Патенты опубликованные 23.08.1990

Страница 29

Преобразователь перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1587322

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Михайлов, Моисеев, Почуев

МПК: G01B 7/00

Метки: перемещений

...6 индуктивности и обмотку 7 положительной обратной связи начинает протекать постоянный ток, величина которого определяется сопротивлением катушек, Ток в обмотке 7 создает в магнитопроводе 2 магнитный поток Ф 2, определяющий предварительное подмагничивание стержня 5 и, следовательно, начальное значение индуктивности катушки 6 индуктивности. При подключении регулируемого источника напряжения постоянного тока к обмотке 3 подмагничивания постоянного тока по ней начинает протекать ток, создающий в магнитопроводе 1 постоянный магнитный по-, ток Ф 1, величина которого зависит от величины зазора 13 между выступами магнитопровода 1 и якорем 12, Наличие воздушного зазора 11 между магнитопроводами 1 и 2 исключает шунтирование потока Ф 1 через...

Накладной вихретоковый преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1587323

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Калабухов, Кравчик, Трофименко, Трунин

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковый, накладной

...каркас 9 для фиксации преобразователя в вертикальном положении.Преобразователь работает следующим образом,Преобразователь устанавливается на поверхности контролируемого изделия, Обмотка 4 возбуждения подключается к источ 3 1587323нику 10 переменного тока, Создаваемый приэтом электромагнитный поток Ф проходитпо стержневому магнитопроводу 1, далееего основная часть Ф, пересекает витки из мерительной обмотки 5, а далее по магнитному концентратору 6 через отверстиеэкрана 7 и поверхности 3 контролируемогоизделия попадает на рабочий конец 2 стер жневого магнитопровода 1, При этом потокФи магнитным концентратором 6 локализуется вокруг полусферического рабочего конца стержневого магнитопровода 1. Крометого, часть потока Фи, не проходящего...

Способ контроля толщины электропроводящего покрытия

Загрузка...

Номер патента: 1587324

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Ратинов, Шерман

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытия, толщины, электропроводящего

...где пср - средняя толщина покрытия в диапазоне контроля, д - глубина проникновения поля вихревых токов в материале покрытия, При этом достигается максимальная относительная чувствительность фазы вносимого напряжения к толщине покрытия, 1 табл. одлежит контролю и из я в не от пмин до пмаксмощью вихретокового преобразоозбужают вихревые токи, частота 1выбирается из условия д = (0,4 - где пср = 0,5 (пмин+ и макс) - средняя покрытия вдиапазоне контроля, д - проникновения поля вихревых тоериале покрытия.ину проникновения вихревых токов го вихретокового преобразоватериал можно оценить по формуле:1587324 Составитель П.Шкатоведактор В.Данко Техред М,Моргентал Корректор В,Гирн Заказ 2411 ПодписноеВНИИХИ Госуда ретениям и открытиям при ГКНТ...

Устройство для градуировки тензорезисторов

Загрузка...

Номер патента: 1587325

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Васютичев, Кучин

МПК: G01B 7/16

Метки: градуировки, тензорезисторов

...плоскостях пластины 2 в ее рабочей зоне (внутри окружности 8, радиус которой меньше радиуса гн внутренного ряда опор на величину д, равную шагу между опорами в этом ряду) наклеивают одиночные тензорезисторы или розетки тензорезисторов 9, нагружают пластину изгибом в соответствии со схемой фиг.2 и регистрируют показания тензорезисторов на каждом заданном уровне нагружения. С учетом толщины и пластины, радиусов гн и гн и силы Р рассчитывают уровень задаваемой тензорезисторам деформации е и по известным зависимостям определяют коэффициент тензочувствительности тензорезисторов, Перемену знака задаваемой деформации осуществляют повторным нагружением пластины после ее поворота,В устройстве обеспечивается одинаковость деформирования по...

Учебный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1587326

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Амстиславский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, учебный

...зависимости от положения второй призмы 5 в большей или меньшей степени покрывают полутемную область, соответственно увеличивая ее освещенность в области перекрывания, Прижатие15 20 призм и образование тонкой плоскопараллельной воздушной прослойки между гипотенузными гранями призм 4 и 5 приводит к полному перекрыванию бликов и в случае подготовленного интерферометра, когда соприкасающиеся грани призм тщательно очищены от пыли, в области перекрыванияформируются яркие и насыщенные красками интерференционные спектры,Отличительная особенность явления состоит в том, что картина представляет собойсовокупность полос равного наклона самыхпервых интерференционных порядков, и высокая степень временной ксгерентности перекрывающихся пучков...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1587327

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Мирошниченко, Салоид

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...к нормальному падению, на равнобедренную призму 3 с угломпри вершине 90, При этом траектория прохождения излучения не меняется, На малойграни 4 призмы 2 происходит деление потока излучения на два. Один поток, отразившись от светоделительного покрытия черезуголковый отражатель 6, попадает на ком-пенсирующую призму 8 и после отраженияпроходит все указанные элементы 4 и 3 вобратном направлении. Прошедший же через светоделительное покрытие поток проходит последовательно элементы 2, 7 и 8 впрямом направлении, После отражения вкомпенсирующей призме 8 лазерный лучпроходит элементы 7 и 2. Можно подобрать 45такое положение лазера 1, моноблока, состоящего из элементов 2, 3 и 8, при которомлучи, пришедшие от двух отражателей б и 7,совмещаются в...

Интерферометр для измерения расстояний

Загрузка...

Номер патента: 1587328

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Бычков, Городишенин, Карцев, Коваленко, Титков, Черепица

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, расстояний

...направления излучения, и фотоприемник. блок измерения отношения сигналови СВЧ-генератор, выход которого электрически соединен с кристаллом, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью расширениядиапазона измерений, интерферометр снабжен первой и второй четвертьволновымипластинками, дополнительным двулучепреломляющим кристаллом, дополнительным фотоприемником и призмой Валастона, перваячетвертьволновая пластинка размещена между источником света и двулучепреломляющимкристаллом, дополнительный двулучепреломляющий кристалл, вторая четвертьволнов упластинка и призма Валастона установле Ьпоследовательно по ходу излучения между полупрозрачным зеркалом и фотоприемником,5 дополнительный фотоприемник размещен походу дополнительно...

Устройство для измерения диаметра движущегося нитевидного материала

Загрузка...

Номер патента: 1587329

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Варламов, Виткина, Волкова, Кальда, Макаров

МПК: G01B 11/10

Метки: движущегося, диаметра, нитевидного

...в виде трехроликов 2 - 4, установленных по траекторииперемещения нити 1, Ролики 2 - 4 выполнены с У-образными канавками на боковой 20поверхности с углом развала 2 а, например150 С, Ролик 3 установлен со смещением поотношению к линии, соединяющей Оси роликов 2 и 4 (фиг.2), на величину Ь и относительно плоскости их вращения на величину 25а. Величинь а и Ь определяются из системыуравнений С паковки (не показана) нить 1 подают вмеханизм для натяжения. Величину натяжения нити задают в зависимости от.ее вида.Далее нить проводят через ролик 2, фото- оптический преобразователь 6, ролики 3 и 4 и наматывают на паковку. На нить 1, проходящую в натянутом состоянии по наклонной поверхности канавки ролика 3, действует крутящий момент, который при...

Интерференционное устройство для измерения углов наклона объекта

Загрузка...

Номер патента: 1587330

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Арефьев, Варфоломеев, Здоркин, Канашкин, Шерешев

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционное, наклона, объекта, углов

...стей пластины 3 и зеркала 5, получаемой ти устройства, 30 путем предварительной юстировки пластиИсточник и фотоприемник установле- ны 3, соблюдается условие: 1=2; 01 =%: ны подострым углом к плоскопараллельной ОО = О Д = О пластинке 3 и зеркалу 5, которые в началь- При этом поле зрения объектива 7 равном положении параллельны друг другу. номерно освещено и на поверхности фотоВсе элементы устройства жестко закрепле приемника 8 формируется ны в корпусе 9 за исключением плоского интерференционнаяполосабесконечнойшизеркала 5. Корпус предназначен для уста- рины, так что на все светочувствительные новки его на контролируемом объекте, площадки фотоприемника 8 падают световыеНа чертеже также обозначены углы 1, 2 потоки равной интенсивности....

Устройство для измерения шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1587331

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Коваль, Левченко, Савченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...3. Вогнутое зер кало 9 установлено с возможностью отраже 1 ния астигматической совокупностисветовых пучков на многоэлементный приемник 10 излучения, соединенный с блоком 4011 обработки сигнала;Устройство работает следующим образом.Световой пучок от лазера 1 проходитчерез коллиматор 2 с диафрагмой 3, сужается, коллимируется и направляется на светоделительную клиновидную пластинку 4,Указанный первичный световой пучок многократно отражается от пленок 5 и 6 внутрипластинки 4 и, преломляясь на ее стороне,. 50обращенной к измеряемой поерхности 12,образует вторичную астигматическую сходящуюся систему световых пучков, величина астигматизма и угловое расстояниемежду пучками которой определяется углом 55падения первичного светового пучка на...

Способ исследования микроструктуры образца

Загрузка...

Номер патента: 1587332

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Грудин, Сафронова, Шмакова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...линии более яркой, чем остал ьное изображение.До фокусировки изображения наблюдаемой поверхности используют расфокусировку оптической системы микроскопа, получая белый ручеистый узор 1 неконтакта, лежащий выше плоскости изображения, это и будет изображением микрорельефа в недофокусе,В фокусе наблюдают микроструктуру, расположенную точно в плоскости изображения данного микроскопа, при этом визуализируется четкое изображение реплики 2 от материала закалочного диска и контуры 3 наиболее крупных каверн.После фокусировки выполняется пере- фокусировка, заключающаяся в визуализации предметной плоскости, совпадающей с дном наиболее крупных каверн и каналов топологии 4 дна каверны и лежащей ниже плоскости изображения реплики. В перефокусе, как...

Способ исследования микроструктуры образца

Загрузка...

Номер патента: 1587333

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Василенко, Плотников, Сафронова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...в объект,на котором формируется смешанный амплитудно-фазовый контраст, визуализиро 5 вать который можно традиционнойфокусировкой или расфокусировкой, Такимобразом, любой дефект внешней поверхности аморфной ленты позволяет найти "условный" фокус.10 После определения "условного" фокусаполучают восстановленное изображениепенообразной структуры ленты в точках, находящихся по оптической оси микроскопавыше и ниже "условного" фокуса, а расстоя 15 ние между выбранными точками определяют по соотношению Л= - 0,3 о/лА, где 1 О -размер наименьшей фазовой неоднородности, А - длина волны используемого излучения (численный коэффициент 0,3 следует изучета средней величины погрешности метода), Это соотношение справедливо при наблюдении фазового...

Проекционный объектив с увеличением 15

Загрузка...

Номер патента: 1587334

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Гуревич, Тихончук, Цуран, Шевлюкевич

МПК: G02B 13/24

Метки: объектив, проекционный, увеличением

...к плоскости предметов; двенадцатый - отрицательный мениск, обращенный выпуклостью к плоскости предметов, склеенный из положительной 12 и отрицательной 13 линз; тринадцатый - отрицательный мениск 14, обращенный выпуклостью к плоскости предметов; четырнадцатый - отрицательный мениск 15, обращенный вогнутостью к плоскости предметов; пятнадцатый - положительный мениск, обращенный выпуклостью к плоскости пРедметов, склеенный из отрицательной 16 и положительной 17 линз; шестнадцатый - двояковыпуклая линза 18; семнадцатый - положительный мениск 19, обращенный выпуклостью к плоскости предметов.Объектив. имеет высокую степень коррекции аберрации для области спектра 404,6+5 нм, Увеличение объектива - 1/5. Апертура 0,35, поле зрения 23,2 мм....

Способ измерения толщины изделий с плоскими поверхностями

Загрузка...

Номер патента: 1587335

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Вовк, Протопопов

МПК: G01B 17/02

Метки: плоскими, поверхностями, толщины

...в совмещенном режиме, в иммерсионной жидкости 2 над поверхностью 4 ввода .иэделия 1 осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости с неизменным сечением изделия 1 до достижения макси мального значения амплитуды эхо-сигнала, отраженного поверхностью 4 ввода, и фиксируют угловое положение пьезопластины .3 в этой плоскости, Затем осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости непа.- 40 раллельности поверхностей 4 и 5 изделия, т.е. в плоскости фиг. 1, Наклон осуществляют путем перемещения центра пьезопластины 3 по дуге (представлена на фиг, 1 штриховой линией) с неизменным расстоя нием между центром пьезопластины 3 и точкой ввода УЗ колебаний в иэделие. В ходе наклона пьеэопластины 3 излучают импульсы УЗ колебаний, принимают отраженные...

Фотоэлектрический датчик линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1587336

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Астраух

МПК: G01B 21/00

Метки: датчик, линейных, перемещений, фотоэлектрический

...4, выход является выходом датчика,Датчик работает следующим образом, Поток излучения, создаваемый источником 2 излучения (излучателем), отражается от перемещающейся поверхности и посту- пает на входы первого 3 и второго 4 фотоприемников. Сигнал, пропорциональный величине перемещения, с выхода второго фотоприемника 4 усиливается третьим усилителем 11 и с его выхода поступает на выход датчика. Для исключения влияния на результаты измерения коэффициентов отражения поверхности (К 1) и пропускания среды (К 2), в которой распространяется излучение, излучатель 2 и первый фотоприемник 3 через усилители 7 и 8, суммирующий интегратор 9, управляемый делитель 6 напряжения и источники 5 и 10 опорного напряжения замкнуты в систему автоматического...

Способ исследования слоистых материалов и других объектов с помощью акустической микроскопии

Загрузка...

Номер патента: 1587337

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Бондаренко, Еськов, Колосов, Маев, Мациев, Троицкий

МПК: G01B 21/00

Метки: акустической, других, исследования, микроскопии, объектов, помощью, слоистых

...(РАМ).Устройство для осуществления способасодержит первый и второй пьезоэлементы 1и 2, первый и второйсапфировые стержни 3и 4, установленные соосно на некоторомрасстоянии друг от друга, на удаленных торцах которых закреплены, соответственно,первый и второй пьезоэлементы 1 и 2, аближние друг к другу торцы выполнены ввиде вогнутых сферических поверхностей,образующих, соответственно, синфокальные излучающую и приемную линзы 5 и б,пространство между которыми заполненоиммерсионной средой 7, электронный блок8, первый выход и вход которого соединены,соответственно, с входом первого пьезоэлемента 1 и с выходом второго пьезоэлемента2, полутоновый дисплей 9, вход которого соединен с вторым выходом электронногоблока 8, и набор фильтров...

Устройство для измерения геометрических параметров движущихся лесоматериалов

Загрузка...

Номер патента: 1587338

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Васекин, Дорошенко, Рыбочкин, Титович, Харитонов

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, движущихся, лесоматериалов, параметров

...14 зося сигнал записи схемой 44 предустановки. ны контроля иэ единичного состояния в нулеКод с выходного регистра 38 поступает на 15 вое на выходе элемента ИЛИ-НЕ 40.вход цифроаналогового преобразователя возникает перепад иэ нулевого состояния в39 (фиг. 2), а с его выхода преобразованный единичный, тем самым происходит записьсигнал - на управляющий. вход компаратора числа в выходной регистр 38. С выхода10. Предустановка осуществляется для тех выходного регистра 38 цифровой код постуцелей, чтобы, пока не будет определен уро пает на вход цифроаналогового преобразовавень. порогового напряжения, компаратор теля 39, а с его выхода преобразованный10 был заблокирован, Предустановка ис- код - на второй вход компаратора 10, Измепользуется...

Автоматизированный гониометр

Загрузка...

Номер патента: 1587339

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Зайцев, Хачитурян

МПК: G01B 21/22

Метки: автоматизированный, гониометр

...излучающей щели 6 последовательно проходит через трианализирующие щели 7. На выходе автоколлиматора 5 последрвательно формиру 25 ются. три импульса, поступающие наусилитель 8 с управляемым коэффициентомпередачи.За время формирования трех импульсов осуществляется цикл измерения.30 Первые два импульса являются вспомогательными, третий импульс - измеритель 1ным,Третий импульс, сформированный навыходе усилителя с управляемым коэффи 35 циентом передачи, поступает на первыйвход стробируемого компаратора 9, на второй вход которого поступает сигнал, формируемый на выходе пикового детектора 15.Амплитуда сигнала на выходе пикового. де 40 тектора 15 связана с амплитудой второго ..импульса, формируемого на выходе усилителя 8 с...

Фотоэлектрический дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1587340

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Швыркова, Шифрин

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектоскоп, фотоэлектрический

...2, проецируемого оптико-механическим развертывающим устройством 4 на этот фото- диод, конечны, а световое отражение от дефектной площадки всегда меньше, чем от соответствующей по площади бездефектной поверхности, т.е, оптического фона,При наличии крупных дефектов на поверхности 2 контроля, когда приемная площадь фотодиода 5 и площадь проекции дефекта на фотодиод соизмеримы (фиг.2 а),интегральное значение света, попадающего на фотодиод 5, при сканировании дефектного участка значительно меньше, чем при контроле бездефектного участка, равного по площади дефекту, а фронт измерения сигнала от дефекта значительно круче, чем В данном случае при любом значении постоянной времени дифференцирования в блоке 11 импульс от дефекта на выходе...

Способ измерения радиуса кривой в плане автомобильной дороги и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1587341

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Алексеев, Гаврилов, Смирнов, Тырса

МПК: G01C 7/04

Метки: автомобильной, дороги, кривой, плане, радиуса

...б импульсов - соответственно второй датчик линейной скорости колеса.На .прямолинейном участке движениясоосные колеса автомобиля имеют одинаковую скорость, На поворотах соосные колеса описывают кривые различного радиуса (фиг.1) и, следовательно, за времяЬ проходят разные расстояния (наружное колесо - О, внутреннее - 12) и имеют разные скорости,Причем Ь= Ч 1 Л; (1)а= Ч 2 Л, (2)где Ч 1 и Ч 2 - соответственно линейные скорости наружного и внутреннего колес авто. мобиля.При этомО/1 2=К 1/В 2, (3)где Й 1 и В 2 - соответственно радиусы, описываемые при прохождении поворота наружным и внутренним колесом,Учитывая, что82 =. Й 1 - Н(4)где Н - расстояние между соосными колесами,радиус закругления можно вычислить как Ч 1 Н81=в (5)Ч 1 Ч 2Способ...

Устройство для записи информации на электрочувствительном носителе

Загрузка...

Номер патента: 1587342

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Козленко, Коротков, Щеголь

МПК: G01D 15/06

Метки: записи, информации, носителе, электрочувствительном

...1 секции проволочных электродов с обеих сторон закреплены в разных плоскостях со смещением. Такая конструкция устройства с секционной компоновкой электродов и смещением секций относительно друг друга позволит создать многоэлектродные устройства записи информации с минимальным и постоянным шагом между электродами. Проволочные электроды 2 всех секций расположены в электроизолированных между собой направляющих канавках 3 вала 5 и направляющей оси 4, Такое их расположение позволяет сохранить постоянным шаг между электродами, что повышает качество записи информации,Вал 5 кинематически соединен с механизмом 11 перемещения электродов, который связан с электроприводом для транспортирования носителя информации. При соединении механизма 11...

Конвейерные весы

Загрузка...

Номер патента: 1587343

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Ерошкин, Жуков, Кофанов, Мамедов, Никольский

МПК: G01G 11/04

Метки: весы, конвейерные

...посредством упругих единичной роликоопоры.шарниров 12 связывают раму 5 с грузопри- Выражения (1) и (2) получаются из услоемной площадкой 1 конвейерных весов. 25 вия обеспечения нулевого перемещенияВесы работаютследующим образом. грузоприемной площадки 1 при действииУсилие от перемещаемого материала горизонтального усилия и равенства суммытранспортной лентой 3 конвейера воспри- .моментов нулю относительно точек А и Бнимается единичной роликоопорой 2 и че- грузоприемной площадки,рез грузоприемную площадку 1 передается 30 В случае возникновения упругих дена силоизмерительный датчик 4, выходной формаций от действия горизонтальныхсиг ал которого по величине оказывается в усилий в упругих шарнирах 12 пэраллелогнтекущие моменты времени...

Трехкомпонентный вибропреобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1587344

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Дружбляк, Колодий, Пистун, Прокопец

МПК: G01H 1/04

Метки: вибропреобразователь, трехкомпонентный

...направлений (направление показано стрелкой) инерцион 1587344ная масса 4 воздействует через струны 5 натонкие упругие мембраны 2,Действие инерционной массы 4 на парымембран 2, параллельных вибровоздействию, происходит через струны 5, работающие на изгиб, имеющие малую поперечнуюжесткость, вызывает незначительный ихпрогиб в одну сторону, а действие же инерционной массы 4 на пару мембран 2, перпендикулярных вибровоздействию, 10происходит через струны, работающие нарастяжение, имеющие большую жесткость,вызывает значительный их прогиб в разныестороны, При этом возникающие заряды напарах соединенных параллельно противолежащих пьезоэлементах 3 в связи сприкреплением их к мембранам 2 разнополяризационными плоскостями и изгибом...

Измеритель скорости звука

Загрузка...

Номер патента: 1587345

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Измайлов, Камилов, Миргородская, Митрофанова

МПК: G01H 5/00

Метки: звука, измеритель, скорости

...импульс 29, по переднему фронту которого ВЯ- триггер 14 устанавливается в состояние "1". С инверсного выхода последнего через линию 15 задержки сигнал "0" поступает на первый вход пикового детектора 16, подготавливая его.к работе. Линия 15 задерживает открытие пикового детектора 16 на время т равное длительности импульса О. Таким образом, при поступлении на вход пикового детектора 16 импульса В на выходе детектора 16 формируется уровень напряжения, пропорциональный максимальному значению амплитуды приемного сигнала В, Аттенюатор 17 производит деление выходного напряжения пикового детектора в Кат раз, Коэффициент деления аттенюатора К определяется соотношениемКат - К пдгде К пд- коэффициент усиления пикового детектора 16;х -...

Устройство для измерения скорости ультразвука

Загрузка...

Номер патента: 1587346

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Бабушкин, Дуденков, Кузнецов, Павлов

МПК: G01H 5/00

Метки: скорости, ультразвука

...импульсов ударноговозбуждения поступает на излучатель 3, спомощью которого электрический сигнал,преобразованный в ультразвуковые колебания, вводится в исследуемый материал.Ультразвуковые колебания, прошедшие через материал, принимаются приемником 4,в котором ультразвуковые колебания вновь.преобразуются. в электрические, С выходаприемника 4 сигнал поступает на вход усилителя 5 и оттуда на временной селектор 9,в котором из сигнала формируется последовательность импульсов, состоящих из первых полупериодов принятого сигнала(фиг.2 в). Из полученной последовательности импульсов с помощью узкополосногофильтра 10 выделяется одна гармоника частотой пГ (п.порядковый йомер гармоники).Ф Из полученных синусоидальных колебанийс помощью...

Устройство для измерения скорости и спектрального коэффициента затухания ультразвуковых волн

Загрузка...

Номер патента: 1587347

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Калмыков, Кийко, Коробкин, Орлов

МПК: G01H 5/00, G01N 29/00

Метки: волн, затухания, коэффициента, скорости, спектрального, ультразвуковых

...частотами. С выхода фильтра 9 преобразованный сигнал (фиг,2 д) подается на первый вход усилителя 10 с АРУ, выполняющего функцию коррекции амплитуды преобразованного сигнала, на второй вход которого подается напряжение 5 10 15 20 25 30 огибающей принятого сигнала, выделенное детектором 11 (фиг.2 г).Увеличение напряжения на втором входе усилителя 10 с АРУ приводит к уменьшению его коэффициента передачи. И, наоборот, уменьшение напряжения на втором входе усилителя 10 приводит к увеличению его коэффициента передачи. Выравнивание (коррекция) амплитуды преобразованного сигнала обостряет максимум его спектра вблизи частоты 16 (16), что дает более точную оценку 16 (1 в) и соответственно скорости продольной волны в среде.Напряжение...

Устройство для измерения вибрации

Загрузка...

Номер патента: 1587348

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Зусман, Петрович, Шпанкин

МПК: G01H 11/06

Метки: вибрации

...добротность, Если выполняется условие ВС = 1/ир, то Овца(и) = а(и)КуоКфр Х 2 Вв 2 в М Мир) +1(1 -- ) а + -4 4г д-- + 1 ( - + 1иир ирАца.е сумматора записывагде - мнимая еди Сигнал на вых ется какОтличие приведенной частотной характеристики от идеального интегратора (1/и) для частот и 2 ир составляет менее 0,08;4 при 0 1. Поэтому в частотном диапазоне с нижней граничной частотой и = =2 ир предлагаемое устройство обеспечивает выходной сигнал (по первому выходу), пропорциональный виброскорости. При этом существенно уменьшаются коэффициент передачи устройства вне рабочего диапазона и постоянная времени входной БС-цепи. Например, для - = 10 Гц и С =йф=4000 пФ достаточно В = 5 УОм (вместо обычно требуемых 50 МОм), Таким образом,...

Устройство для измерения температуры

Загрузка...

Номер патента: 1587349

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Мухин

МПК: G01K 7/02

Метки: температуры

...перемещения вдоль штанги 5, а с другой - шарнирно с тягой 15. Заготовка 24 в виде пластины устанавливается иа столе станка 13, На заготовку 24 наплавляются полоса 3, служащая заготовкой для механической обработки и объектом для измерения температуры, наплавочный электрод 25 (показан условно), движущийся по траектории 26 относительно заготовки 24,Перед работой производят настройку устройства для измерения температуры заготовки в процессе наплавки и механической обработки: штангу 5 перемещают в обойме 8. Настройкой достигают заданного положения термопар 1 в направлении по длине и ширине наплавляемой полосы 3 в процессе измерения температуры.Длины тяг 15 и 22 и расположение хомута 23 на штанге 5, кронштейна 19 на полэуне 16 приняты...

Устройство для измерения крутящего момента расходомера

Загрузка...

Номер патента: 1587350

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Гатих, Потапович, Солодухо

МПК: G01L 3/14

Метки: крутящего, момента, расходомера

...Для предохранения устройства от резких и больших перегрузок при заклинивании крыльчатки 13 посторонними включениями в сыпучей среде ведущее звено 1 снабжено предохранительной муфтой (не показана). Для исключениябольших динамических ударов между кулачками 4 и 5 ведущего 1 и ведомого 2 звеньев в момент запуска электродвигателя привода крыльчатки устройство Снабжено двумя предохранлтельными замками центробежного типа, которые состоят из защелки 17, вращающейся на оси 18 в прорези кронштейна 19, закрепленного на ведущем звене 1. Защелка 17 содержит захват 20 прямоугольной формы, расположенный между обоими звеньями эа кулачком 4 ведомого звена 2, и подпружинена с помощью пружинного механизма 21 относительно ведущего звена 1. Б защелку 17...

Устройство для статической балансировки изделия

Загрузка...

Номер патента: 1587351

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Рехкалайнин

МПК: G01M 1/12

Метки: балансировки, изделия, статической

...цилиндрического стакана 3, срез которого находится против входного отверстия 2, с выходным отверстием 4 в центральной части его дна, предназначенным для периодического соединения с атмосферой, На наружной стороне дна цилиндрического стакана 3 закреплена оправка 5 для установки балансируемого изделия 6.Устройство для статической балансировки изделия работает следующим образом.В исходном положении цилиндрический стакан 3 опирается на дно емкости 1, так как его внутренняя полость сообщается с атмосферой через выходное отверстие 4 с открытым вентилем,На оправку 5 устанавливают балансируемое изделие 6 и закрывают вентиль выходного отверстия 4, после чего открывают вентиль входного отверстия 2, заполняя тем самым полость цилиндрического...