояния объектива

Загрузка...

Номер патента: 1578553

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Волков, Шарапа, Шпилевая

МПК: G01M 11/02

Метки: объектива, расстояния, фокусного

...Фурье- плоскости с координатами (х, у);период модуляции,После модулятора 7 излучение про .ходит второй пространственный Фурье- преобразователь 8, Перемещением столика 3 с контролируемым объективом вызывают периодическое изменение интенсивности зрения Фотоприемного 55 устройства 9, которое преобразует Изобретение относится к испытаниям оптических свойств объективови может быть использовано для измерения фокусных расстояний объективов.Целью изобретения является повышение производительности измеренийпутем автоматизации измерительныхопераций.,На чертеже изображено устройстводля осуществления предлагаемого ссособа.Устройство содержит источник 1когерентного излучения, оптическийрасширитель 2, столик 3 для установки контролируемого...

Устройство для контроля объективов

Загрузка...

Номер патента: 1578554

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Брежнев, Заболотский, Подобрянский, Хлебников

МПК: G01M 11/02

Метки: объективов

...контролируемьп 1 объектив 43,Устройство работает следующим образом,Световой пучок после коллимятора1 собирается контролируемым объективом 43 в его задней Фокальной плоскости, Пучки. света, пройдя микрообъектив 7 и растр 1 О, попадают нафотоприемное устройство 1. По сигналу с выхода фотоприемного устройства 11 блок 15 программ включаетгенератор 16, при этом вибратор 8приводит в колебательное движениемикрообъектив 7, который производитглубинное сканирование изображениящелевой диафрагмы 3 и модулирует выходные сигналы Фотог 1 риемного устройства. Изображение диафрагмы 3 перекрывает все три дорожки растра 1 О,который модулирует световой поток счастотами Г , Г и Г1 2Амплитуды первых гармоник электрических сигналов на выходе фотоприемного...

Способ оценки потерь в симметричном направленном оптическом ответвителе

Загрузка...

Номер патента: 1580306

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Демьяненко, Полищук

МПК: G01M 11/02, G02B 6/28

Метки: направленном, оптическом, ответвителе, оценки, потерь, симметричном

...революции(56) Аогасег Г, Ргпреп оптчоп АЬгае 11 цеп Яг МиИ 1(т)обе 1 агок, 1980, В. 34, н. 2, з. 52. щн ости ля. Из- дключаодные ня ются щн ость личину тветвиаж+ Рх а 2 лаз 6+15 + Рвх а З 4 а З а М +а З 5 а 1, вх а 25 а 11 а 36а 15 а 1 в+,1580306 Составитель В.Поповедактор Н,Рогулич Техред М,Моргентал тор Л,П аз 2010 ВНИИ Тираж 468 ПодписноеГосударственного комитета по изобретениям и открыти 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 ГКНТ СССР роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 10 упростив выражения внутри групп, записывают комплексную характеристику потерь у ==а 2 б+а 24 азб(1 - а 1 ь) + (2) + а 24 а 35 а 16 + а 29236 а 14 + О 25 а 16 (1 аз 4)хх(1- а,"и) (1-а 1 б)-аз 4 а 1 ьКак видно из (2),...

Способ определения положения фокальной плоскости объектива

Загрузка...

Номер патента: 1585703

Опубликовано: 15.08.1990

Авторы: Борис, Малков, Рожков, Тимашов, Тимашова

МПК: G01M 11/02

Метки: объектива, плоскости, положения, фокальной

...Фурье"спектр модулированной волны (1) (Фурье-спектр решетки):) ЭЕ - фокусное расстояние коллимактора;Ю - дельта-функция Дирака;Л - длина. волны освещающегоизлучения.В данной плоскости (Х) ограничиваются световые диаметры пучков, формирующих изображение решетки, и, следовательно, эта плоскость является плоскостью входного зрачка контролируемого объектива 6, а его диаметр равен У объективов с малыми аберрациями (Ф й 0) аберрационная функция входного зрачка Р(Х) зависит лишь от одной дефокусировки Ф е(Х) = С е Х(где С е - коэффициент волновой деЮфокусировки), т.е. Р (Х) - "ехр1 К.Ф (Х) , (4) где К = 2 1//Я - волновое число.В соответствии с предлагаемым способом в плоскости Фурье-спектра вносят четвертьволновый фазовый сдвиг на...

Устройство для контроля оптической передаточной функции оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1589099

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Галибин, Дубиновский, Ерохов, Тарасенко

МПК: G01M 11/02

Метки: оптических, оптической, передаточной, систем, функции

...частотывращения электродвигателя 9, причемтаким образом, чтобы мгновенная скоРость перемещения иэображения растрапо анализирующей диафрагме остава"лась постоянной и равной тому значению, что и при отсутствии вибраций.Частота модуляции сигнала на выходеприемника излучения остается постоян 5ной и равной начальному значениюТаким образом, благодаря компенсациивибраций основания исключается дополнительная погрешность измерения.Режим шагового движения диска ну"жен для юстировки стенда и его зада"чей является фиксация диска в любомпроизвольном угловом положении. Работа устройства в этом режиме происходит следующим образом. Чтобы оста.15новить тест-объект 2 в заданном положении, первоначально уменьшают частоту вращения электродвигателя 9...

Способ изготовления образца для контроля микроскопов

Загрузка...

Номер патента: 1631341

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Герловин, Левина

МПК: G01M 11/02

Метки: микроскопов, образца

...кому прибор польэовано и микрообъе жения, Цель НОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТ качества образца путем повышения однородности распределениячастиц латек са по поверхности образца. Цель достигается тем, что в способе изготовления образца для контроля микроскопов, включающем нанесение на стеклян ную подложку водной суспенэии латекса, высушивание суспензии, нанесение на подложку слоя алюминия толщиной 30-100 нм путем его испарения в ваку уме с последующим удалением" частиц пу тем протирания, перед нанесением водной суспензии латекса на подложку наносят слой двуокиси кремния толщиной 50-300 нм путем ее испарения в вакууме с последующим охлаждением подложки до температуры 0-10 С, а высушивание проводят при температуре 5"10 С. Наносят на подложку поверх...

Устройство для контроля качества объективов

Загрузка...

Номер патента: 1649345

Опубликовано: 15.05.1991

Автор: Черных

МПК: G01M 11/02

Метки: качества, объективов

...5 строятся в Фокальной плоскостииспытуемого объектива 6. Модулятор 7равномерно вращается с помощью двигателя 11, Световые потоки, прошедшие через модулятор 7, преобразуются в электрические сигналы с помощью трех фотоприемников 8, 12 и 13,сигналы с которых поступают в триидентичных канала электронного блока 9. где у - расстояние в плоскости мо / дулятора от оптической ос 1 причем модулятор установлен на вращения под не , ,е,Ы= агКлгде Д 1. - погрешность положения Фо"кальной плоскости испытуе-мого объектива 6,ось вращения модулятора параллельна .оптической оси и расположена так,что угол в плоскости диска модулятора о вершиной в. контролируемой точкеполя зрения между бсью вращениямодулятора и оптической осью ббъек 5 тива 6 равен 45 ,...

Оптический рефлектометр

Загрузка...

Номер патента: 1208905

Опубликовано: 30.05.1991

Автор: Ермохин

МПК: G01M 11/02, G01N 21/17

Метки: оптический, рефлектометр

...с одним входом индикатора, к другому входу которогои к управляющему входу блока задержки подключены соответствующие выходы генератора пилообразного напряжения., Техред М,Пароцай, Корректор С.Черни Редактор Л.Коляда Заказ 2560 Тираж Збг ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035 Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное Филиал ППП "Патент, г,Ужгород, ул.Проектная, 4 Ф 120Оптический рефлектометр относится к оптоэлектронной технике и предназначен для определения параметров волоконно оптических кабелей и линий связи.Цельш изобретения является расши-: рение динамического диапазона при повышении точности и разрешающей способности.На чертеже представлена. блок"схема оптического рефлектометра. Оптический...

Тест-объект

Загрузка...

Номер патента: 1665246

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Амельянова, Макулов, Павлов, Паук, Шелепин

МПК: G01M 11/02

Метки: тест-объект

...в зависимости от пространственной частоты диапазон измерений контрастов составляет0,04-0,90,Количество решеток в матрице и расстояние между решетками как в столбце. так ив строке матрицы могут быть переменнымии меняться в зависимости от задачи исследования, Например, при оценке проекционной оптической системы центры боковыхрешеток могут быть расположены от краяматрицы на расстоянии, равном 1/6 ширины поля изображения системы, Число матриц при числе решеток в матрице ЗхЗгоставляет 24, что является достаточнымдля точного исследования системы.Измерение модуляционной передаточной функции исследуемой системы производится путем последовательногопредъявления матриц тест-объекта, причемколичество матриц (и) зависит от задач ивида...

Тест-объект

Загрузка...

Номер патента: 1665247

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Амельянова, Макулов, Павлов, Паук, Шелепин

МПК: G01M 11/02

Метки: тест-объект

...из синусоидальных решеток (см, фиг. 1) разного контраста и разной ориентации. Решетки в каждой матрице расположены так, что ихконтраст меняется от 0,04 - 0,90. Ориентация решеток в столбце матрицы меняется в диапазоне 0 - 180 угл.град. Матрицы одна от другой отличаются пространственной частотой решеток в диапазоне 0,01 - 60 цикл/угл.град.Измерение модуляционной передаточной функции исследуемой системы производи гся путем последовательного предъявления матриц тест-объекта, причем ч сло решеток в матрице и количество ма - риц(п) в зависимости от задач исследования и вида системы может варьироваться,Тест-объект применяется для измерения ориентационной (меридиональной) анизотропии передаточной функции исследуемой системы путем...

Устройство для измерения функции распределения энергии в кружке рассеяния оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 1672255

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Захаркин, Лушин

МПК: G01M 11/02

Метки: кружке, оптической, распределения, рассеяния, системы, функции, энергии

...привода 8 начинается перемещение полого цилиндра 3 в одном из направлений поперек оптической оси по всему диапазону кружка рассеяния. По окончании цикла полый цилиндр возвращается в исходное положение реверсиро1672255 10 ванием привода 8. При этом одновременно осуществляется разворот платформы ч приводом 9 на заданный угол, а в этомположении сканирование полого цилиндра 3 поперек оптической оси аналогично пред ыдущему. Продольное перемещениек вдоль оптической оси полого цилиндра 3 для поиска плоскости наилучшего изображения осуществляется приводом 7.Для расширения эксплуатационных 10 возможностей и спектрального диапазона. например при обследовании отличных друг от друга объектов или при изменении условий, можно использовать...

Способ контроля качества объектива и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1673906

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Емуранов, Рожков, Тимашова, Чикин

МПК: G01M 11/02

Метки: качества, объектива

...сферической волны с центром расходимости на оптической оси и фазы одной из сферических волн с внеосевым центром расходимости, при этом фаза осевой сферической волны вдвое превышает фазу внеосевой сферическОй волны. Устройство для реализации способа содержит (фиг,1) расположенные последовательно на оптической оси лазер 1, телескопическую систему 2, оптический элемент 3 в виде двух жестко связанных между собой плоскопареллельных стеклянных пластин, пространственный фильтр 4 в виде размещенного в плоскости входного зрачка объектива 5 непрозрачного диска с тремя отверстями, одно иэ которых расположено на оптической оси, а два других вне ее симметрично относительно первого, а также регистрирующее устройство 6 в задней фокальной плоскости...

Способ измерения коэффициента пропускания объективов

Загрузка...

Номер патента: 1682850

Опубликовано: 07.10.1991

Автор: Ковальский

МПК: G01M 11/02

Метки: коэффициента, объективов, пропускания

...например, фотоприемником 5, установленным в фокальной плоскости объектива 6 с диаметром, несколько большим диаме 1 ра диафрагмы 3.Снимаю показания а 2, поопорциональные потоку излучения, прошедшему участки В и С с коэффициентами пропускания г 1 и г 2, регистрирующим прибором, соединенным с фотоприемником 5, Наклоном зеркала 4 направляют излучения на участок О контролируемого объектива, переустанавливают обьектив 6 с фотоприемником 5 до совмещения его оси с центром участка О и снимают показания аз, пропорциональные потоку излучения, прошедшему участки В и О с коэффициентами пропускания г 1 и гз. Повторяют измерения для участка С и О и получают величину а 4 - показания регистрирующего прибора для гатока излучения, прошедшего...

Способ измерения сверхмалых оптических потерь

Загрузка...

Номер патента: 1684609

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Бухштаб, Кириллов, Коромысличенко, Овсянников, Портнов

МПК: G01M 11/02

Метки: оптических, потерь, сверхмалых

...ЯО 1 б 84 б 09 А 1(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕРХМАЛЫХ ОПТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ(57) Изобретение относится к фотоме 1 рии, спектральной фотометрии, волоконной оптике и может найти применение при измерении оптических потерь на расстояние, поглощение и суммарных оптических потерь элементов лазерной оптики, заготовок вытяжки оптических волокон и волоконных световсдое, Цельизобретения - увеличение точности измерения сверхнормальных оптических потерь - достигается выбором оптимальных значений частоты предварительной модуляции, постоянной времени НЧ-фильтрации и синхронизацией измерений в каналах, 1 ил. Формируют опорный и измерительный каналы, Помещают обьект измерения в измерительный канал.С помощью фотоэлектрических преобразователей энергию...

Устройство для измерения децентричности линз

Загрузка...

Номер патента: 1695163

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Мокринский, Санников

МПК: G01M 11/02

Метки: децентричности, линз

...линзу 2 устанавливают на узел 1, выполненный в виде кольца соосного объективу 6. Призматический упор 3 перемещают до контакта с цилиндрической поверхностью линзы 2, в контакт с которой вводят также подпружиненный ролик 4. При этом центр кривизны нижней повер хности линзы 2 устанавливается на оси узла 1 и объектив 6. Коллимированный монохроматический пучок излучения от источника 5 фокусируется обьективом б на верхней поверхности линзы 2, отражается от нее, проходит объектив 6 и попадает ка входную грань 11 призменного блока 7. На грани 17 блока 7 часть пучка отражается и направляется на второй фотоэлектрический преобразователь 23, где объективом 24 формируется пятно излучения на фотоприемнике 25, а часть излучения...

Устройство для измерения спектрального коэффициента пропускания объектива

Загрузка...

Номер патента: 1716360

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Ковальский

МПК: G01M 11/02

Метки: коэффициента, объектива, пропускания, спектрального

...50 в случае контроля обьективов и лина из непрозрачных в видимой области оптических материалов,Наличие светоделительного элемента, через который излучение проходит дважды, 55 обуславливает большие световые потери поток излучения уменьшается на светоделителе не менее чем в 4 раза), что требует применения более сложных и чувствительных фотоприемников.Указанные недостатки уменьшают количество и производительность измерений и ограничивают воэможность применения известного устройства в цеховых (п роизводственнцх) условиях.Цель изобретения - упрощение конструкции, повышение качества и производительности.Указанная цель достигается тем, что устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания объектива, содержащее расположенные на...

Устройство для контроля качества объективов

Загрузка...

Номер патента: 1739240

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Абрахам, Вензель, Колобродов, Кучеренко

МПК: G01M 11/02

Метки: качества, объективов

...13, первый выход которой подключен к дисплею 14, второй - к печатающему устройству 15, а третий - к входу блока 16 разворота, первый выход которого подключен к ЛППЗ 9, а второй к блоку 17 измерения угла поворота, выход которого подключен к второму входу микроЭВМ 13.На фиг. 2 показаны контур изображения тест-объекта в виде линии, положение ЛППЗ 9, установленной перпендикулярно изображению линии, а также положение ЛППЗ, повернутой относительно оптической.оси 00, совпадающей с осью коллиматорного объектива на произвольный угол а.Блок 16 разворота ЛППЗ может быть выполнен на основе шагового исполнительного двигателя типа ШДс редуктором, Блок измерения угла поворота может быть реализован при применении фотоэлектрического датчика угла...

Устройство для измерения качества изображения объективов

Загрузка...

Номер патента: 1742663

Опубликовано: 23.06.1992

Автор: Ковальский

МПК: G01M 11/02

Метки: изображения, качества, объективов

...системы переменного увеличения могут приводить к столь значительному изменению контраста изображения, что его точная компенсация становится трудновыполнимой, Кроме этого, как следует из конструкции известного устройства, при аттестации настройке) устройства используется установленное в плоскости изображений системы переменного увеличения плоское зеркало. При этом ход лучей в кубике, отраженных от этого зеркала, не совпадает с ходом лучей, отраженных от автоколлимационного зеркала за измеряемым объективом, что также не может быть компенсировано известным устройством,Таким образом, точность измерения функции передачи модуляции (ФПМ) на известном устройстве, особенно при контроле светосильных объективов для высоких пространственных частот,...

Способ измерения длины волны отсечки волоконного световода и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1279348

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Антонов, Ветошко, Китаев, Пантин

МПК: G01M 11/02, G02B 6/00

Метки: волны, волоконного, длины, отсечки, световода

...и съемный якорь 17, Панерхнасти прокладки 16и якоря 17, обращенные друг к другуе . выполнены шероховатыми.Данный способ осуществляют с помощью описанного устройства следующим образом, Оптическое излучение с перестранваемай дницой волны света в диапазоне отда 71 с выхода нсточ 1 2ника 1 с помощью модулятора 2 после 1279348довательно но времени прерывают счастотой Е,. С помощью оптическойсистемы Э это излучение вводят н отрезок исследуемого световода 4, который на некотором участке своейдлины помещен между прокладкой 16и якорем 17 блока. В обмотку 15 блока 6 от генератора синусоидальногонапряжения подают переменный ток счастотой Е /2. При этом осуществляется переменное во времени сданлинание участка световода 4 с частотойЕ,...

Способ контроля качества волоконной детали и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1760426

Опубликовано: 07.09.1992

Автор: Кульчицкий

МПК: G01M 11/02

Метки: волоконной, детали, качества

...на предметном столе 13 микроскопа для обеспечения автоматической фокусировки микрообъективов 4 и б при перемещении предметного стола 13,На предметном столе 13 микроскопа также установлены: подшипник 14, во.внутреннюю обойму которого вставлено самоцентрирующее приспособление 15 с накидной гайкой 16, датчик 17 угловых перемещений, осуществляемых электроприводом 18 и датчик 19 линейных перемещений, осуществляемых электроприводом 20,фотодиодная матрица 7, датчики 17 и 19 перемещений и электроприводы 18 и 20 через =огласующее устройство 21 электрически связаны с блоком управления, выполненным в виде ЭВМ 22, которая управляет электроприводами 18 и 20 и регистрирует информацию от фотодиодной матрицы 7 и датчиков 17 и 19 перемещений, с помощью...

Способ измерения потерь в световоде и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1765742

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Полякова, Соколовский

МПК: G01M 11/02

Метки: потерь, световоде

...пропусканиизондирующего импульса через световод и 45измерении ослабления мощности сигналарелеевского рассеяния, пропускают многократно зондирующий импульс через световод, измеряют ослабление мощностисигнала релеевского рассеяния в начале 1- 50го прохода зондирующего импульса яРО 1,измеряют ослабление мощности сигналарелеевского рассеяния в конце И-го прохода 1 цРк, измеряют ослабление мощностисигнала между концом 1-го и началом М-го 55ПрОХОдОМ, СуММИруЮт ИХ ЛОРл -п+1п =1и определяют ослабление сигнала в световоде по формуле К - 1 Я Ры - Я Ро 1 - , Лц Р +1(д Б),где И - число проходов зондирующего импульса по волоконно-оптическому концу (целое положительное число);и - текущий проход;б) по устройству тем, что в устройстве для реализации...

Способ измерения оптических параметров оптических элементов и систем

Загрузка...

Номер патента: 1767376

Опубликовано: 07.10.1992

Автор: Ковальский

МПК: G01M 11/02

Метки: оптических, параметров, систем, элементов

...заменяют первый объектив вторым, регистрируя сигнал б, а оптические п араметры г 1, юг - коэффициенты пропускания первого и второго объективов соответственно и р - коэффициент отражения зеркала определяют из следующих выражений; ФЬ с Фьгга б аг сс Г Р Кроме того, с целью повышения точности измерений за счет уменьшения влияния нестабильности источника излучения повторяют операцию измерения излучения на входе перед каждой последующей опера- цией, а т 1, г и р определяют по формулам при этом а 1 - сигнал от потока излуче входе при последовательной устаноа объективов, аг и аз - при установке 3 соответственно за первым объектив вторым.На чертеже показаны оптическа рительная схема и ход лучей при пр нии измерений.Изобретение осуществляется...

Способ измерения коэффициэнта передачи модуляции оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 1774207

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Айсин, Курик, Тауснев, Хлебников

МПК: G01M 11/02

Метки: коэффициэнта, модуляции, оптической, передачи, системы

...Счетчик 18 формирует временной интервал, длительность которого определяет время наполнения зарядов с ПЗС б. Дешифратор 19 выделяет временной интервал, з течение которого осуществляется наполнение зарядов в ПЗС б, а также дополнительные импульсы синхронизации, Блок 20 ключей фоомирует фазные последовательности импульсов. Фазные последовагельности импульсов и дополнительные импульсы усиливаются усилителями 21 и поступают на входы ПЗС 6,Периодический видеосигнал, снимаемый с ПЗС 6, поступает на полосовые фильтры 7, 10. Полосовой фильтр 7 выделяет из периодического видеосигнала измерительную гармоническую составляющую, частота которой определяется соотношением где деизм - частота измерительной гармонической составляющей;Ь - частота...

Способ контроля качества изображения оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 1774208

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Айсин, Кочанов, Тауснев, Хлебников

МПК: G01M 11/02

Метки: изображения, качества, оптической, системы

...- повыситьточность контроля при изменяющейся величине светопропускания контролируемой оптической системы и изменениитемпературы, что указывает на то, что предложен ны е отличител ьные признаки соответствуют критерию "существенныеотличия",На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства, реализующего способ; на фиг, 2 - конструктивное выполнениетест-объекта; на фиг. 3 - временные Диаграммы сигналов, формируемых на выходахотдельных блоков при различном качествеизображения; на фиг. 4 и 5 - расположение 50изображения тест-объекта относительноприбора с зарядовой связью и временныедиаграммы сигналов, формируемых на выходах отдельных блоков,Устройство, реализующее способ, содержит оптически связанные источник 1света, тест-объект 2,...

Способ определения параметров спектра микроизгибов одномодового оптического волокна и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1780075

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Добровольский, Ланде, Маккавеев, Путяшев

МПК: G01M 11/02

Метки: волокна, микроизгибов, одномодового, оптического, параметров, спектра

...А и р, приходим к системе уравнений (2) и (3).Получение значений радиуса Ю 01 полямоды в ближней зоне не расчетным путем, апутем измерений. а также получение путем10 измерений значений О/ог существенно расширяют область применения предлагаемого способа по сравнению соспособом-прототипом, который ограниченприменимостью к одномодовым ОВ лишь со45 ступенчатым профилем показателя преломлений, поскольку для ступенчатого профиляполучено относительно простое выражениедля ЮоВ случае ке других видов и рофиля пока 50 зателя преломления процедуры численногоопределения Юо сложны и требуют значительного времени, даже на больших ЭВМ,Коэффициент затухания уг на длиневолны Л 2 может быть определен как до,55 так и после измерений на длине...