Капличный

Номер патента: 1131255

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Капличный, Короткоручко, Рыжков, Скоробогатько, Тыщук, Чемерис

МПК: C25F 7/00

Метки: металлических, образцов, электролитической, электронныхмикроскопов

...микроскопов, содержащеекорпус с гнездом для объектодержате"ля, систему циркуляции электролита,источник тока полировки, усилительтока индикации начала образованияотверстия, объектодержатель и систему электродов,В цепи электрода включен усилитель, действующий на реле, отключающее цепи полировки и насоса. При появлении отверстия просочившийся электролит заполняет пространство междуобъектом и электродом и создает проводимость в цепи усилителя отключения реле.Данное устройство позволяет работать с непрозрачным электролитом, однако. обладает низкой чувствитель" ностью (сигнал, отключающий реле, поступает только после заполненияэлектролитом объема между образцом и электродом, Объект не защищен от действия электролита, что делает...

Номер патента: 1083165

Опубликовано: 30.03.1984

Авторы: Капличный, Кисель, Кобыляков, Копылов, Удальцов

МПК: G05D 16/20

Метки: вакуума, стабилизации

...давления остаточных газов в контро-. лируемом объеме в Электрический сигнал, систему 3 формирования изображения электронного микроскопа, предназначенную для визуального контроля и исследования структуры тонких пленок, исполнительный элемент - электромагнитный клапан 4, предназначенный для подключения или отключения средств откачки к вакуумному объему прибора, стабилитрон 5, обеспечивающий стабильное напряжение питания термопар- ного датчика, резистор 6, обеспечиваю щий заданный ток питания термопар- ного датчика, усилитель 7 с высоким входным сопротивлением, предназначенный для усиления сигналов термопарного датчика 2, резистор 8, предназначенный для регулировки усиления усилителя 7, триггер Шмитта 9, предназначенный для формирования...

Номер патента: 1019520

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Волнухин, Зипинев, Капличный, Кисель, Кобыляков, Копылов, Удальцов

МПК: H01J 37/28

Метки: микроскоп-микроанализатор, растровый, электронный

...аналогового сигнала из-запогрешностей, вносимых интеграторомс В,Б элементами и усилителем постоянного тока. Это приводит к снижению точности анализа.Целью изобретения является повышение точности анализа и повышениеего информативности путем увеличенияградаций серого на изображении, сформированном в рентгеновских лучах, иобеспечения. возможности .полученияколичественной информации о распреде.лении химических элементов по сов-.мещенным изображениям в рентгеновс-ких лучах и во вторичных электронах.,Указаннная цель достигается тем,что в РЭММА, содержащем систему формирования электронного зонда, отклоняющую систему, схему отображенияинформации, включающую первый канал,содержащий детектор рентгеновскогоизлучения, счетчик. импульсов и...

Номер патента: 942189

Опубликовано: 07.07.1982

Авторы: Веприк, Давиденко, Капличный, Кисель, Остапов, Павленко

МПК: H01J 37/21

Метки: автоматической, изображения, микроскопе, растровом, фокусировки, электронном

...работуус тройс тва автоматической фокусировкиво всем диапазоне развертки растровогоизображения, получаемого в РЭМ,Использование предлагаемого устройства позволяет расширить ассортиментисследуемых объектов с более развитыми сложным рельефом, что обеспечиваетполучение информации, наиболее близкойк реальной,формула изобре тенияУстройство автоматической фокусировки изображения в растровом электроныом микроскопе, содержащее систему 3 94нить трудно, поэтому ограничиваются узким диапазоном работы развертки, длякоторого настроен усилитель.Бель изобретения - расширение диапазона рабочих режимов по длительнос- .ти развертки при исследовании объектовсо значительным изменением рельефа поверхности,Указанная цель достигается тем, чтов устройстве...

Номер патента: 674121

Опубликовано: 15.07.1979

Авторы: Голубков, Капличный, Рау, Спивак

МПК: H01J 37/16

Метки: исследования, магнитных, микрополей, распределений

...сигнала,Исследование распределений магнитных микрополей по данному способу производят следуюшим образом.Здектронный зонд, сформированный оптической системой микроскопа, развертывают в линию вдоль одной из кооординат (например, параллельно поверхностимагнитного объекта), причем на зонд действует локальное магнитное поле и отклоняет.его, Регистрация отклонения, произЗОВодимая в любой координате и любой момент времени, осуществляется таким образом, что фиксируется сигнал, пропорциональный отклонению, При изменении етогосигнала автоматически вырабатьется35сигнал обратной связи, компенсируюшийуказанное изменение. Сигнал рассогласования и есть информативный сигнал, отображаюйий распределение компонент полярассеяния,40На чертеже изображено...

Номер патента: 672670

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Капличный, Рау, Спивак

МПК: H01J 37/26

Метки: коллектор-анализатор, микроскопа, растрового, электроннного

...исследуемого объекта 4, например полупро 10 водникового диода. Вторичные электроны, эмиттированные с образца, улавливаются вытягива. ющим полем, создаваемым сеточным электродом 6 и модулятором 5, затем фильтруются по энергиям (скоростям) тормозящим противополем электрода 7. Электроны, энергия которых достаточна дпя преодоления потенциального барьера сеток электрода 7, ускоряются электродом 8 и достигают сцинтиплирувпМго торца светово.да 10, в котором проделано отверстие дпя про. эо хождения первичного пучка электронов (зонда), Сигнзл, пропорциональный интенсивности вторичных электронов, регистрируется фотоэлектронным умъвжителем 11 и затем через вычитзвщий блок 12 и усилитель отрицателыюй обратной свя 25 зи видеоусилитель 13...

Номер патента: 661647

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Капличный, Карелин, Рау, Спивак

МПК: H01J 37/26

Метки: изолиний, исследуемого, объекта, параметра, регистрации, электронно-микроскопический

...повышение точности измерений и увеличение числаисследуемых параметров твердого тела.Указанная цель достигается тем, 5что информативный сигнал формируютв количественной форме, задают наэлектронный блок опорные сигналы,в любой момент времени и в любойкоординате сравнивают информативный 10сигнал с опорнымисигналами, формируют видеимпульсы при совпадении ихзначений и высвечивают яркостные метки на экране видеоконтрольного устройства. 15Сущность способа поясняется чертежом, где показаны информативныйсигнал, в частности распределениепотенциала на поверхности твердоготела. вдоль строки развертки электронного зонда 3 ь, и принцип формирования видеоимпульсов.Способ осуществляется следующимобразом.В соответствии с исследуемымйараметром объекта...

Номер патента: 590597

Опубликовано: 30.01.1978

Авторы: Барзилович, Капличный, Короткоручко, Костроменко, Пластюк, Чемерис, Яременко

МПК: G01B 11/06

Метки: напыления, пленки, процессе, толщины

...стороны рабочей подложки, индикаторный блок 5 и испаритель (на чертеже не показан).590597 Формула изобретения в вг Составитель О. СтрогановТехред И. Карандашова Корректор Л. Денискина Редактор О, Юркова Подписное Заказ 3182/6 Изд. Хв 159 Тираж 907 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 475Типография, пр, Сапунова, 2 Между рабочей подложкой и светочувствительным элементом 4 размещен блок подавления световых лучей от испарителя, выполненный в виде полостей 6 с центральными отверстиями 7, уменьшающимися в направлении светочувствительного элемента так, чторазность диаметров предыдущего отверстия нпоследующего Й - .Оотносится к суммедиаметров предыдущего...

Номер патента: 524258

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Безлюдный, Бозаджиев, Гурин, Капличный, Кисель, Кобыляков, Лялько, Шуляк

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскоп, растровый, электронный

...увеличиваетпервичноеизображениев электронных лучах (аналогично просвечивающему электронному микроскопу),Сформированное линзой б первичное изображение сканируется системой 7 синхронно со сканированием, проводимым отклоняющей системой 4, носканирование происходит в противоположных направлениях как по строкам, так и по кадру.Промежуточной 8 и проекционной 9 линзами формируется конечное электронное изображение, которое раскладывается на элементы электронногоизображения в плоскости регистрации 12 с помощью повторного сканирования, осуществляемогоотклоняющей системой 7, относительно неподвиж -ной диафрагмы 11. Величина элементов элекронно -го изображения определяется диаметром неподвия -ной диафрагмы 11 и общим увеличением линз...

Номер патента: 518593

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Басанец, Капличный, Симоненко

МПК: F16H 55/50

Метки: блок, грузовой, качения, подшипнике

...спосаженными на нее рпумя втулками с фианнами, прлем на втулках устансвтен подшилвым грузо-н ости к бло " . ш пно пред 1 2ик, а фланцы заходят в кольцевые впадиныкива, в котором выполнены отверстия дляодвода смазки.На чертеже изображе лагаемое усюройство, разрез.Устройство содержит ось 1 с гайками 2,на которую насажены две разрезные втулки3 с фланцами, создающие с помощью шкива4 с отверстием Фдля подвода смазки и уй=лотнений 5 закрьмую полость для размещения радиального двухрядного сферическогороликоподшипника 6, допускающего нормалвмную работу при перекосе (порядка 3 ) осиовнутреннейобоймы относительно оси варуныной обоймы. В этом случае вскникает трениемеж шкивом 4 и втулкой 3, для 7 мейьшния которого .на, втулке выполнено пОкрытие7 из...

Номер патента: 458897

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Гурин, Капличный, Пластюк

МПК: H01J 1/304, H01J 9/02

Метки: игольчатых, катодов

...и увеличение ср а службы катодов.Это достигается тем, что заготовку изготовляют длиной не менее двух длин катода, 5 сдавливают ее посередине в поперечном направлении до появления продольной трещины, затем заготовку подвергают травлению и механическим путем увеличивают трещину до нужных размеров, после этого снова травят 10 заготовку до получения необходимого сеченияветвей /-образной части заготовки, разрезают ее на две части и из каждой части делают иглу катода.Предлагаемый способ изготовления иголь чатых катодов поясняется чертежом.Из вольфрамовой проволоки 1 диаметром,например, О,З мм делают заготовку длиной не менее двух длин катода, сдавливают ее посередине в поперечном направлении кусачками 20 до появления трещины в продольном...

Номер патента: 442399

Опубликовано: 05.09.1974

Авторы: Барзилович, Баталин, Капличный, Климовицкий, Лидер, Мартыненко, Рожанский

МПК: G01N 23/20

Метки: микроскопу, приставка, рентгеновская, электронному

...можно вычислить параметрырешеток монокристаллоз низшихсингоний), акизотропные, т.е. не. -однородные деформации зобразце,прозодить ректгенозскую микроскопию образцоз и другие зиды исследований.Эа счет расположения юстирозочного экрана з плоскости анода , достигается высокая точность фокусировки электронного пучка ка аноде,что узеличизает эффектизностьйсследозаний. 3 электронного пучка зонда анод 2;-формирующий расходящийся пучок реиттенозских лучей,зерхнюю фото- кассету 3 для получения снимкоз з расходящемся пучке на отражение; нижнюю фотокассету Ф для получения сиимкоз иа просзет, з котором закрепляется исследуемый объект б;7;."- размещают микрофотокамеру 8 при замере фотокассет; клапан откачки 9 камеры шлюзоваийя 7; направляющие. 10,...

Номер патента: 355667

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Васичев, Дер, Игнатьев, Капличный

МПК: G21K 1/08

Метки: заряженных, корпускулярное, пучков, фокусировки, частици

...также может быть различным; над линзой 5, под линзой или н ее предела.с.На фиг. 4 подсказано устройство, содержащее осесимметричную мапнитную линзу,Осесимметричная линза образуется магнитопроводом 7 и обмоткой 8, имеющий две секции, До входа в осесимметричную линзу (по ходу пучка) установлены три корректора,: квадрупольный 9, секступольный 10 и октупольный 11.Квадрупольный корректор 9 предусмотрен для исправления астипматизма,второго порядка (или осевого астигматизма), Квадрупольный асорректор может состоять либо из одного (механический поворот корректирующего поля), либо из двух квадрупольных элементов, сдвинутых взаимно по азимуту на угол 45 (электрический поворот корректирующего поля). Секступольный корректор 10 служит для...

Номер патента: 133955

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Капличный, Степанов, Шуляк

МПК: G01N 23/207, H01J 31/38, H01J 37/26 ...

Метки: непрерывной, регистрации, электронограмм

...Г 1 олупроводпиковый слой 3 является одновременно мишенью для электронОго пучка считываошей системы с) Нередйюцей т)убки типа Видикон, которая связана с кинескопом 6 телевизионным каналом. Проектирование дффракционной картины на полупроводниковом слое 3 приводит к возникновению проводимз -ги в этом слое. Одповременп:)е воздейстие электронного пучка 2 и пучка считывающей системы ) образует па мишени потенциальный рельеф, который считывается систсмой тяк )к, как это проис);олпт в псредяющ 1:( телевизионных трубка): типа Вдикон. 11 р этом используется только линейная развертка с пты2 паощей системы а. Сигнал, выделяющийся па сопротивлении 7, шсл; усиления в усилите.с о подается на вертикально отклоняощую систему кинескопа 6. Сигналы...