Патенты опубликованные 30.08.1974
Реактив для выявления макроструктуры
Номер патента: 441471
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 1/32
Метки: выявления, макроструктуры, реактив
...от известного дополнительным содержанием водного раство- фо ра соляной и азотной кислот,Это обеспечивает повышение качества выявления макроструктуры.Реактив имеет следующий состав, ;Соляная кислотаАзотная кислотаВода 53-56 ПРБЮПТ ИЗОБРЕТЕНИЯ8-10Остальное50-60(г/л) ления макровысокооснове воднои хромпика й с я тем, ения выявлеРеактив для выяво структуры легированныхпрочных сталей наго раствора кислото т л и ч а ю щ ичто, с целью улучш5 ения ив предназначен длямакроструктуры вы ррочных мартенситностареющих - сталей типа ООНВК 9 М 5 Т и др,Выявление макроструктуры вы+ полняют следующим образом,Исследуемый образец подвергают холодному травлению в ре-, активе в течение 40-60 мин, после чего для снятия темного налога и осветления...
Способ исследования микротвердости по глубине детали с криволинейной поверхностью
Номер патента: 441472
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Ельченко, Кожевников, Кулешова, Морозов, Шевченко
МПК: G01N 3/40
Метки: глубине, детали, исследования, криволинейной, микротвердости, поверхностью
...изображена в виде прямой 0- О.На Фиг. 2 эти линии пересекают секущую плоскость в точке От (0). После окончательной обработки поверхности лыски на ней измеряют микротвердость любым известным методом. Изобретение относится к области исследования микротвердости материаловИзвестен способ исследованиямикротвердости по глубине детали скриволинейной поверхностью,заключающийся в том,что на исследуемойповерхности образуют плоскую лыскупод углом к поверхности и измеряютмикротвердость в различных точках 10,ее поверхности.,Этот способ э 4 ективен при измерении микротвердости по глубинедеталей с выпуклой или плоской поверхностью, При исследовании же 15микротвердости деталей с вогнутойтороидальной поверхностью, напримервнутренних колец...
Альвеограф
Номер патента: 441473
Опубликовано: 30.08.1974
Автор: Адаманис
МПК: G01N 7/00
Метки: альвеограф
...2. На штоке 15 укреплен установочный ползун 25 с регулировочным винтом 24, связанным контактным устройством 25 с электрической цепью питания. Для отключения и изме нения направления вращения вала тестомесилки 18 на редукторв 19 смон тирована ручка 26.Термостатируемая камера 5 снабжена нагревательным устройством 27 и контактным термометром 28Электрическая цепь питания с приборами включает также пусковое еле 29, включатель пускового рвлв О, устройство 51 для автоматического регулирования температуры и электрический секундомер 52.Включателем 50 включают пусковое реле 29 и одновременно алек трические часы 52, самопишущее устройство 15, электромагнитный клапан 4, мотор 20 редуктора 19, шестеренка 17 которого находится в зацеплении с рейкой...
Способ определения плотности газа
Номер патента: 441474
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Антанович, Дядченко, Кемниц, Куршин, Плотников, Семерчан, Чернявская
МПК: G01N 9/00
...образом, применение способа позволит получить информацию О плотности газов при высоких дав лениях вплоть до их затвердевания с требуемой степенью точности.На чертеже приведена схема установки для определения плотности газа по предлагаемому способу.Исследуемый газ закачивают в термостатируемый ттьезометр переменного объема, выполненный в виде цилиндра Т с йоршнем 2 и уплотнением 3, расположенным неподвижно относительно -корпуса цилиндра. Затем изотермически сжимают газ и измеряют изменение объема по давлению. Выпускают газ в калиброванную емкость 4 и определяют по уравнению состоя. ния идеального газа количество газа титАналогичный опыт проводят с другой массой газа ттт при тех же давлениях и температурах, что и в первом опыте с...
Поплавковый плотномер
Номер патента: 441475
Опубликовано: 30.08.1974
Автор: Макаров
МПК: G01N 9/18
Метки: плотномер, поплавковый
...коромысла установлены два малогабаритных трансформатора с разомкнутыми магнитопроводами 16 17 и обмотками возбуждения 8, 19, Коромысло выполнено из магйитного материала, и плечо его 20, находящееся междузамкнутыми магнитопроводам 16, 7, одновременно служит в качестве подвижного сердечника. Ьходные обмотки 21, 22 трансфораторов преобразователя перемещения подключены через диоды 23, 24 к управляющим электродам тирйсторов 25, 26, в анодные цепи которых включенй обмотки реле Р и Р зашунтированные конденсаторами 27, 28 и подключенные к источнику переменного тока опорного напряжения. Управляю щие электроды тиристоров зашунтированы резисторами 29, 30, служащими в качестве задатчиков порога включения тиристоров.На выходных валах редуктора 8 с...
Сдвиговый реометр
Номер патента: 441476
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Бриедис, Сладков, Файтельсон
МПК: G01N 11/00
...толкателей 5 прокла О ,док б и захватов 7 . Каждые толка- . тель и захват распйраются пружинами 8 и 9. Поворотную головку после поворота под любым заданным углом в горизонтальной плоскости можно жестко фиксировать стопором 10.Поворот головки осуществляется при помощи ключа 11. Другой, подвергаемой колебаниям, плоскостью рабочего узла реометра является гори-зонтальная рифленая поверхность вставки 12, Вставка зажата в тяге 13, которая одним концом присоединейа к источнику 14 механических колебаний, а другим концом опирается на уйругую подвеску 15. Е тяге прикреплена подвижная катуюи 16 электродинамического датчика скорости. Для освобождения вставки 12 от тяги 13 служит палец 17 .Работа реометра заключается вследующем.Исследуемый...
Способ изготовления капилляров для реологических исследований
Номер патента: 441477
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Перепелкин, Попов, Савицкий
МПК: G01N 11/00
Метки: исследований, капилляров, реологических
Способ определения концентрации волокнистых масс
Номер патента: 441478
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 11/08
Метки: волокнистых, концентрации, масс
...постоянное значение и определяется вязкотекуччми свойствами суспензии, которые ди малых концентраций целлыозных масс можно принять неизменными.11 ри этом время движения массы от радиуса , до радиуса г также постоянно и равно- Гь.:"д.УгО)11 ри постоянной угловой скорости вращения диска тангенциальные скорости элементарных объемов волокнистой массы на радиусах г иг соответственно равны 4сторону, противоположную его вращению,сщ=а;т 1 с=2%ы Вмг; Ьг, (5)5 - . -где т; =2%о; Вг др - весоваямасса йограничного слоя волокнистой суспензии на радиусе г; судельной плотностью,р1; = /; - плечо момента.,Пля волокнистых масс целлюлозно-бумажнсго производства, в силублизости удельных весов твердой5 фазы и растворителя, общая плотность суспензии у...
Измерительная головка для определения вязко-упругих свойств материалов
Номер патента: 441479
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Алексеенко, Файтельсон
МПК: G01N 11/12
Метки: вязко-упругих, головка, измерительная, свойств
...измерений неудовлетворительна.Цель изобретения - повышение 2точности измерения и упрощение конструкции прибораЭто достигается тем,что в предлагаемой измерительной головке упругий элемент для измерения верти кального перемещения выполнен в виде мембраны, закрепленной на торсионе в его верхней части.На чертеже представлена схема предлагаемой головки.Измерительнэя головка содержит торсион Е,угол закручивания ко; торого,пропорциональнй крутящемумоменту Д,замеряется при помощи датчика 2.На торсион в верхней час ти надеваются сменные мембраны ,3 прижимаемые к торсиону прокладкой 4,и привинчиваются винтами 5,Наружным диаметром мембрана садится в гнездо неподвижно закрепляемой втулки 6 и крепится при помо 1 ци прокладки 7 и винта...
Гранулометр
Номер патента: 441480
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Вессельман, Кириллов, Лексиков, Оршанский, Перкович, Фридман
МПК: G01N 15/00
Метки: гранулометр
...электронный 20фильтр средневолнового диапазона .длин волн, выпускаемый промышленностью.Импульсный сигнал, по амплиту.де соответствующий массе, т.е, диаметру частицы, подается на входыпараллельно соединенных пороговыхэлементов 6, чувствительность каждого из которых настроена на амплитуду, соответствующую каждой зоизмеряемой фракции.Если рассматривать поток частиц в промежутке времени, равном.1 мксек, то за это время, согласновероятностному анализу, йа веса- зприемную площадку может упастьтолько одна частица. Для фиксациитакого промежутка времени в обратную связь введено реле времени 7,запускаемое. От генератора тактовых 4 оимпульсов 8.ля исключения возможностиодновременного срабатывания порогового элемента, настроенного нанизшую...
Способ обработки пористых тел для изучения микроструктуры
Номер патента: 441481
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 15/08
Метки: изучения, микроструктуры, пористых, тел
...с неоднородной оптической плотностью и пестрой спектральной характеристикой. Идеальным объектом для исследования микроструктуры пористых тел, особенно при использовании автоматизированных систем, является контрастное двухфазное черно-белое бсз полутонов изображение.11 о предложенному способу обработки удается получить подобное высококонтрастное черно-белое изображение структуры пористого тела. С этой целью выполняют следующие операции: полируют плоскость испытуемого образца; производят металлизацию поверхности алюминием, платиново-угольной или другой смесью путем термического испарения металла в вакууме, например, с помощью вакуумного аппарата алюминирования плоского зеркала или вакуумного напылитсльного поста электронного...
Устройство для автоматического контроля состава движущегося материала
Номер патента: 441482
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Варданян, Хавкин, Хаскельберг
МПК: G01N 21/898
Метки: движущегося, состава
...блоков вычитающих элемейтов,сумматора иЬ(ЧфЯ оптичвск 6 плотности 1 2компонента при длине волны х,Д,и,М-коэффициенты ослаблениясоответствующих компонентов присоответствующих длинах волн ХРошая эту систему уравненийотносительно величин 6 и б исчитая коэффициенты ослабления постоянными,получим;е,:,ъ(лй-г фй),(Х- ЯЮ ( Лй (гГде Я,я,м -коэффициенты,зависящйе от величин к(М Рг)2 Р Й и 2.(Л)2В схеме значениями Яа зФзадаются с помощью задающих блоков15-18 соответственно.дослв этих элементов сигналы становятся пропорциональныии величинам М й(лй, ЯайфЯфР ДиЙРДДля решения уравнений(1 и (2) необходимые сигналы подаются на вычитатели 19 и 20,причемпосле элемента 19 получаем сйгнал,соответствующий величине О -линейной плотности массы 1-го...
Устройство для дистанционного определения чувствительности электронной аппаратуры гамма-дефектоскопов
Номер патента: 441483
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Волков, Гончаров, Саханов, Уваров
МПК: G01N 23/00
Метки: аппаратуры, гамма-дефектоскопов, дистанционного, чувствительности, электронной
...изделий; обеспечение возможности определения чувствительности электронной аппаратуры в любое время в процессе контроля изделий.Цель достигается тем, что в предлагаемом устройстве держатель с расположенными на нем дефектометрами установлен между ок. ном коллиматора детектора излучения и контролируемым изделием с возможностью вращения, в результате которого происходит перекрытие дефектометрами окна коллиматора в момент пересечения оси системы источник - детектор излучения,На фиг, 1 изображен узел привода поворо 1 ного держателя дефектометров в двух проекциях; на фиг. 2 - общий вид предлагаемого устройства, установленного на дефектоскопе.Устройство содержит корпус 1 детектора излучения, плиту 2, дефектометры 3, пружинные зажимы...
Способ определения содержания химических элементов в биологических образцах
Номер патента: 441485
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Багдавадзе, Мосулишвили
МПК: G01N 23/00
Метки: биологических, образцах, содержания, химических, элементов
...образцов,Цель изобретения - повышение чувствительности и точности количественного анализа следовых элементов без химического разложения образца,Цель достигается тем, что из цельных тканей различных органов путем дифференциальрасного Знамени институт физики Грузинской ССР ного центрифугирования выделяют субклеточные компоненты (ядра, митохондрии, микро- сомы) и насадочную жидкость.Образцы перед облучением помещают в кадмиевый фильтр и после облучения потоком нейтронов измеряют интегральный 7-спектр на германий-литиевом детекторе высокого разрешения.Способ состоит в следующем.Выделенные из тканей субклеточные фракции в количестве 0,5 мг помещают в миниатюрные полиэтиленовые контейнеры и облучают вместе со стандартами анализируемых...
Регистрирующий блок радиометрического дефектоскопа для контроля железобетонных конструкций
Номер патента: 441486
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Воробьев, Кивран, Покровский
МПК: G01N 23/18
Метки: блок, дефектоскопа, железобетонных, конструкций, радиометрического, регистрирующий
...относительно проектного положения. Выделительные импульсы включают контрольное устройство для определения поло жения заданной рабочей арматуры, что позволяет контролировать только рабочую несущую арматуру, исключая из рассмотрения распределительную. О На фиг. 1 приведена блок-схема предла мого регистрирующего блока части дефе скопа; на фиг, 2 - временные диаграммы ходных напряжений основных его элемен Регистрирующий блок дефектоскопа со 5 жит усилитель 1 выделительных импул усилитель 2 эталонных импульсов, усили 3 сигналов ионизационного детектора изл ния, триггеры 4 и 5, дифференциальный литель 6, временнои селектор 7, усилите О исполнительного механизма бракера.На вход 1 схемы подаются выделительные импульсы, которые через усилитель 1...
Способ измерения углов дифракции монокристаллов
Номер патента: 441487
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 23/20
Метки: дифракции, монокристаллов, углов
...кристаллом пучки,производят колебания эталонногокристалла и измеряют угол междуего положенивщ, в которых имеютместо минивумы йнтенсивности диафрагированного исследуемым кристаллом чка,чертеже приведена оптическая схема, иллюстрирующая предлагаемый способ.Исследуемый присМлл 1 устанавливают в отражающее положение.Эталонный кристалл 2, углы дифракции которого известнй с большоиточностью и который слабо поглощает рентгеновские лучи, установлентаким образом, чтобы йервичный 3и дифрагировайный 4 пучки проходили через него. Затем производятколебания эталонного кристалла 2,причем он последовательно попадает, в оттижаюшие положения по отноше -3441487нию к первичному 3 и дифрагирован" в том-,"что опредбляют угловое сменому 4 исследуемым...
Трехкристалльный рентгеновский спектрометр
Номер патента: 441488
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 23/20
Метки: рентгеновский, спектрометр, трехкристалльный
...4, второй 5 и третий 6 крйсталлы, помещенные в герметичнуюкамеру, рентгеновскую трубку 7коллиматор 8. Подвижная часть 3 20камеры 1 может поворачиваться (дооткачки камеры) вместе с рентгеновской трубкой.Камера 1 имеет двойное дио,состоящее из внутренней опорной плиты 9 и наружной плиты 10. На опорной плите 9 размещены подшипникиосей 04 первого и 0третьегокристаллов, а также салазки 11 второго кристалла.30Вокруг подшипника оси Омогут поворачиваться плечи 12 и 13детекторов 14 и 15 соответственно.Ось 0 под камерой соединяется спрецизионным гониометром.35Излучение рентгеновской трубки, пройдя коллиматор, отражаетсяпоследовательно либо от первого,Второго и третьего кристаллов (врежиме трехкристального спектрометра), либо только от...
Способ определения размеров области гомогенности распределения химических элементов в твердых веществах
Номер патента: 441489
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 23/20
Метки: веществах, гомогенности, области, размеров, распределения, твердых, химических, элементов
...по размерам све тового.ятна на монокристалле флюорита,точное измерение диаметра производили методом клина.Сначала сканировали сфокусиро 4 ованным электронным пучком вдольп 1.сиавольного прямолинейного отрезка на шлифе образца исследуемоговещества, полученная при этом кривая измвйения интенсивности излу очвиия 7. К представлена на фигЛ.Ход этой кривой качественно соответствует изменению концентрациититана вдоль линии сканирования.Диспврсные включения металлическо- оого бора зарегистрированы на этойкривои в виде провалов,Затем, постепенно расфокусируя пучок йутем изменения тока вобъектной лйнзе электронно-опти- ыческой колонны микроанализатора,сканировали им вдоль того жв отрезка. На ь .2, 5 и М представленыкривые изменения интенсивности...
Способ определения внутренних напряжений в монокристаллах
Номер патента: 441490
Опубликовано: 30.08.1974
Автор: Генкин
МПК: G01N 23/20
Метки: внутренних, монокристаллах, напряжений
...плоскости, причем напряжения определяют по изменению разности брэгговских углов отражения этих лучей.Используя отражения двух рент геновских лучей от одной кристаллографической плоскости, исключают недостатки известного способа, связанные с необходимостью воспроизводить и сопоставлять брзгговские отражения рентгеновского луча от 2 О двух кристаллографических плоскостей исследуемого монокристалла.Выбирая величину угла между падающими рентгеновскими лучами, равную разности их брзгговских углов отражения, сокращают на эту величину измеряемый интервал, доводя его до области разности угловых приращений брэгговских максимумов. Этим исключают недостаток известного 30 способа, связанный с необходимостью вычислять искомые приращения как малые...
Устройство для спектрометрии мощных импульсных потоков рентгеновского излучения
Номер патента: 441491
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Грумбков, Гусева, Иванов, Посылин, Солодихина, Цыганков
МПК: G01N 23/22
Метки: излучения, импульсных, мощных, потоков, рентгеновского, спектрометрии
...Г. ПетроваТехред М, Семенов Редактор И. Орлова Корректор Л. Котова Заказ 1905/2 Изд.1396 Тираж 651 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совста Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, К, Раушская наб., д, 4;51 ипотрафня, пр. Сапунова ния излучения, Детекторы регистрируют суммарную энергию потока излучения в импульсе и отрегулированы так, чтобы при отсутствии фильтров на выходе всех детекторов импульсы напряжения имели одинакову:о амплитуду; Тогда при измерении с фильтрами на выходе каждого детектора будет сигнал и пропорциональный энергии В, импульса излучения, поглощенной детектором, имеющим фильтр с номером 1. Если Е; - энергия 1-й спектральной линии, У; - количество первичных гамма-квантов с энергией Е;,...
Бескристалльный рентгеновский квантометр
Номер патента: 441492
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 23/22
Метки: бескристалльный, квантометр, рентгеновский
...тех же направляющих, что и кассета.На чертеже схематически изображен предлагаемыи бескристальныйрентгеновский квантометр,Квантометр содержит датчики 1с источником первичного излученияи детекторами; анализируемую пробу2; кассету 3 д,ля прободеателей;вакуумную камеру 4 с датчиком дляанализа на легкие элементы; откачное устройство 5 р вакуумное уплотнение 6, допускающее перемещениекассеты; механизм 7 дискретного пе-,оремещенйя кассеты; корпус 0 квантометра; счетно-регистрирующее устройство 9, заглушку 10.Кассета 3 с прободереателями,выполненная в виде трехграннойпризыв, устанавливается в корпусеквантометра. С помощью откачногоустройства 5 создается разрежениев камере 4, после чего включаетсяпитание датчиков 1 и счетно-реги-...
Установка для определения термостойкости огнеупорных кирпичей
Номер патента: 441493
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Даукнис, Заботка, Перас, Юренас, Янулявичус
МПК: G01N 25/00
Метки: кирпичей, огнеупорных, термостойкости
...при испытанйях. Одйако для проведения испытаний по такой схеме чрезвычайно существенно обеспечить равномерный нагрев всей плоскости нагреваемых граней кирпича. В противном 10 случае неравномерность нагрева приводит к искажению температурного поля, сколам углов и ребер кирпича, что существенно искажает результаты испытаний, Конструктивные 5 особенности установки позволяют полностью избежать этих нежелательных явлений.Испытания на установке провО- дятся следующим образом.20Предварительно измеряют толщину кирпича и винтами 15 с помощью линейки 16 устанавливают размер между боковыми нагревательными элементами 6 на 20 мм больший, 20 чем толщина кирпича. Это обеспечивает нагрев крайних частей нагреваемых граней кирпича, одинаковый со...
Способ структурного анализа металлов
Номер патента: 441494
Опубликовано: 30.08.1974
Автор: Мирлин
МПК: G01N 25/02
Метки: анализа, металлов, структурного
...1 ли на термографическом иэображении зти участки более светлые. таким образом,при чернобелом изображении по степени почернения участков можно оценивать физические свойства объекта.При цветном изображении могут быть выявле-, ны изотВРмы на Объекте и по различ" ному цвет-локальное распределение температуры на участках поверхности объекта. Полученное фотоизображение может быть затем увеличено обычными фотоспособами до необходимой величины кратно по отношению к объекту.Электрический ток может бытьподведен к объекту двумя электрода 1 о .ми,расположенными на некотором расстоянии один от другого со стороны излучаемой поверхности. Благодаря одностороннему подводу тока он проходит только в поверхностном слое, 15 что уменьшает общий нагрев...
Способ определения влажности древесины
Номер патента: 441495
Опубликовано: 30.08.1974
МПК: G01N 25/56
...оп редел енидревесины, соответствующей гити, по характеру изменения еенических характеристик во вревлагосодержания, например, меления предела прочности приволокон.Цель изобретения - ускоренивлажности древесины, соответстскопичности.Цель достигается путемвисимости между статическимодулями Юнга для образцоющих влажность У выше где Е в статическ модуль Юнга вдоль волокон; Ер - модуль Юнга вдоль волокон, определенный ре методом; 1 Г - влажность, соответ пределу гигроскопичности, при У У.Так как 1 Г для древесины всех ходится в интервале от 20 - 31 %, т пользовании этой зависимости вла разцов должна быть выше гигроск с некоторым запасом принимают ни дел влажности образцов 35%.(53) УДК 543,712(088.8)15 при следующих исходных данных: 1, м...
Способ изготовления элемента, чувствительного к влажности газа
Номер патента: 441496
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Иващенко, Попов, Рудых
МПК: G01N 25/56
Метки: влажности, газа, чувствительного, элемента
...подвергается стабилизации путем циклического воздействия нэ элемент газовых средс влажности О и 100 при температуре 50 С.Способ реализуется в следую441496 3щей последовательности.Раствор влагочувствительного вещества (0,85-ный раствор поли-Е-капромида в 85,-ной муравьиной кислоте) наносят с помощью распылителя на вращающийся со скоростью 1000 аб/мин кварцевый пьезоэлемент через диафрагму диаметром 5 мм, установленную между распылителем и кварцевым пьезоэлемен-том по оси напыления струи.Через определенное время на пыление прцостанавливают и чувствительны элемент медленно сушат при температуре 20-25 С в течение 24 час. Затем раствор влагочувствительного вещества наносят на кварцевую пластину, вращающуюся со скоростью 2000 об/мин,...
Дифференциальный осциллометрический способ анализа веществ
Номер патента: 441498
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Козлов, Кулаков, Левин
МПК: G01N 27/02
Метки: анализа, веществ, дифференциальный, осциллометрический
...способы обеспечивают измерения лишь в узком диапазоне при низкой чувствительности.При этом одна из емкостных ячеек за-,5полняется эталонным веществом с постоянной электропроводностью, а,другая - анализируемым веществом спеременной электро роводностью. Врезультате этого диапазон и чувствительность измерения определяютсятолько зависимостью импеданса колебательно 1 о контура с ячейкой, заполненной анализируемой средой, отвеличины эл 6 тропрт 1 иот(виотти нослелней,(71) Заявитель Московский институт химического машиностроения4414984ется при рассмотрении случая включения вмкостных йчеек в параллельные колвбательные контуры. ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ 3на преобразователя функциоыально связана с разностью модулей импе дансов колебательных...
Способ контроля состава металла
Номер патента: 441499
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Андрющенко, Божко, Водзянский, Дубинчук, Журавлев, Карнаухов, Колесник, Лемешко, Паршин, Травин, Чмель, Шатлов
МПК: G01N 27/02
...10.5 Выходы газоанализатора 5 и потенциометра11 соединены соответственно экстремальными регистраторами 12, 13.Устройство работает следующим образом, В трубчатую печь 2 устанавливают фарфо роьую лодочку с навеской и подают из источника 1 стабилизированный поток кислорода.Нгвеска загорается с выделением в поток кислорода СО. и ЯОз. Продукты горения проходят через фильтр 3 и попадают в измеритель ный сосуд 4. При прохождении продуктов горения над поверхностью воды 50 з адсорбируется поверхностной пленкой воды в виде серной кислоты, в результате чего сопротивление пленки резко падает. Электрический мост, об разованный сосудами 4, б, электродами 7, 8,элементом 9 и резисторами 10, выходит из равновесия, а потенциометр измеряет...
Датчик влажности листовых пористых материалов
Номер патента: 441500
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Бандзеладзе, Брегадзе, Гветадзе, Поляков
МПК: G01N 27/22
Метки: влажности, датчик, листовых, пористых
...качествматериала подложки губчатого изделия на показание влагомера, учи- О тывая что общая толщина готовых из. делий равна 6-8 мм.Таким образом, расстояние между электродами койденсаторногодатчика относится к ширине электро дов и к высоте их над поверхностьюматериала, влажность которого измеряется, как 1:2:3.На чертеже показан конденсаторный датчик влажности листовых пористых материалов в двух проекциях.Датчик содержит 14 плоских электродов 1, расположенных в горизонтальной плоскости, изолированныхизоляционным материалом 2 от корпуса датчика 3. и вращающиеся ролики.3.4. Датчик располагается на гтбчатом материале Б толщиной 6-8 мм, имеющем подложку 6 из ворсовых, гобеленовых и других тканей.При работе датчик, не перемеща ясь в...
Емкостный преобразователь
Номер патента: 441501
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Лобанова, Масловский, Шульга
МПК: G01N 27/22
Метки: емкостный
...ослабление влияния краевого эффекта на результат измерения.Такая конструкция йотенциальных электродов позволяет исключить влияние плотности материаланя результат измерения, а наличиеэлектродов с нулевым потенциаломобеспечивает равномерность элек441501 ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ 3трического поля в объеме исследуемого материала и повышение поперечного сечения преобразователя,На чертеже схематически изображен предлагаемый емкостный преобразователь. Он содержит потенциальные электродй 1 диэлектрический стакан 2, дно 3, экран-корпус 4 с высокочастотными разъемами 5, электроды 6 нулевого потенциала.Преобразователь работает следу ющим образом.Потенциальные электроды 1 преобразователя включены в измерительную схему , на чертеже не показана) при...
Микроэлектрофоретическая камера
Номер патента: 441502
Опубликовано: 30.08.1974
Автор: Смирнов
МПК: G01N 27/26
Метки: камера, микроэлектрофоретическая
...Измерительной частью каморы является кювета 1, образованнаяна ползуне. Основанием ползуна служит прямоугольное стекло 2. По ширине предметного стекла перпендикулярно к длинным кромкам расположеныпараллельно друг, другу два платиновых электрода 5 в виде брусков одинаковой высоты . На электроды положено покровное стекло Ф по ширине ползуна так что под ним,образуетсяповем в орме прямоугольного параллелепипеда, который и служит кюввтой камеры. Толщина покровного стекла определяется минимальными аберрациями микроскопа и обычно невелика,например, О,Х 7 мм. Для укрепленияконструкции кюветы и развития поверхности шлифов, обеспечивающихгерметичность камеры, примененыпродольные боковыв траверсы 5, укрепленные так, что они не закрывают...