Устройство для определения параметров шероховатости оптических поверхностей методом дифференциального светорассеяния

Номер патента: 1663423

Авторы: Вяткин, Киселев, Куракин, Лигачев, Панарин, Семенов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1663423 9) 53)5 6 01 В 2100 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ВТОР.СКО ВИДЕТЕЛЬСТ(71) Московский авиационный технологический институт им. К.Э.Циолковского)т)еаза зоггасез Ьу бтгегепта 9)т зсапегпд. -ОрТса Епдпеегпд, чо.16, 1977, М 4.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ МЕТОДОМДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО СВЕТОРАССЕЯНИЯ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретенияявляется повышение точности и производительности определения параметров за счет непосредственного измерения интенсивности падающего излучения, и автоматизации процесса измерений и обработки полученной информации. Путем дискретного вращения образца 26, расположенного по ходу зондирующего излучения лазера 1, осуществляемого в плоскости падающего и отраженного от поверхности образца 26 лучей, и фиксации интенсивности диффузноотраженной компоненты излучения фотозлектроннным умножителем (ФЭУ) 11 снимается спектр дифференциального светорассеяния. информация о котором поступает в блок 19 управления и обработки информации. Затем образец 26 удаляется из зоны взаимодействия с излучением, а по ходу падающего излучения устанавливается, ф ФЭУ 11, который непосредственно измеряет интенсивность падающего излучения, По зависимости интенсивности диффузно-отраженного излучения от угла поворота об1663423 ния амплитудным преобразователем, входкоторого соединен с первым выходом ком раэца 26 и интенсивности падающего излучения рассчитывается энергетическая спектральная плотность шероховатости, которая несет информацию о статистических свойствах исследуемой поверхности образца 26 и используется для рассчета с помощью известных соотношений параметров шероховатости. Образец 26 возвращается на прежнюю позицию, осуществляется последовательное сканирование его поверхности с заданным шагом по диаметру и по углу. В каждой фиксированной точке образца 26 повторяются все операции по снятию спектра дифференциального светорассеяния. Полученные результаты усредняются по всей исследуемой поверхности. МанипуИзобретение относится к контрольноизмерительной техникеи может быть использовано в оптике и других отраслях техники для контроля параметров шероховатости. Целью изобретения является повышение точности и производительности определения параметров за счет непосредственного измерения интенсивности падающего излучения и автоматизации процесса измерений и обработки полученной информации.На фиг. 1 представлена структурная схема устройства; на фиг.2 - структурная схема компрессора выходного сигнала фотоэлектронного умножителя.Устройство содержит (фиг,1) лазер 1 с подключенным к нему блоком 2 питания и цепью стабилизации мощности лазера 1, выполненной, например, в виде светоделителя 3, установленного по ходу лазерного луча, и последовательно соединенных фото- датчика 4, установленного походу отклоненного светоделителем 3 луча, и блока 5 стабилизации мощности лазера, выходом подключен ного к управляющему входу 2 блока питания, установленные по ходу падающего лазерного луча амплитудный преобразователь 6, поляризатор 7, первый пространственный фильтр 8 и держатель 9 образца, установленные по ходу отраженного (от образца) лазерного луча, перпендикулярно падающему, второй пространственный фильтр 10 и фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) 11, компрессор 12 выходного сигнала ФЭУ, вход которого соединен с выходом ФЭУ 11, блок 13 управле 10 15 20 25 30 35 ляции с образцом 26 и ФЭУ 11 осуществляются с помощью соответствующих приводов 14 - 17. Управление процессом измерений и обработка полученных данных осуществляются автоматически блоком 19, управления и обработки информации,выполненным на основе ЭВМ.Непосредственное измерение интенсивности падающего излучения позволяет исключить использование в расчетах коэффициента зеркального отражения, зависящего от параметров шероховатости, и повысить точность их определения, Автоматизация процессов измерения и расчета параметров шероховатости повышает производительность определения этих параметров. 2 ил. прессора 12, а выход - с управляющим входом амплитудного преобразователя 6, привод 14 вращения держателя с образцом в плоскости падающего и отраженного лучей, привод 15 азимутального вращения держателя с образцом, привод 16 линейного перемещения держателя с образцом, привод 17 азимутального перемещения ФЭУ, датчик 18 регистрации угла поворота держателя с образцом в плоскости падающего и отраженного лучей и блок 19 управления и обработки информации, входы которого соединены соответственно с выходами компрессора 12 и датчика 18, а управляющие выходы соединены соответственно с входами приводов 14 - 17.Держатель 9 образца установлен с возможностью вращения в плоскости падающего и отраженного лучей, азимутального вращения и линейного перемещения в плоскости, перпендикулярной плоскости падающего и отраженного лучей, и кинематически связан с приводами 14, 15 и 16, которые предназначены соответственно для осуществления указанных вращательных и линейного перемещений, Второй пространственный фильтр 10 и ФЭУ 11 установлены с возможностью азимутального перемещения в плоскости падающего и отраженного лучей на угол 90 относительно точки падения луча на образец до расположения их вдоль оси падающего луча, для осуществления которого предназначен привод 17. Держатель 9 предназначен для закрепления на нем образца таким образом, чтобы исследуемая поверхность образца была расположена в плоскости, перпендикулярной плоскости падающего и отраженного лучей, а кинематические связи держателя 9 с приводами 14, 15 и 16 выполнены с обеспечени 1661423ем сохранения расположения исследуемойповерхности (образца) в указанной плоскости в процессе всех перемещений.Привод 16 выполнен так, чтобы обеспечиваемый им диапазон линейных перемещений был достаточным для полногоудаления держателя 9 с образцом из эонывзаимодействия образца с лазерным лучоми возвращения его в эту зону,Компрессор 12 выходного сигнала ФЭУ(фиг.2) состоит из последовательно соединенных повторителя 20 выходного сигналаФЭУ, входом соединенного с выходом ФЭУ11, и резонансного усилительного каскада21, последовательно соединенных регулируемого источника 22 напряжения смещения, входом соединенного с выходомкаскада 21, входного резистора 23 источника питания. ФЭУ и высоковольтного управляемого источника 24 питания ФЭУ,выходом соединенного с анодом ФЭУ 11 инагрузочного резистора 25, подклю ценногок,выходу ФЭУ 11.Исследуемый образец обозначен позицией 26.Устройство работает следующим образом (фиг,1).Часть излучения лазера 1 отклоненасветоделителем 3 на фотодатчик 4, напряжение с которого подается на блок 5 стабилизации мощности лазера. Управляющийсигнал с блока 5 стабилизации мощностипоступает на управляющий вход блока питания лазера 1,Часть излучения, прошедшая светоделитель 3 в направлении оси лазера 1(падающий луч), пройдя последовательно черезамплитуцный преобразователь 6, поляризатор 7, первый пространственный фильтр 8,падает под углом Ипд на образец 26, укрепленный в держателе 9. Часть отраженногоизлучения, проходя через второй пространственный фильтр 10, регистрируется ФЭУ11, при этом сумма углов Ирег регистрацииизлучения и 6 Ъад падения постоянна и равна 90 О. Напряжение с ФЭУ 11 (с нагрузочного резистора 25, фиг.2) поступает накомпрессор 12 выходного сигнала ФЭУ идалее на вход блока 19 управления и обработки информации и вход блока 13 управления ам плитудн ы м г 1 реобразо вателем.По сигналу с блока 19 управления и обработки информации привод 14 осуществляет непрерывное вращение держателя 9 собразцом 26 в плоскости падающего и отраженного лучей до регистрации максимальной интенсивности отраженного излучения(зеркально отраженного луча). При этом датчик 18 фиксирует угол поворота образца 26,5 10 15 20 2 Г 35 40 45 50 55 д компрессор 12 Выходного сигнала ФЭ г 1 одде на анод ФЭУ 11 минимальнсе рабочее напряжение, В этом положении угол регистрации иэлучени равен углу цддсния;г-оЬр- =- Ипл == 45,По сигналу с блока 19 привод 14 поворачивает держатель 9 с образцом 26 в обОратном направлении ца 45 (в этом полокении угол регистрации .:, равен 90 ).Затем с блока 19 поступают управляющие сигналы, по которым привод 14, осуществляет дискретное вращение держателя 9 с образцом 26 нд заданный угол, Отсчет угла производится датчиком 16 регистрации угла поворота образца 26, В каждом дискретном положении образца 26 инстенсивность диффузно-отракенной компоненты излучения, соответствуощей углу И регистрируется ФЭУ 11 и соответствующая инфорг. ация через комцре сор 12 поступает в блок 19. Держатель 9 с образцом 26 поворачивается на 90, в результате чего снимается полный спектр дифференциального сватордссеяния, данные о котором заносятся в блок 19, При этом компрессор 12 меняет по определенному закону напряже- ние на энода ФЭУ 11 в зависимости от интенсивности регистрируемого излучения, а блок 13 управления амплитуды преобразователем выдает управляющий сигнал на амплитудный преобразователь 6, в результате чего происходит выделение полезного сигнала. После сн 1 ия спектра дифференциального светорассеяния по сигналу с блока .19 привод 16 осуществляет линейное перемещение держателя 9 с образцом 26 до полного их удаления из эоны взаимодействия образца 26 с лазерным излучением, а привод 17 производит дзимутдльный разворот второго просранственного фильтра 10 и ФЭУ 11 в плоскости пдддощего и отраженного лучей на 90 относительно точки падения луча на образец 26 до расположения их вдоль оси падающего луча для осуществления прямого измерения интенсивности падающего излучения,По зависимости интенсивности 1 дф,диффузно-отраженного излучения от угла поворота Избег образца 26 и интенсивности падающего излучения 1 п;л в блоке 19 рассчитывается энергстическая спектральная плот- носить шероховатости Р(р, ц), которая несет в себе информацию о статистических свойствах исследуемой шероховатости поверхности образца 26, при этом среднеквадратичнае отклонение профиля поверхности Оя и среднеквадратичный наклон граней поверхности гл определяются путем интегрирования функции Рl(р, ц):+оо +ооп "3 бра бцг 2 Ю(р,ц),где 2 р 2+ц 2р и ц - волновые числа, определяемые конкретной геометрией, рассеяния.При этом длина корреляции высот микронеровностей Я определяется через ой и в следующим образом:5= 2 лов/в .После расчета параметров шероховатости В, е, Я для данной зондируемой точки образца 26 по сигналу с блока 19 привод 13 осуществляет линейное перемещение держателя 9 образцом 26 на определенный шаг Ь 1. Вслед за этим повторяются описанные операции снятия спектра дифференциального светорассеяния и расчет параметров шероховатости для другой точки образца. После того, как образец 26 будет просканирован по его диаметру с шагом Ь 1, по сигналу с блока 19 привод 15 осущеетвляет азимутальное вращение держателя 9 с образцом 26 вокруг своей оси на определенный угол Ьа, после чего повторяются все перечисленные операции по снятию спектра дифференциального свето- рассеяния в различных точках образца по диаметру с шагом Ь 1.После определенного числа шагов сканирования и поворота образца 26 блок 19 содержит информацию о параметрах шероховатости многих точек поверхности образца 26, что позволяет усреднить результаты измерений по всей поверхности и построить товограмму распределения шероховатости исследуемой поверхности.Таким образом, осуществление непосредственного измерения интенсивности падающего излучения позволяет избежать использования в расчетах параметров шероховатости коэффициента зеркального отражения, который сам зависит от этих параметров, и обеспечить, тем самым, повышение точности определения параметров шероховатости. Автоматизация процессаизмерений и обработки, полученной в результате измерений информации, осуществляемая с помощью блока 19 управления и обработки информации, выполненного на омюве современных средств вычислительиай техники (ЭВМ), позволяет повысить производительность определения параметров шероховатости,Формула изобретения Устройство для определения параметров шероховатости оптических поверхностей методом . дифференциального светорассеяния, содержащее лазер, установленные по ходу падающего лазерного луча поляризатор, первый пространственный фильтр и держатель образца с приводом вращения в плоскости падающего и отраженного лучей и датчиком регистрации угла поворота, установленные по ходу отраженного лазерного луча, перпендикулярноге падающему, второй пространственный фильтр и фотоэлектронный умножитель с компрессором выходного сигнала, о т л ич а ю щ е е с я тем, что с целью повышения точности и производительности определения параметров, оно снабжено приводом азимутального вращения держателя с образцом. привод линейного перемещения держателя с образцом в плоскости, перпендикулярной плоскости падающего и отраженного лучей, с возможностью удаления держателя с образцом из зоны взаимодействия образца с лазерным лучом и возвращения его в эту зону, привод азимутального перемещения фотоэлектронного умножителя в плоскости падающего и отраженного лучей относительно точки падения луча на.образец, амплитудным преобразователем, установленным по ходу падающего луча перед поляризатором,блоком управления амплитудным преобразователем, вход которого соединен.с пер" вым выходом компрессора. а выход - с управляющим входом амплитудного преобразователя, и блоком управления и обработки информации, управляющие выходы которого соединены. соответственно с входами приводов, входы соединены соответственно с выходами компрессора и датчика регистрации угла поворота, а компрессор выполнен с резонансным усилительным каскадом.1663423 Составитель О. СмирнРедактор К. Крупкина Техред М.Моргентал рректор М. Демчи Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 1 Заказ 2257 ВНИИПИ Государ Тираж 385нного комитета и3035. Москва, ЖПодписноеобретениям и открытиям при ГКНТ ССаушская наб 4/5

Смотреть

Заявка

4639111, 16.12.1988

МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. К. Э. ЦИОЛКОВСКОГО

ВЯТКИН ПАВЕЛ ГРИГОРЬЕВИЧ, КИСЕЛЕВ ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ, КУРАКИН ИГОРЬ БОРИСОВИЧ, ЛИГАЧЕВ АЛЕКСАНДР ЕГОРОВИЧ, ПАНАРИН ВИКТОР ВИКТОРОВИЧ, СЕМЕНОВ БОРИС НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 21/00

Метки: дифференциального, методом, оптических, параметров, поверхностей, светорассеяния, шероховатости

Опубликовано: 15.07.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-1663423-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-parametrov-sherokhovatosti-opticheskikh-poverkhnostejj-metodom-differencialnogo-svetorasseyaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения параметров шероховатости оптических поверхностей методом дифференциального светорассеяния</a>

Похожие патенты