G01J 3/443 — эмиссионная спектрометрия

Номер патента: 189211

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Копейкин

МПК: G01J 3/443, G01N 25/14

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...паров и отл пита стем атич диянем их ми и частиц пропускВ известных способах эмиссионного спектрального анализа с испарением пробы и анализом конденсата на точность анализа оказывают влияние химические соединения определяемых элементов, их минералогическаяструктура и размеры частиц.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что пары пробы перед конденсациейпропускают через плазму электрической дуги,где они подвергаются действию высокой температуры. Способ позволяет снизить систематические ошибки анализа,На чертеже изображено устройство дляреализации способа,Порошковая проба или эталон, смешаннысс буферной смесью, содержащей элементсравнения, набивается в один или оба угольных электрода 1. Между электродами зажигается дуга,...

Номер патента: 195189

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Гвирцман

МПК: G01J 3/443

Метки: спектральногоанализа, эмиссионного

...при Известно устроиство для эмиссионного трального анализа жидких сред, выполи в виде полого цилиндра (тигля) с цент ным стержнем, помещаемым между уго ми электродами. Предложенное устройство отличается вестных тем, что один из электродов (к выполнен в виде трубки, расположенной ри полого цилиндра, Это позволяет пов чувствительность анализа. На чертеже приведено описываемое ройство. Устройство содержит полый цилиндр / ри которого расположена трубка 2, служ одновременно катодом, и второй элепомощи кварцевой обоймы 4. 5 Кидкая проба вводится в пространство между трубкой и цилиндром. Во время съемки устроиство устанавливают таким образом, чтобы отверстие трубки проектировалось на щель спектрографа. Устройство для эмиссионного спектрально....

Номер патента: 233282

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Лернер, Хов

МПК: G01J 3/443

Метки: микропримесей, некоторых, слюне, химических, чественного, элементовв

...в кратере электрода, при спектрографировании в кратер противоэлектрода вносят смесь угольного порошка с хлоридом натрия. Это позволяет получить более точные данные, упростить и ускорить анализ и обеспечивает возможность использования при этом небольших количеств слоны (до 0,2 - 0,3 мл).Для осуществления предлагаемого способа необходимо угольный электрод, в котором высверлен кратер, и противоэлектрод подвергнуть предварительному обжигу в дуге с целью очистки стенок кратера и противоэлектрода от примесей определяемых элементов. Затем в кратер электрода вносят 1 - 2 капли 3%-ного раствора полистирола в бензоле для предотвращения адсорбции анализируемых примесей на угле. После образования полистироловои пленки в кратер электрода в...

Номер патента: 256305

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гибадулин, Дыкин, Журавлев, Кузовлев, Туев

МПК: G01J 3/443

Метки: спектральногоанализа, эмиссионного

...со сдвигом во времени, равным нулю,Выходная или входная щель спектротрафа 1 с помощью модулятора 2 попеременно занимает два крайних положения таким образом, что на детектор излучения 3 периодически поступает смесь спектральной линии с флюктуирующим фоном или только фон. Модулятор 2 представляет собой подвижную щель спектрографа. Приводом щели является электромагнит, питаемый от генератора б прямоугольных им пульсов, который используется в качестве опорного при переключении команд;реверсивного счетчика. В детекторе 3 энергия светового потока преобразуется в электрический сигнал, представляющий собой аддитивную смесь периодического сигнала, обусловленного спектральной линией, с флюктуирующим сигналом фона.С целью обеспечения работы...

Номер патента: 1462977

Опубликовано: 15.09.1990

Авторы: Мадин, Мадина

МПК: G01J 3/443, G01N 31/00

Метки: анализа, золота, количественного, лазерного, методом, микроспектрального, серебра

...2 Оплазмы 10060 К, так как отношение(А) и статического .веса (р) уровнядля них близко к единице (табл.1).С помощью микроскопа производят замеры лазерных кратеров в эталонахцля каждой нспыщки. Строят градуироночные граФики для серебра Д Я -"Ъ(1 ЕС), для золота 1 р(Х/Хф)= ъЬ), где 4 ч =, , - Я,Б, - зопочернение линии н спектре, 8 4почернение Фона, 1 д(с) - логариФмконцентрации соответствующего элемента, .Т.д, .1. , - интенсивность линиис вычетом Фона и интенсивность Фона.По построенным градуировочным граФи- .кам определяют предварительное значение концентрации элементов"примесей,в анализируемом образце. При этомникаких ограничений на режим лазерной 4 Овспыщки и их количество не накладывают, что способствует достижению...

Номер патента: 1651110

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Горбачев, Демин, Клейнерман, Султанбеков

МПК: G01J 3/443

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...25сигналы с элементов 14 и 15 Фотоприемника 5, на которые направлены выходные торцы световодов, также будутравны, В этом случае блок 9 сравненияразрешает выдачу сигналов с первой 30группы 13 элементов Фотоприемника 5,на которые падает спектр исследуемого вещества. В случае смещения центра изображения от центра,входной щели,2 световые сигналы, падающие на1 входные торцы световодов 3 и 4, будут , различны, сигналы с элементов 14 и 15Фотоприемника 5 также будут различны,Блок 9 сравнения в случае выходаэтих сигналов 43 заданного интервала 40Формирует сигнал запрета на считывание с блока 8 сопряжения во внешниеустройства для дальнейшего анализа.Таким образом, инФормация, считанная с Фотоприемника 5, используется в 45случае, когда...