Патенты с меткой «спектров»

Номер патента: 1265490

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Журавский, Корнеева, Пинхасик, Рубинович

МПК: G01J 3/02

Метки: автоматической, люминесценции, параметров, регистрации, регулировки, спектров

...порога 50 д 1 Причем, если д 0; превосходит заданный уровень д 1 то на выходе блока 9 сравнения появляется сигнал.Этот сигнал поступает на неинвертирующий вход блока 11 разрешения. На 55 инвертирующий вход блока 11 разрешения поступает сигнал с выхода ь.-1 блока 9 сравнения . Причем, еслиПри использовании АЦП с двойным интегрированием к моменту окончания интегрирования С, выходное напряжение интегратора"е п,Тгс где БеТ опорное напряжение, период тактового генератора; постоянная времени интегрирования,дБ; с Ь 1 ,то на неинвертирующем входе будет нулевой уровень и на выходеблока 11 разрешения появится сигнал, который поступает на дешифратор 10. В соответствии с этим сигналом на выходе дешифратора 10 вырабатывается...

Номер патента: 1267279

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Бунин, Виноградов, Протасов, Хомяков

МПК: G01R 23/16

Метки: генераторов, измеритель, маломощных, свч, спектров, частотных, шумов

...усилите" лем 14 колебаний г:ромежуточной частоты. Аттенюатором 12 устанавливается уровень мощности колебаний,подводимых к детектору 9. Величина этого уровня контролируется анализатором 21 спектра СВЧ-колебаний, На выходе балансного детектора 15 вследствие равенства несущих частот колебаний, подводимых к обоим его входам, выделяется постоянная составляющаянапряжения и шумовое напряжение,пропорциональное частотным шумамиспытуемого генератора,Третьим фазовращателем 18 регулируется фаза опорных колебаний,подводимых к балансному детектору 15колебаний промежуточной частоты, дополучения максимальных показанийнизкочастотного анализатора 19, Допустимое напряжение опорных колеба 50 ний устанавливается аттенюатором 17. Спектр шумового напряжения...

Номер патента: 1278611

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Бондаренко, Верховцева, Доронин

МПК: G01J 3/10

Метки: вакуумной, газов, излучения, инертных, области, спектров, ультрафиолетовой

...спектраинертного газа на которомтребуется увеличение интенПо истечении из сопла гаэ струи возбуждается электронным пучком с энергией 1 кзВ и плотностью тока " 0,2 А/смНа фиг. 2 в качестве примера для резонансных линий излучения сверхзвуковой струи аргона 1 104,8 и 106,7 нм (кривые 15 и 16), а такжемаксимума интенсивностипервого континуума" 1107,5 нм (кривая 17) представлены зависимости интенсивности 1, нормированной на плотность газа на входе в сопло 1 оот температурыогаза Т, при давлении Р =0,.98 Па,оа также средние размеры кластеров, присутствующих в струе при Ра =0,98 Па и разных температурах Т (кривая 18), Зти данные получены из 10 двумерных расчетов струйного течения газа с гомогенной конденсацией, выполненных по программе,...

Номер патента: 1283636

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Гейфман, Сытиков

МПК: G01N 24/10

Метки: легированных, образцах, парамагнитной, примесью, сегнетоэлектрических, спектров, эпр

...дисперсии в наблюдаемом спектре ЭПР.Затем производят регистрацию спектра ЭПР при заданных значениях электрического напряжения и темпера туры.Размеры исследуемого образца составляют Зх 5 х 0,3 мм, вспомогательного - 5 х 7 х 0,3 ммз . Исследуемый образец изготовляют из танталата калия с парамагнитной примесью гадолиния, вспомогательный образец - также танталат калия без парамагнитных примесей, Контактами служат графитовые пленки. При напряжении на исследуемом образце, равном нулю, к вспомогательному образцу прикладывают эл ктрическое напряжение в интервале 0-4,2 кВ при 77 К. Получают зависимость формы линии ЭПР Сй в КТаОзот напряжения на вспомогательном образце с наиболее резким участком винтервале 0=0-1,6 кВ. При 0=4,2 кВ достигается...

Номер патента: 1053731

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Демский, Попов

МПК: H05H 7/00

Метки: заряженных, импульсных, мгновенных, пучков, спектров, частиц, энергетических

...импульсов, другойвыход которого подключен к управляющему входу генератора анодного напряжения источника заряженных частиц,введены интегрирующая цепь и делительнапряжения, к средней точке которогоподключен вход интегрирующей (дифференцирующей) цепи, выход которой подключен к отклоняющим пластинам электростатического энергоанализатора,при этом делитель напряжения подключен к генератору анодного напряженияисточника заряженных частиц.На Фиг. 1 изображено предлагаемоеустройство; на фиг, 2 - осциллограммы напряжения.Устройство состоит из электростатического энергоанализатора 1 типацилинцрического дефлектора, коллектор 2 которого соединен с двухлучевым осциллографом 3, а отклоняющаяпластина 4 через интегрирующую цепочку 5 и делитель б соединена...

Номер патента: 1307372

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Бунин, Виноградов, Истомин, Морозов, Петров, Хомяков

МПК: G01R 23/16

Метки: измеритель, свч-усилителей, спектров, фазовых, шумов

...фазы также можно пренебречь, так как они на практике не менее чем на 10 дБ получаются меньшими, чем Фазовые шумы в сигнале на выходе компенсатора 8 несущей. Мощность СИЧ-колебания на выходе усилителя 13 меньше микроватта. Измерения с такими сигналами производятся после их преобразования на промежуточную частоту, Такое преобразование проводится без СВЧ-гете- родина. Для этого в СВЧ-модуляторе 15 Фазы осуществляется второе подавление несущей за счет модуляции фазы СВЧ-колебаний с индексом, равным 2,405. Фаэовые шумы в боковых составляющих спектра колебаний на выходе модулятора 15 Фазы состоят из фазовых шумов генератора 1 и испытуемого усилителя 6. Первые в смесителе 18 подавляются, а вторые выделяются фазовым детектором 25 и...

Номер патента: 1317289

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01J 1/52, G01J 3/40

Метки: анализе, визуальном, расшифровки, спектральном, спектров, эмиссионном

...16, вшсота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17, Между реб - ром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.Устройство работает следующимобразом, 5 фотопластинки 6. При этом спектры 50 55 5 10 15 20 25 30 35 40 Для проведения анализа спектрыисследуемых проб и эталонов фотографируются на Фотопластинках на расстоянии друг от друга несколькобольшим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительноменьше исследуемой фотопластинки 6и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых прирасшифровке спектров. На предметныйстолик 4 закрепляется исследуемаяфотопластинка р вверх эмульсионнымслоем, а...

Номер патента: 1325332

Опубликовано: 23.07.1987

Авторы: Адушев, Косицин, Михайлов, Наумов, Рахлина, Суровой, Турова

МПК: G01N 21/55

Метки: вакууме, отражения, спектров

...вво" да излучения из области ультрафиолетовой и области вакуумного ультрафиолета соответственно. Источником ультрафиолетового излучения является дуговая ксеноновая сферически шаровая лампа ДКСБ 1-1000, а в качестве 4 п источника вакуумного ультрафиолета применяется водородная лампа. Измерительная камера имеет также канал 12 для ввода подвижного термозлемента 13, предназначенного для иэмеренйя 45 интенсивности падающего на образец излучения с помощью датчика 14,соединенного с термоэлементоМ двумя токовводами 15. Термоэлемент размещается на направляющей спице 16, впа р янной в стенку измерительной камеры, перемещается по направляющей спице с помощью магнита 17 и может фиксироваться в точке пересечения осей оптических каналов 8 и 9....

Номер патента: 1359687

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Белый, Гилевский, Иртегов

МПК: G01H 11/06

Метки: анализатор, спектров, ударных

...сумматора 6 дискретного отсчета из блока5 на первых И циклах либо нуля напоследних М циклах с результатамиумножений, полученными на выходеумножителей 8 и 9. Причем результатна выходе умножителя 9 суммируетсяс обратным знаком, т.е, вычитается.Полученный с помоцью сумматора 6результат участвует в вычисленияхна следующем цикле Фильтрации: онподается на вход регистра 13 задержки. Посредством сумматора 7 вжолняется суммирование результатов 7 результат подается на вход регистра 14 и участвует в вычислениях наследующем цикле Фильтрации. Одно -временно этот результат подается навход умножителя 12, на выходе которого присутствует дискретный отсчету (и Т), который подается ца входдетектора максимальных значений.Посредством детектора...

Номер патента: 1368661

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Борисова, Воробьев, Захарченко, Исмагилова, Карпов

МПК: G01J 3/42

Метки: дифференциальных, отражения, спектров

...образом.Для измерения спектров отражения в держатели 8 и 9 устанавливают эталон и образец. В момент, изображенный на чертеже, излучение от источника 1, пройдя через монохроматор 2 и первый формирующий объектив 3, попадает на образец, установленный в держателе 9 образца. Отраженный от образца пучок излучения поступает на зеркальную поверхность 7 двухстороннего плоского зеркала 5, занимающего положение перед вторым объективом 1 О и направляющего на последний отраженный от образца поток излучения. Объектив 10 направляет излучение в приемник 11, где оно преобразуется в электрический сигнал и поступает в усилитель 12, после которого записывается регистратором 3 спектра. В следующий момент времени зеркало 5 занимает положение, изображенное...

Номер патента: 1299310

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Давлетшин, Типунков, Тихонов, Тужилов, Шорин

МПК: G01T 1/36, G01T 3/00

Метки: нейтронов, спектров, энергетических

...глубиной дЕ, ,следующим за этим слоем и т,д. Нормировку плотности можно осуществитьлибо зная плотность трития в мишенисравнения, либо считая максимальноезначение величины ; соответствующимпредельному значению плотности тритиядля данного сорбента. Далее, знаявеличиныэнергию протонов, падающих на поверхность мишени, тормозную способность материала активногослоя и используя известные соотношения кинематики Т(Р, и) Не реакциипо формулеФ о ОоМ(Еп,1,6)=(х)р(ЕК,)и(К;,1 СО Е Ос.аЕ,х) -(к,а)8(Кп-КЕ)акаК;а, (3)где (х) - плотность трития в мишенитолщиной 1 на глубине х, р(ЕЕ;)энергетическое распределение протонов, падающих на поверхность мишени(со средней энергией Е,)и (ЕЕ,х)энергетическое распределение прото-,Жнов на глубине х (Е 3) - дифференциал...

Номер патента: 1080626

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Герцен, Дашин, Дудкин, Маренный

МПК: G01T 5/10

Метки: заряженных, линейных, передач, спектров, тяжелых, частиц, энергии

...способ, обеспечивающий одностороннее травление детекторов, облученных тяжелыми.ионами с известными значениями ЛПЭ при помощи калиброванного источника и применяемыхв.качестве микрофнльтров. В процессе травления одна иэ сторон детектора контактирует с веществом, способным пРекращать травление. Это вещество может быть по отношению к травителю , нейтрализатором либо нейтральной средой. В процессе травления при образовании сквозного отверстия травитель контактирует с нейтрализатором нлинейтральной средой и в месте контактатравление прекращается, Использованиетакой улучшенной методики позволяетполучать небольшие отверстия 5, однородные по размерам (фиг.З), т.е. значительно повысить качество микро-.фильтров.Однако применение такого...

Номер патента: 1395960

Опубликовано: 15.05.1988

Авторы: Глазунов, Дрожбин, Климашин

МПК: G01J 3/42

Метки: быстропротекающих, процессов, регистрации, спектров

...на фотокатод ЭОП 5 в точкахА и В (см. фиг. 2), имеющих в общем случае разные чувствительности р и в, проецируются от одного источника 1 излучениядве одинаковые спектральные линии шириной ЛХ, создающие на фотокатоде близкиепо величине облученности Ед и Ев. Фототоки, вызванные этими потоками, равнысоответственно1 д= 1 дЕд, 1 в= 1 вЕв. (1)При развертке этих электронных потоков в плоскости экрана ЭОП (фиг 3) получают две светящиеся линии А А и В В, промодулированные по всей длине разверткипо яркости как за счет флуктуации интенсивности источника, так и за счет не равномерности свойств фотокатода и люминофора экрана, а также за счет нелинейности развертки и нестабильности питания цепей ЭОП.Количества освещения (экспозиции) от отдельных...

Номер патента: 1413494

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Брик, Ищенко, Крутских, Матяш, Рубашов

МПК: G01N 24/00

Метки: исследуемого, объекта, пространственных, раздельной, различных, регистрации, спектров, частей, эпр

...делам изобретений и открытий13035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к радиоспектроскопии ЭПР и может быть использовано для определения профилей распределения концентрации примесей в различных веществах.Целью изобретения является повышение чувствительности и разрешающей способности.Пример. Исследовали кристалл рубика с неравномерно распределенной примесью ионов хрома. Измеерения приведены при комнатной температуре в трехсантиметровом диапазоне длин волн с помощью обычной методики ЭПР, Образец в форме пластины условно разделен на четыре зоны и находился в неоднородном электрическом поле ступенчатого вида, При этом величина максимальной...

Номер патента: 1427188

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Ильин, Михайловский, Пельтихина, Шильников

МПК: G01J 3/12

Метки: исследования, люминесценции, рассеяния, спектров

...ЭЭК 2 Э ф й при совместной работе обеих половин при противоположных знаках линейных дис" персий величина суммарной линейной дисперсии Э Э 1, тогда спектральная ширина элемента разрешения в изображении спектра на выходе прибора остается равной Ь% .=ЬЪ, . Лналогичный результат может быть полу" чен и при равенстве Фокусных отрез14271 ческо кроме может чаях доста рения яния, и т.п ков обеих половин схемы полихромато-, ра, если угловая дисперсия ДЭ второй половины в два раза больше, чем в первой половине схемы.Выполнение условия равенства спектральной ширины входной щели полихроматора и элемента разрешения в выходном спектре (а также и в промежуточном) позволяет при регистрации спектра, на выходе прибора набором щелей с геометрической...

Номер патента: 1460655

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Горчакова, Либман

МПК: G01N 1/28, G01N 31/22

Метки: образца, подготовки, спектров, съемки, электронных

...камерыиспользуемого спектрометра) с отводной трубкой 2, присоединеннуюк отводной трубке 2 мерную пробирку 3 иоптическую ячейку 4, подсоединеннуюк отводной трубке.Образец для съ спектра в предложенном устройстве готовят следующим образом,В колбу 1 помещают 3-4 ммне должен превьппать объема мепробирки 3) ра с и тнойконцентраци еделах - 0,4 М исследуемого соединен вляют его там из раст гентов и колбу гермет ют (запаивают). В тех предполагаемая темпер спектра лежит вьппе то растворителя (т.е. вн ва давление превышаетверки прочност с внутренних стенок пствором,Формула изобретения Составитель Т. ИльинскаяТехред Л.Олийнык Корректор Э, Лончаков ор А. Ко аказ 538/ ираж 788 Подписно осударственного комитета по изобретен 113035, Москва, Ж, Раушская...

Номер патента: 1467475

Опубликовано: 23.03.1989

Авторы: Абеляшев, Бержанский, Федотов

МПК: G01N 24/08

Метки: веществ, магнитоупорядоченных, регистрации, спектров, ямр

...ядер обзец СЙСгд Бе помещается в контурвысокочастотного импульсного генератора спектрометра ЯМР и на образецвоздействуют двумя возбуждающими импульсами одинаковой амплитуды Пд100 В, длительностями первого= 4 мкс, второго с = 8 мкс и задержанных относительно друг друга наинтервал времени= 100 мкс ( для,вг ги Т - время эФФективной ре 2 глаксации ядер соответственно в доменных границах и внутри доменов) и частотой заполнения возбуждающих импульсов, равной 44,б МГц. Сигнал эхо вэтой точке спектра соответствует изображенному на Фиг. 1. Перемещая стробимпульс по экрану осциллограФа, устанавливают его на широкой компонентесигнала эхо, справа от максимума нарасстоянии д= 7 мкс. Затем ре"гистрируют спектр ЯМР ядерСг,как Функцию амплитуды широкой...

Номер патента: 1506509

Опубликовано: 07.09.1989

Авторы: Бунин, Руя, Светличный, Шувалов

МПК: G01R 21/00, H03D 9/04

Метки: измеритель, свч-генераторов, спектров, шумов

...6, аттенюатор 22, второй фаэовращатель 15, усилитель 13 постоянного тока и испытуемый СВЧ-генератор 19 образуют узкополосное кольцо фазовой автоподстройки частоты испытуемого СВЧ-генератора, которая обеспечивает высокую стабильность несущей колебаний промежуточной частоты. Полоса частот этого кольца ФАПЧ должна быть меньше минимальной частоты шума, подлежащего измерению в испытуемом СВЧ-генераторе.Фазовые шумы смесителя 4 и СВЧ- гетеродина 5 в полосе частот шума, ,подлежащего измерению у испытуемого СВЧ-генератора, подавляются вторым кольцом фазовой автоподстройки частоты СВЧ-гетеродина 5. Это кольцо состоит из смесителя 4, усилителя 8 колебаний дополнительной промежуточной частоты, первого фазового детектора 9, усилителя 10,...

Номер патента: 1522435

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Лихачев, Пащук, Хвастунов

МПК: H05H 7/10

Метки: анализа, импульсов, магнитного, мечения, системах, спектров, фотонов, электронов

...чтопозволяет перекрыть область исследований Физики нуклонных резонансовв случае Е =3000 МэВ, отклоняютсядипольным магнитом 3, попадают награницу поля АВ и Фокусируются в Фокальной плоскости А Б , где распо/ложена многоканальная детектирующаяюсистема на основе многопроволочноипропорциональной дрейфовой камеры и" сцинтилляторов. Захват одного канала 0,3 мм или 0,1%. Частицы, потерявшие меньше энергии (их импульс больше 0,6 Ро), также отклоняются магнитом 3, но попадают на границу поляВС, поэтому, как и в основной пучокфокусируются границей ВС и квадрупольивм магнитом 6 и попадают в следующую секцию, где отклоняются дипольным магнитом 4, При этом частицы,имеющие импульсы (0,6-0,85)Р, (об"ласть физики нуклонных систем),попадают. на...

Номер патента: 1539608

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Аверкин, Кармадонов, Скрышевский, Стриха, Толстой

МПК: G01N 21/25

Метки: двухлучевых, дифференциальных, приборах, пропускания, спектральных, спектров

...а вышедшийиз образца опорный пучок - по оптическому пути рабочего канала, регистрируют и сравнивают интенсивностиобоих прошедших через образец пучковв р-поляризованном свете на длиневолны поглощения продольных колебаний в слое при перемещении пластины.Перемещение осуществляют таким образом, чтобы углы направления пучков напластину оставались неизменными.Кроме того, можно измерять спектральную зависимость разности интенсивностей обоих прошедших через пластину пучков в р-поляризованном светепри неподвижной пластине. При этомрабочий пучок направляют на участокпластины без слоя, а опорный - научасток пластины со слоем. Угол направления пучков излучения при измерении тонких слабопоглощающих слоеввыбирают равным 45 100 А. С помощью двух...

Номер патента: 1545093

Опубликовано: 23.02.1990

Автор: Макогон

МПК: G01J 3/42

Метки: поглощения, спектров, субдоплеровских

...линий поглощения которых необходимо измерить, детектируются разными датчиками, чтоделает крайне простой их идентифика-цию, Процесс измерения может быть легко автоматизирован, поскольку измеряется просто длительность двух сигналов от двух датчиков. Это обеспечивает повышение надежности измерений.Частотный интервал Ь между лини ями поглощения, как следует иэ выражения для Топределяется по Форму"ле тельность импу а 10с и шириной спектра - 10 МГц, Частрта излучения лазера 1 находится между частотами центров линий ( =14401,0002 см),Импульс излучения возбуждает частицыс составляющей скорости Ч 1 =-66,31 см/с=15,08 мс и Т=10,05 мс. Следовательно,частотный интервал между линиями, рассчитанный по Формуле, составляет10,0005 см , При этом...

Номер патента: 1443549

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Дроханов, Котцов

МПК: G01C 11/00

Метки: анализа, изображений, пространственных, спектров

...в видеосигнал, который после усиления в блоке 7 воспроиэво" дится на экране блока 8 при развертке, синхронизированной со скаггирова",с нием входного изображения, от общего генератора спиралькой развертки 9. В первом варианте усиление видеосигнала меняется пропор 1 гиоггагьцо величине отклонения считьБагОщего луча путем управления от линейного выхода генератора развертки, и яркость изображения спектра увеличивается с увеличением простраггствецггой частоты Во втором случае яркость источ ника излучения меняется пропорционально величине отклонения путем уп" равлеция излучением от линейного вы 3549 хода генератора развертки, что дает те же результаты. При больших различиях в яркости низких и высоких частот целесообразно нелинейное управление...

Номер патента: 1387638

Опубликовано: 07.03.1991

Авторы: Браиловский, Жильцов, Константинов, Рыжков

МПК: G01N 21/03

Метки: вынужденного, комбинационного, кювета, рассеяния, спектров, электронного

...через отверстия 7 в корпус кюветы. Корпус 1, дополнительная трубка 2, окна 4 изащитный ста" кан 6 изготовлены из профилированного монокристалла например корунда) и соединены таким образом, что их кристаллографическая ориентация совпадает,4 ОПринцип работы кюветы заключается в следующем. Кювету полностью помещают в нагревательное устройство перестраиваемого лазера и разогревают до температуры, необходимой для испарения и создания насыщенного давления паров металла в корпусе 1, Излучение лазера с требуемой длиной волны про-ходит через входное окно 4 в корпусгде за счет эКакта ВКР лазерное излучение коротковолновой области . преобразуется в излучение длинновол"новой области спектра. Предлагаемую кювету можно отсоединить от вакуумно"...

Номер патента: 1635008

Опубликовано: 15.03.1991

Автор: Запевалов

МПК: G01H 3/00

Метки: волн, короткопериодных, поверхностных, спектров

...для осуществления способаработает следующим образом,Сигналы волнографов 1-6 поступают насумматор 7, где сигналы с датчиков имеющих четные номера, суммируются беэ изменения знака, а сигналы от нечетныхдатчиков - с противоположным знаком, Сигнал от сумматора 7 поступает на анализатор8 спектра и затем на вычислитель 9, Навычислитель 9 также поступают сигналыдвух соседних волнографов 5 и 6, входящихв состав решетки.Сравним передаточные функции, определенные с учетом и без учета эффекта по 1 ери когерентности,Сначала получают выражение для передаточной функции в общем виде, Пусть решетка состоит из 2 гч (где й = 1,2,3,.) идентичных идеальных волнографов 1-6, 5 сигнал каждого из которых пропорционаленизменению уровня поверхности....

Номер патента: 1659892

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Дятлов, Макаров, Пахомкин, Соколов

МПК: G01R 23/00

Метки: анализатор, дисперсионный, спектров, фазовых

...от первого пересечения нулевого уровня радиоимпульсов-выборкой и запускает в этот момент ждущий мультивибратор 4, который управляет импульсами (г) вторым электронным ключом 5, длительность импульсов ждущего мул ьтивибратора равна длительности импульсов генератора тактовых импульсов,но передний фронт его импульса "привязывает" начальную фазу выходных сигналов второго электронного ключа, куда также поэлектронного ключа, к двум известным значениям 0 или -л, После этого радиоимпульсы-выборки попадают одновременно на канал измерения фазочастотного спектра и канал компенсации начальной фазы. Канал измерения фазочастотного спектра состоит из гетеродина 15 с линейно -частотно-модулированным напряжением, смесителей б и 17, первого блока 16...

Номер патента: 1670429

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Душенин, Кудюкин

МПК: G01J 3/10

Метки: возбуждения, оптических, спектров, эмиссионных

...ГГ ский промежуток 1,5 мм. Исследования проводились на углеродистой стали ГСО 138-5, из которой готовились плоскопараллельные шлифовальные образцы толщиной 5 мм, обыскриванию они подвергались комбинированными разрядными в течение 16, 32, 64 и 128 с, Профилограммы пятна обыскривания снимались при помощи многооборотно. гс индикатора (+ 1 мкм) и механизма перемещения образца, шаг сканирования 20 глкм, измерения каждого пятна обыскривания прооодились пс 15 раз Результаты измерений показаны на прсфилограммах (фиг. 3), где кривая 15 - время 16 с, кривая 16 - . 32 с, кривая 17 - 64 с, кривая 18 - 128 с, Н - глубина пятна в мкм, 4 - поперечный диаметр пятна обыскривания в мкм. При ровных промежутках времени воздействия электри 4 еских разрядов...

Номер патента: 1674095

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Беляков, Бондур, Завьялов, Корнетов, Кулаков, Литовченко

МПК: G06E 3/00

Метки: анализатор, пространственных, спектров

...3, попадает в камеру 4 с транспарантом, содержащим анализируемое изображение, Диафрагма 5 ,ограничивает участок транспаранта. подвергающегося фурье - преобразованию. В фокусе кюветы 4 помещена кювета 6 с маской - фильтром низких пространственных частот. Фурье - спектры анализируемого изображения формируются в плоскости регистратора 9 с помощью фурье-объектива 8 и в плоскости управляемого фильтра 11 с помощью объектива 10.Управляемым фильтром 11 из спектра вырезается требуемый диапазон пространственных частот, в котором производится стабилизация когерентного светового потока, Для этого на соответствующие электроды 20 управляемого фильтра 11 подается постоянное напряжение необходимой амплитуды, что приводит к нагреву кольцевых...

Номер патента: 1674389

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Попов, Работкин, Сошников, Сторчак

МПК: H04B 17/00

Метки: внеполосных, излучения, радиопередатчиков, спектров

...перемещение электронного луча на экране индикатора 30 по составляющей ограничительной линии с координатами Х 2,- ЛР 2 и Х 1,- ЛГз (фиг,З),При совпадении частоты частотно-модулированного гетеродина 5 с частотой Р 0- ЛРз на выходе блока 12 определения частотных координат вырабатывается третий электрический импульс Оз(фиг.4 в), который подается на счетный вход двоичного счетчика 16. Двоичный счетчик 16 срабатывает, и на выходе 3 дешифратора 17 выраба,тывается напряжение О 7 (фиг.4 ж) логической "1", Напряжение на управляющих входах ключей 20 и 21, а также переключателей 22 и 24 становятся равными логическому "0", и суммирующий вход реверсивного счетчика 18 и первый информационный вход переключателя 23 от выходов генераторов 25 и 26 и...

Номер патента: 1677532

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Кушнарева, Печерский, Снежко, Ярош

МПК: G01H 9/00

Метки: анализа, внутреннего, металлов, примесных, сложных, спектров, сплавов, трения

...составе твердого раствора, о распределении атомов внедрения в позициях разного типа (по значениям соответствувмцих 15 Рмциа ), о взаимодействиях атомов внедрения и замещения в пределах твердого раствора (сопоставлением полученного распределения с рассчиты - ваемым на основе статически равномер ного) и численных значений энергии активации диффузии атомов внедрения с различным локальным окружением (по ТИт индивидуальных пиков).Способ опробован на ряде сплавов 25 на основе ниобия с различным типом упрочнения (г 1 Ь - 7 г - С, НЬ - Ио-И, БЪ-Мои другие). Формула изобретения Способ анализа сложных примесныхспектров внутреннего трения металлови сплавов, заключающийся в ом, чтопримесный сложный спектр Я внутреннето трения разделяют в...

Номер патента: 1679214

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Омаров, Эльдаров, Эфендиев

МПК: G01J 3/30

Метки: излучения, исследования, спектров

...с фотоприемника 9, прямо пропорционально величине светового потока,падающего на фотоприемник. А значениеЭДС индукции е, наводимой на катушкеиндуктивности мультсборника 10, пропорционально б 1 йт, Следовательно,ЗО сП дФ Й б 1(4)Подставляя в выражение(4) значе- Э 5 ние 4 Ъ иэ формулы (2) получают 40Из формулы (5) следует, что величина запускающего сигнала, идущего с мультсборника 10 с индуктивным каналом связи на прибор 7, прямо пропорциональна как крутизне фронта светового импульса 6 Ъ, так и 45 скорости изменения крутизны Фь . Следовательно, если произойдет рост крутизны исследуемого сигнала, то регистрирующий прибор 7 на него прореагирует и его запуск произойдет раньше. 50 К,=Ц,2 лгде Таким образом, сам световой сигнал...