Кацков

Номер патента: 1649394

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Пелиева

МПК: G01N 21/74

Метки: абсорбционного, анализа, атомизатор, атомно, спектрального, трубчатый, электротермический, эмиссионного

...полости между печью и вкладышем, что позволяет дозировать пробы большого1 Г 4объема, а следовательно, снижает .-;ределы обнаружения,Диаметр отверстия внутри вкладышасоставляет 0,3-0,6 внутреннего диаметра печи. Это обусловливает незначительное экранирование вкладышемрабочего пучка света, что приводитк снижению пределов обнаружения. Вто же время сохраняется значительньпобъем полости между печью и вкладышем,Толщина стенок вкладьппа составляет 0,3 - 1,1 толщины стенок печи.Приэтом обеспечивается достаточная задержка поступления паров пробы ваналитическую зону (0,5 с). чтоприводит к росту эффективной температуры атомизации, а следовательно,к снижению пределов обнаружения,Применьшей толщине жидкая проба просачивается сквозь стенки...

Номер патента: 1631484

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Алукер, Капина, Кацков, Лурье, Можаев, Панайотов, Петухов, Постельников, Фаррахов

МПК: G01V 9/00

Метки: газа, геохимических, залежей, нефти, поисков

...отбирают пробы пород, проводят частичный ситовый анализ - выделяют фракцию менее 0,5 мм и в ней определяют светосумму термолюминесценции в среде сухого азота на подложке из алюминия, Полученные значения светосуммы наносят на карту и выделяют поля аномальных по сравнению с фоновыми значений, по которым судят о зонах воздействия углеводородов залежи,Термолюминесцентный анализ проводят по известным методикам на любой термолюминесцентной аппаратуре с диапазоном температур от комнатной до 400 С, спектральным диапазоном 300-750 нм, чувствительностью не хуже 10 - 11 лм, позволяющей работать с сыпучими пробами, Выбор температуры нагрева 400 С является эмпирическим и основан на результатах многочисленных измерений.Выбор спектрального...

Номер патента: 1434955

Опубликовано: 15.09.1990

Авторы: Кацков, Марунков, Чекалин

МПК: G01N 21/72

Метки: атомно-ионизационный, лазерный, спектрометр

...Форма коллектора-профипь Роговского, плоская часть которого равна расстояния мвхду щелями горелки 4 и обращена к горелке. Отноаекме расстояния от трубки 6 до лазерного луча х рвсстоянюе от трубхк 6 до коллектора 8 певит в пределах 0.6-0,98.Устройство работет спедухаим образом.Исследуемая гроба в виде раствора объенон 1-40 нкл помещается в трубке 6 нэ пористого графита диаметром 3 мм, нагреваемой электрическим током. После висуаивакия пробы прк спабон нагреве трубки 6 температурзтрубки доводится до температуры испарвнля соединекий определяемого элемента, Испаривщиеся молекулы днффундкрую, через стенки трубки 6 и пламя,Гда атоезкруются, Использование пористой трубки обеспечивает поступпенив пробы в планя г виде мопехулярка соединений,...

Номер патента: 1548722

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Копейкин, Савельева, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: анализа, атомно-абсорбционного

...хладонав стаканы на поверхность замороженного и охолажденного до -80 С аэотнокислогораствора. Накрывали стаканы защитными 3кварцевыми колпаками и отгоняли хлаодон. при температуре -80+5 С. Послеотгонки хладона размораживали находящийся в стакане лед, нагревая стакандо комнатной температуры, Готовили 40эталонные шестипроцентные азотнокислые растворы с известным содержаниемжелеза. Дозировали 6 мкл Размороженного раствора в грабитовый атомизаторатомно-абсорбционного спектрометра 45Сатурн, высушивали и атомизировалипробу, измеряли величину атомной абсорбции, Те же действия проводят сэталонными растворами, Рассчитывалисодержание железа в растворе-конвентрате, Рассчитывали содержание железав хладоне,рьируя уровень влажности в сухомбоксе от...

Номер патента: 1451591

Опубликовано: 15.01.1989

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Копейкин, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: атомизатор, тигельный, трехконтактный, электротермический

...обеспечивается большая воспроизводимостьтемпературы испарения пробы, а следовательно, и анализа. Кроме того,наличие торцового контакта обеспечи 13 1вает подавленные эФФекта памятиПределы обнаружения снижаютсяблагодаря росту чувствительности.Кроме того, стенки тигля закрытыот регистрирующей схемы диаФрагмами, 5 145 расположенными в боковых контактах. Это исключает засветку регистрирующей схемы раскаленными стенками тигля и обеспечивает снижение уровня5 шума электронной схемы, а значит и снижение пределов обнаружения.Срок службы такого атомизатора значительно увеличивается так как прочность тигля, зажатого между боковыми контактами, расположенными соосно отверстиям в его стенке, резко возрастает, Кроме того, стенка торцового контакта,...

Номер патента: 1448251

Опубликовано: 30.12.1988

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Копейкин, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: абсорбционного, анализа, атомизатор, атомно, тигельный, электротермический, эмиссионного

...воздуха в аналитическую зону через отверстия 2,8 и 11. Это обеспечивает существенный рост температуры аналитической зоны и уменьшает содержание в ней кислорода, что повышает правильность анализа, снижает пределы обнаружения, расширяет 48251 8круг определяемых элементов и увеличивает срок сдужбы амортизатора.Наличие в оправках 13 отверстий 145,позволяет продувать отверстия 2,8и 11, а также канавки 9 инертнымгазом, что значительно уменьшаетконцентрацию остаточного воздуха встакане 10 и вокруг него, Это повы 10 шает правильность и чувствительностьанализа, расширяет круг определяемыхэлементов и увеличивает срок службыатомизатора,Наличие дополнительного стержня -испарителя 16 повышает правильностьанализа твердых проб. Испаряясь со1стержня,...

Номер патента: 1427254

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Васильева, Гринштейн, Емельянов, Кацков, Копейкин, Савельева, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: анализа, атомно-абсорбционного, жидкостей

...сетки иа вольфрамовой проволоки длиной 10,м и диаметром О,1 мм (ширина балласта 3 мм, высота 2,5 мм). Нагревали печь до 770-800 К, что обеспечивало нагрев балласта до температуры пленочного кипения жидкости, анализировавшейся в данном эксперименте. 20 мкл пробы дозировали на поверхность балласта. Высушивали пробу на балласте в режиме пленочного кипения в течение 30 с. Охлаждали . весь атомизатор до 288 К. Нагревали атомизатор до 2000 К со скоростью 1000 К/с. Испаряли пробу с поверхности балласта, нагреваемого за счет лучеиспускания стенок печи. Через атомизатор пропускали излучение лампы с полым катодом на кадмий и регистрировали сигнал атомной абсорбции ча линии 228,8 нм.Описанные действия повторяли 20 раз.Те же действия выполняли для 5...

Номер патента: 1368738

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Копейкин, Савельева, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: атомизатор, электротермический

...котором балластное тело выполнено в виде многослойной сетки изпроволоки диаметром 0,06 мм (1,0% отвнутреннего диаметра атомизатора) ввиде сегмента кольцаВеличина ячейки сетки составляет 0,6 мм (3 диаметра проволоки). Длина балласта равна14 мм (50% от длины атомизатора),толщина 2,1 мм (35% от внутреннегодиаметра трубки атомизатора ).15П р и м е р 5. Аналогичные измерения проводят с применением устройства, в котором балластное тело выполнено в виде многослойной сетки иэпроволоки диаметром 0,3 мм (5% отвнутреннего диаметра атомиэатора) вформе сегмента кольца, Величина ячейки сетки составляет 0,6 мм (3 диаметра проволоки), Длина балласта равна14 мм (50% от длины атомизатора), 25толщина 2,1 мм (35% от внутреннегодиаметра трубки...

Номер патента: 1337741

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Копейкин, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: анализа, атомно-абсорбционного

...и поступление содержащихсяна них загрязнений в аналитическуюзону. Кроме того, предотвращаетсядиффузия пробы в объем материала испарителя, что, в свою очередь, приводит к уменьшению конечной максимальной температуры испарителя. Такимобразом, увеличивается правильностьи воспроизводимость анализа. Вновь включают импульсный нагрев испарителя и повторяют все описанные действия вплоть до полного испарения пробы. Вариация абсорбции в интерваоле О - А обеспечивает линейность зависимости А = Г(С) независимо от содержания определяемого элемента в пробе, что позволяет расширить диапазон определяемых содержаний.Осуществляют регистрацию амплитудной и интегральной абсорбции во время50 55 3ЗЗ всей описанной процедуры и рассчитывают содержание...

Номер патента: 1004775

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Бурцева, Гринштейн, Кацков, Копейкин

МПК: G01J 3/42

Метки: атмосфере, атомно-абсорбционного, водорода, гидриды, кювета, образующих, элементов

...кюветы, поскольку, засчет слабого теплового контакта между кюветой и спиралью и плохой теплопроводности материала кюветы(кварц, керамика), температура ее 55стенок оказывается значительно нижетемпературы аналитической зоны. Кро.ме того, предлагаемая конструкцияпозволяет достигать высокой температуры аналитической зоны даже при 60кратковременном разогреве спирали,что исключает воэможность повреждения кюветы и повышает быстроту анализа. Испдльэование торцовых прозрачных окон позволяет создать в предла гаемой кювете плотность паров пробы,существенно большуючем в прототипе, а тот факт, что в предлагаемойконструкции нагреватель целиком находится в атмосфере водорода, делаетненужной защиту нагревателя от окисления воздушной средой....

Номер патента: 998927

Опубликовано: 23.02.1983

Авторы: Бурцева, Гринштейн, Кацков, Копейкин

МПК: G01N 21/74

Метки: анализа, атомно-абсорбционного

...в зоне атомизации испарения определяемого элемента, пробу предварительно дози" руют на испаритель с независимой системой подогрева, который затем вводят в атомизатор, температуру ана" литической зоны которого поддерживают постоянной, а температуру испарителя регулируют таким образом, что плотность паров определяемого элемен" та в аналитической зоне поддерживают от начала и вплоть до полного испа" рения пробы на постоянном, заранее заданном уровне, сигнал абсорбции. по" стоянно интегрируют по времени, ре" гистрируют одновременно температуру испарителя текущую величину интегральной атомной абсорбции и величину производной интегральной абсорбции по температуре, по которым проводят идентификацию первоначального анионного состава.Способ...