G01M 11/02 — испытание оптических свойств
415537
Номер патента: 415537
Опубликовано: 15.02.1974
МПК: G01M 11/02
Метки: 415537
...остаточных аберраций. Таким образом, основное действие в формировании волнового фронта оказывает выпуклая поверхность мениска 1, выполняющая роль силового элемента.Точечный истопник света (точка А) совмещен с центром кривизны первой вогнутой сферической поверхности мениска (точка С), поэтому лучи, отраженные от вогнутой сферической поверхности, создают действительное изображение точки А. Перемещая как единое целое компепсатор и источник света, получают второе автоколлимационное изображение точки, построенное лучами, отраженными от всей контролируемой поверхности или от ее центральной зоны..=- ,с+ ау+ Оуф+ Суф, = ,акс+ ауф+ Оуф + Су,Составитель В. Ванторин Текред Т. Ускова Редактор С. Хейфиц Корректор Т. Гревцова Заказ 1370/4 Изд. М...
Способ определения величины масштабных искажений изображения
Номер патента: 444961
Опубликовано: 30.09.1974
МПК: G01M 11/02
Метки: величины, изображения, искажений, масштабных
...- свет, а на пограничной кривой, вычерчиваемой самописцем, производят засечки,привязывающие элементы пограничной крцчой к определенным положениям тест-объектаотносительно испытуемого объекта,Это позволяет одновременно определять величины дисторсии и фазово-частотной характеристики путем последующих расчетов, атакже повысцть точность определения дистор сии.Дисторсию и фазовое смещение находятследующим образом.Заднюю узловую точку испытива совмещают осью вращенего повороте изображение бы о тень - свет равномерно ощью микро метр цческо зки положений границы зированця производят самописца с отметкой й показания барабана м ную область фотопрц светофильтров предварц44961 Предмет изобретения Составитель М. Лебедев Техред Н. КуклинаКорректор Л....
Компенсатор для теневых и интерфереционных исследований качества вогнутых зеркал крупных телескопов
Номер патента: 463024
Опубликовано: 05.03.1975
Автор: Пуряев
МПК: G01M 11/02
Метки: вогнутых, зеркал, интерфереционных, исследований, качества, компенсатор, крупных, телескопов, теневых
...нс вопу 1 овсрхцостп мсппск). Извсстиы компенсаторы для теневых и ицтсрфсрсццпоппых исследован качества вогцутых зеркал кр) ппых те;1 сс.Онов, содср)кящие одицо шый афокальцый маиск, обрапСпный выпуклостью к зсркалу.Предлагас 11 й компсцсатор отличается от известивх тем, то вогп)тая поВсрхцос)ь мсписка выполпспа асферичсской с профилем образующей, удовлетворяющим уравцсцпю второго порядка, пяпрпмср, в вид ппсрболы, эксцсптриситст которой связан с параметрами меписка и зеркала соотцошеппсм(,), ) к (н - )г 1где к - эксцспприсптст гиперболической поверхности;г - радиус кривизны при сс всршипс:радиус сферической повсрхиостп мсциска;ипоказатель преломления к а гср,11 л 1мсциска;15 - радиус кривизны при вершипс конгролирусмого зеркала.Зто...
Устройство для контроля неастигматических очковых линз
Номер патента: 507796
Опубликовано: 25.03.1976
Авторы: Владимирова, Мясников, Пивоварова
МПК: G01M 11/02
Метки: линз, неастигматических, очковых
...диоптрийности выполняют при таком положении линзы, когда совмещены толь-ко вертикальные линии перекрестия изображения марки 2 имарки 7. В этом случве, при установке на позицию контроляобразцовой линзы, световой цоток, проходящий через марку 7, наибольший. Величина потока уменьшается, если рефракцияконтролируемой линзы 4 отличается от рефрв. Мкции образцовой линзы, так как ширина ли-ний перекрестия изображенйя становитсяшире линий перекрестия марки 7.После усиления усилителем 9 сигнал сфотоприемника 8 подается на блок 10.ре- Иле, выход которого связан с входом испол-кительного устройства 12, которым осу-.ществляются все необходимые перемещениястола 5 и центроотметчика 13.Контролируемые линзы 4, установленные нв Ъращающемся столе...
Способ контроля оптических систем
Номер патента: 574656
Опубликовано: 30.09.1977
Авторы: Зверев, Кашерининов, Кирилловский, Сокольский
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем
...в одном масштабе, а перепечатанные и оконтуренные снимки совмещают в одну изофотограмму.03При многократном фотографировании изображения с распределением, близким к представленному, получают серию фотоснимков,на каждом из которых содержится изображение фотометрического сечения, определенногоотносительного значения Е освещенности, связанного с длительностью 1; экспозиции данного снимка. Переход от абсолютных значений освещенности на относительные связан снеопределенностью свойств используемого фотографического материала. Поскольку для получения всей серии снимков с экспозициями1, применяют один и тот же фотоматериал смаксимально высокой контрастностью, неопределенность свойств фотоматериала не оказывает влияния на результаты...
Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов
Номер патента: 587355
Опубликовано: 05.01.1978
МПК: G01M 11/02
Метки: коллиматору, коэффициента, объективов, оптико-электронная, приставка, пропускания, спектрального
...3, полупрозрачное зеркало 4, вспомогательный объектив 5,светонепроницаемые шторки б, апертурную диафрагму 7.Приставка работает следукщнм обра зом.587355 Составитель .Л. МухинаРедактор Г. Федотов Техред З,фанта. Корректор М.ДемчикЗаказ 157/49 Тираж 1111 ПодписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Иннистров СССРпо делам изобретений и открытий113035 Москва ЗРаУшская наб. д. 45Филиал ППП фПатент, г. ужгород, ул, Проектная, 4 Еоллимированный спектральный потокизлучения, прошедший через апертурнуюдиафрагму 2, диаметр отверстия которойравен световому диаметру поверяемогообъектива 8, разделяется полупрозрачным зеркалом 4 на два канала - опорный и измерительный, поочередно перекрываемые светонепроницаемыми шторками 6.Поток излучения...
Способ юстировки зеркал ф фотопродукционных аппаратах с длиннофокусными объективами
Номер патента: 602808
Опубликовано: 15.04.1978
МПК: G01M 11/02
Метки: аппаратах, длиннофокусными, зеркал, объективами, фотопродукционных, юстировки
...16 коллиматорное зеркало 5 45а в плоскости изображения 14 устанавливают юстировочную плиту 1 с фальшоригиналом б; устанав.ливаьзт максимальное расстояние между объективом 16 и плоскостью изображения 14; через центральное отверстие в фальшоригинале б наблюдают 50перекрестие коллиматорного зеркала 5 и изображе.ние в нем фальшоригинала 6; изменяя положениеюстировочной плиты 1 по горизонтали и подвижногоэлемента 3 по вертикали, совмещают перекрестиеколлиматорного зеркала 5 с центром фальшориги- Ьбнала б и отмечают. положение на шкале 7 по индексу 8; перемещая подвижный элемент 3 по вертикали, устанавливают индекс 8 экрана 4 с координатной сеткой на отметку шкалы 7, которая былаопределена предыдущей операцией, после чего Ю подвижный...
Устройство для определения разрешающей способности оптической системы
Номер патента: 608078
Опубликовано: 25.05.1978
Авторы: Мельканович, Поселяничев
МПК: G01M 11/02
Метки: оптической, разрешающей, системы, способности
...Сигнал,усиленный усилителем 9, поступает на выпрямитель10. Выпрямитель 10 преобразует иосгунающее переменное напряжение в постоянное, нрсаорциональ.ное амплитуде входного сигнала. С вмхода выпрямителя 0 посгэвнное нанряженне подается на первый вход блока 1,сравнения. Ири установке ми.ры З,с новой цросгванственной частотой блок 14смены мир выдает,сигиал, однозначно связанный сэтой щюстрзисавоннсе частотой, н вход блока 16согласования а на 1 второй вход ключа 13, Этотсигнал с выхода блока 6 согласования поступаетна вход блока 12 задания пороговых характеристик и осуществляет запрос порогового контрастана простраисизениой частоте той группы штриховмиры 3, контраст котврых в даиньй момент определяется, Йостояииое напряжение,...
Устройство для измерения продольной аберрации микрообъективов
Номер патента: 623124
Опубликовано: 05.09.1978
Авторы: Кривопустова, Русинов
МПК: G01M 11/02
Метки: аберрации, микрообъективов, продольной
...4 в виде штриха. Марка 4расположена в плоскостй предметов микрообъектива 5. Лучи от марки 4 прохо дят микрообьектив 5, диафрагму 6, расположенную в плоскости выходного зрачка микрообъектива 5 и выделяющую исследуемые зоны, и собираются в плоскости иэображений микрообьектива 5, с которой совмещен центр кривизны зеркала 7, и, отразившись от него по нормали, снова проходят через диафрагму 6, микрообьектив 5 и собираются в плоскости 1 О предметов микрообьектива 5, где и образуется. перевернутое автоколлимационное изображение марки 4. Марка 4 и автоколлимационное иэображение наблюдаются в стереомикроскоп 9. 15Диафрагмой 6 выделяют, исследуемую зону, т, е. открывают два симметричных относительно оптической оси отверстия 10, которые и...
Устройство для контроля качества изображения оптической системы
Номер патента: 637758
Опубликовано: 15.12.1978
Авторы: Болдырев, Зверев, Кирилловский, Маларев, Сокольский
МПК: G01M 11/02
Метки: изображения, качества, оптической, системы
...блока эапирания соединен с выходом реле времени 6, а к выходу телевизионной системы подключен блок 7 выделения контура изображения, выход которого подан на запоминающую электронно-лучевую трубку 8. Кроме того, в устройство введен блок 9 измерения площади изображения точечного источника, подключенный к выходу телевиэнонной системы, например к выходу видеоуснлителя 10.. Устройство работает следующим образом. Включенный в катодную цепь видикона 4 транзисторный ключ. блока 5 запирания управляется сигналом, приходящим от реле времени 6. В исходном состоянии транзистор открыт, при этом катод виднкона 4 находится под нулевым потенциалом. Электронный луч видикона открыт, он сканирует фотокатод и снимает с него заряд. По приходе импульсного...
Проекционное устройство для контроля оптических элементов
Номер патента: 647573
Опубликовано: 15.02.1979
Авторы: Аблеев, Ильиных, Чуличкин, Ямщиков
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, проекционное, элементов
...плоскость апеложены до 7 н ртурн р мкоения, а более конкретно к" ным аппаратам, й может быть для контроля оптических дестности контактных линз,устройства для контроля .линз, использующие проециображе ния исследуемого экран с последующим измеаметров изображения объекта ности измережения объектя является пони я.ется тем, чтдарраг мы ъектива введ удный фильтр копараллельн ом .пропускан в центре до647573 ИИПИ Заказ 295/35 Тираж 1089 Подписно филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектн фильтр 8, помещенный в плоскости апертурной диафрагмы объектива 6, отклоняюшее зеркало 9 и экран 10.Схема работает следующими образом, Свет от источника света попадает на 5 линзу конденсора 2. Горизонтально проходящий пучок света направляется вверх при...
Фотоэлектрическое устройство для анализа оптического изображения
Номер патента: 657301
Опубликовано: 15.04.1979
МПК: G01M 11/02
Метки: анализа, изображения, оптического, фотоэлектрическое
...осциллограф, предназначенный для непосредственного наблюдения процесса измерения, самописец, предназначенный для записи измерительной информации на бумажную ленту, цифропечатающее устройство с аналого-цифровым преобразователем, позволяющее производить обработку результатов измерения на ЭЦВМ.Фотоэлектрическое устройство для анализа оптического иэображения работает следующим образом.Автоматическая оптико-механическая развертывающая система 1 сканирует входной зрачок испытываемой оптической системы узким параллельным пучком излучения. Характер сканирования и управление механизмом 6 перемещения сканирующей диафрагмы осуществляются блоком управления 12.После прохождения через испыты ваемую оптическую систему сканирующий луч попадает на...
Устройство для контроля качества изображения оптической системы
Номер патента: 673881
Опубликовано: 15.07.1979
Авторы: Болдырев, Кирилловский, Крынин, Сокольский
МПК: G01M 11/02
Метки: изображения, качества, оптической, системы
...дискриминации и выделенияизофоты, в виде графика воспроизводит О.ся на экране телевизионного приемника 10. График функции рассеяния на телевизионном экране получается следующим 45 образом (см. фиг, 2). В изображении щели (см.фиг. 2) а, построенном исследуемой системой, распределение освещенности поперек изображения (в направлении У ) определяется функцией рассеяния исследуемой оптической системы1 (У ), В отсутствии клина характер распределения освещенности в пеперечном сечении сохраняется независимо от положения сечения по координате Х . При введении клика (см.фиг. 2 б) происходит снижение во всех сечениях значений максимальных освещенностей Е Е 1,Ев соответствии11 21 4с изменением пропусквния клинаС по 1 значений1 к...
Устройство для измерения характеристик оптических систем
Номер патента: 711410
Опубликовано: 25.01.1980
Авторы: Козиков, Кутенич, Фильчев, Харитонов, Шабельницкий
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, характеристик
...При этом отклонение пучкаэлектронов в горизонтальном и вертикальном направлениях осуществляетсякак обычно в кинескопах с помощью отклоняющих катушек 2, Через исследуемую оптическую систему 3 последовательно во времени передается в пространстве элемент за элементом каждаяточка тест-объекта, имеющая, например, вид штрихов, Яа выходе фотоэлектрического преобразователя 4(этот преобразователь выполняется,например, на основе ФЭУ) образуетсяэлектрический сигнал О .Поскольку распределение яркоститест-объекта на экране кинескопа соответствует оцномерному распределениюОл(т,), то по апостериорному измереннолу электрическому распределениюОл, снимаемому с усилителя 5 (назначение усилителя 5 - это согласование фотоэлектрического преобразователя 4...
Устройство для проверки качества объективов
Номер патента: 712721
Опубликовано: 30.01.1980
Авторы: Ачкасов, Галиакберов, Кокунько, Орлов, Поляков, Терехов, Херувимов
МПК: G01M 11/02
Метки: качества, объективов, проверки
...узел, выполненный в виде фотоэлек 30 трического микроскопа 9, состоящего из3объектива 10, перекидного зеркала 11, приемника излучения 12 и окуляра 13. Весьмикроскоп имеет микрометрические перемещения в плоскости, перпендикулярнойк оптической оси, и вдоль нее и блок 14 3обработки сигнала, состоящий из предусилителя 15, усилителя 16, стрелочного индикатора 17 и осциллографа 18,Световой поток, формируемый передающей системой 1 и модулированный с частотой , собирается в фокальной плоскостииспытуемого объектива 7. Кружок рассеяния, получаемый после испытуемого объектива, увеличивается объективом микроскопа 10, с помощью перекидного зеркала 11 15проецируется в плоскость чувствительнойплощадки приемника излучения 12. Увеличенное...
Способ измерения коэффициента передачи модуляции оптических систем
Номер патента: 779837
Опубликовано: 15.11.1980
Авторы: Айсин, Подобрянский, Смирнов, Хлебников
МПК: G01M 11/02
Метки: коэффициента, модуляции, оптических, передачи, систем
...частотойнанесения штрихов на диске 7, попа-дает на катод фотоприемника 8,Штрихи решетки растра расположены на несовпадающих дорожках (фиг.2),Растр на диске анализатора с дискретно изменяющимися по частоте штриховыми решетками разбит на и+1секторов, где и - число анализируемых пространственных частот, причем в каждом из секторов на различных кольцевых дорожках последова-тельно нанесены штриховые решетки,соответствующие нулевой и анализируемым пространственным частотам,.при.перемещении с одного секторана другой, последовательность нане.сения дорожек смещается на однукольцевую дорожку. Решетка 36 спространственной частотой, близкойк нулю, предназначена для нормирования сигнала, т. к. коэффициент передачи контраста для такой...
Устройство для контроля качества изображения оптических систем
Номер патента: 779838
Опубликовано: 15.11.1980
Авторы: Болдырев, Зверев, Кирилловский, Маларев, Сокольский
МПК: G01M 11/02
Метки: изображения, качества, оптических, систем
...регистрирующего устройства 7. К горизонтальной развертке регистрирующего устройства подключен выход телевизионной установки через электронный блок, включающий в себя осциллограф с блоком выделения строки 10 дискриминатор видеосигнала 11, пороговый усилитель 12 и дифференцирующую цепочку 13, которые выделяютсигнал о координатах начала и конца поперечного сечения иэображения точечного источника света. Кроме того, устройство содержит видеоконтрольное устройство 14.Устройство работает следующим образом (фиг. 2). В исходном состоянии фотометрический клин введен и чувствительность телевизионной системы установлена таким образом, что исходный световойпоток в схеме контроля вызывает формирование изображения линии равногоуровня...
Устройство для контроля неастигматических очковых линз
Номер патента: 783618
Опубликовано: 30.11.1980
Авторы: Владимирова, Молодцов, Мясников, Никулин, Пивоварова
МПК: G01M 11/02
Метки: линз, неастигматических, очковых
...пройти в радиальномнаправлении расстояние меньшее или 20равное величине допуска, При совмеще-.нии горизонтальных линий перекрестийсрабатынает второе реле и выдаетсякоманда на исполнительнОе устройство,которое приводит в действие центра- дотметчик, проставляющий точку, совпадающую с оптическим центром линзыЕсли для нахождения оптическогоцентра линзы стол в радиальном направлении должен пройти расстояние большее, чем допуск, то он находит наустройство остановки поступательногодвижения, при этом подается командана вращение стола, и оптический центрна линзе ие проставляется,Таким образом, в указанном устрой;стве оптический центр проставляется,но контроль положения оптическогоцентра осуществляетсл только по одной координате (при движении по...
Устройство для измерения характеристик оптических волокон
Номер патента: 871014
Опубликовано: 07.10.1981
МПК: G01M 11/02
Метки: волокон, оптических, характеристик
...дисперсию времени распространения сигнала с достаточной, точностью.Целью изобретения является повышение точности при измерении дисперсии временираспространения.Указанная цель достигается тем, что в устройстве для измерения характеристик оптических волокон, содержащем последовательно соединенные генератор синусоидального сигнала, первый смеситель, второй вход которого соединен с выходом генератора фиксированной частоты, усилитель, излучатель, устройство ввода излучения в волокно, фотоприемник, второй смеситель, анализатор и регистратор, второй выход генератора синусоидального сигнала соединен с вторым выходом второго смесителя.На фиг. 1 изображена блок-схема устройства, на фиг. 2 - временная диаграмма работы устройства.Устройство...
Устройство для контроля центрировки оптических систем
Номер патента: 871015
Опубликовано: 07.10.1981
Автор: Пуряев
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, центрировки
...1.Устройство состоит из источника1 монохроматического света, фокусирующей линзы 2, клина 3, приклеенного к зеркалу 4, центральная зона которого не имеет зеркального покрытияи потому свободна для хода лучей,проекционного объектива 5, прямоугольной призмы б, разделительногокубика 7 приэменной системы, разделительного кубика 8 наблюдательнойсистемы, подвижных сферических зеркал 9 и 10, объектива 11, отклоняющей призмы 12 и окуляра 13,Устройство работает следующим образом.Лучи света, сфокусированные линзой 2 в центральной зоне зеркала4. создают светящуюся точку, иэображение которой проецируется объективом 5 на исследуемую систему. Поверхности исследуемой системы последовательно создают изображения проецируемой точки лучами, отраженными...
Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов
Номер патента: 883689
Опубликовано: 23.11.1981
Авторы: Авдеев, Сокольский, Щербаковский, Ялышев
МПК: G01M 11/02
Метки: коллиматору, коэффициента, объективов, оптико-электронная, приставка, пропускания, спектрального
...и установлена с возможностью перемещенияи поворота на 90 С в своей плоскости; светонепроницаемые шторки 8 поочередно перекрывающие опорньй и измерительный каналы 9 - место размещения поверяемого объектива. Пунктиром обозначена пластина при поворотеее на 90 град. Стрелкой показано возможное перемещение пластины. 40В режиме измерения коэффициентапропускания приставка работает сле-дующим образом.коллимированный поток излучения после апертурной диафрагмы 5 разлеляется полупрозрачным зеркалом 3 на два канала: опорный и измерительный, поочередно перекрываемые шторками 8. Поток излучения измерительного канала проходит полупрозрачное зеркало 3,0 поверяемый объектив 9, прорезь пластины 7 и попадает на сферическое зеркало. б, отразившись .от...
Устройство для контроля неастигматических очковых линз
Номер патента: 885854
Опубликовано: 30.11.1981
Авторы: Алексеева, Владимирова, Давыдов, Молодцов, Никулин, Пивоварова
МПК: G01M 11/02
Метки: линз, неастигматических, очковых
...покрытием, и образует вторичные изображения марки 2 в плоскости выходных диафрагм 8 и 9, расположенных э фокальной плоскости последнего объектива диоптрийной трубки и выполненных в виде узких прямоугольных щелей, ширина которых примерно равна ширине изображения прорезей марки 2, а диафрагмы 8 и 9 ориентированы под углом 90 друг к другу. На фотоприемники 10 и 11 попадают световые потоки, соответствующие вертикальной и горизонтальной линиям перекрестия марки 2, и настройка устройства на контроль линз по рефракции может производиться в центрированном положении линзы.При установке на позицию контроля образцовой линзы световой поток, проходящий через горизонтальную прорезь, например, марки 9 наибольший. Величина светового потока...
Устройство для измерения обратного рассеяния в световодах
Номер патента: 887968
Опубликовано: 07.12.1981
Авторы: Гуляев, Коняев, Потапов, Соснин, Эленкриг
МПК: G01M 11/02
Метки: обратного, рассеяния, световодах
...усилителя 9 фотоприемника блока 7, и регистрирующее устройство 26, например двухкоординатный самописец, первый вход которого канал У) подключен к выходу дифференциальной схемы 24, а второй (канал Х) - к выходу генератора развертки 23. Светоделитель, используемый в устройстве, наряду с конструкцией, показанной на фиг, 1, может имегь любун известную конструкцию. Он может быть выпол-ен, например, в ниде отрезка световода с перетяжкой, в виде отрезков световодовс полупрозрачным зеркалом между ними 3 и т.д.Устройство работает следующим образом.Импульсы электрического напряжения от импульсного генератора 22 запускают блок питания 3 источника 1 излучения, который запитывает полупроводниковый лазер 2 импульсами тока. Возбуждаемое при этом...
Способ определения дисперсионных свойств многомодовых световодов (его варианты)
Номер патента: 934280
Опубликовано: 07.06.1982
Авторы: Гуляев, Потапов, Соснин, Трегуб, Эленкриг
МПК: G01M 11/02
Метки: варианты, дисперсионных, его, многомодовых, световодов, свойств
...6, поступает на приемник 7 и регистрируется устройством 8, где измеряется его форма, В данном случае число прохождений гп импульса по световоду всегда нечетное, так как для упрощения реализации способа регистрируется импульс излучения только со стороны выходного конца световода. После этого исследуемый световод 11 на всей длине Е подвергают действию упругой деформации, для чего вставляют в разрез бобины 10 микрометрический винт и с помо934280 20 ринп Вини вмх вх(2) 55 Твхг(1) = Тщью его увеличивают периметр бобины. Тем самым осуществляется натяжение световода на всей длине 1 Световод 11 в натянутом состоянии возбуждают импульсом оптического излучения источника 2 и с помощью устройства 8 измеряют форму импульса Т(1), прошедшего один раз...
Способ определения амплитудно-частотной характеристики световода
Номер патента: 934281
Опубликовано: 07.06.1982
МПК: G01M 11/02
Метки: амплитудно-частотной, световода, характеристики
...используя приведенное соотношение (1),На фиг. 1 показан пример схемы устройства для реализации предлагаемого споеоба; на фиг. 2 - амплитудно-частотная характеристика. Устройство содержит источник 1 светового излучения, узко-полосный электрооптический модулятор 2, светоделительные зеркала З,З, зеркала 4,4, микрообъектив 5, исследуемый световод 6, фотоприемник 7, регистрирующий прибор 8, источник 9 моделирующего сигнала частоты Я .Измерения проводят следующим образом.В источнике 9 формируют гармонический сигнал частоты Яо, подают этот сигнал на электрооптический модулятор 2, осуществляющий амплитудную модуляцию светового пучка от источника 1, возбуждают исследуемый световод 6, с пощью микрообъектива 5, детектируют излучение с...
Способ определения коэффициента затухания волоконных световодов
Номер патента: 934428
Опубликовано: 07.06.1982
Авторы: Власов, Иноземцев, Смирнов, Туров
МПК: G01M 11/02
Метки: волоконных, затухания, коэффициента, световодов
...входи выход волоконного световода, измеряют интенсивность рассеянного через боковую поверхность излучения в начале иликонце волоконного световода при каждойзасветке, и по результатам измеренийсудят о величине коэффициента затуха3 934428 ,ния, измеряют интенсивность рассеянного через боковую поверхность нзлученпя одновременно в начале и конце волоконного световода при каждой засветке.Прн засветке входе волоконного световода сигналы фотоприемников Ц и Ол4 установленных в начале и конце светово-. да, будут равны гпе Ки К)- коэффициенты преобразования рассеянного через 1 эбоковую поверхность из- лучения для первого ивторого фотоприемниковсоответственно, зависр.щие как от чувствитеньности фотоприемников,так и от свойств световода;Р...
Голографический способ контроля длиннофокусных оптических систем
Номер патента: 524410
Опубликовано: 30.08.1982
МПК: G01M 11/02
Метки: голографический, длиннофокусных, оптических, систем
...голограммы производится на расстоянии в несколько десятков сантиметров от голограммыфильтра, Таким образом, голограммафильтр и дополнительная голограммавместе с источником когерентного излучения могут быть размещены на единой, принеобходимости амортизированной базе. Этопозволяет освободиться от влияния вибраций измерительной установки на стадииполучения ОПФ.Дополнительная голограмма запоминаетволновой фронт, сформированный испытуемым объективом, что позволяет исключитьиспытуемый объектив из стадии измеренияОПФ,Длительность экспонирования дополнительной голограммы можно довести домикросекундных значений (при соответствующем подборе чувствительности и разрешающей способности фотоматериала, атакже мощности излучения лазера),...
Устройство для измерения задней вершинной рефракции очковых линз
Номер патента: 972294
Опубликовано: 07.11.1982
Авторы: Жилкин, Колесник, Крылов, Таран
МПК: G01M 11/02
Метки: вершинной, задней, линз, очковых, рефракции
...= - - 1,= ооогде Р - фокусное расстояние объектива колли матора;Р - задняя вершинная рефракция (оптическая сила).Измерение величины задней вершинной рефракции очковых линз осуществляется после их центрировки, которая выполняется следующим образом. Линзу, рефракция которой ориентировочно известна, устанавливают в устройстве для крепления линз 7 и перемещают в плоскости, перпендикулярной оптической оси объектива 5 коллиматора до получения нулевых значений сигналов на индикаторе 21. При этом световой поток, отраженный от дихроидного покрытия, нанесенного на гипотенузную грань нерасстраиваемого оптического отражателя 8, попадает на светоделительный элемент 4, затем, проходя заграждающий светофильтр 11, попадает на...
Способ исследования планарного оптического волновода
Номер патента: 998894
Опубликовано: 23.02.1983
Авторы: Липовский, Стригалев, Удоев, Хоменко
МПК: G01M 11/02
Метки: волновода, исследования, оптического, планарного
...схемы по световому потоку, Длина коге"рентности источников излучения недолжна быть значительно меньше оптической разности хода интерферирующихлучей. Оптический контакт рабочейграни призмы и волноводного слоя может быть осуществлен, например, с помощью тонкого слоя 8 иммерсионнойжидкости, показатель преломления п,)которой удовлетворяет неравенстВоп (О)пп,где и - показатель преломленияпризмыи (о) в . показатель преломленияволноводного слоя у егоповерхности (для тонкопленочного волноводап(0) =п,р) .В качестве устройства 7 может бытьиспользована оптическая схема,- включающая, например, поляризатор, объек"тив и фотоприемник, расположенный вфокальной плоскости объектива и имеющий приемную площадку в виде узкойщели, параллельной направлению...
Способ контроля качества объектива
Номер патента: 1000818
Опубликовано: 28.02.1983
Авторы: Волосатова, Немтинов, Спиридонов
МПК: G01M 11/02
...качества объектива осуществляют следующим образом.Излучение лазера 1 коллимируется в телескопической системе 2, на выходе которой реализуется плоская когерентная волна. Этой волной освещают контролируемый объектив 3. При этом поворотное зеркало 4 и диафрагма 5 осуществляют пространственную модуляцию комплексной амплитуды плоской волны соответственно по фазе и по величи. 45 не. Амплитудное пронускание диафрагмы 5 - это типовой сигнал, пространственно-частотный спектр которого является протяженным и представляет собой набор резко выраженных пространственных частот. Такой сигнал 50 может быть получен, например, при исполь. зовании в качестве ш 1 афрагмы 5 непрозрачного экрана с двумя огвсрстиями радиуса Во и расстоянием о между нчми.В...